【課題】物理的な版を必要とせず、微細な導電パターンを形成でき、パターン変更に対して柔軟に対応できる配線の形成方法を提供する。
【解決手段】本発明では、基板上に、エネルギー付与によって臨界表面張力が変化する材料を含有する濡れ性変化層を形成する工程と、前記濡れ性変化層に選択的にレーザ光を照射して、前記濡れ性変化層の臨界表面張力が高くなるように変化させた高表面エネルギー領域部を前記濡れ性変化層に形成する工程と、前記高表面エネルギー領域部に導電性インクを塗布し、前記高表面エネルギー領域部上に配線を形成する工程と、を有し、前記濡れ性変化層と前記高表面エネルギー領域部とには段差がなく、前記配線は前記高表面エネルギー領域部上に形成されていることを特徴とする配線の形成方法が提供される。 （もっと読む）

【課題】ラインエッジ粗さを低減させて特徴をエッチングする
【解決手段】ラインエッジ粗さを低減させて層内に特徴を形成するための方法が提供される。層の上に、フォトレジスト層が形成される。フォトレジスト層は、フォトレジスト側壁をともなうフォトレジスト特徴を形成するために、パターン形成される。複数のサイクルを実施することによって、フォトレジスト特徴の側壁の上に、厚さ１００ｎｍ未満の側壁層が形成される。各サイクルは、単分子層から２０ｎｍまでの厚さを有する層をフォトレジスト層上に堆積させることを含む。フォトレジスト特徴を通して、層内に特徴がエッチングされる。フォトレジスト層および側壁層は、剥ぎ取られる。 （もっと読む）

【課題】半導体装置の特性の向上を図る。
【解決手段】本発明の半導体装置は、（ａ）素子分離領域ＳＴＩにより囲まれた半導体領域３よりなる活性領域Ａｃに配置されたＭＩＳＦＥＴと、（ｂ）活性領域Ａｃの下部に配置された絶縁層ＢＯＸとを有する。さらに、（ｃ）活性領域Ａｃの下部において、絶縁層ＢＯＸを介して配置されたｐ型の半導体領域１Ｗと、（ｄ）ｐ型の半導体領域１Ｗの下部に配置されたｐ型と逆導電型であるｎ型の第２半導体領域２Ｗと、を有する。そして、ｐ型の半導体領域１Ｗは、絶縁層ＢＯＸの下部から延在する接続領域ＣＡを有し、ｐ型の半導体領域１Ｗと、ＭＩＳＦＥＴのゲート電極Ｇとは、ゲート電極Ｇの上部から接続領域ＣＡの上部まで延在する一体の導電性膜であるシェアードプラグＳＰ１により接続されている。 （もっと読む）

【課題】配線倒れを防止することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】一の実施形態による半導体装置の製造方法では、半導体基板上に、第１の絶縁膜、第２の絶縁膜、および犠牲膜を順に形成し、前記犠牲膜と前記第２の絶縁膜から複数の芯材を形成する。さらに、前記方法では、各々の前記芯材の側面に、前記芯材に接する第１側面と、前記第１側面の反対側に位置する第２側面とを有する第１配線と、前記芯材に接する第３側面と、前記第３側面の反対側に位置する第４側面とを有する第２配線を形成する。さらに、前記方法では、前記第１および第２配線の形成後に、前記第２の絶縁膜が残存するように前記犠牲膜を除去する。 （もっと読む）

【課題】埋め込みゲートを有する半導体素子に関し、ビットラインコンタクトと活性領域の接触面積を増加させビットラインコンタクトの高抵抗性フェイルを防止する。
【解決手段】ビットラインコンタクト１３６が活性領域１２０の上部面だけではなく側面とも接触されることにより、ビットラインコンタクトと活性領域の接触面積を増加させビットラインコンタクトの高抵抗性フェイルを防止する。 （もっと読む）

【課題】ビアヒューズ素子の径を小さくし、ビアヒューズ素子を低電流で溶断することが可能な半導体回路装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】一方向に配置された複数の配線層と、前記複数の配線層のうちの少なくとも２つの前記配線層の間に設けられたビアヒューズ素子と、前記複数の配線層の配置方向に直交する平面内において前記ビアヒューズ素子に隣接する穴と、前記穴内に設けられた貫通ビアとを備えた半導体回路装置。 （もっと読む）

