【課題】レジストパターンの形成精度を高め、製造歩留まりの高い磁気記録媒体の製造方法及び磁気記録媒体、並びに磁気記録再生装置を提供する
【解決手段】少なくとも、非磁性基板１上に連続した磁性層２を形成する工程、磁性層２の上にレジスト層４を形成する工程、レジスト層４をパターニングする工程、及び、パターニングしたレジスト層４を用いて磁性層２を磁気的に分離する工程の各工程をこの順で有しており、レジスト層４をパターニングする工程において、レジスト層４の内、当該磁気記録媒体における磁気記録再生に使用されない領域に検査用パターンを形成し、該検査用パターンに記録された制御情報を用いることにより、レジスト層４をパターニングする工程における、当該磁気記録媒体ワークの次に加工する磁気記録媒体ワークの加工条件、及び／又は、磁性層２を磁気的に分離する工程における、当該磁気記録媒体ワークの加工条件を制御する。 （もっと読む）

【課題】下地層を薄くしても高配向で、形状劣化のない磁性層が得られ、信号品位に優れる磁気転写用マスター担体及びその製造方法などの提供。
【解決手段】配向基材と、前記配向基材上に形成された下地薄層と、該下地薄層上に形成された磁性層とを有する磁気転写用マスター担体の製造方法であって、パターニングされたケイ素基板のパターン側表面を熱処理する導電層形成前熱処理工程と、該熱処理後のケイ素基板上に、Ｎｉ導電層を形成する導電層形成工程と、該導電層を有するケイ素基板上に、Ｎｉめっきを施し、基材を形成するめっき工程と、前記基材を、前記ケイ素基板から剥離させる剥離工程とを含む磁気転写用マスター担体の製造方法である。 （もっと読む）

【課題】 定点浮上に起因して発生する経時により回復するリードエラーの発生を評価する磁気記録媒体の評価方法、およびそのようなリードエラーの発生を極めて低減した磁気記録媒体を提供する。
【解決手段】
表面に潤滑層１２８を備える磁気記録媒体１００の評価方法であって、磁気記録媒体１００を所定の回転数で回転させつつ、磁気ヘッドを所定の浮上高さ及び所定の位置で浮上させた場合において、前記磁気ヘッドの直下に形成される略線状の隆起の高さに基づいて、良否を判断することを特徴とする。または、磁気記録媒体１００を所定の回転数で回転させつつ、磁気ヘッドを所定の浮上高さ及び所定の位置で浮上させた場合において、発生したリードエラーのうち、経時により回復するリードエラーの発生に基づいて良否を判断する。 （もっと読む）

【課題】磁気ディスク用ガラス基板の欠陥が両主表面のどちらにあるのかを正確に検出することができる磁気ディスク用ガラス基板の製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法は、製造された一対の主表面を有する磁気ディスク用ガラス基板を検査する検査工程を含む磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、前記検査工程において、磁気ディスク用ガラス基板に対して光学式自動外観検査で欠陥の検査を行い、前記光学式自動外観検査で特定された前記欠陥の位置について、焦点深度が比較的浅い一眼レフ機能を備えた光学系の焦点を前記磁気ディスク用ガラス基板の主表面に合わせた状態で、前記磁気ディスク用ガラス基板の主表面上の欠陥を検出する。これにより、磁気ディスク用ガラス基板の欠陥が両主表面のどちらにあるのかを正確に検出することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】磁気ディスク用ガラス基板の欠陥が両主表面のどちらにあるのかを正確に検出することができる磁気ディスク用ガラス基板の製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法は、製造された磁気ディスク用ガラス基板を検査する検査工程を含む磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、前記検査工程において、磁気ディスク用ガラス基板に対して光学式自動外観検査で欠陥の検査を行い、前記光学式自動外観検査で特定された前記欠陥の位置について、焦点深度が比較的浅い光学系を備えた光学顕微鏡の焦点を主面に合わせた状態で、前記磁気ディスク用ガラス基板の主面上の欠陥を検出する。これにより、磁気ディスク用ガラス基板の欠陥が両主面のどちらにあるのかを正確に検出することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】磁気ディスク用ガラス基板の欠陥が両主表面のどちらにあるのかを正確に検出することができる磁気ディスク用ガラス基板の製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法は、製造された主表面磁気ディスク用ガラス基板を検査する検査工程を含む磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、前記検査工程において、磁気ディスク用ガラス基板に対して光学式自動外観検査で欠陥の検査を行い、前記光学式自動外観検査で特定された前記欠陥の位置について、磁気ディスク用ガラス基板レーザドップラー干渉計で、前記磁気ディスク用ガラス基板の主表面上の欠陥を検出する。これにより、磁気ディスク用ガラス基板の欠陥が両主表面のどちらにあるのかを正確に検出することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】両面磁気ディスク用ガラス基板と片面磁気ディスク用ガラス基板を歩留まり好く製造する方法を提供する。
【解決手段】磁気ディスク用ガラス基板の表面欠陥検査において、両面磁気ディスク用ガラス基板として用いられるか否かを検査した結果、両面磁気ディスク用ガラス基板として用いられないと判断したものに対し、表面欠陥が基板のどちら側の面にあるのか（または両面にあるのか）を判断し、いずれか一方の面のみに表面欠陥がある基板は、表面欠陥のない面を磁気記録面とした片面磁気ディスク用ガラス基板として用いる。 （もっと読む）

