【課題】四重極電場を理想状態に近付けるべく四重極マスフィルタの各電極に小振幅交流電圧±ａcosω₂ｔを印加する四重極型質量分析装置において、その交流電圧の直流電圧生成部への干渉を防止してその出力電圧の安定化を図る。
【解決手段】四重極駆動部において、電圧重畳部１４１と直流正電圧生成部１１１との間の信号経路上に交流電圧ａcosω₂ｔを双方向に減衰させるフィルタ１５１を設ける。また、フィルタ１５１と直流正電圧生成部１１１との間に、振幅位相調整回路１６１で振幅減衰、位相調整を行って生成した電圧±ａ'cos（ω₂ｔ＋Δ）を加算する。この加算された電圧と、電圧重畳部１４１、フィルタ１５１を経た電圧成分とはちょうど位相が180°ずれただけの同電圧であり、両者は打ち消し合う。これにより、小振幅交流電圧の漏れ込みによる直流正電圧生成部１１１への干渉を軽減することができる。 （もっと読む）

【課題】m/z範囲が限定された複数の測定モードが用意された質量分析装置において、インソース分解やクーリング時のイオン分解を利用した擬似ＭＳ³測定を実施する測定対象イオンのm/z範囲を広げることを可能とする。
【解決手段】全m/z範囲をカバーするように設定した複数の測定モードでそれぞれ目的試料に対するＭＳ¹スペクトルを取得するとともに、同試料に対しＭＳ²スペクトルを取得する（Ｓ１、Ｓ２）。そして、ＭＳ²スペクトルに存在するイオンピークと同m/zのピークが全ＭＳ1スペクトルにあるかどうかを判定し、同一m/zのイオンを擬似ＭＳ³測定対象イオンとして抽出する（Ｓ３）。全ＭＳ¹スペクトルの中で擬似ＭＳ³測定対象イオンのピーク強度が最大となる測定モードと該イオンのm/zを測定条件として擬似ＭＳ³測定を実施し、擬似ＭＳ³スペクトルを取得する（Ｓ４、Ｓ５）。 （もっと読む）

【課題】 イオントラップToF装置の、特にMS²及びMS³分析モードにおいて、イオンスループット速度及びスペクトル取得速度を改良する。
【解決手段】 飛行時間型質量分析装置（１）が、イオン源と、該イオン源から供給される試料イオンを受容する分割線形イオンデバイス（１０）と、該分割デバイスから排出されたイオンを分析する飛行時間型質量分析器を備える。最初にイオンを二以上の隣接するセグメントグループの中に捕捉し、次いでイオンをセグメントグループよりも短い分割デバイスの領域に捕捉するための捕捉電圧が分割デバイスに印加される。捕捉電圧はデバイス（１０）の全長に沿って一様な捕捉場を供給するのにも有効である。 （もっと読む）

【課題】１つの装置で、分析目的に応じた高感度の測定と測定質量範囲の広い測定とを自由に選択可能とする。
【解決手段】四重極電源部４において、高周波電源４０１による高周波電圧の周波数を切り替え可能とするとともに、四重極マスフィルタ２の浮遊容量に並列に可変コンデンサ４０２、４０３を設ける。感度優先の高感度モードでは質量範囲の広さを優先する高質量モードよりも、高周波電圧の周波数を高くするとともに、可変コンデンサ４０２、４０３の容量値を大きくする。ＬＣ共振回路を形成する容量値が大きくなることでＬＣ共振条件に基づく周波数が上がり、高い周波数の高周波電圧をＬＣ共振させて振幅を増幅することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】試料に含まれる物質を網羅的に同定する際にＭＳ²分析する分画数を抑えることで分析時間を短縮しながら同定の正確性を確保する。
【解決手段】全ての分画試料をＭＳ¹分析した結果に基づき作成した、保持時間、m/z、信号強度を３軸とする３次元グラフに対し（S1-S2）、ωよりも大きな閾値θ_Nで強度を判定してピーク検出を行い、検出されたピークのピークトップが存在する分画試料をＭＳ²分析対象として選択する（S3-S5）。次に、選択された分画試料にピークトップが存在し、強度が閾値ω以上であるピークを検出し、検出されたピークをプリカーサイオン候補として挙げる（S6）。そして、選択された分画試料の含有物質が同定されるまでプリカーサイオン候補についてのＭＳ²分析を順次実行する（S7-S9,S14-S15）。１つの分画試料に対し多くのプリカーサイオン候補が挙げられるので、分画試料の含有物質の同定確率が高まる。 （もっと読む）

