【課題】電池を組み立てることなく、電極の状態で組立後の電池の特性を直接的に反映し得る電極の評価方法を提供する。
【解決手段】
かかる電極の評価方法は、電極活物質とバインダとを含む多孔性の電極活物質層が集電体上に備えられてなる電極を評価する方法である。電極を少なくとも２枚用意し、電解質中において電極活物質層が対向するように前記電極を重ね合わせた評価用セルを用意する工程と、評価用セルにおいて、重ねられた一方の電極の前記電極集電体と、他方の前記電極集電体との間に電圧を印加する工程とを包含する。電圧は、交流電圧を高周波側から低周波側に変化させて印加するのが好ましい。 （もっと読む）

【課題】コンデンサを有する電子機器の寿命をより正確に算出する。
【解決手段】コンデンサの温度と寿命との関係を表す関係式に基づいて、前記コンデンサを有する電子機器の寿命を推定する寿命推定装置であって、前記電子機器が有する前記コンデンサの推定温度と、前記コンデンサが前記推定温度であった合計時間と、を温度毎に対応付けて記憶する温度別滞在時間テーブルと、前記各推定温度における前記コンデンサの寿命を、前記関係式を用いてそれぞれ算出する第１寿命算出部と、前記コンデンサの推定温度から算出される前記寿命の逆数と、前記コンデンサが前記推定温度であった前記合計時間と、の乗算値を前記推定温度毎に求め、前記各乗算値の合計値を、前記コンデンサの劣化度として算出する劣化度算出部と、前記劣化度の逆数を、前記電子機器の寿命として算出する第２寿命算出部と、を備える。 （もっと読む）

【課題】構成がきわめて簡単でありながら、コンタクトチェック、充電チェックおよび絶縁抵抗チェックを確実に行うことができるようにする。
【解決手段】充電ステップでコンデンサＣを規定電圧で充電したのち、検査ステップで、直流電源Ｅより一対のプローブＰを介してコンデンサＣに所定の直流電圧を印加した状態で、電流計１１にてコンデンサＣに流れる電流（漏れ電流）値を測定してコンデンサの良否を検査するにあたって、一対のプローブＰ間に電圧計１２を接続するとともに、直流電源Ｅにスイッチ１３を設け、スイッチ１３をオフとして電圧計１２にて測定される電圧測定値により、コンタクトチェックと充電チェックとを行い、ともに良好である場合に、スイッチ１３をオンとして絶縁抵抗チェックを行う。 （もっと読む）

【課題】三極式セルにおいて、安定な測定を可能とすることにある。
【解決手段】三極式セルにおいて、活性炭電極を参照極１１０に用いたので、正極２０、負極１０を切り分けて特性を評価することが可能となった。特に、参照極１１０の集電体に導電性カーボン塗料を塗布することで、集電体表面上の被膜形成が抑制され、活性炭電極を参照極１１０として使用しても正確な評価が可能となった。更に、電気二重層キャパシタの構成材料である活性炭電極の特性或いは劣化評価にも利用できるものである。 （もっと読む）

【課題】電解コンデンサの寿命を、従来の寿命加速試験に要していた試験時間よりも短期間で予測する。
【解決手段】電解コンデンサの寿命診断方法であって、電解コンデンサのケースに開口部を設け（ステップＳ３）、該ケース内部の電解液の拡散速度を加速させた状態で、電解コンデンサの寿命点店に至る時間が確認される（ステップＳ７）まで加速寿命試験（ステップＳ５）を行う。電解コンデンサの重量と静電容量を加速寿命試験で測定し、重量実測値と静電容量変化量の相関特性をロット別に求め（ステップＳ８）、電解コンデンサが劣化故障に至る寿命点の重量をロット別に算出し、開口部を設けていない電解コンデンサの寿命を推定する（ステップＳ９）。 （もっと読む）

【課題】電子部品内部の物理的性状を評価し、電子部品の特性解析に寄与することができる電子部品の特性評価方法を実現する。
【解決手段】誘電体セラミック２の両端に電極３ａ、３ｂが形成されたセラミックコンデンサに対し、表面が金属部７を有するプローブ４を、誘電体セラミック２の表面であって一方の電極３ｂ（陰極）の近傍所定位置に接触させ、異なる複数の電圧をプローブ４と電極３ｂとの間に印加して電流値を測定し、電流−電圧特性をファウラー・ノルドハイムの式にフィッテングさせ、ショットキー障壁高さφを推定し、さらに空乏層幅ｗ及び酸素欠陥濃度Ｎ_Ｄを算出し、これにより電子部品の特性評価を行う。 （もっと読む）

