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Fターム[5F033HH18]の内容

Fターム[5F033HH18]に分類される特許

2,001 - 2,020 / 2,592


【課題】空孔率の高い層間絶縁膜を用いた信頼性の高い多層配線構造を有する半導体装置を提供する。
【解決手段】空孔率が50%以上の層間膜を有する下層配線層と、空孔率の低い上層配線層を備える多層配線構造において、配線層間を接続するビアを配線層を介して基板表面に垂直方向に連続して形成したスタックドビア70とチップ外周部に設けた外周リング80により、空孔率が低く厚い層間膜を有する上層配線層を支える構造とする。 (もっと読む)


【課題】ダイシングによってスクライブライン領域の保護膜及び各配線層に内部剥離或いはチッピング、ダメージが生じることを防止できる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体ウェハー上に、半導体回路を形成してなる複数の半導体素子領域4と、各半導体素子領域4をそれぞれに分離するスクライブライン領域3とを備える半導体装置において、スクライブライン領域3が半導体素子領域4との間に境界領域を有し、境界領域に半導体素子領域4とスクライブライン領域3とを隔てるシール部を形成し、シール部がシールリング6と補助部7からなり、シールリング6が半導体素子領域4とスクライブライン領域3との境界に沿って連続的に形成され、シールリング6に沿って配置する補助部7が断続的に配列され、シールリング6がメタル層からなる。 (もっと読む)


【課題】層間を電気的に接続するために形成されるコンタクトホールを、コンタクトホールの下層に形成された端部上に形成するに際し、コンタクトホールの形成に起因する層間の電気的な接続の切断を確実に防止できる構造を有する電気光学装置を提供する。
【解決手段】TFT基板10に成膜されるとともに、スペースh1を有する段部150が少なくとも一部に形成された走査線11と、走査線11上に積層された下地絶縁膜12と、下地絶縁膜12上に積層された半導体膜1と、半導体膜1上に積層された層間絶縁膜41と、層間絶縁膜41の段部150の上方に、層間絶縁膜41を貫通するよう形成されたコンタクトホール81と、を具備し、コンタクトホール81は、段部150の端部11tから、平面的に下地絶縁膜12の膜厚以上離間した段部150のスペースh1の位置上に形成されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】ウエットエッチングでもウェハの中央部と外周部で配線幅にばらつきが生じ難く微細化が可能となる低コストの半導体装置の製造方法およびその製造装置を提供すること。
【解決手段】半導体ウェハ1の中央部のシード層6の膜厚を外周部のシード層6の膜厚に比べ薄くすることで、ウェットエッチング時に外周部のシード層6と中央部のシード層6がほぼ同時に除去され、エッチング時間を短縮できる。エッチング時間が短縮することで、Cu配線9の幅の狭まり量を小さくでき、また、半導体ウェハの外周部と中央部とのCu配線9の幅のばらつきを小さくできて、Cu配線9の微細化を図ることができる。 (もっと読む)


【課題】 本発明は貫通電極の絶縁性を確保することを課題とする。
【解決手段】 半導体装置50は、半導体素子14の上面にデバイス形成層18が形成されており、デバイス形成層18の表面にはパッシベーション層26が積層されている。半導体素子14の上面には、上面側絶縁層60を介してデバイス形成層18及び複数のAl電極パッド20が設けられている。半導体素子14を貫通する貫通孔54の内周には、筒状絶縁層63が形成され、筒状絶縁層63の内部には、貫通電極56が充填されている。Al電極パッド20は、筒状絶縁層63の外周より所定距離離間位置に配置されており、筒状絶縁層63と非接触となるように設けられている。Al電極パッド20と貫通電極56の上端部との間は、上面側から貫通電極56の上端部に積層された平面電極66により接続されている。この平面電極66は、貫通電極56の上端部を中心としてAl電極パッド20を覆うように形成されている。 (もっと読む)