【課題】デジタルイオントラップにおいて、イオンを捕捉する際にリング電極に印加する矩形波電圧のデューティ比を５０％近傍に保つことで高m/z範囲の検出感度を改善する。
【解決手段】リング電極３１に印加される矩形波電圧の正極側部分と負極側部分とを整流回路５７、５８で別々に抽出し、積分回路５９、６０でそれぞれ平滑化する。これにより、矩形波電圧の正極側部分の面積値と負極側部分の面積値はそれぞれ直流信号の波高値ｈ１、ｈ２に置き換えられる。比較回路６１は両波高値の差を誤差信号Δとして出力し、この誤差信号Δが０になるように可変遅延回路５１、５２において制御信号の遅延量を調整する。これによって、スイッチ５３、５４をオン・オフ駆動する正極側制御信号と負極側制御信号との相対的位相関係が変化し、矩形波電圧のデューティ比が５０％に近づくように変化する。 （もっと読む）

【課題】目的成分に対する最適なプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択することができるＭＳ／ＭＳ型質量分析装置及び同装置用プログラムを提供する。
【解決手段】プリカーサイオンを選別する第１質量分離部３と、イオン開裂部４と、プロダクトイオンを選別する第２質量分離部６と、検出器７とを有するＭＳ／ＭＳ型質量分析装置であって、目的成分のＭＳ分析を行うＭＳ分析実行部１１０と、ＭＳ分析の結果に基づき１又は複数の正イオン、及び、１又は複数の負イオンをプリカーサイオン候補とするプリカーサイオン候補選択部１２０と、全プリカーサイオン候補のＭＳ／ＭＳ分析を行うＭＳ／ＭＳ分析実行部１３０と、ＭＳ／ＭＳ分析結果に基づき目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択する組合せ選択部１４０を備える。 （もっと読む）

【課題】イオントラップで質量分析を行なう場合に、空間電荷の影響を補正し、感度とダイナミックレンジを両立する。
【解決手段】イオン源で試料をイオン化する工程と、イ
オントラップにイオンを蓄積する工程と、前記イオント
ラップから質量選択的にイオンを排出して検出器で検出
し、質量スペクトルを取得する工程を有し、前記質量ス
ペクトルの質量軸を、各イオンが排出される時点で前記
イオントラップ内に蓄積されているイオン量に基づいて
補正する。 （もっと読む）

【課題】測定可能な時間が制限されている場合であっても、物質の有無の判定、種類の同定、又は物質の種類ごとの定量を高精度に行うことが可能な質量分析システムを提供する。
【解決手段】質量分析システムに、(1) 予め与えられた測定可能時間に応じ、MS分析及びMSⁿ分析（ただしn≧2）の組み合わせにより与えられる測定スケジュールを決定する動作計画部と、(2) 測定スケジュールを構成する各測定動作の実行により得られる各質量スペクトルを出力するタンデム型質量分析機能を有する質量分析部を搭載する。 （もっと読む）

【課題】質量分析に供するイオンの量を増加させて分析感度を改善する。
【解決手段】イオンガイド２の出口側端部に集積したイオンをパケット状にしてイオントラップ３内に導入する際には、主電圧発生部５２からリング電極３１への矩形波状高周波電圧の印加を停止する。そして、イオンの殆どがイオントラップ３内に導入されたならば、主電圧発生部５２からリング電極３１への矩形波状高周波電圧の印加を瞬時的に開始するが、その際に、矩形波状高周波電圧の印加を９０°±４０°又は２７０°±４０°の範囲の位相から開始する。それによって、高周波電圧印加直後のイオンの拡がり範囲を抑えることができ、イオンの捕捉効率を向上させることができる。 （もっと読む）