【課題】貫通電極の微細化と表面電極の縮小化とを両立することができる半導体装置、および表面電極の大きさに関わらず、表面電極に対して貫通電極を確実にコンタクトさせることができる半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】Ｓｉ基板２９の表面１３に複数の絶縁膜リング３２を選択的に形成し、絶縁膜リング３２の開口４２に対向するように表面パッド３３を形成する。次に、Ｓｉ基板２９を裏面１４からエッチングすることにより、絶縁膜リング３２の開口４２を通過して表面パッド３３に達する貫通孔５６を形成し、貫通孔５６の側面にビア絶縁膜３５を形成した後、貫通孔５６に電極材料を充填することにより、表面パッド３３に電気的に接続されるように貫通電極１７を形成する。 （もっと読む）

【課題】微細なパターン、例えば、線幅が５０μｍよりも小さいパターンであっても高い精度でパターンを形成することができるパターン形成方法を提供する。
【解決手段】微細なパターンのパターン形成方法であって、基板上に形成された、親疎水性変換機能を有する第１の膜において、パターンが形成されるパターン形成領域を親疎水性に変化させる工程と、パターン形成領域に第２の膜を形成し、第２の膜が乾燥してパターンを形成する工程とを有する。第２の膜は、厚さが０．１μｍになったときの粘度が３ｍＰａ・ｓ以下である。 （もっと読む）

【目的】配線間のコンタクト配置において配線間距離をより小さく形成する。
【構成】実施形態の半導体装置は、第１と第２の配線と、第１の絶縁膜と、第２の絶縁膜と、第１のコンタクトと、第２のコンタクトと、を備えている。第１と第２の配線は、基板上に互いに並行するように形成される。第１の絶縁膜は、第１と第２の配線を覆うように形成される。第２の絶縁膜は、第１と第２の制御ゲート線間の所定位置で第１と第２の配線と並行して延びるように形成され、第１の絶縁膜と材料が異なる。第１のコンタクトは、第１と第２の配線間で、前記第２の絶縁膜に対して前記第１の配線側に位置する前記第１の絶縁膜を通して形成される。第２のコンタクトは、前記第１と第２の配線間で、前記第１と第２の配線が延びる方向に沿って前記第１のコンタクトと互いに位置をずらしつつ、前記第２の絶縁膜に対して前記第２の配線側に位置する前記第１の絶縁膜を通して形成される。 （もっと読む）

【課題】膜パターンの倒れを抑制することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態の半導体装置の製造方法は、基板上に低ガラス転移温度材料膜と高ガラス転移温度材料膜との積層膜を形成する工程と、前記積層膜上に加熱下で上層膜を形成する工程と、前記上層膜をパターニングする工程と、前記上層膜をマスクとして前記積層膜をパターニングする工程と、前記上層膜をウェットエッチング処理により除去する工程と、を備えた。 （もっと読む）

【課題】コンタクトプラグに接続される配線間隔の縮小を可能にする半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、半導体基板に第１の領域と第２の領域とを定義し、第１の領域に第１のサイズを持つ第１の素子を形成し、第２の領域に、第１のサイズとは異なる第２のサイズを持つ第２の素子を形成し、第１の素子及び第２の素子を覆うように半導体基板上に第１の層間絶縁膜を形成し、第１の領域上の第１の層間絶縁膜を貫通し第１の素子の一部を露出させる第１のコンタクトホールを形成し、第２の領域上の第１の層間絶縁膜を貫通し第２の素子の一部を露出させる第２のコンタクトホールを形成し、第１のコンタクトホール及び第２のコンタクトホールをそれぞれ埋める第１のコンタクトプラグ及び第２のコンタクトプラグを同時に形成する。 （もっと読む）

【課題】半導体装置に含まれる貫通孔を微細化した場合であっても、メッキで貫通孔の内部に貫通電極を形成する。
【解決手段】半導体装置１００の製造方法は、基板１０の表面１０ａ側にシード層３０を形成するシード層形成工程と、シード層形成工程後、シード層３０上に配線層４０を形成する配線層形成工程と、配線層形成工程後、基板１０の裏面１０ｂからシード層３０に達する貫通孔１０ｃを形成する貫通孔形成工程と、貫通孔形成工程後、貫通孔１０ｃ内にメッキで貫通電極６０を形成する貫通電極形成工程と、貫通電極形成工程後、シード層３０を複数に分断する分断工程とを含んでいる。 （もっと読む）

【課題】個別の工程で形成されることで分離して配置された電極どうしを断線することなく接続できる半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板の主面に第１の絶縁膜を介して形成された第１の電極と、半導体基板の主面に第２の絶縁膜を介して形成された第２の電極との間に補償膜を埋設する。第１の電極及び第２の電極上には、第１の電極の上面及び第２の電極の上面と接触する、第１の電極の上面から補償膜の上面を経由して第２の電極の上面まで到達する配線を形成する。 （もっと読む）

