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Fターム[5F041CA77]の内容

発光ダイオード (162,814) | LED形式 (36,241) | 製造方法 (9,002) | その他 (1,210)

Fターム[5F041CA77]に分類される特許

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【課題】製造コストを大幅に減少させることができる新規な半導体製造方法を提供する。
【解決手段】半導体製造方法は、成長基板1を提供する工程と、前記成長基板1に複数の溝1aを形成する工程と、前記成長基板1に半導体素子層2を形成する工程と、前記成長基板1から前記半導体素子層2を分離するように、前記成長基板1及び前記半導体素子層2の温度を変更する工程と、を備えている。成長基板と窒化物半導体基板との間の接触面積を減らし、ウェハ接合工程においての加熱による温度変化工程では、成長基板と窒化物半導体基板とは異なる膨張係数を有しているので、応力が集中して、成長基板と窒化物半導体基板を互いに剥離する。 (もっと読む)


【課題】LEDを構成するIII−V族半導体結晶と線熱膨張率の差が小さく、かつ熱伝導性に優れ、更に製造時に使用される酸及びアルカリ溶液に対する耐薬品性に優れた高出力LED用として好適なLED発光素子用保持基板を提供することである。
【解決手段】 外周部が厚み0.1〜2.0mmのアルミニウムまたはアルミニウム合金で覆われており、両主面に金属含浸セラミックス複合体が露出した基板の両面に、アルミニウムまたはアルミニウム合金が厚み0.05〜2μm形成され、窒素、アルゴン、水素、ヘリウム又は真空雰囲気中で460〜650℃で1分間以上加熱処理した後、全面に厚み0.5〜5μmのNiめっき層および厚み0.05〜2μmの金めっき層を順次形成されたLED発光素子用保持基板を提供する。 (もっと読む)


【課題】
従来の白色部材被覆型のLED発光装置や、アンダーフィルを施したLED発光装置では、LEDの光取出面に対する白色部材の付着が発生する危険性があり、またアンダーフィル型のLED発光装置ではLEDの側面方向の出射光を十分に利用することがなされていなかった。
【解決手段】
発光素子の外形より大きい形状の蛍光体板に、バンプ実装された発光素子の発光面側を透明接着材にて接着すると共に、前記発光素子の側面と前記蛍光体板の下面との間に透明樹脂を充填し、前記充填された透明樹脂の形状が前記発光素子の実装面側の角部より蛍光体板に向かって円弧状に形成された発光素子チップを構成し、該発光素子チップを回路基板上の配線電極にフリップチップ実装した。 (もっと読む)


【課題】レーザスクライブによる不良が無く、所望の形状を有する半導体発光素子を提供する。
【解決手段】III族窒化物半導体からなる半導体素子10は、以下の構成を備えている。基板100上には、n型の第1半導体層200、活性層300、p型の第2半導体層400が順に設けられている。また、2つの第1端面840は、平面視で対向するように劈開により形成されている。また、2つの溝部820は、平面視で第1端面840と直交する方向に、2つの第1端面840まで延在している。さらに、溝部820は、底部が少なくとも活性層300の下面よりも下まで位置している。また、第2端面860は、第1端面840と直交する方向で、かつ、溝部820よりも外側に形成され、レーザによるスクライブによって形成されている。 (もっと読む)


【課題】光取り出し効率の高い半導体発光素子を実現する。
【解決手段】一つの実施形態によれば、半導体発光素子は、基板、導電性反射膜、活性領域、第1電極、透明導電膜、及び第2電極が設けられる。導電性反射膜は基板上に設けられる。活性領域は、第1導電型透明電極、第1導電型コンタクト層、発光層、第2導電型コンタクト層、及び第2導電型透明電極が導電性反射膜上に積層形成される。第1電極は活性領域と離間し、導電性反射膜上に設けられる。透明導電膜は、一端が第2導電型透明電極上部を覆うように設けられ、他端が絶縁膜を介して記導電性反射膜上に設けられ、活性領域の側面とは絶縁膜を介して接する。第2電極は、透明導電膜の他端上に設けられる。 (もっと読む)


【課題】発光素子構造及びその製造方法である。
【解決手段】この発光素子構造は、基板と、発光構造と、を備える。この基板は、対向する上表面と下表面、及び対向する2つの傾斜側面を有し、傾斜側面のそれぞれの両側が、それぞれ上表面と下表面に接合される。発光構造は、上表面に設けられる。 (もっと読む)


