Fターム[5E319CD52]の内容
印刷回路に対する電気部品等の電気的接続 (35,455) | 前処理又は後処理 (6,355) | 検査・測定 (645) | はんだ付け検査 (447)
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光による検査 (287)
プリント配線板の検査用パターン (45)
Fターム[5E319CD52]に分類される特許
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電子機器
プリント配線板
ハンダ付け検査装置
不良検査装置、部品実装システム、不良検査方法、プログラム
不良検査装置、部品実装システム、不良検査方法、プログラム
基板検査装置、部品実装システム、基板検査方法、プログラム
部品実装システム
ハンダ状態検出装置
擬似接触の電気検査方法及び電気検査装置
はんだ接合部の寿命予測方法、はんだ接合部の寿命予測装置、及び電子機器
はんだ接合部の熱疲労寿命診断方法
レーザ溶接方法、電子部品接続構造及びレーザ溶接検査方法
高温鉛フリーはんだペースト
半導体パッケージ、配線基板、及びリフロー炉
ストレス付与装置、及びこれを用いた実装基板の製造方法
コーティング膜付きPbフリーZn系はんだ合金及びその製造方法
【課題】 酸化を防ぐことができ、濡れ性や接合性に優れた高温用のPbフリーZn系はんだ合金及びその製造方法と、そのPbフリーZn系はんだ合金によって接合された実装基板を提供する。
【解決手段】 シート状、ワイヤー状又はボール状であり、Znを80質量%以上含有するPbフリーZn系はんだ合金と、その表面にメッキ法、蒸着法、又はスパッタリング法により形成されたコーティング膜とからなるコーティング膜付きPbフリーZn系はんだ合金であって、コーティング膜はAg、Au、Cu及びNiから選らばれた少なくとも1種からなり、コーティング膜の膜厚が0.05〜2.00μmである。
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ろう接装置
【課題】高価な装置を用いることなくろう接の状態を検査判定することを課題とする。
【解決手段】ろう104を介してベース基板103と半導体チップ102を接合してろう接する際に、治具101によりろう接後の露出したろう表面に接合状態を判定する第1の凸部106−1と第2の凸部106−2を形成し、第1の凸部106−1は、ベース基板103とろう104との接合面からろう104の厚みに要求される許容下限値hminの高さに形成し、第2の凸部106−2は、ベース基板103とろう104との接合面からろう104の厚みに要求される許容上限値hmaxの高さに形成することを特徴とする。
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モジュールおよび電子機器
はんだ接合部の品質管理方法および品質管理装置
温度センサ接合部検査装置、及び、温度センサ接合部検査方法
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