【課題】 基板の表面に複数のデバイスが形成されているとともにデバイスに電極が形成されているウエーハに、電極を破損することなく基板の裏面から電極に達する細孔を効率よく穿設することができるウエーハの穿孔方法を提供する。
【解決手段】 基板の表面に複数のデバイスが形成されているとともにデバイスに電極が形成されているウエーハに、基板の裏面側からパルスレーザー光線を照射し電極に達する細孔を穿設するウエーハの穿孔方法であって、基板を形成する材料と電極を形成する材料およびパルスレーザー光線の波長はパルスレーザー光線の波長に対する吸収率に基づいて選択され、基板の吸収率より電極の吸収率が低いパルスレーザー光線の波長となるように基板を形成する材料と電極を形成する材料およびパルスレーザー光線の波長が設定されている。 (もっと読む)


【課題】 本発明は小型化を図ると共に、デバイス形成層を保護した状態で貫通孔及び貫通電極を形成することを課題とする。
【解決手段】 半導体装置50は、貫通電極56を介してAl電極パッド20と再配線パターン52とを接続し、半導体素子14の再配線パターン52と配線基板12上の配線パターン24とをはんだバンプ58を介してフリップチップで接続する構成となっている。半導体素子14の上面には、デバイス形成層18と複数のAl電極パッド20が形成されている。Al電極パッド20と再配線パターン52との間には、半導体素子14を貫通する貫通孔54がドライエッチングにより設けられ、貫通孔54の内部には、Cuめっきにより貫通電極56が形成される。デバイス形成層18は、半導体素子14の上面に配置され、受光または発光が容易に行なえる。 (もっと読む)


【課題】 スタックト構造を有するコンタクトプラグの複数段連結されたコンタクトプラグのうちの下方のものについて、酸化防止を図る。
【解決手段】 半導体装置の製造方法は、半導体基板1上に第1の絶縁膜5を形成する工程(a)と、第1の絶縁膜5中に、バリアメタル膜7及びタングステン膜8からなる第1のプラグ9を形成する工程(b)と、第1のプラグ9Aの上方に、下部電極14、容量絶縁膜15及び上部電極16からなる容量素子17を形成する工程(c)と、第1の絶縁膜5及び第1のプラグ9上に、第2の絶縁膜11を形成する工程(d)と、第2の絶縁膜11中に、第1のプラグ9Bと接続してスタックト構造を構成する第2のプラグ21を形成する工程(e)と、工程(c)の後に、容量素子17に対して酸素雰囲気中で熱処理する工程(f)と、工程(b)と工程(d)との間に、半導体基板に対して熱処理をする工程(g)とを備える。 (もっと読む)


【課題】 半田等の接合材との接続信頼性が向上された半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】 本発明の半導体装置10Aは、半導体基板11の上面に活性領域20が形成され、この活性領域は酸化物が埋め込まれたトレンチ24により囲まれている。また、活性領域と電気的に接続された貫通電極16は、半導体基板の上面から裏面まで延在している。ここで、貫通孔16の下端は、半導体基板11の裏面を被覆する絶縁膜27よりも下方に突出している。従って、半田等の接合材を用いて半導体装置10Aを実装する際に、外部に突出する貫通電極16が接合材に埋め込まれて、接続信頼性が向上する。 (もっと読む)


【課題】水素を主成分とした還元性ガスを用いた熱還元処理および還元性ガスを用いたプラズマ処理を併用して行うことで、自然酸化膜の除去を可能とする。
【解決手段】基板10に形成された層間絶縁膜11に、表面が露出する様に銅を含む導電層15を形成する工程と、前記導電層15表面に対して水素を主成分とした還元性ガスを用いた熱還元処理を行う工程と、前記導電層15表面に対して還元性ガスを含むプラズマ処理を行うことによって前記導電層15表面に対して還元処理を行うとともに前記熱還元処理により吸着された水素を脱離させる工程と、前記プラズマ処理後の前記導電層15表面が酸素を含む雰囲気にさらされることなく前記導電層15表面を被覆する酸化防止膜17を形成する工程とを備えた半導体装置の製造方法である。 (もっと読む)