【課題】トランジスタのオン電流を十分に確保することが可能な信頼性の高い半導体装置を提供する。
【解決手段】活性領域６を分断する２つの埋め込みゲート用の溝部８ａ，８ｂにゲート絶縁膜９を介して埋め込まれたゲート電極７ａ，７ｂと、ビットコンタクト用の溝部１２を挟んで対向する一対の埋め込みゲート用の溝部８ａ，８ｂの底部に不純物が拡散された領域１３ａ，１３ｂと、ビットコンタクト用の溝部１２に不純物が拡散された領域１３ｃと、が結合されて設けられた第１の不純物拡散層１３と、中央部を挟んだ両側に位置する活性領域６ａ，６ｃに、ゲート電極７ａ，７ｂの上面と同程度の深さで不純物を拡散させることによって形成された第２の不純物拡散層１４ａ，１４ｂとを備える。 （もっと読む）

【課題】 本発明の課題は、銅層および／または銅合金層を有する金属膜や、該層と他の金属からなる層との積層膜を精度良くエッチングでき、液寿命が長いエッチング液組成物を提供することにある。
【解決手段】 本発明は、銅層および／または銅合金層を含む金属膜をエッチングするためのエッチング液組成物であって、銅（ＩＩ）イオン、β−アラニンおよび水を含む、前記エッチング液組成物、ならびに、該エッチング液組成物を用いたエッチング方法に関する。 （もっと読む）

【課題】微細な構造であっても高い電気特性を有するトランジスタを歩留まりよく提供する。該トランジスタを含む半導体装置においても、高性能化、高信頼性化、及び高生産化を達成する。
【解決手段】酸化物半導体層と電気的に接続するソース電極層及びドレイン電極層を、酸化物半導体層上のゲート絶縁層及び絶縁層の開口を埋め込むように設ける。ソース電極層を設けるための開口とドレイン電極層を設けるための開口は、それぞれ異なるマスクを用いた個別のエッチング処理によって形成される。これにより、ソース電極層（またはドレイン電極層）と酸化物半導体層が接する領域と、ゲート電極層との距離を十分に縮小することができる。また、酸化物半導体層の下に第１の電極層および第２の電極層を設けてコンタクト抵抗の低減を図る。 （もっと読む）

【課題】
銅及びモリブデンを含む多層膜用エッチング液、及びこれを用いた銅及びモリブデンを含む多層膜のエッチング方法を提供する。
【解決手段】
（Ａ）分子内にカルボキシル基を二つ以上有し、かつヒドロキシル基を一つ以上有する有機酸イオン供給源、（Ｂ）銅イオン供給源、及び（Ｃ）アンモニア及び／又はアンモニウムイオン供給源を配合してなり、ｐＨが５〜８であり、（Ｃ）アンモニア及び／又はアンモニウムイオン供給源の（Ｂ）銅イオン供給源に対する配合比（モル比）が０．１〜２０である銅及びモリブデンを含む多層膜用エッチング液、及びこれを用いたエッチング方法である。 （もっと読む）

【課題】レジスト層、中間層、レジスト層のパターン形状をさらに良好にする半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】下層フォトレジスト７、無機材料の中間層８、上層フォトレジスト９を形成し、上層フォトレジスト９をパターニングして上層レジストパターン9aを形成し、半導体基板１をチャンバー内の下部電極上に設置し、チャンバー内に二酸化硫黄ガス、酸素ガスを有する第１反応ガスを導入してプラズマを発生させるとともに下部電極への高周波電力の供給を切断して上層レジストパターン9aをトリミングし、第１反応ガスを第２反応ガスに置換するとともに下部電極に高周波電力を供給して上層レジストパターン9aをマスクにして中間層８をエッチングして中間層パターン8aを形成し、第２反応ガスを第３反応ガスに置換してプラズマを発生させるとともに下部電極に高周波電力を供給して中間層パターン8aをマスクにして下層フォトレジスト層７をエッチングする。 （もっと読む）

【課題】酸化物半導体を含み、高速動作が可能なトランジスタを提供する。または、該トランジスタを含む信頼性の高い半導体装置を提供する。
【解決手段】下地絶縁層の溝に埋め込まれた電極層上に、一対の低抵抗領域及びチャネル形成領域を含む酸化物半導体層を設ける。チャネル形成領域は、サイドウォールを側壁に有するゲート電極層と重なる位置に形成される。溝は、深い領域と浅い領域を有し、サイドウォールは、浅い領域と重なり、配線との接続は、深い領域と重なる。 （もっと読む）