【課題】凹凸パターンの形状安定性に優れた転写用原盤を得る。
【解決手段】微細な凹凸状パターンが形成された原盤(26)の表面に、密度７．５〜８．９ｇ／ｃｍ^３の導電性膜（Ｎｉ膜）による初期層(16)を形成し、その後、電鋳法により金属層(28)を形成する。こうして、少なくとも初期層(16)と金属層(28)の２層を有して一体となった複版(30)を原盤(26)から剥離し、金属層(28)の凹凸面に初期層(16)が積層形成された複版(30)である転写用原盤を得る。磁気転写用マスターディスク、ディスクリート・トラック媒体（ＤＴＭ）用のモールド、光ディスク用のスタンパーなど様々な転写用原盤に適用できる。 （もっと読む）

【課題】記憶媒体へのサーボパターン転写不良を回避又は低減する。
【解決手段】サーボパターン転写前の記憶媒体の表面に、異物（ゴミ等）又は欠陥（キズ等）があるか否かを検査する（ステップＳ１）。続いて、記憶媒体表面の異物又は欠陥と、転写マスタのサーボパターンとの相対位置を計算する（ステップＳ２）。相対位置は、例えば、角度で表現され、相対角度と呼ぶこととする。続いて、記憶媒体及び／又は転写マスタを回転若しくは異動させて、記憶媒体の表面上の異物又は欠陥と、転写パターンとの重畳による転写パターンの転写不良を回避又は低減する様に、相対位置を調整する（ステップＳ３）。続いて、記憶媒体にサーボパターンが、磁気的又は物理的に転写される（ステップＳ４）。このようにしてサーボパターンを転写すると、サーボパターンの転写不良を回避又は低減し、記憶媒体の廃棄率を低減し、記憶装置の製造コストを低減することが可能になる。 （もっと読む）

【課題】
ＤＴＭ（ディスクリートトラック方式の磁気記憶媒体）等ののトラックの偏心量を磁気ヘッドにより簡単に測定することができる磁気記録媒体のトラック偏心の測定方法を提供することにある。
【解決手段】
この発明は、偏心をもってスピンドルに装着されたＤＴＭ等の所定のトラックに書込まれたテストデータを読出して読出信号を得て、読出信号の包絡線波形を検出して複数の島状となって得られる包絡線波形の数をカウントすることにより偏心量を測定するものである。 （もっと読む）

【課題】十分な耐久性、耐湿性、耐コンタミネーション性を有し、しかもＲ／Ｗ特性を保持した好適な潤滑層を備えた垂直磁気記録媒体を提供することを目的とする。
【解決手段】基体１１０上に、磁気記録層１２２、媒体保護層１２６および潤滑層１２８をこの順に備える垂直磁気記録媒体１００の製造方法において、潤滑層の膜厚を様々に変化させて表面自由エネルギーを測定する測定工程と、測定した表面自由エネルギーが最小値に達していない膜厚と表面自由エネルギーとの関係に近似する線形関数を導出する線形近似工程と、線形関数が表面自由エネルギーの最小値に達するときの膜厚Ｔを求める膜厚決定工程と、を含むことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】ディスクの表面（記録面部分）及び端面（エッジ部）の同時検査や両面の同時検査に好適なディスク検査装置及び方法を提供する。
【解決手段】垂直姿勢で保持されたディスク12の面に対し、照明装置112，114,116,118からエッジを含んだ検査領域の形状と略同一形状の照射範囲となる照明光パターンの照明光を照射し、当該エッジを含んだ検査領域部分からの反射光をカメラ102,104によって撮像する。照明光は、光ファイバーなどのライトガイドを使用して照射パターン形状を整形し、ディスク12のテクスチャの接線方向に沿って照射する。カメラ102,104から得られる画像を解析し、ディスクの中心位置と半径を求めて自動的に各検査面のウインドウを形成する。また、検査画像からエッジ部分における反射形状を認識し、当該反射形状に基づき、塵埃と塵埃以外の要因によるものとを判別して塵埃の検出と測定を行う。 （もっと読む）

【課題】 磁気ディスクのグライドハイトテスト中に発生するグライドヘッドのノイズレ
ベルを上昇させる潤滑剤の突起検出部流出端付着を抑制する。
【解決手段】 グライドヘッドスライダーの正の浮上圧力を発生させる浮上レールもしく
は突起検出レールの流出端を、浮上レール面に対し８０°以上９０°未満の角度で面取り
し、面取り深さを１０μｍ以上とすることにより、潤滑剤の突起検出部流出端付着を抑制
し、検査できる磁気ディスク枚数を上げる事ができる。 （もっと読む）

