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Fターム[5F043AA27]の内容

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Fターム[5F043AA27]に分類される特許

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【課題】 本発明の課題は、銅層および/または銅合金層を有する金属膜や、該層と他の金属からなる層との積層膜を精度良くエッチングでき、液寿命が長いエッチング液組成物を提供することにある。
【解決手段】 本発明は、銅層および/または銅合金層を含む金属膜をエッチングするためのエッチング液組成物であって、銅(II)イオン、β−アラニンおよび水を含む、前記エッチング液組成物、ならびに、該エッチング液組成物を用いたエッチング方法に関する。 (もっと読む)


【課題】
銅及びモリブデンを含む多層膜用エッチング液、及びこれを用いた銅及びモリブデンを含む多層膜のエッチング方法を提供する。
【解決手段】
(A)分子内にカルボキシル基を二つ以上有し、かつヒドロキシル基を一つ以上有する有機酸イオン供給源、(B)銅イオン供給源、及び(C)アンモニア及び/又はアンモニウムイオン供給源を配合してなり、pHが5〜8であり、(C)アンモニア及び/又はアンモニウムイオン供給源の(B)銅イオン供給源に対する配合比(モル比)が0.1〜20である銅及びモリブデンを含む多層膜用エッチング液、及びこれを用いたエッチング方法である。 (もっと読む)


【課題】透明導電性薄膜又は透明導電性薄膜積層体の従来のエッチング液は、導電性薄膜等のアンダーカットを生じる問題があるので、これを解決できるエッチング液を提供することを課題とする。
【解決手段】硫酸、過酸化水素及び含窒素化合物を含有する、透明導電性薄膜及び透明導電性薄膜積層体をエッチングに用いられるpH7.0未満のエッチング液。 (もっと読む)


【課題】所定の安定した特性を有するN−MISFETとP−MISFETとを備えた半導体装置を容易に実現できるようにする。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、半導体基板101の上に高誘電体膜121と、第1の膜122と、犠牲導電膜123と、第2の膜124とを順次形成した後、第2の膜124におけるN−MISFET形成領域101Nに形成された部分を第1の薬液を用いて選択的に除去する。この後、第2の膜124に含まれる第2の金属元素を犠牲導電膜124におけるP−MISFET形成領域101Pに形成された部分に拡散させる。続いて、犠牲導電膜124及び第1の膜122におけるN−MISFET形成領域101Nに形成された部分を、それぞれ第2の薬液及び第3の薬液を用いて選択的に除去する。第3の膜125を形成した後、第3の膜125に含まれる第3の金属元素を高誘電体膜121中に拡散させる。 (もっと読む)


【課題】 銅及びモリブデン積層膜を一液でエッチングでき、しかも工業的に好ましい形状にエッチングできるエッチング液を提供する。
【解決手段】 過酸化水素、グリシン、燐酸及び水を含むエッチング液を、銅及びモリブデン積層膜のエッチングに用いる。 (もっと読む)


【課題】半導体装置の素子形成領域へのクラックなどの伝播を確実に防止する。
【解決手段】ウェハ1上の素子形成領域を覆うガード領域4の外側に、n型拡散層15を形成する。n型拡散層15の上には、導電性リング33,48,58を形成する。最上層の導電性リング48の上に、導電層65を形成する。導電層65の端面65Sは、導電性リング58の端面58Sから距離L1だけ内側に形成し、導電性リング58の上面の一部を露出させる。この後、半導体基板をアミン系薬液に浸すと、n型拡散層15と導電層65の間の導電性プラグ33,48,48の導電性材料を溶出し、スリットが形成される。 (もっと読む)


【課題】半導体基板の表面のAl層の表面が荒れることを抑制しつつ、リフトオフの後に溶解層が剥離せずに残ることを防止し得る半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板12の表面にAl層14を形成し、Al層14の表面にTiN層16を形成し、TiN層16の表面の一部に絶縁層20を形成し、TiN層16と絶縁層20の表面に溶解層を形成し、溶解層の表面にレジスト層を形成し、溶解層とレジスト層の一部を除去して溶解層開口部を形成してTiN層16の一部を露出させ、レジスト層の表面、及び、露出したTiN層16の一部の表面にTi層30及びNi層40を形成し、アルカリ溶液によって溶解層を溶解させることにより、溶解層とともに、レジスト層とその表面に形成されたTi層及びNi層を除去する。 (もっと読む)