【課題】 使用環境下で発生するおそれがあるチップ部品の内部クラックを有効に検出することが可能なチップ部品の良否判定方法を提供すること。
【解決手段】 複数の端子電極が形成されたチップ部品を準備する工程と、配線が施された試験用基板のパッド部と端子電極とを接続する工程と、加圧部を有する耐湿負荷試験機内に試験用基板を、チップ部品が取付けられた試験用基板の表面が下向きになるように配置し、試験用基板の裏面から加圧部で試験用基板を加圧して、チップ部品が突出するように試験用基板を撓ませる工程と、試験用基板を撓ませた状態で、耐湿負荷試験機を用いて加湿試験を行い、電気的特性の劣化の有無を評価する工程とを有する。 （もっと読む）

【課題】大容量のキャパシタの等価直列抵抗、キャパシタンス及び自己放電抵抗を自動的に測定することのできるキャパシタの評価装置に関する。
【解決手段】本発明のキャパシタの評価装置は、充電及び放電を制御する充放電制御部１００と、測定対象であるキャパシタＣＳＰと電源供給部５０との間の連結またはキャパシタＣＳＰと放電部３００との間の連結を選択する充放電スイッチ２００と、キャパシタＣＳＰの放電のための放電抵抗を提供する放電部３００と、キャパシタＣＳＰの電圧を測定する電圧測定部４００と、キャパシタＣＳＰの充電電流または放電電流を測定する電流測定部５００と、充電及び放電過程においてキャパシタＣＳＰの電圧と充電電流及び放電電流とに基づいて、等価直列抵抗Ｒｅｓ、キャパシタンスＣ及び自己放電抵抗Ｒｓｄを求めるメイン制御部６００とを含むことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】試験基板の上に載置した電池などの電子部品に圧力を加えながら性能試験を行う。
【解決手段】電池に圧力を加えるための押圧器２１は、間にコイルスプリング２７を設けた上下板状部材２２、２５から成る。上側板状部材２２の四隅に穴２９があいており、同じく左右辺の中ほどにノッチ３０が形成してある。他方、基板１には４本のピン３１、２本のポスト３２が立っている。さらに、上側板状部材２２の中央に、フック３３がピン３５で枢支されている。基板１に被験電池５を載置し、さらにその電池の上に押圧器２１を置き、上側板状部材２５を下向きに押し付ける。すると、コイルスプリング２７が縮んで、上側部材にあけられた穴２９に、基板１上に立っているピン３１が係合して、押圧器は位置決めされる。同時に、上側部材２５のノッチ３０から、基板１上に立っているポスト３２が頭部を出すので、この頭部にフック３３を係合すると、スプリング２７は圧縮された状態に保持され、被験電池５に圧力が掛かる。 （もっと読む）

【課題】電子デバイスの絶縁性薄膜の信頼性評価を行う方法を提供する。
【解決手段】本発明の一態様は、ＭＬＣＣ２を用意する工程と、前記第１の導電体が抵抗素子４の一方端に電気的に接続され、前記抵抗素子の他方端が第１の直流電源５に電気的に接続され、前記第１の直流電源が前記第２の導電体に電気的に接続され、前記抵抗素子の一方端及び他方端それぞれが増幅器７の入力側に電気的に接続され、前記増幅器の出力側が周波数分析器８に電気的に接続された接続状態で、前記増幅器の出力を前記周波数分析器によって分析することで得られるPool Frenkel電流に基づく１／ｆ特性を示す範囲の電流ゆらぎの大きさを測定する工程と、前記工程で測定された１／ｆ電流ゆらぎの大きさが大きい場合は、前記絶縁性薄膜の質が悪いと判定し、前記工程で測定された１／ｆ電流ゆらぎの大きさが小さい場合は、前記絶縁性薄膜の質が良いと判定する工程とを具備する。 （もっと読む）

