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Fターム[5F033NN08]の内容

半導体集積回路装置の内部配線 (234,551) | 層間構造の特徴点 (9,232) | コンタクトホールへの穴埋め構造 (6,462) | 深さの異なる複数のコンタクトホールの穴埋め (88)

Fターム[5F033NN08]に分類される特許

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【課題】アスペクト比の異なる複数の開口下部に接続される配線に対して最適な処理を施すことができるようにする。
【解決手段】半導体装置の製造方法において、第1の半導体基板と第2の半導体基板が接合された半導体基板の第1の開口の下部配線と、貫通接続孔と異なるアスペクト比の第2の開口の下部配線に対して、バリアメタル膜の成膜と、スパッタガスによる物理エッチングを同時に行うアンカー処理工程が含まれる。本技術は、例えば、固体撮像装置などの半導体装置に適用できる。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の特性の向上を図る。
【解決手段】本発明の半導体装置は、(a)素子分離領域STIにより囲まれた半導体領域3よりなる活性領域Acに配置されたMISFETと、(b)活性領域Acの下部に配置された絶縁層BOXとを有する。さらに、(c)活性領域Acの下部において、絶縁層BOXを介して配置されたp型の半導体領域1Wと、(d)p型の半導体領域1Wの下部に配置されたp型と逆導電型であるn型の第2半導体領域2Wと、を有する。そして、p型の半導体領域1Wは、絶縁層BOXの下部から延在する接続領域CAを有し、p型の半導体領域1Wと、MISFETのゲート電極Gとは、ゲート電極Gの上部から接続領域CAの上部まで延在する一体の導電性膜であるシェアードプラグSP1により接続されている。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の特性を損なうことがない半導体装置およびその作製方法を提供する。
【解決手段】酸化物半導体層を含むトランジスタ(半導体装置)において、電極層を酸化物半導体層の下部に接して形成し、不純物を添加する処理により酸化物半導体層に自己整合的にチャネル形成領域と、チャネル形成領域を挟むように一対の低抵抗領域を形成する。また、電極層および低抵抗領域と電気的に接続する配線層を絶縁層の開口を介して設ける。 (もっと読む)


【課題】良好な電気的特性が得られる不揮発性記憶素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】第1の配線103と、第1の配線103上に形成され、第1の配線103に接続される第1のプラグ107及び第2のプラグ108と、第1電極109、第2電極113、及び抵抗変化層112を有し、第1のプラグ107上に形成され、第1電極109が第1のプラグ107と電気的に接続されている抵抗変化素子114と、抵抗変化素子114上に形成され、第2電極113と電気的に接続されている第2の配線119と、第2のプラグ108上に形成され、第2のプラグ108と電気的に接続されている第3の配線121とを備え、第1のプラグ107の上面と第2のプラグ108の上面とが略同一平面内に形成され、かつ第2の配線119の上面と第3の配線121の上面とが略同一平面内に形成されている。 (もっと読む)


【課題】本発明は、製造コストを低減し、さらにゲート電極およびゲートコンタクトの抵抗を低減した半導体装置およびその製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明にかかる半導体装置は、ゲート電極7の少なくとも上層は、第2金属シリサイド膜としてのWSix膜72からなり、第1金属シリサイド膜としてのNiSi2膜18に含まれる第1金属(Ni)とシリコンとの結合エネルギーが、WSix膜72に含まれる第2金属(W)とのシリコンとの結合エネルギーよりも小さく、WSix膜72の組成MSix(Mは第2金属を示す)において、xが1.5以上2.0未満であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】メモリセルの制御性を向上した不揮発性半導体記憶装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態に係る不揮発性半導体記憶装置は、構造体と、複数の半導体層と、メモリ膜と、接続部材と、導電部材と、を備える。前記構造体は、メモリ領域と非メモリ領域とを有する基板の前記メモリ領域の上に設けられる。前記構造体は、前記基板の主面に対して垂直な第1軸に沿って積層され複数の電極膜を含む。前記半導体層は、前記構造体を前記第1軸に沿って貫通する。前記メモリ膜は、前記複数の電極膜と前記半導体層との間に設けられる。前記接続部材は、前記基板と前記半導体層との間に設けられる。前記接続部材は、隣り合う2つの前記半導体層のそれぞれの端部と接続される。前記導電部材は、前記基板と前記接続部材との間で、前記メモリ領域から前記非メモリ領域に延在して設けられる。前記導電部材は、前記非メモリ領域の上に設けられた凹部を有する。前記凹部内には、第1シリサイド部が設けられる。 (もっと読む)