本発明は、半導体要素を製作するために、半導体ウエハ内に垂直貫通コンタクト(マイクロ・ビア)、すなわち、ウエハの前側から半導体ウエハを貫通してウエハの後側にいたるコンタクトを形成する方法に関する。本発明はまた、以下のステップを含む方法にも関する、すなわち、コンタクト接続点上のブラインド・ホールがウエハの後側から半導体基板内へレーザ穴開けされ、ウエハが洗浄され、ウエハの活性層スタックに到達するまで半導体基板が材料選択性の方法でプラズマ・エッチングされ、ウエハの後側に接続される予定のコンタクトに到達するまで、ウエハの活性層スタックが材料選択性の方法でプラズマ・エッチングされ、めっきベースがウエハの後側およびブラインド・ホール内に適用され、金が電気めっきによりウエハの金属化された後側およびブラインド・ホール上に適用される。 (もっと読む)


【課題】配線信頼性を向上させるとともに配線の高抵抗化を防ぐ半導体装置の製造方法および半導体装置を提供する。
【解決手段】基板11上に下層側に酸素含有絶縁層21aを有する層間絶縁膜21を形成する。次に、層間絶縁膜21の上層側に配線溝22を形成し、酸素含有絶縁層21aに接続孔23を形成する。次いで、接続孔23の側壁が露出するように配線溝22の内壁を覆う状態で、層間絶縁膜21上に、第1のバリア膜24を形成する。次に、配線溝22と接続孔23の内壁を覆う状態で、CuMn合金膜25を形成する。続いて、配線溝22と接続孔23とを埋め込む状態で、CuMn合金膜25上に銅を含む導電層26を形成する。その後、熱処理を行い、CuMn合金膜25中のMnを拡散させて、酸素含有絶縁層21a中の酸素と反応させることで、接続孔23の側壁に、金属含有酸化物からなる第2のバリア膜27を形成することを特徴とする半導体装置の製造方法および半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】 再配線構造を有する半導体装置において、支持板を使用することなく、また、ハンドリングによる破損のリスクも少ない状態で、工程数の増加を極力抑えることができる半導体装置およびその製造方法を提供することを目的とするものである。
【解決手段】 半導体素子9と、この半導体素子9の主面に形成された複数の素子電極11と、半導体素子9の主面側を覆う第1の絶縁膜12と、一端部側が一部の素子電極11に接続され、他端部側が、主面側に設けられた主面側外部接続用端子としての金属バンプ19に接続された主面側再配置配線としての第1の金属配線層15と、一端部側が前記一部の素子電極11とは異なる素子電極11に接続され、他端部側が半導体素子9の外周から主面とは反対の面に延びる裏面接続用配線としての第2の金属配線層17と、各主面側部分を覆う第2の絶縁膜18とを備えた。 (もっと読む)


【課題】配線等のパターンを、材料の利用効率を向上させ、かつ、作製工程を簡略化して作製した半導体装置を提供することを目的とする。また配線等のパターンを所望の形状で制御性よく形成できる技術を提供することを目的とする。
【解決手段】パターン材料を含む組成物からなる複数の第1の液滴を第1の線上に中心を有するように吐出し、第1の液滴の間に複数の第2の液滴を第2の線上に中心を有するように吐出して形成されたパターンを有する半導体装置である。第1の線と第2の線とが一定の距離を有するため、パターンの側端部が波状形状となる。 (もっと読む)


【課題】露光工程なしで現象溶液に対して容易なエッチング速度を有する共重合体、分子樹脂組成物及びそれを用いたパターン及びキャパシタの製造方法を提供する。
【解決手段】バッファ膜用高分子組成物は、ベンジルメタクリレート、アルキルアクリル酸及びヒドロキシアルキルメタクリレートを含む共重合体、架橋剤、熱酸発生剤、界面活性剤及び残部の溶媒を含む組成を有する。このような組成を有する高分子組成物で形成されたバッファ膜は半導体素子のパターン及びキャパシタを形成する工程の縮小及び工程効率を極大化させることができるアッシング特性を有する。 (もっと読む)