【課題】Pool Frenkel障壁高さを求めることにより電子デバイスの絶縁性薄膜の信頼性評価を行う方法を提供する。
【解決手段】本発明の一態様は、ＭＬＣＣ１を用意し、ＭＬＣＣの第１の導電体が抵抗素子２の一方端に電気的に接続され、抵抗素子２の他方端が直流電源３に電気的に接続され、直流電源３がＭＬＣＣ１の第２の導電体に電気的に接続された接続状態で、直流電源３によって抵抗素子２の他方端と第２の導電体との間に電圧Ｖを印加した時に抵抗素子２に流れる電流Ｉを測定し、測定された前記電流Ｉと前記電圧Ｖからｌｏｇ（Ｉ／Ｖ）とＶ^１／２の関係を求め、前記関係を直線近似した近似直線を求め、前記近似直線によってＶ^１／２が０である時のｌｏｇ（Ｉ／Ｖ）の値Ｃを求め、前記値ＣからPool Frenkel障壁高さΦ_ＰＦを求めることにより、前記絶縁性薄膜の質が良いか悪いかを判定する。 （もっと読む）

【課題】アルミニウム電解コンデンサの特性劣化を確実に検出することができる特性劣化検出回路を提供する。
【解決手段】三相ブラシレスＤＣモータ１０９は、近傍に配置された回路基板１０２のＭＯＳＦＥＴアレイ１０４により、スイッチング駆動される。回路基板１０２より離れた位置にある定電圧源１０１からの給電電圧の安定化のため、アルミニウム電解コンデンサ１０３が搭載される。コンデンサ１０５はアルミニウム電解コンデンサ１０３の陰極側と比較器１０８をＤＣ分離する。比較器１０８の逆相入力はＢＩＡＳ１０６によりＤＣバイアスが印加され、比較器１０８の正相入力には基準電圧としてＢＩＡＳ１０６にしきい値１０７を加算した電圧を印加する。これによりＢＡＩＡＳ１０６が変動してもしきい値１０７との電圧差は一定に保たれる。また比較器１０８の出力は劣化検知信号１１０となりアルミニウム電解コンデンサ１０３の劣化を検出すると出力される。 （もっと読む）

本発明は、電気化学デバイスから受け取った少なくとも１つの変数（Ｓ）によって決まる少なくとも１つの特性値（Ｖａｌ_ｉ）を取得するステップ（１０３）と、取得した特性値から前記デバイスの少なくとも１つの欠陥（Ｄ_ｉ）を決定するステップ（１０５）とを含む、電気化学デバイスの欠陥を検出する方法に関する。この方法はウェーブレット変換を含む数学的操作を含み、その操作は受け取った変数（Ｓ）から特性値（Ｖａｌ_ｉ）を取得するように行われる。本発明は、さらに、１つのそのような方法を行うデバイス、ならびに対応するコンピュータプログラムに関する。
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【課題】 従来のチップ形電解コンデンサ（表面実装形アルミ電解コンデンサ）の製造工程の一部で行われている充電等の試験では該コンデンサの微小な半田付け端子面に針状の探触子を圧接させて行っているが、この方法では該端子と探触子先端との相互の位置決めの微小な誤差などにより当該端子が損傷したり或いは適正な接触が損なわれるなどの不具合が生じることがあり、その結果、正常品を不良品と判定して製品の歩留まりを低下させるなどの問題がある。
【解決手段】 チップ形電解コンデンサを製造する過程において、同一方向に一対のリード線が突き出た通称０４タイプのコンデンサのリード線の根元を圧縮、折り曲げ、切断して半田付け端子面を形成する以前のリード線そのものに面（または線）で接触させて前記の試験等を実施する。これにより製品の歩留まりの向上が図れる。 （もっと読む）

【課題】コンデンサの漏れ電流測定時に、処理能力を低下させることなく高精度に漏れ電流を測定可能で、さらに搬送テーブルを大型化せずに、種々の容量のコンデンサで共用できるコンデンサ漏れ電流測定方法および測定装置を提供する。
【解決手段】コンデンサ漏れ電流測定装置は、リニアフィーダ１と、分離供給部２と、複数のワーク収納孔４が等間隔で形成された円形の搬送テーブル３と、充電ステージ６と、測定前充電ステージ７と、測定ステージ８と、排出ステージ９と、搬送ピッチ調整手段１０とを備えている。搬送テーブル３がワーク収納孔４の間隔の２倍を単位として間歇回転し、充電ステージ６から測定前充電ステージ７までの移動距離を搬送テーブル３の１回転より長くするため、漏れ電流の測定精度を向上できる。 （もっと読む）