【課題】回路素子の素子特性の変動を抑制すること。
【解決手段】半導体基板110には、拡散領域111を有する抵抗素子(回路素子)R1が形成されている。拡散領域111を含む半導体基板110の上には、層間絶縁膜161が形成される。拡散領域111のシリサイド層(コンタクト部)111aは、コンタクトプラグ162を介して層間絶縁膜161上の配線と接続される。拡散領域111の上には、コンタクトホール163を形成するためのエッチングストッパ膜152が形成されている。このエッチングストッパ膜152は、拡散領域111上の保護絶縁膜131に対応する部分が除去され、開口が形成されている。 (もっと読む)


【課題】精密なエッチング制御を必要とすることなく、ビアホール構造を形成することを可能とするとともに、エッチング後の洗浄を容易にする。
【解決手段】半導体装置において、第1の基板11と、第1の基板表面に形成された素子領域12,13と、素子領域と接続され、第1の基板11上に形成された電極14,15,16と、第1の基板11と積層される第2の基板17と、第2の基板17を貫通し、電極上に配置されるビアホール18a,18b,18cと、ビアホール内に形成される金属層19a,19b,19cと、を備える。 (もっと読む)


【課題】配線層中の配線をゲート電極として使用し、かつ拡散防止膜と同一層にゲート絶縁膜を有している半導体素子を有する半導体装置において、拡散防止膜の機能を損なうことなく、半導体素子のオン抵抗を低くする。
【解決手段】第1配線層150を構成する絶縁層の表層には、第1配線154及びゲート電極210が埋め込まれている。第1配線層150と第2配線層170の間には、拡散防止膜160が形成されている。ゲート絶縁膜230は、拡散防止膜160のうちゲート電極210と重なる領域及びその周囲の上面に凹部を形成し、この部分を薄くすることにより、形成されている。 (もっと読む)


【課題】キャパシタの電極として機能する配線の延伸方向への電流供給を容易とすること。
【解決手段】第1金属層12と、前記第1金属層の膜厚方向に離間して設けられ、第1方向および前記第1方向に交差する第2方向に配列された複数の孔36を備えた第2金属層14と、前記第2金属層の膜厚方向で前記第1金属層とは反対側に離間して設けられ、前記第1方向および前記第2方向とは異なる方向に延伸し、第1配線と第2配線とが交互に設けられた複数の第1配線16aおよび複数の第2配線16bと、前記複数の第1配線と前記複数の第2配線との間に設けられた誘電体膜26と、前記複数の第1配線を、それぞれ前記複数の孔を通過し前記第1金属層に電気的に接続する複数の第1ビア配線32と、前記複数の第2配線を、それぞれ前記第2金属層に電気的に接続する複数の第2ビア配線34と、を具備するキャパシタ。 (もっと読む)


【課題】伝送線路を接続するビア層の周囲のグラウンドを強化することができると共に、ビア部の特性インピーダンスを調整することが可能な半導体装置を提供する。
【解決手段】絶縁層14を介して積層された第1の半導体基体11及び第2の半導体基体21と、第1の半導体基体11に形成され、信号線12とグラウンド13とを含む第1の伝送線路と、第2の半導体基体21に形成され、信号線22とグラウンド23とを含む第2の伝送線路と、第1の伝送線路の信号線12及び第2の伝送線路の信号線22に接続された信号線用のビア層と、第1の伝送線路のグラウンド13及び第2の伝送線路のグラウンドに接続された、グラウンド用の第1のビア層と、第2の伝送線路のグラウンド23に接続され、かつ、信号線用のビア層に対向して形成された帯状のビア層を含む、グラウンド用の第2のビア層16を有する半導体装置を構成する。 (もっと読む)


【課題】コストが低い半導体記憶装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態に係る半導体記憶装置の製造方法は、絶縁膜及び電極膜が交互に積層された積層体を形成する工程と、前記積層体上に、サイズが相互に異なる複数のホールが形成されたハードマスクを形成する工程と、マスク材料を堆積させることにより、最も小さい前記ホールを閉塞させると共に、その他の前記ホールを小さくする工程と、前記マスク材料及び前記ハードマスクをマスクとしてエッチングを施すことにより、前記その他のホールの直下域において、各所定枚数の前記絶縁膜及び前記電極膜を除去して、コンタクトホールを形成する工程と、前記コンタクトホールを介してエッチングを施すことにより、前記電極膜の一部分を除去して隙間を形成する工程と、前記隙間内に絶縁材料を埋め込む工程と、前記コンタクトホール内に導電材料を埋め込む工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】画素部に形成される画素電極やゲート配線及びソース配線の配置を適したものとして、かつ、マスク数及び工程数を増加させることなく高い開口率を実現した画素構造を有するアクティブマトリクス型表示装置を提供することを目的とする。
【解決手段】絶縁表面上のゲート電極及びソース配線と、前記ゲート電極及びソース配線上の第1の絶縁層と、前記第1の絶縁膜上の半導体層と、前記半導体膜上の第2の絶縁層と、前記第2の絶縁層上の前記ゲート電極と接続するゲート配線と、前記ソース電極と前記半導体層とを接続する接続電極と、前記半導体層と接続する画素電極とを有することを特徴としている。 (もっと読む)