【課題】 電極材料などに用いられている銅および/または銅合金に対してダメージがなく、結晶質ITO膜をエッチングすることが可能な透明導電膜用エッチング液組成物を提供する。
【解決手段】 1〜10重量%のふっ素化合物を含有する水溶液からなる結晶質透明導電膜用のエッチング液組成物。 (もっと読む)


【課題】
本発明の課題は、銅および銅合金薄膜を含む金属積層膜パターンを精度良くエッチング加工し、優れたパターン形状を形成し、かつ実用性に優れた安定で液寿命の長いエッチング液組成物、およびかかるエッチング液組成物を用いたエッチング方法を提供することにある。
【解決手段】
本発明は、銅からなる層と、銅を含む銅合金からなる層とを有する金属積層膜を、特定の組成を有する、りん酸、硝酸、酢酸および水を配合してなるエッチング液組成物を用いてエッチングするエッチング方法、およびそのエッチング液組成物に関する。 (もっと読む)


【課題】金属酸化物層と銅層とが共存する被処理物のエッチングに用いられ、前記銅層を選択的にエッチングできるエッチング剤と、これを用いたエッチング方法を提供する。
【解決手段】Zn、Sn、Al、In及びGaから選ばれる1種以上の金属の酸化物を含む金属酸化物層と銅層とが共存する被処理物のエッチングに用いられ、前記銅層を選択的にエッチングするエッチング剤において、第二銅イオン源を銅イオンとして0.1〜3.0重量%、炭素数が6以下の有機酸を0.1〜30.0重量%、並びに、環内に窒素原子を2つ以上有する複素環式化合物、及び炭素数が8以下のアミノ基含有化合物からなる群より選ばれる1種以上の窒素含有化合物を0.1〜30.0重量%含有する水溶液からなり、pHが5.0〜10.5であることを特徴とするエッチング剤とする。 (もっと読む)


【課題】基板上に形成されたモリブデン系導電性薄膜、または、モリブデン系導電性薄膜とアルミニウム系導電性薄膜とが積層された積層導電性薄膜を、効率よく、側面が良好な順テーパー形状となるようなエッチングを行うことが可能なエッチング液、および、該エッチング液を用いたエッチング方法を提供することを目的とする。
【解決手段】(a)リン酸30〜80重量%と、(b)硝酸0.1〜20重量%と、(c)有機酸塩0.1〜20重量%と、(d)水とを含有するエッチング液を用いてエッチングを行う。
また、上記エッチング液を用いて、アルミニウム系導電性薄膜と、モリブデン系導電性薄膜とを備えてなる2層構造の積層導電性薄膜、または、アルミニウム系導電性薄膜と、アルミニウム系導電性薄膜を挟み込むようにその両主面側に配設された第1のモリブデン系導電性薄膜および第2のモリブデン系導電性薄膜を備えてなる3層構造の積層導電性薄膜をエッチングする。 (もっと読む)


【課題】製造に際して配線にヒロックが発生せず、かつエッチング形状の制御が容易な液晶表示装置を提供する。
【解決手段】液晶表示装置は、基板上にマトリクス配置された走査線と、信号線12と、前記走査線及び信号線に接続される薄膜トランジスタと、前記薄膜トランジスタに接続される画素電極27とを有する液晶表示装置において、前記走査線が下層からアルミニウム−ネオジム合金層211と高融点金属層212との積層構造からなり、前記信号線12が下層から高融点金属層231とアルミニウム−ネオジム合金層232と高融点金属層233との3層構造からなり、高融点金属の種類に応じて、ネオジム含有量を調整する。 (もっと読む)


【課題】可能な限り従来の設備及び加工プロセスを継承してコストの上昇を抑制するも、Ta含有の導電材料を難除去性の残留付着物を発生せしめることなく所望に加工し、容易且つ確実に信頼性の高い半導体装置を実現する。
【解決手段】半導体基板上に、Ta含有層、TiN層、及び多結晶シリコン膜等のドライエッチング可能な層を順次積層し、TiN層をエッチングストッパーとして多結晶シリコン膜をドライエッチングして所定形状に残し、TiN層及びTa含有層をSPM、APM等を用いてウェットエッチングして多結晶シリコン膜下で所定形状に残す。 (もっと読む)


