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Fターム[5C038JJ06]の内容

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Fターム[5C038JJ06]に分類される特許

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【課題】四重極電場を理想状態に近付けるべく四重極マスフィルタの各電極に小振幅交流電圧±acosω2tを印加する四重極型質量分析装置において、その交流電圧の直流電圧生成部への干渉を防止してその出力電圧の安定化を図る。
【解決手段】四重極駆動部において、電圧重畳部141と直流正電圧生成部111との間の信号経路上に交流電圧acosω2tを双方向に減衰させるフィルタ151を設ける。また、フィルタ151と直流正電圧生成部111との間に、振幅位相調整回路161で振幅減衰、位相調整を行って生成した電圧±a'cos(ω2t+Δ)を加算する。この加算された電圧と、電圧重畳部141、フィルタ151を経た電圧成分とはちょうど位相が180°ずれただけの同電圧であり、両者は打ち消し合う。これにより、小振幅交流電圧の漏れ込みによる直流正電圧生成部111への干渉を軽減することができる。 (もっと読む)


【課題】m/z範囲が限定された複数の測定モードが用意された質量分析装置において、インソース分解やクーリング時のイオン分解を利用した擬似MS3測定を実施する測定対象イオンのm/z範囲を広げることを可能とする。
【解決手段】全m/z範囲をカバーするように設定した複数の測定モードでそれぞれ目的試料に対するMS1スペクトルを取得するとともに、同試料に対しMS2スペクトルを取得する(S1、S2)。そして、MS2スペクトルに存在するイオンピークと同m/zのピークが全MS1スペクトルにあるかどうかを判定し、同一m/zのイオンを擬似MS3測定対象イオンとして抽出する(S3)。全MS1スペクトルの中で擬似MS3測定対象イオンのピーク強度が最大となる測定モードと該イオンのm/zを測定条件として擬似MS3測定を実施し、擬似MS3スペクトルを取得する(S4、S5)。 (もっと読む)


【課題】 イオントラップToF装置の、特にMS2及びMS3分析モードにおいて、イオンスループット速度及びスペクトル取得速度を改良する。
【解決手段】 飛行時間型質量分析装置(1)が、イオン源と、該イオン源から供給される試料イオンを受容する分割線形イオンデバイス(10)と、該分割デバイスから排出されたイオンを分析する飛行時間型質量分析器を備える。最初にイオンを二以上の隣接するセグメントグループの中に捕捉し、次いでイオンをセグメントグループよりも短い分割デバイスの領域に捕捉するための捕捉電圧が分割デバイスに印加される。捕捉電圧はデバイス(10)の全長に沿って一様な捕捉場を供給するのにも有効である。 (もっと読む)



【課題】試料に含まれる物質を網羅的に同定する際にMS2分析する分画数を抑えることで分析時間を短縮しながら同定の正確性を確保する。
【解決手段】全ての分画試料をMS1分析した結果に基づき作成した、保持時間、m/z、信号強度を3軸とする3次元グラフに対し(S1-S2)、ωよりも大きな閾値θNで強度を判定してピーク検出を行い、検出されたピークのピークトップが存在する分画試料をMS2分析対象として選択する(S3-S5)。次に、選択された分画試料にピークトップが存在し、強度が閾値ω以上であるピークを検出し、検出されたピークをプリカーサイオン候補として挙げる(S6)。そして、選択された分画試料の含有物質が同定されるまでプリカーサイオン候補についてのMS2分析を順次実行する(S7-S9,S14-S15)。1つの分画試料に対し多くのプリカーサイオン候補が挙げられるので、分画試料の含有物質の同定確率が高まる。 (もっと読む)


【課題】デジタルイオントラップにおいて、イオンを捕捉する際にリング電極に印加する矩形波電圧のデューティ比を50%近傍に保つことで高m/z範囲の検出感度を改善する。
【解決手段】リング電極31に印加される矩形波電圧の正極側部分と負極側部分とを整流回路57、58で別々に抽出し、積分回路59、60でそれぞれ平滑化する。これにより、矩形波電圧の正極側部分の面積値と負極側部分の面積値はそれぞれ直流信号の波高値h1、h2に置き換えられる。比較回路61は両波高値の差を誤差信号Δとして出力し、この誤差信号Δが0になるように可変遅延回路51、52において制御信号の遅延量を調整する。これによって、スイッチ53、54をオン・オフ駆動する正極側制御信号と負極側制御信号との相対的位相関係が変化し、矩形波電圧のデューティ比が50%に近づくように変化する。 (もっと読む)