【課題】
ワークの検査効率を向上させることができるワークハンドリング機構、あるいは小型なワーク検査システムを提供することにある。
を提供することにある。
【解決手段】 戴き
この発明は、第１の中継点と第２の中継点と複数のワーク載置台とを有する中継台を設けて、中継台とワーク供給容器およびワーク収納容器との間でのワークの排出／供給処理を中継台の第１の中継点で行い、中継台と複数のワーク検査機との間でのワークのロード／アンロード処理を中継台の第２の中継点で行うものである。 （もっと読む）

【課題】特定の強磁性層の膜厚および磁気特性を選択的に評価する手法を提供し、それを用いた評価結果を製膜工程にフィードバックすることで、量産時に安定した磁気特性を有する垂直磁気記録媒体の製造方法を提供する。
【解決手段】非導電性基板上に軟磁性層と、酸化物を含有する第１強磁性層と、第２強磁性層と、保護層を製膜して媒体を形成する工程（１０４）と、前記媒体をサンプリングし、カー効果測定により磁気特性を評価する第１評価工程（１０８）と、第１評価工程において、磁気特性が目標値の範囲外となった場合、当該媒体をホール効果測定による評価を行い、第２強磁性層の膜厚および磁気特性を選択的に評価する第２評価工程（１１２）と、を有し、第２評価工程の評価結果を媒体形成工程（１０４）にフィードバックし、媒体の磁気特性が仕様範囲になるように第２強磁性層の製膜条件を制御する。 （もっと読む）

【課題】磁気ディスク基板の製造工程における欠陥検査で磁気記録層に不適切な欠陥が検出された磁気ディスク基板の主表面を、後の成膜工程において確実に判別することができ、初めから記録面として用いられないことが判っている基板面にまで高価な材料を用いることを回避してコストの削減を図ること。
【解決手段】磁気ディスク基板の欠陥検査工程で得られたＮＧ面情報を磁気ディスク基板に描画して後の成膜工程で判別できるようにする。または、収納カセット容器４に記録面情報又は非記録面情報を記載して後の成膜工程で判別できるようにする。成膜工程では予め使用しないと判っている基板面（非記録面）に対して、高価な材料を使用する膜を成膜しないことで、コストを下げる。 （もっと読む）

【課題】高記録密度化に伴って磁気ヘッドと磁気テープとの距離が狭くなったとしても、高感度に距離を測定することができる記録媒体評価方法を提供する。
【解決手段】磁気記録媒体と、磁気記録ヘッドと磁気再生ヘッドとを備えた磁気ヘッドとの間の距離を計測する記録媒体評価方法であって、磁気記録ヘッドにより磁気記録媒体に周期的に記録した信号の磁化遷移幅を計測し（Ｓ５）、記録信号を磁気再生ヘッドで再生したときの再生信号の半値幅を計測し（Ｓ３）、磁化遷移幅と半値幅とを比較する（Ｓ６）ことによって磁気記録媒体と磁気ヘッドとの間の距離を算出する。 （もっと読む）

【課題】 総合的な歩留まり改善および品質の向上を図ることを目的としている。
【解決手段】
本発明の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法は、素板工程と、ガラス素板のうちの一部を処理条件が異なる複数の製造ラインのうちの少なくとも１つの製造ラインへ供給してガラス基板を製造する試作工程と、製造された磁気ディスク用ガラス基板の特性パラメータを測定する測定工程と、前記測定結果に基づいて、前記同一ロットのガラス素板のうちの残りを供給すべき製造ラインを決定する決定工程と、決定された製造ラインへ該ガラス素板を供給する供給工程と、供給されたガラス素板から磁気ディスク用ガラス基板を製造する本製造工程とを含むことを特徴としている。 （もっと読む）

【課題】垂直磁気記録媒体の加熱温度Ｔと、その結果得られるカーボン保護層の密度ｄとの関係を明らかにすることにより、所望の密度のカーボン保護層が得られる加熱温度の範囲を求める。
【解決手段】垂直磁気記録媒体の磁気記録層を形成する工程と、垂直磁気記録媒体を加熱する工程と、カーボン保護層を形成する工程とを含み、加熱する工程では１９５≦Ｔ≦３７０℃に加熱し、ＸＲＲ法によって測定したカーボン保護層の膜厚をｔとし、ＸＲＦ法によって測定するカーボン保護層の範囲の面積をｗとし、ＸＲＦ法によって測定したカーボン保護層に含まれるカーボン原子の数をｎとし、カーボン保護層の密度をｄとしたとき、ｄ＝ｎ×１２×１０^−６／（ｗ×ｔ×６．０２×１０^２３）（ｇ／ｃｍ^３）で表される密度が、ｄ≧１．６５であることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】ガラス基板上の有機コンタミネーションを簡便に評価することが可能な手段による評価工程を備える磁気ディスク用ガラス基板の製造方法を提供する。
【解決手段】ガラス基板の鏡面研磨処理工程と洗浄処理工程を含む磁気ディスク用ガラス基板の製造方法であって、少なくとも前記洗浄工程の後に、ガラス基板主表面上の有機コンタミネーションの量を評価する工程を有する。そしてこの有機コンタミネーションの評価工程は、フーリエ変換赤外分光分析法を用いて行う評価工程である。 （もっと読む）