説明

Fターム[5F004BC03]の内容

半導体のドライエッチング (64,834) | 装置の細部 (2,084) | ガス管、バルブ、流量制御 (578)

Fターム[5F004BC03]に分類される特許

1 - 20 / 578


【課題】中央部と周縁部とでエッチング形状を均一化することのできる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】チャンバと、該チャンバ内に配設され被処理ウエハが載置されるチャックと、前記チャックの周縁部に前記ウエハの載置位置を囲うように配設されたフォーカスリングと、前記ウエハの径方向の位置に応じて異なる種類のガスを供給可能なガス供給機構とを備えたプラズマエッチング装置を用いて前記ウエハからなる半導体装置を製造する製造方法であって、有機膜が形成されたウエハを前記チャック上に載置し、前記処理ガス供給機構から、前記ウエハの有機膜をエッチングするエッチングガスを前記ウエハの中央部に導入し、前記処理ガス供給機構から、前記エッチングガスと反応する性質を有するエッチング阻害因子ガスを前記ウエハの周縁部に導入し、前記エッチングガスを用いて前記ウエハをプラズマエッチングすることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】簡易な装置構成を有して小型化でありながら、基板やトレイ上におけるガスの流れや圧力分布の偏りを効果的に低減できるプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】ドライエッチング装置1のチャンバ5は頂壁8、底壁7、側壁9、端壁11、及び開口端12を備える一体構造のチャンバ本体6と、開口端12を閉鎖する蓋体16とを備える。処理対象物支持台26のベース31の側部31aには端壁11と処理対象物支持台26との間にガスが流れる十分な空間を確保する凹部51が設けられている。 (もっと読む)


【課題】精密かつ高速に圧力制御を行なうことができる圧力制御装置を提供すること。
【解決手段】実施形態の圧力制御装置は、ゲート開度を調整することによってガス配管のガス圧力を調整するバルブと、前記バルブに接続された軸部と、ガイド部と、前記軸部を軸回転させる回転駆動部と、ガス配管内のガス圧力が所望のガス圧力となるよう前記回転駆動部を制御する制御部と、を備えている。前記ガイド部は、前記軸部を支持するとともに、前記軸部をねじ機構によって軸方向に移動させる。また、前記ガイド部は、前記軸部を囲う筐体と、一方の端部が前記筐体に固定配置されるとともに他方の端部が前記ねじ溝に接触する固定ピン部と、を有している。前記軸部は、1本のねじ溝に複数種類のピッチが設けられ、且つ前記ねじ溝が前記固定ピン部と接触した状態で回転しながら軸方向に移動する。 (もっと読む)


【課題】流量制御機器の流量精度を常時監視しつつ、必要な場合には、再検定又は流量監視ユニット自体の自己診断を含む、より信頼性の高い流量検定を行う。
【解決手段】ガスを流量制御機器を経由してから所定のプロセスチャンバに供給する複数のプロセスガスラインに配設し、流量制御機器の前後におけるガス圧の下降又は上昇を測定することで流量制御機器の流量監視を行うガス流量監視システムにおいて、プロセスガスラインの内、選択した任意のプロセスガスラインの流量制御機器の上流側流路に備える第1流量監視ユニットと、プロセスチャンバの上流側流路から分岐する排出流路に備える第2流量監視ユニットと、第1流量監視ユニットによって流量制御機器の流量を常時監視するとともに、第1流量監視ユニットが複数回流量異常と検知した時に第2流量監視ユニットによって流量制御機器の流量異常の有無を再検定するよう指令する制御部とを有する。 (もっと読む)


【課題】プラズマ耐性の高いイットリアを含む材料でコーティング膜を形成した場合でも、イットリア粒子の脱粒やクラックなどによるコーティング膜の劣化を抑えることができる保護膜を提供する。
【解決手段】本発明の一つの実施形態によれば、ガス供給部材41は、第1の径を有し、ガス流方向に延伸するガス流路421と、ガス流路421の一方の端部に接続され、ガス供給部材41のガス流の下流側の面41Aに設けられる吐出口422と、を有するガス供給路42を備える。吐出口422を構成する面の少なくとも一部の面は曲面によって構成される。また、吐出口422を構成する面上と、ガス供給部材41の下流側の面41A上とにイットリア含有膜50を備える。 (もっと読む)


