【課題】サーティファイ試験を施す前に交流消磁された磁気記録媒体の消磁状態を容易に調べることができる磁気記録媒体の検査方法を提供する。
【解決手段】表面に規格値以上の数の突起などによりヘッドの浮上が不安定な磁気記録媒体を不要媒体とするグライド試験１を経た磁気記録媒体に、磁気記録媒体の電気的特性や欠陥の有無を検査するサーティファイ試験２を施す前に、バルクイレース機構の消磁能力を調べるためのバルクイレース試験３を行う。 （もっと読む）

【課題】凹欠陥のサイズおよび成膜条件の影響を受けずに、凹欠陥部が金属薄膜積層体のいずれかの層に至る深さであると特定できる程度に分析することのできる金属薄膜積層体の表面欠陥分析方法の提供。
【解決手段】非磁性基体１００上に、それぞれ異なる金属成分（Ａ〜Ｅ）組成を有する複数の金属薄膜層（１〜５）が積層された金属薄膜積層体１０２で、凹欠陥部１１を有する前記金属薄膜積層体１０２の、前記凹欠陥部１１の底部に照射され前記金属薄膜積層体１０２を透過し前記非磁性基体１００に到達する電子ビームを照射して得られる第１ＥＤＸスペクトルおよび正常部表面に照射される前記電子ビームにより得られる第２ＥＤＸスペクトルを比較して得られるスペクトル強度の低下比率と、各金属成分（Ａ〜Ｅ）の各金属薄膜層（１〜５）への配分率とから、凹欠陥部１１の底部が存在する金属薄膜層を特定する。 （もっと読む）

【課題】
従来技術では、ＢＰＭをＲ／Ｗするドライブが開示されているが、例えば、製造したＢＰＭの良品・不良品の判定や品質のランク付けをする検査装置は開示されていない。ＢＰＭの検査装置では、大きな製造ばらつきがあるＢＰＭの磁性ドットに対してもデータのＲ／Ｗを行う必要があるが、この位相調整方法によっては、大きな製造ばらつきのあるＢＰＭの磁性ドットに対するデータのＲ／Ｗはできない。
【解決手段】
被検査対象物であるパターンドメディアの再生信号を読み取る読み取り工程と、前記読み取り工程において読み取られた該パターンドメディアの再生信号から信号間隔値を算出する算出工程と、を備えるタイミング検出工程と、前記算出工程において算出された該信号間隔値を用いて該パターンドメディアの品質を判定する判定工程と、を備えるパターンドメディアの検査方法である。 （もっと読む）

【課題】短時間で、かつ磁気記録媒体の表面全体にわたって保護層の被覆性を評価できる方法およびその方法に用いる分析装置の提供。
【解決手段】本発明は、基板と、金属材料を含む磁性層と、該磁性層の上に形成された炭素系保護層とを少なくとも含む磁気記録媒体を対象とし、磁気記録媒体にコロイド微粒子を付着させる工程と、コロイド微粒子の付着状態を光学的に観察する工程とを含む炭素系保護層の被覆性を評価する方法に関する。また、本発明は、磁気記録媒体に対するコロイド水溶液の塗布手段と、磁気記録媒体を光学的に観察する手段とを含む、炭素系保護層の被覆性を評価する分析装置に関する。 （もっと読む）