【課題】各段の四重極の間の空間のイオンの通過効率を向上させることにより分析感度の改善を図る。
【解決手段】第１段四重極１５を出射したイオンが効率良く第２段四重極１７に入射するように、第１段四重極１５の出射端面におけるイオンのエミッタンス特性と第２段四重極１７の入射端面におけるイオンのアクセプタンス特性とを一致させる。この一致は、四重極１５、１７に印加する高周波電圧の周波数を同一にし、位相差を質量電荷比に応じた適宜の関係に設定することで実現させる。 （もっと読む）

【課題】スキャン測定のスキャン速度を上げた場合の質量分解能の低下を回避し、高い分解能のマススペクトルを提供可能とする。
【解決手段】標準試料をイオン源３１に導入し、大小２種類のスキャン速度でスキャン速度を実行して所定m/z範囲の信号強度を求める。スキャン速度が小であるときにはm/zが隣接するピークは孤立し、スキャン速度が大であるときにはm/zが隣接しているピークが重なって信号強度が互いに影響を受けているみなし、補正情報算出処理部５５は両者の信号強度の比較からピークの重なりに伴う強度増加分を推定し、これを除去する補正係数を計算する。この補正係数を補正情報記憶部５４に記憶しておき、信号強度補正演算部５２は目的試料の測定の際にスキャン速度及びm/zに応じて適当な補正係数を選択し、ピークの重なりによる強度増加分を差し引いて信号強度を補正する。 （もっと読む）

【課題】 イオン化効率やイオントラップに導入される測定対象物質の量の変動を補正して定量する。
【解決手段】 標準物質のイオンと測定対象物質のイオンを、イオントラップに同時にトラップし、質量選択的に排出した標準物質のイオンの信号強度と、測定対象物質のフラグメントイオンの信号強度から、測定対象物質の濃度を定量する。 （もっと読む）

【課題】ロッド電極の位置ずれ等による四重極電場の非理想状態を補正するためにロッド電極に小振幅交流電圧を印加する際に、信号強度データに現れる不所望の周期的なレベル変動を軽減し分析精度を高める。
【解決手段】共通クロック信号発生部１５で生成した共通の基準クロック信号CLKを、Ａ／Ｄ制御信号生成部１６及び高周波電圧生成部１２に送る。Ａ／Ｄ制御信号生成部１６は基準クロック信号CLKに基づいてサンプリング制御信号を生成しＡ／Ｄ変換部５に送る一方、小振幅交流電圧生成部１３は基準クロック信号CLKに基づいて擬似正弦波状の交流電圧を生成して四重極マスフィルタ３に印加する。これにより、小振幅交流電圧の位相とＡ／Ｄ変換部５における検出信号のサンプリングタイミングとが同期し、小振幅交流電圧の決まった位相位置でデータサンプリングが行われるためにデータの周期的変動を回避できる。 （もっと読む）

【課題】三連四重極型質量分析装置においてＭＳ／ＭＳ分析で高速の質量走査を実行する際にも、質量電荷軸のずれを抑えて質の高いマススペクトルを取得する。
【解決手段】解離操作を伴わないＭＳ分析用と解離操作を伴うＭＳ／ＭＳ分析用とで独立に、スキャン速度をパラメータとしm/zと質量偏差値との関係を示す質量較正テーブル２２Ａ１、２２Ａ２、２２Ｂ１、２２Ｂ１を用意する。ＭＳ／ＭＳ分析時にはプロダクトイオンスキャン測定やニュートラルロススキャン測定等の測定モードに応じて、選択するm/zが固定である四重極についてはテーブル中で最低スキャン速度S1に対応する質量偏差値を用い、質量走査が行われる四重極についてはテーブル中で指定されたスキャン速度に対応する質量偏差値を用い、それぞれ前段四重極と後段四重極の動作を制御する。 （もっと読む）

【課題】分析部で選択イオンを変更するタイミングの制御を容易化することができる質量分析装置を提供すること。
【解決手段】蓄積部２０は、イオン源１０で生成されたイオンを蓄積し、蓄積したイオンをイオンパルスとして排出し、第１分析部３０は、蓄積部２０が排出するイオンパルスから、質量電荷比に基づいて第１の目的イオンを選択し、コリジョンセル３０は、第１の目的イオンの一部又は全部を開裂させてプロダクトイオンを生成し、第２分析部５０は、第１の目的イオン及びプロダクトイオンから、質量電荷比に基づいて第２の目的イオンを選択し、検出器６０は、第２の目的イオンを検出する。制御部９０は、第１分析部３０では質量が大きい第１の目的イオンほど光軸方向の運動エネルギーを高くし、第２分析部５０では質量が大きい第２の目的イオンほど光軸方向の運動エネルギーを高くするように制御する。 （もっと読む）