【課題】ラジカル密度を均一化し、エッチングの均一性を向上させることのできる無電極方式のプラズマエッチング装置を提供する。
【解決手段】減圧処理室20と、第一のガス導入機構16と、誘電体窓26と、プラズマ生成手段(13、15)と、試料21を載置する試料台18と、試料台18に接続された第一の高周波電源29とを有する無電極方式のプラズマエッチング装置において、第二のガスを供給するためのガス導入機構(36、40)と、試料21の外周周辺にラジカルを発生させる高周波電力を投入するための第二の高周波電源2とを更に有する。 (もっと読む)


【課題】精密かつ高速に圧力制御を行なうことができる圧力制御装置を提供すること。
【解決手段】実施形態の圧力制御装置は、バルブと、前記バルブに接続されている軸部と、ソレノイド部と、マイクロメータ部と、制御部と、を備えている。前記ソレノイド部は、前記軸部をソレノイド駆動によって軸方向に移動させることにより、前記軸部を介して前記バルブのゲート開度を調整し、前記マイクロメータ部は、前記軸部に着脱自在に取り付けられるとともに、前記軸部に取り付けられた場合には前記軸部をねじ機構によって軸方向に移動させることにより、前記軸部を介して前記バルブのゲート開度を調整する。前記制御部は、前記マイクロメータ部を用いて前記ガス圧力を制御する際には、前記マイクロメータ部を前記軸部に取り付け、前記ガス圧力を制御する際には、前記マイクロメータ部を前記軸部から取り外す。 (もっと読む)


【課題】特定のイオン種洗浄ガスから除外する洗浄チャンバ、簡単に交換又は再調整できるチャンバ構成部品、基板汚染を抑え均等な加熱を可能にする基盤加熱台座部を提供する。
【解決手段】基板洗浄チャンバ24は、例えば消耗セラミックライナ60、基板加熱台座部80及び処理キット114等の様々な構成部品を備える。消耗セラミックライナは、遠隔ガスエナジャイザ52のガス出口チャネル62を基板洗浄チャンバのガス入口チャネル40に接続するために設置される。基板加熱台座部は、配列された凹部内に複数のセラミックボール90が位置決めされた基板受け面を有する環状プレート82を備える。処理キットは、トッププレート116、トップライナ118、ガス分散プレート120、ボトムライナ122及びフォーカスリング124を備える。 (もっと読む)


【課題】ビアホールやトレンチなどのエッチング形状をウエハ面内で均一化することが可能なエッチング方法を提供する。
【解決手段】エッチング処理対象の基板へ供給されるエッチングガスの供給条件を調節する供給条件調整部と、載置台上に載置される前記基板の温度を前記半径方向に沿って調整する温度調整部と、前記供給条件調整部及び前記載置台の間の空間にプラズマを発生させるプラズマ発生部とを有するエッチング装置において前記基板をエッチングするエッチング方法であって、前記基板の温度が前記基板面内で均一になるように前記温度調整部により制御する工程と、前記プラズマ発生部により発生されるプラズマ中の中性活性粒子の前記基板上方における濃度分布を前記供給条件調整部により調整することにより、前記基板面内でのエッチングレートを均一化する工程とを含むプラズマエッチング方法により上記の課題が達成される。 (もっと読む)