【課題】目的成分に対する最適なプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択することができるMS/MS型質量分析装置及び同装置用プログラムを提供する。
【解決手段】プリカーサイオンを選別する第1質量分離部3と、イオン開裂部4と、プロダクトイオンを選別する第2質量分離部6と、検出器7とを有するMS/MS型質量分析装置であって、目的成分のMS分析を行うMS分析実行部110と、MS分析の結果に基づき1又は複数の正イオン、及び、1又は複数の負イオンをプリカーサイオン候補とするプリカーサイオン候補選択部120と、全プリカーサイオン候補のMS/MS分析を行うMS/MS分析実行部130と、MS/MS分析結果に基づき目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択する組合せ選択部140を備える。 (もっと読む)


【課題】イオントラップで質量分析を行なう場合に、空間電荷の影響を補正し、感度とダイナミックレンジを両立する。
【解決手段】イオン源で試料をイオン化する工程と、イ
オントラップにイオンを蓄積する工程と、前記イオント
ラップから質量選択的にイオンを排出して検出器で検出
し、質量スペクトルを取得する工程を有し、前記質量ス
ペクトルの質量軸を、各イオンが排出される時点で前記
イオントラップ内に蓄積されているイオン量に基づいて
補正する。 (もっと読む)


【課題】測定可能な時間が制限されている場合であっても、物質の有無の判定、種類の同定、又は物質の種類ごとの定量を高精度に行うことが可能な質量分析システムを提供する。
【解決手段】質量分析システムに、(1) 予め与えられた測定可能時間に応じ、MS分析及びMSn分析(ただしn≧2)の組み合わせにより与えられる測定スケジュールを決定する動作計画部と、(2) 測定スケジュールを構成する各測定動作の実行により得られる各質量スペクトルを出力するタンデム型質量分析機能を有する質量分析部を搭載する。 (もっと読む)


【課題】質量分析に供するイオンの量を増加させて分析感度を改善する。
【解決手段】イオンガイド2の出口側端部に集積したイオンをパケット状にしてイオントラップ3内に導入する際には、主電圧発生部52からリング電極31への矩形波状高周波電圧の印加を停止する。そして、イオンの殆どがイオントラップ3内に導入されたならば、主電圧発生部52からリング電極31への矩形波状高周波電圧の印加を瞬時的に開始するが、その際に、矩形波状高周波電圧の印加を90°±40°又は270°±40°の範囲の位相から開始する。それによって、高周波電圧印加直後のイオンの拡がり範囲を抑えることができ、イオンの捕捉効率を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】各段の四重極の間の空間のイオンの通過効率を向上させることにより分析感度の改善を図る。
【解決手段】第1段四重極15を出射したイオンが効率良く第2段四重極17に入射するように、第1段四重極15の出射端面におけるイオンのエミッタンス特性と第2段四重極17の入射端面におけるイオンのアクセプタンス特性とを一致させる。この一致は、四重極15、17に印加する高周波電圧の周波数を同一にし、位相差を質量電荷比に応じた適宜の関係に設定することで実現させる。 (もっと読む)


【課題】スキャン測定のスキャン速度を上げた場合の質量分解能の低下を回避し、高い分解能のマススペクトルを提供可能とする。
【解決手段】標準試料をイオン源31に導入し、大小2種類のスキャン速度でスキャン速度を実行して所定m/z範囲の信号強度を求める。スキャン速度が小であるときにはm/zが隣接するピークは孤立し、スキャン速度が大であるときにはm/zが隣接しているピークが重なって信号強度が互いに影響を受けているみなし、補正情報算出処理部55は両者の信号強度の比較からピークの重なりに伴う強度増加分を推定し、これを除去する補正係数を計算する。この補正係数を補正情報記憶部54に記憶しておき、信号強度補正演算部52は目的試料の測定の際にスキャン速度及びm/zに応じて適当な補正係数を選択し、ピークの重なりによる強度増加分を差し引いて信号強度を補正する。 (もっと読む)