【課題】ＭＳ²スペクトル上で観測されるイオンピークに目的化合物に由来しないピークが混じることを防止し、データベース検索による化合物同定の信頼性を向上させる。
【解決手段】ペプチドに対し質量分析を行って得られたマススペクトル上で、所定の選択条件に照らしてプリカーサイオンを選択しＭＳ²分析を実行する（Ｓ１〜Ｓ３）。取得されたＭＳ²スペクトル上でプリカーサイオンピークのm/z（Ｍp）とそれより５７[Da]低いm/z（Ｍp-５７）との範囲内にＭp−１７又はＭp−１８以外のイオンピークが存在したならば（Ｓ５、Ｓ６）、同位体ピーククラスタの一部が外れるように選択条件を変更した上でプリカーサイオンの選択を行い、再びＭＳ²分析を実行する（Ｓ８、Ｓ２−Ｓ３）。これにより、同位体ピーククラスタに重畳している夾雑ピークをプリカーサイオンから除外し、純度の高いＭＳ²スペクトルを取得することができる。 （もっと読む）

【課題】ＭＲＭ測定等において予めプロダクトイオンを選択するに際し、不適切なプロダクトイオンの選択を防止し、より高い確率で最適なプロダクトイオンを選択することのできるＭＳ／ＭＳ型質量分析装置を提供する。
【解決手段】或る成分のプリカーサイオンについて、条件を変化させた又は変化させないプロダクトイオンスキャンイベントを複数個を準備し、それら複数個のプロダクトイオンスキャンイベントを実行した結果得られた全マススペクトルの中から最も出現頻度の高いマスピークを検出し、それをプロダクトイオンとして選択する。また、全マススペクトルの各m/zの強度の積算値/平均値や重み付け積算値/平均値でもよい。 （もっと読む）

【課題】前段線形多重極電極Ｑ０と後段線形多重極電極Ｑ１の中心軸の延長線Ｐ０、Ｐ１が互いにずれていても、イオンが後段線形多重極電極Ｑ１を確実に透過できる質量分析装置を提供する。
【解決手段】前段線形多重極電極Ｑ０と、前段線形多重極電極Ｑ０から出射したイオンが入射する後段線形多重極電極Ｑ１とを有する質量分析装置において、イオンが、後段線形多重極電極Ｑ１に入射するまでに、前段線形多重極電極Ｑ０と後段線形多重極電極Ｑ１の中心軸Ｐ０、Ｐ１の延長線の互いの軸ずれ量ΔＸ、ΔＹ分を偏向するように、前段線形多重極電極Ｑ０を構成する複数のロッド電極に直流オフセット電圧Ｖｏｆｓ１、Ｖｏｆｓ２、Ｖｏｆｓ３、Ｖｏｆｓ４を印加するように制御する制御部を有する。制御部は、直流オフセット電圧Ｖｏｆｓ１、Ｖｏｆｓ２、Ｖｏｆｓ３、Ｖｏｆｓ４を、後段線形多重極電極Ｑ１に入射させるイオンの質量数に応じて変更する。 （もっと読む）

【課題】真空装置中に存在する、特にプラズマにより生成したイオン計測の効率を高めるための方法及び装置を提供する。
【解決手段】プラズマ装置中に設置した電極に、これに接続してプラズマ装置中の成分を分析できる質量分析器の計測部に対して高い（低い）電位を与え、これによってプラズマ中の正（負）イオンを質量分析器へ効率よく導入することを特徴とするプラズマ中のイオン計測方法、及び、プラズマ装置中に設置した電極に、これに接続してプラズマ装置中の成分を分析できる質量分析器の計測部に対して高い（低い）電位を与え、これによってプラズマ中の正（負）イオンを質量分析器へ効率よく導入することを特徴とするプラズマ中のイオン計測装置。 （もっと読む）