【課題】液化ガスの再液化を防ぎながら液化ガスの流量を精密に制御可能なマスフローコントローラーを提供する。
【解決手段】実施形態のマスフローコントローラー100は、流入口11から流入した液化ガスを分流するセンサー用配管13とバイパス配管14と、前記センサー用配管を覆うように配置された熱式センサー7と、前記センサー用配管を覆って前記センサー用配管と共に二重配管を形成し、前記センサー用配管および前記バイパス配管に連通する断熱領域15と、前記連通を遮断して前記断熱領域を閉鎖領域とする閉鎖バルブ1と、を備える。実施形態のマスフローコントローラーは、前記センサー用配管と前記バイパス配管とから合流した前記液化ガスの流出口12と、前記熱式センサーの検出結果に基づいて前記流出口から流出する前記液化ガスの流量を制御する制御手段と、前記各部位の全体を下方から加熱するヒーター2と、をさらに備える。 (もっと読む)


【課題】ホール底部の線幅及び深さのウェハ面内均一性に優れたプラズマエッチング方法及び装置を提供する。
【解決手段】プラズマエッチング装置において、処理容器と、基板を保持する保持部105と、前記保持部と対向する電極板120と、前記保持部と前記電極板とに挟まれた空間で、前記基板の径方向に対して各々異なる位置に配置された複数の処理ガス供給部143と、前記保持部又は前記電極板の少なくとも一方に高周波電力を供給して、前記空間の処理ガスをプラズマ化する高周波電源116と、前記複数の供給部の各々に対応して、処理ガスの供給条件を調節する調節手段130と、前記基板上における、プラズマ化された処理ガスに含まれる活性種の濃度分布について、供給された処理ガスの拡散の影響が支配的である位置と、供給された処理ガスの流れの影響が支配的である位置とで、前記供給条件を変えるように前記調節手段を制御する制御部190とを有する。 (もっと読む)


【課題】ウエハが出し入れされる方向に対して斜めに開閉駆動されるゲート弁において、プラズマが回り込みやすい側のシール部材の劣化を抑制する。
【解決手段】ゲート弁は、プラズマ処理装置のチャンバに対してウエハが出し入れされるゲートに設けられ、ウエハの出し入れの方向に対して斜めに交差する斜め方向に開閉駆動される。ゲート弁は、本体部1と、本体部1に設けられ、ゲート弁が閉じたときに、ゲート10の周縁部に当接するシール部2と、本体部1におけるシール部2が設けられる面から突出し、シール部2の前方において、プラズマが回り込みやすい側に隙間の狭隘部30を形成する突出部3とを備える。 (もっと読む)


【課題】圧力調整弁の二次側圧力の変動を低減して、流量制御機器から排出するガス流量を高精度に検定でき、測定用タンク内の圧力降下率を一定に維持する。
【解決手段】プロセスガス供給源からのガスを第1ライン遮断弁22と第2ライン遮断弁23と流量制御機器24とを経由しプロセスチャンバに供給する複数のプロセスガスライン2と、共用ガス供給源からのガスを第2ライン遮断弁23と流量制御機器24とを経由し排出すべく、分岐接続された共用ガスライン1とを有し、共用ガスライン1には、共用遮断弁12と測定用タンク13と第1圧力センサ141と圧力調整弁15とを備え、第1ライン遮断弁22及び共用遮断弁12を弁閉したとき、測定用タンク13内におけるガスの圧力降下を第1圧力センサ141により測定し流量制御機器24の流量検定を行うガス流量検定システムにおいて、圧力調整弁15は、該圧力調整弁15の二次側圧力を制御する。 (もっと読む)


【課題】 処理ガスの使用効率が良く、かつ、被処理体の面積が巨大であっても、ALD法の適用も可能となるバッチ式処理装置を提供すること。
【解決手段】 メインチャンバ31aと、メインチャンバ31a内に、このメインチャンバの高さ方向に積み重ねて設けられた、被処理体Gを載置する複数のステージ101a〜101yと、ステージ101a〜101yごとに設けられ、ステージ101a〜101yに載置された被処理体Gをカバーする複数のカバー102a〜102yと、を備え、複数のステージ101a〜101yと複数のカバー102a〜102yとで、複数のステージ101a〜101yに載置された複数の被処理体Gの各々を取り囲むように、メインチャンバ31aよりも容量が小さい処理用小空間106を形成する。 (もっと読む)