【課題】 無鉛はんだに含まれている酸性のフラックスから電極を保護し、それによって、その下の活性な半導体接合を保護するバリア層を電極の直上に設けた半導体デバイスを提供する。
【解決手段】 半導体デバイスは、1つの表面上に、少なくとも1つの電極を有する半導体ダイと、電極の上方に形成されている少なくとも1つのはんだ付け可能なコンタクトと、電極の上方に形成され、かつ、はんだ付け可能なコンタクトを露出する開口を有するパッシベーション層とを備え、パッシベーション層の開口は、はんだ付け可能なコンタクトよりも広く、はんだ付け可能なコンタクトとパッシベーション層との間に、空隙が存在する。さらに、電極の上面上であって、はんだ付け可能なコンタクトの下面に沿って、および、空隙の全域にわたって、バリア層を配置されている。バリア層は、パッシベーション層の下に広がっている場合もあり、また、電極の全上面を覆っている場合もあり、さらに、電極の側壁に沿って広がっている場合もある。バリア層は、チタン層を備えている場合もあり、チタン層とニッケル層とを備えている場合もあり、電極およびその下の半導体ダイを、無鉛はんだに含まれている酸性のフラックスから保護する。
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【課題】Q値が高く、位相雑音特性が優れる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置1は、能動素子としての集積回路12と、集積回路12に電気的に接続される複数の接続電極(14,15)とを含む半導体基板10と、半導体基板10の接続電極14,15が形成される面に、接続電極14,15を避けて形成される第1の樹脂層70と、半導体基板10と第1の樹脂層70の間に形成され、複数の接続電極のうちの一つに接続される接続配線層25,26と、接続配線層25,26に一端が接続され、第1の樹脂層の表面に形成されるCu配線層からなる渦巻き形状のスパイラルインダクタ40,50と、スパイラルインダクタ40,50の表面を覆う第2の樹脂層75と、複数の接続電極のいくつかと電気的に接続され、第2の樹脂層75から一部が突出してなる外部端子81〜86と、を備える。 (もっと読む)


【解決手段】基板の上に銅を形成するための方法であって、銅源溶液を混合器に供給する工程と、還元溶液を混合器に供給する工程と、銅源溶液と還元溶液とを混合して、約6.5より大きいpHを有するメッキ溶液を形成する工程と、メッキ溶液を基板に供給する工程と、を備え、基板は、触媒層を備え、メッキ溶液を基板に供給する工程は、触媒層を形成する工程と、制御された環境に触媒層を維持する工程と、触媒層の上に銅を形成する工程とを備える、方法が開示されている。また、銅構造を形成するためのシステムも開示されている。 (もっと読む)


【課題】シード層から導電部表面に拡散して酸化物を形成する金属の酸化物層で形成することで、配線信頼性の向上、微細化によるRC遅延の問題を解決することを可能とする。
【解決手段】基板11上の絶縁膜(層間絶縁膜21)に形成された凹部22の内面にバリア層25を介してシード層26を形成する工程と、シード層26を介して凹部22を導電部(銅)27で埋め込む工程と、層間絶縁膜21上に形成された銅およびシード層26を除去して、凹部22内に銅を主材料とする導電部27を形成する工程とを備えた半導体装置の製造方法であって、シード層26は導電部27表面に拡散して酸化物を形成する金属を含む銅材料で形成され、凹部22内に銅を主材料とする導電部27を形成した後に熱処理を行って導電部27表面に酸化物を形成する金属を含む酸化物層31を形成する。 (もっと読む)


【課題】 実装性に優れた半導体装置を提供する。
【解決手段】 半導体装置は、複数の電極14を有する半導体チップ10と、半導体チップ10の電極14が形成された面15上に形成された複数の樹脂突起20と、電極14と電気的に接続されてなり、いずれかの樹脂突起20上に形成された電気的接続部30とを含む。複数の樹脂突起20は、面15の中心部から放射状に延びる仮想直線100に沿って延びる形状をなす第1の樹脂突起21と、第1の樹脂突起21よりも外側の領域に配置された、仮想直線100と交差する第2の樹脂突起22とを含む。 (もっと読む)


2,001 - 2,020 / 2,592