【課題】マスク枚数を増加させることなく、積層構造の導電層の下層が露出した構造を有する半導体装置の作製方法を提供する。
【解決手段】ソース電極及びドレイン電極層を形成する導電膜を2層の積層構造で形成し、該導電膜上にエッチングマスクを形成し、該エッチングマスクを用いて該導電膜をエッチングし、該エッチングマスクを残した状態で該導電膜の上層をサイドエッチングして該導電膜の下層の一部を露出させてソース電極及びドレイン電極層とする。このように形成したソース電極及びドレイン電極層と画素電極層は、露出された下層の部分において接続される。ソース電極及びドレイン電極層を形成する導電膜は、例えば、下層をTi層とし、上層をAl層とすればよい。エッチングマスクに開口部が複数設けられていてもよい。 (もっと読む)


【課題】半導体基板上のタングステン(W)系金属膜をエッチングし得る半導体基板用エッチング剤、当該エッチング剤を用いるエッチング方法、並びにエッチング剤調製液を提供する。
【解決手段】(A)過酸化水素、(B)ヒドロキシル基を有するホスホン酸系キレート剤、(C)塩基性化合物及び(D−2)無機酸由来のアニオン種並びに炭酸イオン、モノカルボン酸イオン、ヒドロキシトリカルボン酸イオン及びヒドロキシカルボン酸イオンから選ばれる有機酸由来のアニオン種から選ばれる2種以上のアニオン種0.01重量%〜3重量%を含む溶液からなる、タングステン(W)系金属膜上部にタングステンよりもイオン化傾向の低い金属バンプ又は金属配線が形成された半導体基板用エッチング剤、該エッチング剤を用いるW系金属膜のエッチング方法、並びに上記(B)、(C)及び(D−2)を含む溶液からなる、半導体基板用エッチング剤調製液。 (もっと読む)


【課題】Cu/Mo積層金属膜、Cu/Mo合金積層金属膜、Cu合金/Mo合金積層金属膜のような、銅又は銅合金の1層以上の銅層と、モリブデン又はモリブデン合金の1層以上のモリブデン層とを含む多重膜を、効率的で優秀に同時に一括してエッチングすることができるエッチング液組成物及びこれを用いた多重膜のエッチング方法を提供する。
【解決手段】エッチング液組成物は、総重量に対して、リン酸50〜80wt%;硝酸0.5〜10wt%;酢酸5〜30wt%;イミダゾール0.01〜5wt%;及び残量の水を含む。添加剤イミダゾールは、銅/モリブデンガルバニック反応調節剤として機能する。 (もっと読む)


【課題】オーミックコンタクト層の膜厚やドライエッチング時のエッチングレートに依存せず所望のエッチングが可能となる薄膜トランジスタの製造方法を提供する。
【解決手段】絶縁性基板上に、ゲート電極と、ゲート電極を覆うように形成されたゲート絶縁膜と、半導体層と、オーミックコンタクト層と、ソース・ドレイン電極と、を備える薄膜トランジスタの製造方法であって、絶縁性基板上に、ゲート電極と、ゲート絶縁膜と、半導体層と、オーミックコンタクト層と、ソース・ドレイン電極と、がこの順に積層される積層ステップと、積層ステップによって積層されたソース・ドレイン電極とオーミックコンタクト層とがエッチングガスでエッチングされるエッチングステップと、オーミックコンタクト層がエッチングされてゲート絶縁膜が露出し始める点をエッチング終了ポイントとして検知するエッチング終了検知ステップと、を備える薄膜トランジスタの製造方法。 (もっと読む)


【課題】低い過酸化水素含有量で銅膜と他の金属膜とからなる多重膜の一括エッチングが可能で、工程に適したエッチング速度、適当なエッチング量、及び適切なテーパ傾斜角を有するエッチング液組成物により、既存の過水系エッチング液よりも高い安定性を有し、処理枚数能力を向上させる。
【解決手段】
本発明による金属配線エッチング液は、過酸化水素、酸化剤、フッ素化合物、キレート剤、硝酸系化合物、ホウ素系化合物、添加剤、及び残量の水を含むことを特徴とする。 (もっと読む)



【課題】インジウム系金属膜、アルミニウム系金属膜、及びチタニウム系又はモリブデン系金属膜からなる三重膜用エッチング液組成物を提供すること。
【解決手段】本発明のエッチング液組成物は、組成物の総重量に対して、鉄化合物0.1重量%〜10重量%、硝酸0.1重量%〜10重量%、含フッ素化合物0.01重量%〜5重量%、及び水残部を含むことを特徴とする。 (もっと読む)


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