説明

Fターム[5F033JJ12]の内容

Fターム[5F033JJ12]に分類される特許

1 - 20 / 406


【課題】下層の銅配線と上層のアルミニウム配線とを接続するコンタクトプラグのコンタクト抵抗を均一化する。
【解決手段】銅配線8と、銅配線9上の層間絶縁膜10と、層間絶縁膜10上に形成されたアルミニウム配線17と、銅配線9とアルミニウム配線17とを電気的に接続するプラグ13とを備える半導体装置であって、プラグ13は銅とアルミニウムの合金からなり、銅配線9上のコンタクトホールにバリアメタルを設けずに第1のアルミニウム膜を充填し、熱処理して合金化し、未反応の第1のアルミニウム膜を除去した後、アルミニウム配線用の第2のアルミニウム膜を成膜する。 (もっと読む)


【課題】工程数を増加させることなく、エアギャップを有する半導体装置の機械的強度を向上する。
【解決手段】半導体装置に必要な導電材料、例えばビアアレイの外郭のビアを接続して環状ビア1Rとして絶縁膜2を囲み、エアギャップ形成時に導電材料に囲まれた絶縁膜2は残り非エアギャップ領域4となり、その他の部分は絶縁膜2が除去されてエアギャップ領域3となる。 (もっと読む)


【課題】微細化されたトランジスタのオン特性を向上させる。微細化されたトランジスタを歩留まりよく作製する。
【解決手段】一対の低抵抗領域及び該低抵抗領域に挟まれるチャネル形成領域を含む酸化物半導体層と、ゲート絶縁層を介してチャネル形成領域と重畳する第1のゲート電極層と、第1のゲート電極層のチャネル長方向の側面及びゲート絶縁層の上面と接し、一対の低抵抗領域と重畳する一対の第2のゲート電極層と、第2のゲート電極層上の、側端部を第2のゲート電極層の側端部と重畳する一対の側壁絶縁層と、を有する半導体装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】実効的な低配線間容量を維持しつつ、高密着性かつ高い配線間絶縁信頼性を有する多層配線技術を提供する。
【解決手段】第一の絶縁膜は、シリコン、酸素及び炭素を含むシロキサン構造を含む少なくとも1層以上の絶縁膜であり、第一の絶縁膜内部のシロキサン構造は炭素原子数がシリコン原子数よりも多く、第一の絶縁膜と金属との界面及び第一の絶縁膜と第二の絶縁膜との界面のうち少なくとも何れか一方に、第一の絶縁膜内部よりも単位体積当たりの炭素原子数が少なく、且つ酸素原子数が多い改質層が形成されていることを特徴とする半導体装置。 (もっと読む)


【課題】Cu配線内における空孔の集中を抑制することでCu配線内でのボイドの形成を抑え、例えば2層間配線系におけるビア接続部等における、いわゆるストレスマイグレーションと呼ばれる断線等の配線不良の発生が抑制される半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】ダマシン配線構造を有する半導体装置の製造方法において、配線形成後に被処理基板を加熱および除熱する熱サイクル工程を行う、半導体装置の製造方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】無線通信により交信可能な半導体装置において、個体識別子を容易に付けることができるようにする。また信頼性の高い半導体装置を提供する。
【解決手段】チャネル形成領域と、ソース領域またはドレイン領域を有する島状半導体膜131と、ゲート絶縁膜と、ゲート電極103とを有する薄膜トランジスタと、層間絶縁膜と、層間絶縁膜中に形成され、ソース領域またはドレイン領域の一方に達する複数のコンタクトホールを含む第1のコンタクトホール142と、ソース領域またはドレイン領域の他方に達する第2のコンタクトホール141とを有し、第2のコンタクトホール141の径は、第1のコンタクトホール142に含まれる複数のコンタクトホール142のそれぞれの径より大きく、第1のコンタクトホールの底面積の合計と、第2のコンタクトホール141の底面積は等しい半導体装置に関する。 (もっと読む)