【課題】薄膜誘電体の誘電特性測定に用いる微小薄膜キャパシタンス素子及び薄膜誘電特性測定評価方法であって、高周波数帯域における誘電体の誘電特性を高精度に測定評価することのできる微小薄膜キャパシタンス素子及びそれを用いた薄膜誘電特性測定評価方法を提供する。
【解決手段】薄膜誘電体７の誘電特性測定に用いる微小薄膜キャパシタンス素子１であって、被測定試料としての誘電体薄膜７が第１の電極層２ａと第２の電極層６との間に挟まれてなるキャパシタ部２と、前記第１の電極層２ａに電気的に接続されたコンタクト電極３と、前記第２の電極層６に電気的に接続され、前記コンタクト電極３の周りに形成されたグランド電極４とを備える。 （もっと読む）

【課題】比較的簡単な構成で、両面に金属膜が形成されたフィルムコンデンサに存在する絶縁欠陥部周辺の蒸着金属を除去する。
【解決手段】導通検出ユニット（35）により、電圧が印加される第１の分割電極（21a）と、残りの第１の分割電極（21a）とが電気的に絶縁されているかを検出し、この検出結果に基づいて、電圧印加ユニット（32）により第１の分割電極（21a）同士が絶縁状態であるときにのみ、第１の分割電極（21a）に対して電圧を印加する。 （もっと読む）

【課題】作業機械の動作を利用して、内部抵抗値を測定することのできる蓄電器の内部抵抗の測定方法及び内部抵抗測定装置を提供することを課題とする。
【解決手段】蓄電器の内部抵抗の測定方法は、作業機械の作業時に電動発電機を介して動力源と用いられる蓄電器の内部抵抗の測定方法であって、該蓄電器が無負荷状態のときに第１の電流値及び第１の蓄電電圧値を計測し、前記電動発電機により前記蓄電器を通電状態とし、前記蓄電器の該通電状態において第２の電流値及び第２の蓄電電圧値を計測し、該第２の電流値と前記第１の電流値によって得られる電流差と、該第２の蓄電電圧値と前記第１の蓄電電圧値によって得られる電圧差とに基づいて前記蓄電器の内部抵抗を算出することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】チャック不良を検出可能として正確な検査を行う。
【解決手段】抵抗１３ｂと直流電源１３ｃが直列接続された電源部１３から電解コンデンサ１の陽極・陰極端子３，４間に直流電圧Ｖを印加し、ケース５と陽極出力端子１３ｄとの間の電圧波形Ａおよび直流電源１３ｃから出力される電流の電流波形Ｂを直流電圧Ｖの印加開始から測定し、波形Ａを判定エリアＣと、波形Ｂのピーク値を判定値Ｄと比較し、波形Ａ全体が判定エリアＣに含まれピーク値が判定値Ｄ以上のときは陽極端子３とケース５とが非短絡状態にあると判別し、波形Ａの一部が判定エリアＣに含まれず、ピーク値が判定値Ｄ以上のときは陽極端子３とケース５とが短絡状態にあると判別し、波形Ａの一部が判定エリアＣに含まれず、ピーク値が判定値Ｄ未満のときは陽極出力端子１３ｄと陽極端子３とが非接続かまたは陰極出力端子１３ｅと陰極端子４とが非接続であると判別する。 （もっと読む）

【課題】 電子部品から平行に延びるフレキシブルな薄板電極にワンタッチで確実に接続できる試験用コネクタを提供する。
【解決手段】
上段挟持板１０はプラスチック製の細長い板であり、その下面に、左右の接触端子１２が間隔を設けて取り付けてある。下段挟持板１１は細長いプリント基板でできており、その上面に形成される金属箔部分１３が左右の接触端子を形成している。上段挟持板は１０両端の近くから下に向かって支柱１７が延びており、これら支柱は下段挟持板１１を貫き、プラスチックの細長い基台１９に固定されている。他方、下段挟持板１１から上段挟持板１０を貫いて３本の上段支柱１７が上に伸びており、これら上段支柱の上に細長い押圧部材２０が支持されている。押圧部材と上段挟持板の間には支柱に沿う格好でコイルスプリング２１が縮設されている。 （もっと読む）