【課題】ロッド電極の位置ずれ等による四重極電場の非理想状態を補正するためにロッド電極に小振幅交流電圧を印加する際に、信号強度データに現れる不所望の周期的なレベル変動を軽減し分析精度を高める。
【解決手段】共通クロック信号発生部15で生成した共通の基準クロック信号CLKを、A/D制御信号生成部16及び高周波電圧生成部12に送る。A/D制御信号生成部16は基準クロック信号CLKに基づいてサンプリング制御信号を生成しA/D変換部5に送る一方、小振幅交流電圧生成部13は基準クロック信号CLKに基づいて擬似正弦波状の交流電圧を生成して四重極マスフィルタ3に印加する。これにより、小振幅交流電圧の位相とA/D変換部5における検出信号のサンプリングタイミングとが同期し、小振幅交流電圧の決まった位相位置でデータサンプリングが行われるためにデータの周期的変動を回避できる。 (もっと読む)




【課題】MS2スペクトル上で観測されるイオンピークに目的化合物に由来しないピークが混じることを防止し、データベース検索による化合物同定の信頼性を向上させる。
【解決手段】ペプチドに対し質量分析を行って得られたマススペクトル上で、所定の選択条件に照らしてプリカーサイオンを選択しMS2分析を実行する(S1〜S3)。取得されたMS2スペクトル上でプリカーサイオンピークのm/z(Mp)とそれより57[Da]低いm/z(Mp-57)との範囲内にMp−17又はMp−18以外のイオンピークが存在したならば(S5、S6)、同位体ピーククラスタの一部が外れるように選択条件を変更した上でプリカーサイオンの選択を行い、再びMS2分析を実行する(S8、S2−S3)。これにより、同位体ピーククラスタに重畳している夾雑ピークをプリカーサイオンから除外し、純度の高いMS2スペクトルを取得することができる。 (もっと読む)


【課題】MRM測定等において予めプロダクトイオンを選択するに際し、不適切なプロダクトイオンの選択を防止し、より高い確率で最適なプロダクトイオンを選択することのできるMS/MS型質量分析装置を提供する。
【解決手段】或る成分のプリカーサイオンについて、条件を変化させた又は変化させないプロダクトイオンスキャンイベントを複数個を準備し、それら複数個のプロダクトイオンスキャンイベントを実行した結果得られた全マススペクトルの中から最も出現頻度の高いマスピークを検出し、それをプロダクトイオンとして選択する。また、全マススペクトルの各m/zの強度の積算値/平均値や重み付け積算値/平均値でもよい。 (もっと読む)


【課題】前段線形多重極電極Q0と後段線形多重極電極Q1の中心軸の延長線P0、P1が互いにずれていても、イオンが後段線形多重極電極Q1を確実に透過できる質量分析装置を提供する。
【解決手段】前段線形多重極電極Q0と、前段線形多重極電極Q0から出射したイオンが入射する後段線形多重極電極Q1とを有する質量分析装置において、イオンが、後段線形多重極電極Q1に入射するまでに、前段線形多重極電極Q0と後段線形多重極電極Q1の中心軸P0、P1の延長線の互いの軸ずれ量ΔX、ΔY分を偏向するように、前段線形多重極電極Q0を構成する複数のロッド電極に直流オフセット電圧Vofs1、Vofs2、Vofs3、Vofs4を印加するように制御する制御部を有する。制御部は、直流オフセット電圧Vofs1、Vofs2、Vofs3、Vofs4を、後段線形多重極電極Q1に入射させるイオンの質量数に応じて変更する。 (もっと読む)


【課題】真空装置中に存在する、特にプラズマにより生成したイオン計測の効率を高めるための方法及び装置を提供する。
【解決手段】プラズマ装置中に設置した電極に、これに接続してプラズマ装置中の成分を分析できる質量分析器の計測部に対して高い(低い)電位を与え、これによってプラズマ中の正(負)イオンを質量分析器へ効率よく導入することを特徴とするプラズマ中のイオン計測方法、及び、プラズマ装置中に設置した電極に、これに接続してプラズマ装置中の成分を分析できる質量分析器の計測部に対して高い(低い)電位を与え、これによってプラズマ中の正(負)イオンを質量分析器へ効率よく導入することを特徴とするプラズマ中のイオン計測装置。 (もっと読む)


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