【課題】貫通電極と配線との接続部位の抵抗のバラつきを低減させて、配線信頼性を向上させる。
【解決手段】貫通電極用の穴部を設け、配線層に対してオーバエッチングを施す。穴部に銅を埋め込むことにより、銅からなる貫通電極を形成させて、アルミニウムからなる配線と接続させた後、熱処理により貫通電極と配線とが接続される接触領域Gを合金化させることで、貫通電極と配線との抵抗バラつきを低減させて、配線信頼性を向上させる。本技術は、半導体装置と、その製造に適用することができる。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の外部端子に加わる外力により外部端子の下方の絶縁膜にクラックが生じるのを抑制または防止する。
【解決手段】半導体基板1の主面上には複数の配線層が形成されている。この複数の配線層のうちの最上の配線層MHの直下の第5配線層M5において、最上の配線層MHのボンディングパッドPDのプローブ接触領域PAの直下には、導体パターン(第5配線5F、ダミー配線およびプラグ6C)を形成しない。上記第5配線層M5において、最上の配線層MHのボンディングパッドPDのプローブ接触領域PAの直下以外の領域には、導体パターン(第5配線5F、ダミー配線およびプラグ6C)を形成する。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体層を用いた表示装置に代表される半導体装置において、画面サイズの大型化や高精細化に対応し、表示品質が良く、安定して動作する信頼性のよい半導体装置を提供する。
【解決手段】引き回し距離の長い配線にCuを含む導電層を用いることで、配線抵抗の増大を抑える。また、Cuを含む導電層を、TFTのチャネル領域が形成される酸化物半導体層と重ならないようにし、窒化珪素を含む絶縁層で包むことで、Cuの拡散を防ぐことができ、信頼性の良い半導体装置を作製することができる。特に、半導体装置の一態様である表示装置を大型化または高精細化しても、表示品質が良く、安定して動作させること
ができる。 (もっと読む)


【課題】ダマシン構造のCu配線を有する半導体装置の製造において熱処理工程が行われた場合の、層間絶縁膜であるCF膜からのフッ素の拡散を防止し、リーク電流の増加を抑制することが可能な半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】ダマシン配線構造を有する半導体装置であって、フッ素添加カーボン膜からなる層間絶縁膜と、前記層間絶縁膜に埋め込まれた銅配線と、を備え、前記層間絶縁膜と前記銅配線との間には、前記銅配線に近接するバリアメタル層と、前記層間絶縁膜に近接するフッ素バリア膜が形成されている、半導体装置が提供される。 (もっと読む)


【課題】電気的接続信頼性を向上させることができる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体チップ3は、第1主面30Aと第2主面30Bとの間を貫通する貫通孔30Xを有する半導体基板30と、半導体基板30の第2主面30Bを覆うように形成され、貫通孔30Xと対向する位置に開口部31Xが形成された絶縁層31と、絶縁膜33によって覆われた貫通孔30X及び開口部31Xに形成された貫通電極32とを有する。絶縁層31から露出される貫通電極32の上端面は、当該半導体チップ3に他の半導体チップ4が積層される際のパッドになる。また、貫通電極32の上端面は、絶縁層31の半導体基板30と接する面と反対側の面と面一になるように形成されている。 (もっと読む)


【課題】容量素子埋設用凹部上端部の肩落ちによるキャパシタ特性のバラツキが低減された半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、保護層80は、凹部(孔23)の上端部の周囲に設けられている。この保護層80は、保護層80と同一層に位置しており、論理回路領域に位置している多層配線層を構成する絶縁層よりも誘電率が高い材料で構成されており、機械強度に優れた部材となる。これにより、凹部(孔23)上端部の肩落ちを抑制し、キャパシタ高さのバラツキを抑制する。 (もっと読む)


【課題】酸化物半導体を使用する薄膜トランジスタの特性を向上させることができる薄膜トランジスタ表示板及びその製造方法を提供する。
【解決手段】薄膜トランジスタ表示板を提供する。本発明の一実施形態に係る薄膜トランジスタ表示板は、基板の上に配置するゲート配線層、前記ゲート配線層の上に配置する酸化物半導体層、及び前記酸化物半導体層の上に配置して、前記ゲート配線層と交差するデータ配線層を含み、前記データ配線層は銅を含む主配線層、及び前記主配線層の上に配置して、銅合金を含むキャッピング層を含む。 (もっと読む)


【課題】半導体ダイ上に相互接続部又はボンドパッドなどのフィーチャ構造を電気めっきする方法を提供する。
【解決手段】方法は半導体基板の上方に複数のヒューズ(208)を形成する工程と、半導体基板の上方の複数の相互接続層(400〜408)と、該複数の相互接続層の上面の複数の相互接続パッド(502)とを形成する工程と、を含む。シールリング(202)が、半導体基板(302)と、前記複数の相互接続パッド(502)と、前記複数のヒューズ(208,320)とに形成された能動回路を包囲する。各ヒューズ(208,320)は、対応する相互接続パッド(502)とシールリング(202)とに電気的に接続される。各ヒューズ(208)が導通状態にあるとき、該ヒューズは対応する相互接続パッド(502)をシールリング(202)に電気的に接続する。 (もっと読む)