【課題】微小領域においても短時間で不良率抑制につながる保護膜の性質を高精度で把握する評価方法が求められている。
【解決手段】本発明は、磁気記録媒体用保護膜の所定の領域に２×１０⁴Ｖ／ｃｍから１×１０⁷Ｖ／ｃｍの範囲の所定の電場を印加しながら前記所定の領域の表面を走査し、前記所定の領域のうち絶縁破壊を起こした領域の割合と高温高湿ドライブ評価による不良率との相関をとることを特徴とする磁気記録媒体用保護膜評価方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】ガラスハードディスク基板の製造方法において、低い表面粗さと高い研磨速度を維持でき、基板の生産性を向上できる、ガラスハードディスク基板の製造方法の提供。
【解決手段】研磨液組成物を用いて被研磨ガラス基板を研磨する工程を有するガラスハードディスク基板の製造方法であって、前記研磨液組成物が、コロイダルシリカ、下記一般式（Ｉ）で表される硫酸エステル化合物、ヒドロキシ多価カルボン酸、及び水を含有する、ガラスハードディスク基板の製造方法。
Ｒ−Ｏ−（ＡＯ）ｎ−ＳＯ₃Ｍ （Ｉ）
［式中、Ｒは炭素数３〜２０の炭化水素基を示し、ＡＯは炭素数２〜３のオキシアルキレン基を示し、ｎはＡＯの平均付加モル数であって１〜４であり、Ｍはアルカリ金属、アルカリ土類金属、有機カチオン及び水素原子からなる群から選択される。］ （もっと読む）

【課題】１ｎｇ/ｄｉｓｋ以下のＣｅＯ_２砥粒の残存量を検出することが可能な磁気ディスク用ガラス基板の製造方法を提供する。
【解決手段】酸化セリウムを含むＣｅＯ_２砥粒を用いて所定の形状に加工した複数のガラス基板を研磨する１又は複数のＣｅＯ_２砥粒研磨工程を備えた磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、最後のＣｅＯ_２砥粒研磨工程後、該複数のガラス基板から少なくとも１枚を抜き取って酸と還元剤の混合液への浸漬により該ガラス基板に残存するＣｅＯ_２砥粒の残存量を検出する抜き取り検査工程を含む。 （もっと読む）

【課題】本発明は、ガラス基板の面取り部にピット欠陥がないガラス基板の提供を目的とする。また、ガラス基板の側面部と面取り部を生産性高く確実に研磨するガラス基板の端面研磨方法、および磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法の提供を目的とする。
【解決手段】磁気記録媒体用ガラス基板の内周端面研磨に用いる研磨ブラシとして、植毛部の幅が、積層されたガラス基板同士の積層幅（ガラス基板とスペーサを合わせた厚み。スペーサを使用しないガラス基板積層体の場合はガラス基板の厚み。）の１．１〜２．２である研磨ブラシを用いる。該研磨ブラシを使用した内周端面研磨により、磁気記録媒体用ガラス基板の面取り部に残留するキズを生産性高く確実に除去でき、面取り部のピット欠陥がない磁気記録媒体用ガラス基板を生産性高く提供できる。 （もっと読む）

【課題】簡易な手法によって、保磁力ＨｃとＯＷ特性が所望の範囲内となるように調整することが可能な垂直磁気記録媒体の製造管理方法を提供する。
【解決手段】垂直磁気記録媒体１００の製造管理方法の代表的な構成は、グラニュラ磁性層１６０または補助記録層１８０の膜厚を変化させることにより、これらの膜厚に対する保磁力Ｈｃとオーバーライト特性の関係を求める工程と、分断層１７０の膜厚を変化させることにより、この分断層１７０の膜厚の増加に対して保磁力Ｈｃとオーバーライト特性がいずれも低下する特定の範囲を求める工程と、当該垂直磁気記録媒体が保磁力Ｈｃとオーバーライト特性について所望の範囲内となるように、分断層１７０の膜厚を特定の範囲内で決定し、かつグラニュラ磁性層１６０または補助記録層１８０の膜厚を決定する工程と、決定されたそれぞれの膜厚でこれらの成膜を行う工程と、を含む。 （もっと読む）

【課題】
ディスクの突起検出とトラックあるいはセクタ対応の平均値算出の２系統の信号処理回路を切換えることなしに突起検出と平均値算出ができかつ測定回路の小型化が可能なディスクの突起検出・平坦度測定回路およびディスクのグライドテスターを提供することにある。
【解決手段】
この発明は、突起検出センサからの信号を増幅してＡ／Ｄ変換し、デジタルのＢＰＦ（バンドパスフィルタ）を介してデジタル値においてピーク検出処理と平均値算出処理とを並列的に行うもので、検出されたピーク値と検出された平均値に基づいてディスクの合否判定をすることができる。 （もっと読む）