【課題】浅いトレンチ分離および基板貫通ビアの集積回路設計への統合を提供すること。
【解決手段】ICを製造する方法は、第1の側、および第2の対向する側を有する基板を用意すること、基板の第1の側にSTI開口を形成すること、および基板の第1の側に部分的TSV開口を形成すること、および部分的TSV開口を延長することを含む。延長された部分的TSV開口は、STI開口より基板内への深さが深い。方法はまた、STI開口を第1の固体材料で充填すること、および延長された部分的TSV開口を第2の固体材料で充填することを含む。STI開口、部分的TSV開口、または延長された部分的TSV開口のいずれも、基板の第2の側の外面を貫通しない。少なくとも、STI開口および部分的TSV開口は同時に形成され、またはSTI開口および延長された部分的TSV開口は同時に充填される。 (もっと読む)


【課題】縦型トランジスタの特性を悪化させることなく縦型トランジスタの設置面積を削減できる高集積化に適した半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】一定の間隔を空けて配置された複数のピラー30が備えられ、複数のピラー30が、縦型トランジスタTのチャネルとして機能する半導体層からなるチャネルピラー1と、不純物拡散層からなり、前記チャネルピラー1の下部に接続されて縦型トランジスタTの一方のソースドレインとして機能する下部拡散層4に電気的に接続された引き上げコンタクトプラグ2とを含む半導体装置とする。 (もっと読む)


【課題】作製工程を大幅に削減し、低コストで生産性の良い液晶表示装置を提供する。消費電力が少なく、信頼性の高い液晶表示装置を提供する。
【解決手段】ゲート配線上の一部を含む半導体層のエッチングと、画素電極とドレイン電極を接続するためのコンタクトホールの形成を、同一のフォトリソグラフィ工程及びエッチング工程で行うことで、フォトリソグラフィ工程を削減する。これにより露出したゲート配線の一部を絶縁層で覆い、これに液晶層の間隔を維持するスペーサを兼ねさせる。フォトリソグラフィ工程を削減することにより、低コストで生産性の良い液晶表示装置を提供することができる。また、半導体層に酸化物半導体を用いることで、消費電力が低減され、信頼性の高い液晶表示装置を提供することができる。 (もっと読む)


【課題】基板に形成される第1の膜と第2の膜との重なり量を精度良く算出する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、基板の第1の領域及び第2の領域に第1の膜を形成する工程と、第2の領域の第1の膜の幅を測定する工程と、基板の第2の領域及び第3の領域に第2の膜を形成する工程と、第2の領域の第2の膜の幅及び第2の領域の第1の膜と第2の膜との距離を測定する工程と、第2の領域における第1の膜の幅の測定値、第2の膜の幅の測定値、第1の膜と第2の膜との距離の測定値及び第1の膜と第2の膜とに関する設計値に基づいて、第1の領域における第1の膜と第3の領域における第2の膜との重なり量を算出する工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】トレンチ構造のトランジスタセルがマトリクス状に多数個形成され、そのゲート電極に金属膜からなるゲート配線がコンタクトされる半導体装置でも、ゲート耐圧を充分に高くすることができる構造の半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体層1に凹溝11が形成され、その凹溝11内にゲート酸化膜4が形成され、その凹溝11内にポリシリコンなどからなるゲート電極5が設けられるトレンチ構造のトランジスタセルがマトリクス状に配列されたセル領域10を有している。そして、金属膜からなるゲート配線9とコンタクトするため、ゲート電極5と連続してゲートパッド部5aが設けられるが、そのゲートパッド部5aが凹溝11と同時に設けられる凹部12内に形成されている。 (もっと読む)


【課題】高い電荷移動度を有し、大面積表示装置に対して均一な電気的特性を得ることができる薄膜トランジスタ表示板及びその製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁基板上に形成されたゲート電極と、前記ゲート電極上に形成されたSiNxから構成された第1ゲート絶縁膜と、前記第1ゲート絶縁膜の上に形成されたSiOxから構成された第2ゲート絶縁膜と、前記ゲート電極と重畳するように形成され、チャネル部を有する酸化物半導体層と、前記酸化物半導体層及び前記ゲート電極の上部に形成されたSiOxから構成された保護膜とを含み、前記保護膜はドレイン電極拡張部を露出するコンタクトホールを含む。ここで、前記コンタクトホールは、ドレイン電極拡張部を直接的に露出する部分の保護膜が、その上部の保護膜よりさらに狭い領域を占める形状を有する。 (もっと読む)


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