【課題】ボンディングパッド構造を有する裏面照射型センサーとその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明は半導体構造を提供する。半導体構造は、正面と背面を有する装置基板;装置基板の正面上に設置される相互接続構造;および、相互接続構造に接続されるボンディングパッドを含む。ボンディングパッドは、誘電材料層中の凹部領域;凹部領域間に挿入される誘電材料層の誘電体メサ; および、凹部領域中と誘電体メサ上に設置される金属層を含む。 (もっと読む)


【課題】多層配線内の信号線とそれに接続されるビアとを共に同軸構造にする。
【解決手段】多層配線には、例えば、異なる層に設けられる信号線10,20と、これらの信号線10,20間を接続する接続部30(ビア)が設けられる。信号線10,20は、配線層及び配線層間を接続する接続層で囲み、同軸構造とする。更に、信号線10,20間を接続する接続部30も、配線層及び配線層間を接続する接続層で囲み、同軸構造とする。信号線10,20のほか接続部30も同軸構造とすることで、信号線10,20及び接続部30を伝送される信号の、周囲からの、又は周囲への、電磁気的な影響が効果的に抑制されるようになる。 (もっと読む)


【課題】浮遊状態の配線と洗浄水との間において高い密度で電荷が移動することに起因する配線の高抵抗化を防ぐ。
【解決手段】半導体製造装置の製造工程中において、半導体基板1Sなどと絶縁された浮遊状態となる銅配線である第1層配線L1の上面に、電気的に機能する接続ビアPL2と電気的に機能しないダミービアDP2とを接続させて形成する。これにより、第1層配線L1の上面に接続ビアPL2を形成するためのビアホールを形成した後の洗浄工程中に、第1層配線L1に溜まった電荷が洗浄水中に移動する際、前記電荷をダミービアDP2形成用のビアホールにも分散させることで、接続ビアPL2形成用のビアホールの底部のみに前記電荷が集中することを防ぐ。 (もっと読む)


【課題】膜厚の厚い応力緩和層を有するウェハレベルCSPと称される半導体装置において、第1電極と外部電極との接続不良が発生しにくい半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】(1)応力緩和層を半導体ウェハの上に形成する工程、(2)応力緩和層の一部を除去した開口部を形成し、半導体ウェハ上の第1電極を露出する工程、(3)第1電極と接続し、開口部を充填するポスト部を形成する工程、(4)外部電極とポスト部を接続するための再配線層を応力緩和層の上に形成する工程、(5)再配線層の上に再配線保護層を形成する工程、(6)再配線保護層の一部を除去して、外部電極を形成するための第2電極を露出する工程、(7)第2電極上に外部電極を形成する工程を含む半導体装置の製造方法。 (もっと読む)


【課題】 厚い絶縁樹脂層のウェハレベルCSPで、第1電極(チップパッド)と外部電極(バンプ)との接続不良が発生しにくい半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】 次の各工程を含む半導体装置の製造方法、(1)絶縁樹脂層を半導体ウェハの上に形成し、(2)開口径が(D1)となるよう絶縁樹脂層の一部を除去し半導体ウェハ上の第1電極を露出し、(3)フィルム状レジストを半導体ウェハの全面に、第1電極とレジストとの間が中空構造となるよう貼付け、(4)レジストをパターニングし、再配線層を絶縁樹脂層の上に形成し、レジストパターンを除去し、めっきした部分以外のシード層を除去し、(5)再配線層の上に再配線保護層を形成し、(6)再配線保護層の開口径(D2)が、D2>D1となるように再配線保護層の一部を除去して第1電極と、第2電極を露出し、(7)第1電極及び第2電極の上にめっき層を形成し、(8)めっき層を溶融して外部電極を形成する。 (もっと読む)


【課題】配線層中の配線をゲート電極として使用し、かつ拡散防止膜と同一層にゲート絶縁膜を有している半導体素子を有する半導体装置において、拡散防止膜の機能を損なうことなく、半導体素子のオン抵抗を低くする。
【解決手段】第1配線層150を構成する絶縁層の表層には、第1配線154及びゲート電極210が埋め込まれている。第1配線層150と第2配線層170の間には、拡散防止膜160が形成されている。ゲート絶縁膜230は、拡散防止膜160のうちゲート電極210と重なる領域及びその周囲の上面に凹部を形成し、この部分を薄くすることにより、形成されている。 (もっと読む)


1 - 20 / 406