【課題】基板の側面からの光取り出し効率を向上させた半導体発光素子を提供する。
【解決手段】窒化物半導体発光素子10では、基板11は対向する第1および第2の面11a、11bと、第1および第2の面11a、11bに略直交する側面11cを有している。基板11の側面11cには、第1の面11aから第1の距離Lo1だけ離間した位置から第2の面11b側に向かって、第1の粗さR1と第1の幅aを有する第1の領域12と、第1の粗さR1より小さい第2の粗R2さと第1の幅aより小さい第2の幅bを有する第2の領域13が交互に形成されている。第1の領域12の繰り返しピッチは、一定である。基板11の第1の面11a上に、第1導電型の第1半導体層と、活性層と、第2導電型の第2半導体層が順に積層された半導体積層体15が形成されている。 (もっと読む)


【課題】成長用基板の剥離の際の半導体層の損傷を抑制した半導体発光素子の製造方法及び半導体発光素子用ウェーハを提供する。
【解決手段】実施形態によれば、凹凸が設けられた主面を有する第1基板の主面上に、発光層を含む窒化物半導体層を形成する工程と、窒化物半導体層と第2基板とを接合する工程と、第1基板を介して窒化物半導体層に光を照射して第1基板を窒化物半導体層から分離する工程と、を含む半導体発光素子の製造方法が提供される。窒化物半導体層を形成する工程は、凹凸の凹部の内壁面上に窒化物半導体層の少なくとも一部と同じ材料を含む薄膜を形成しつつ、凹部の内側の空間内に空洞を残すことを含む。分離する工程は、薄膜に光の少なくとも一部を吸収させて、窒化物半導体層のうちで凹部に対向する部分に照射される光の強度を、窒化物半導体層のうちで凹凸の凸部に対向する部分に照射される光の強度よりも低くすることを含む。 (もっと読む)


【課題】光の取り出し効率が良好で、均一な発光が得られる発光装置及びその製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】導電部を有する基体と、下面側に電極が配置され、電極が基体の導電部の上に配置される発光素子と、発光素子の表面と、発光素子が配置される領域の周囲の導電部の表面とを覆う蛍光体層と、発光素子の周囲の導電部の上に形成された蛍光体層を覆う反射層と、を有する。 (もっと読む)


【課題】成長用基板に形成された窒化物半導体層を容易に剥離できる窒化物半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】窒化物半導体発光素子の製造方法では、第1のサイズd1を有する第1基板31に窒化物半導体層11を形成する。窒化物半導体層11上に第1のサイズd1より小さい第2のサイズd2を有する第1接着層12aを形成し、第2基板32上に第2接着層12b形成する。第1および第2接着層12a、12bを重ね合わせ、第1および第2基板31、32を張り合わせる。第2のサイズd2より大きいまたは等しい第3のサイズd3を有する凹部31aを生じるように第1基板31を除去する。凹部31aに薬液を注入し、窒化物半導体層11が露出するまで第1基板31をエッチングする。薬液で、露出した窒化物半導体層11を更にエッチングし、窒化物半導体層11の露出面を粗面化する。 (もっと読む)


【課題】製造歩留まりを向上することができる窒化物半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態に係る窒化物半導体素子の製造方法は、成長用基板と、前記成長用基板の上に形成されたバッファ層と、前記バッファ層の上に形成された窒化物半導体層と、を有する構造体の、前記窒化物半導体層の側に支持基板を接合した後、第1の処理材を用いて前記成長用基板を除去する工程と、前記成長用基板を除去した後、前記第1の処理材とは異なる第2の処理材を用いて前記バッファ層及び前記窒化物半導体層の厚さを減少させる工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】高い光取出し効率を実現でき、かつ、製造が容易で低コストな発光ダイオード用基板及び発光ダイオードを提供する。
【解決手段】表面sに発光層7を含む半導体層3が形成される発光ダイオード用基板であって、サファイア基板からなり、表面sには、発光層7が発光する光を乱反射するランダムに配置された凹凸が形成され、かつ、凹凸は結晶方位を反映して形成されており、凹凸の高さが1μm以上5μm以下であり、表面のX線回折ロッキングカーブ半値幅が60秒以下である。 (もっと読む)


【課題】工程数が少なく生産性を向上する窒化物半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】まず、パッド電極層形成工程S11で、窒化物半導体発光素子構造上に、n側パッド電極およびp側パッド電極となるパッド電極層を形成し、レジストパターン形成工程S12で、パッド電極層上に、n側パッド電極およびp側パッド電極を形成する領域を被覆するレジストパターンを形成する。次に、パッド電極層エッチング工程S13で、このレジストパターンをマスクとして、パッド電極層をエッチングしてn側パッド電極およびp側パッド電極を形成する。続いて、このレジストパターンを除去せずに、保護層形成工程S14で、窒化物半導体発光素子構造の表面およびレジストパターン上に絶縁性の保護層を形成した後に、レジストパターン除去工程S15で、レジストパターンを除去する。 (もっと読む)