【課題】基板のエッジ領域に導入するエッジガスが基板のセンタ領域に拡散することを抑制する。
【解決手段】 基板のセンタ領域とその周りのエッジ領域に向けてガスを別々に供給するガス導入部を構成する上部電極200を設ける。上部電極はセンタガスのガス孔212を複数設けたセンタガス導入部204と,エッジガスのガス孔214を複数設けたエッジガス導入部206とを備え,エッジガス導入部のガス孔に連通するガス孔232が形成されたガス孔形成板230をエッジガス導入部の下面に取り付けることによって,エッジガス噴出口の垂直位置を調整できるようにした。 (もっと読む)


【課題】NHガスの利用効率を高めることのできる酸化膜エッチング装置、及び酸化膜エッチング方法を提供する。
【解決手段】シリコン酸化膜をプロセスチャンバ11でエッチングする酸化膜エッチング装置10であって、プロセスチャンバ11の前段でガスを励起する放電管12と、この放電管12にアンモニアガスを供給するマスフローコントローラ16aと、放電管12の後段にアンモニアガスを供給するマスフローコントローラ16cと、放電管12の後段に三フッ化窒素ガスを供給するマスフローコントローラ16dとを備える。 (もっと読む)


【課題】基板を均一に処理できる基板処理装置及び方法を提供する。
【解決手段】本発明による基板処理装置は、基板処理が遂行される空間を提供する工程チャンバーと、前記工程チャンバーと連結され、前記工程チャンバー内のガスが外部に排気される通路を提供する排気管と、前記排気管に設置されるポンプと、前記工程チャンバーと前記ポンプとの間の区間で前記排気管に設置され、前記排気管の通路を開閉するバルブと、を含む。前記バルブは、複数の排気ホールが形成された第1プレートと、前記複数の排気ホールが前記排気管の通路上に又は前記通路の外側に位置するように前記第1プレートを移動させる第1駆動器と、を含む。 (もっと読む)


【課題】処理ガスの供給を交互に切り換える際に,これらの処理ガスが混ざり合うことなく,過渡現象を従来以上に抑制する。
【解決手段】ウエハのプラズマ処理中に少なくとも2種類以上の処理ガス(例えばCガスとCガス)を交互に切り換えて処理室内に供給する際に,切り換える処理ガスを供給する各ガス供給路については,そのガス供給路に設けられたマスフローコントローラ(MFC)の下流側の開閉バルブを開いたまま,マスフローコントローラに所定流量とゼロ流量を繰り返して設定することによって,各処理ガスの供給を交互にオンオフする。 (もっと読む)


【課題】試料が処理室内に搬入され、プラズマ処理され、処理室内から搬出されるまでの中で処理室内での圧力変動により生じる異物巻上げ等による異物を低減する。
【解決手段】試料を処理する複数のプラズマ処理室と、それぞれの処理室内に連結され試料を搬送するための搬送室を有し、両室内もしくは処理室内のみに搬送室に供給する搬送用ガスと同じガスを供給する供給システムを具備するプラズマ処理装置を用いたプラズマ処理方法であって、処理室内への搬送用ガス導入後処理室内に試料を搬入する工程(イ)、その後処理室内の搬送用ガス導入維持状態で処理室内の搬送用ガスを利用してプラズマ発生させる工程(ウ)、このプラズマ維持状態で搬送用ガスを排気することなく処理室内に連続してプロセスガスを供給して搬送用ガスからプロセスガスへ切り替える工程(エ)、試料にプラズマ処理を行う工程(オ)、を有する。 (もっと読む)


【課題】窒化アルミニウム被覆膜が基材表面に強固に密着してなる耐熱・耐腐食性部材を提供すること。
【解決手段】窒化アルミニウムを主成分とした被覆膜によって、基材の少なくとも一部が覆われた部材。前記被覆膜が、その最表面に0.5原子%以上40原子%以下のフッ素を含有する窒化アルミニウム膜であることを特徴とする。 (もっと読む)


1 - 20 / 578