【課題】本発明は、磁気記録媒体の表面エネルギーに影響を与える因子を明らかにするとともに、表面エネルギーを解析する方法を提供することにある。
【解決手段】本発明は、非磁性基板上に磁気記録層，保護層および潤滑膜を備えた磁気記録媒体において、潤滑膜形成時の温度を因子として含めて重回帰分析を行うことにより、磁気記録媒体の表面エネルギーの極性成分を解析することを特徴とする。
また、この方法は、膜厚が２．０ｎｍ以下の潤滑膜に適用することが好ましい。 （もっと読む）

【課題】薄膜化しても潤滑層との密着性、耐磨耗性及び耐腐食性に優れた保護層を備えた磁気ディスクの製造方法を提供する。
【解決手段】基板上に少なくとも磁性層と保護層と潤滑層が順次設けられた磁気ディスクの製造方法であって、前記保護層は化学的気相成長（ＣＶＤ）法で形成される。まず炭化水素系ガスを用いて成膜を行い、途中から炭化水素系ガスに窒素族又は酸素族に属する元素の単体もしくは化合物ガスを添加して引き続き成膜を行う。 （もっと読む）

【課題】磁気ヘッドへの汚染物質や腐食物の付着（転写）を防止することができる磁気記録媒体の検査方法を提供する。
【解決手段】非磁性基板上に少なくとも磁性層、保護層、潤滑剤層を有する磁気記録媒体の検査方法であって、前記磁気記録媒体を、シロキサンを含む雰囲気に曝露し、前記磁気記録媒体の表面への前記シロキサンの吸着量から当該磁気記録媒体の環境物質に対する耐性を検査することを特徴とする磁気記録媒体の検査方法を採用する。 （もっと読む）

【課題】高い精度で保持爪の位置を調整することができる保持爪位置の測定方法および測定具を提供する。
【解決手段】中心軸Ｃ２回りに測定具７１が回転すると、第１保持爪３１の先端や第２保持爪３２の先端は第１縁８１や第２縁８３に近づいていく。第１保持爪３１の先端が第１縁８１に接触すると、接触位置で目盛り８２が読まれる。目盛り８２は、中心軸Ｃ２回りの角位置に中心軸Ｃ２から第１縁８１までの距離を関連付けることから、第１保持爪３１および第１縁８１の接触位置の目盛り８２で第１保持爪３１の先端の位置が特定される。第２保持爪３２の位置は第１保持爪３１と同様に特定される。こうして第１および第２保持爪３１、３２の先端の位置は目盛り８２、８４に基づき測定されることから、作業者の相違によるばらつきは確実に回避される。第１および第２保持爪３１、３２の先端の位置は高い精度で調整される。 （もっと読む）

【課題】光透過性スタンパーの欠陥の有無を容易に確認する。
【解決手段】波長４５０ｎｍ以下、ＮＡ０．６以上であるレーザーをデータ記録部に照射し、その電圧信号の和信号において、スタンパの回転数の６０倍から１７０倍の周波数の範囲内における最大電圧値レベルをＶｆと、データ記録部の平均和信号電圧値をＶａｖｅとが、Ｖｆ／Ｖａｖｅ＜７．７×１０^−４…（１）を満足するか判定する。 （もっと読む）