【課題】高品質で発光特性に優れた半導体発光素子を提供する。
【解決手段】本発明の実施態様によれば、n形層と、発光層と、p形層と、透明電極と、を備えた半導体発光素子が提供される。前記n形層は、窒化物半導体を含み500ナノメートル以下の厚さを有する。前記発光層は、前記n形層の上に設けられている。前記p形層は、前記発光層の上に設けられ窒化物半導体を含む。前記透明電極は、前記n形層の前記発光層とは反対の面に接し、前記発光層から放出される光に対して透光性を有する。 (もっと読む)


【課題】再現性よく光取り出し効率を向上させることができる半導体発光素子を提供する。
【解決手段】第1半導体層10と、発光層30と、第2半導体層20と、低屈折率層60と、を備えた半導体発光素子110において、前記第1半導体層は、光取り出し面を形成し窒化物半導体結晶を含む。前記発光層は、前記第1半導体層の上に設けられ活性層を有する。前記第2半導体層は、前記発光層の上に設けられている。前記低屈折率層は、前記第1半導体層の屈折率よりも低い屈折率を有し、前記光取り出し面を部分的に覆い、Alを含む窒化物からなる結晶を含む。前記第1半導体層のAlの含有量は、前記低屈折率層のAlの含有量よりも少ない。 (もっと読む)


【課題】基部の周端面から出射する光の量の均等化を図ることができる半導体発光装置および半導体発光装置の製造方法を提供することである。
【解決手段】実施形態に係る半導体発光装置は、第1の方向における屈折率と、前記第1の方向に直交する第2の方向における屈折率とが異なる基部と、前記第1の方向および前記第2の方向に直交する第3の方向に設けられた発光部と、を備えている。そして、前記基部の前記第1の方向における周端面に形成された改質部の前記第3の方向における断面形状と、前記基部の前記第2の方向における周端面に形成された改質部の前記第3の方向における断面形状と、が同じとなっている。 (もっと読む)


【課題】放熱効率の高い発光ダイオードを低コストで製造する。
【解決手段】半導体層20等がチップ間で分離された状態で金属板70のウェットエッチングを行う(金属板切断工程)。このエッチングに際しては、放熱板30の材料に応じたエッチング液を用いることができる。また、このウェットエッチングの際にフォトレジスト層50が残存するような設定とされる。これにより、ダイシングシート100上で放熱板30も発光ダイオードチップ毎に分離され、図4(j)の形態が得られる。分離後にフォトレジスト層50を剥離液で除去することにより、最終的に図4(k)のように、分離された個々の発光ダイオード10が得られる。この製造方法において、最終的なチップの分離は、図4(j)に示されるウェットエッチングにより行われる。 (もっと読む)


【課題】半導体膜の結晶成長に用いられる成長用基板とは別の支持基板を半導体膜に接合する工程を含む半導体素子の製造方法において、半導体素子を構成する各材料間の熱膨張率差に起因する上記の如きパターンずれの問題を解消し得る製造方法を提供する。
【解決手段】
成長用基板上に半導体膜を形成する。半導体膜上にp電極を形成する。成長用基板上又は半導体膜上に活性化接合層を形成する。支持基板上に共晶接合層および活性化接合層を形成する。成長用基板側および支持基板側の活性化接合層の表面を活性化する。活性化された活性化接合層同士を密着させてこれらの各層の間で表面活性化接合を形成する。共晶金属層に含まれる共晶材料が融解する温度で熱処理を行って、p電極と共晶金属層との間で共晶接合を形成する。表面活性化接合は、共晶接合を形成するときの熱処理温度よりも低い温度下において形成される。 (もっと読む)


【課題】半導体発光装置における色度のばらつきを抑制する加工を行うことができる基板加工システム、および基板加工プログラムを提供することである。
【解決手段】実施形態に係る基板加工システムは、発光部、及び蛍光体を含む波長変換部を有した基板の厚み寸法に関する情報を測定する測定部と、前記測定された基板の厚み寸法に関する情報と、前記発光部から出射する光の特性に関する情報と、に基づいて前記波長変換部の厚み方向に関する加工情報を求めるデータ処理部と、前記求められた加工情報に基づいて前記波長変換部を加工する加工部と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】特性が高いGaN系半導体デバイスを歩留まりよく製造することができるGaN系半導体デバイスの製造方法を提供する。
【解決手段】本GaN系半導体デバイス5の製造方法は、イオン注入分離法を用いて、GaNの熱膨張係数に対する比が0.8以上1.2以下の熱膨張係数を有する支持基板10と、支持基板10に貼り合わされたGaN層21と、を含む複合基板1を準備する工程と、複合基板1のGaN層21上に少なくとも1層のGaN系半導体層40を成長させる工程と、複合基板1の支持基板10を溶解することにより除去する工程と、を含む。 (もっと読む)


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