【課題】供試品に対する繊維状粒子の影響を適切に評価することができる塵埃試験装置を提供することを課題とする。
【解決手段】塵埃評価試験装置１は、筐体３を有し、この筐体３の上部に塵埃発生器２が配置されている。塵埃発生器２は、筐体３の上方に設けられた塵埃室２ａ内に配置されている。筐体３の内部に、すなわち、塵埃発生器２の下方に金網からなる網状部６が設けられている。この網状部６は、供試品５が載置される供試品載置部である。網状部６の下方には、塵埃貯留部９が設けられている。塵埃発生器２は、繊維状物質を纏めて形成された母材に擦り合わせて当該母材を擦切って繊維状粒子７を生成しすることができる。 （もっと読む）

【課題】サーボパターンにおける半径方向の精密度（リニアリティ）を迅速かつ正確に評価することができるモールド構造体の検査方法、モールド構造体、及び磁気記録媒体の提供。
【解決手段】サーボ領域用凹凸パターンと、データ領域用凹凸パターンとを有するモールド構造体の検査方法であって、該モールド構造体のサーボ領域用凹凸パターンに応じた磁気信号を、垂直磁気記録媒体に磁気転写する磁気転写工程と、垂直磁気記録媒体の磁気信号を、磁気ヘッドを用いてサーボデータを５０トラック以上電気的に再生して再生信号を取得する再生信号取得工程と、前記再生信号から半径方向のパターン描画精度を算出して、モールド構造体の性能を評価する評価工程とを含むモールド構造体の検査方法である。 （もっと読む）

【課題】本件は、磁気ディスク媒体等の記録メディアの試験方法および製造方法に関し、
平滑な表面上に凝集を発生させず、かつ潤滑特性と安定浮上特性を維持両立する記録メディアを得る。
【解決手段】基板上に少なくとも記録層を有する記録メディアの表層に潤滑層を形成する形成ステップ（Ｓ１２）と、潤滑層形成後の記録メディアに紫外線を照射する照射ステップ（Ｓ１３）と、紫外線照射後の記録メディアをアルコール蒸気中に暴露する暴露ステップ（Ｓ２１）と、アルコール蒸気暴露後の記録メディアの表面状態を観察する観察ステップ（Ｓ２２）とを有する。 （もっと読む）

【課題】一様な膜厚の潤滑膜を維持することができる記憶装置および潤滑膜の膜厚の調整方法を提供する。
【解決手段】記憶装置１１は、表面に潤滑膜５３を有する記憶媒体１４を備える。ヘッドスライダ２２は媒体対向面３４で記憶媒体１４の表面に向き合わせられる。ヘッドスライダ２２には媒体対向面３４から潤滑膜５３に熱を作用させる発熱体４８が組み込まれる。発熱体４８から記憶媒体１４上の潤滑膜５３に熱が作用すると、潤滑膜５３の温度は上昇する。温度の上昇に基づき潤滑膜５３の粘性は低下する。潤滑膜５３の流動性は増大する。膜厚の大きい領域から膜厚の小さい領域に潤滑膜５３は移動していく。こうして潤滑膜５３の表面は平滑化される。潤滑膜５３の膜厚は均一値に向かって調整される。こうして発熱体４８の発熱に基づき潤滑膜５３の表面の平滑化は促進される。 （もっと読む）

【課題】ハードディスクの平面部及び端面（エッジ部）の同時検査に好適なディスク検査装置及び方法並びにプログラムを提供する。
【解決手段】エッジを含んだディスク表面の所定形状の検査領域部分を視野内に含む撮像手段を用いて当該検査領域部分からの反射光を撮像することにより得た取り込み画像からハードディスクのエッジ位置を検出するエッジ検出処理手段と、当該検査対象ディスクの内径、外径及び記録面領域の範囲を規定する仕様情報を取得する情報取得手段と、検出したエッジ位置と仕様情報に基づき、取り込み画像を記録面領域、非記録内周領域、非記録外周領域、外周エッジ領域、内周エッジ領域の各領域に対応したウインドウに分離するウインドウ分離手段と、各領域ごとにデータ処理を行い、塵埃の位置及び大きさの情報を得る画像解析手段と、得られた結果をモニタ画面上に表示させる表示制御手段とを備える。 （もっと読む）