【課題】ポリシリコンゲート電極の意図しないフルシリサイド化を防止する。
【解決手段】基板１７上に、ゲート絶縁膜１２およびシリコン層１０をこの順に積層した積層体（１０、１２）を形成する工程と、積層体（１０、１２）の側壁沿いにＳｉＮ膜を有するオフセットスペーサ１３を形成する工程と、その後、シリコン層１０の上面を、薬液を用いて洗浄する工程と、その後、少なくともシリコン層１０の上面を覆う金属膜１９を形成する工程と、その後、加熱する工程と、を有し、オフセットスペーサ１３が有するＳｉＮ膜は、ＡＬＤ法を用いて４５０℃以上で成膜されたＳｉＮ膜、または、１Ｇｐａ以上の引張／圧縮応力を有するＳｉＮ膜であり、前記薬液は、重量比率で、ＨＦ／Ｈ_２Ｏ＝１／１００以上であるＤＨＦ、または、バッファードフッ酸である半導体装置の製造方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】希釈された溶液を用いて、貴金属を含む被処理膜等を迅速に且つ効果的にエッチングでき、且つ、設備の稼働率を向上できるようにする。
【解決手段】薬液を調合する薬液調合槽２４と、調合された薬液を貯蔵する薬液貯蔵槽２８と、貯蔵された薬液を用いて半導体基板を処理する処理チャンバ２１とを有する半導体装置の製造装置を用いた半導体装置の製造方法は、薬液調合槽２４において、酸化剤と錯化剤とを混合して第１の薬液を調合し、薬液調合槽２４において、第１の薬液を活性化する。続いて、薬液貯蔵槽２８において、活性化された第１の薬液と純水とを混合し、第１の薬液の濃度及び温度を調整することにより、第１の薬液を希釈した第２の薬液を調整する。続いて、処理チャンバ２１に投入された半導体基板に第２の薬液を供給する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、安定したエッチング処理を行うことができるエッチング処理方法、微細構造体の製造方法、およびエッチング処理装置を提供する。
【解決手段】硫酸溶液を電気分解して酸化性物質を生成するとともに、生成される前記酸化性物質の生成量を制御して、所定の酸化種濃度を有するエッチング溶液を生成し、生成された前記エッチング溶液を被処理物の表面に供給すること、を特徴とするエッチング処理方法が提供される。 （もっと読む）

【課題】王水等の薬液によるシリサイド膜表面における腐食発生を抑制し、良好なＰｔ含有シリサイド膜を形成する半導体装置の製造方法と、それを実現する半導体装置の製造装置とを提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、半導体層を有する基板上または基板上に形成された導電膜上に、貴金属を含む合金膜を形成する工程（ａ）と、基板に対して熱処理を行って貴金属とシリコンとを反応させ、基板上または導電膜上に貴金属を含むシリサイド膜を形成する工程（ｂ）と、工程（ｂ）の後、第１の薬液を用いて未反応記合金膜を除去する工程（ｃ）と、基板を酸化性雰囲気に曝すことによって、貴金属の残渣の下に位置する部分を含むシリサイド膜の上面上にシリコン酸化膜を形成する工程（ｄ）と、第２の薬液を用いて貴金属の残渣を溶解する工程（ｅ）とを備えている。 （もっと読む）

【課題】 電界効果トランジスタのためのゲート・スタックを形成する方法を提供すること。
【解決手段】 方法は、第１及び第２の型の電界効果トランジスタに対して指定された半導体基板の領域を覆う第１の窒化チタン（ＴｉＮ）層の上に直接、金属含有層を形成することと、金属含有層の上に第２のＴｉＮ層のキャッピング層を形成することと、第１の型の電界効果トランジスタに対して指定された領域を覆う第１のＴｉＮ層の第１の部分のみを覆うように、第２のＴｉＮ層及び金属含有層をパターン形成してすることと、第１のＴｉＮ層の第１の部分をパターン形成された金属含有層の厚さの少なくとも一部で覆うことによりエッチングから保護する一方で、パターン形成によって露出された第１のＴｉＮ層の第２の部分をエッチング除去することと、第２の型の電界効果トランジスタに対して指定された半導体基板の領域を覆う第３のＴｉＮ層を形成することとを含む。 （もっと読む）

【課題】マイクロエレクトロニクスデバイス構造から少なくとも１種の材料を除去するための改善された組成物及びプロセスを提供する。
【解決手段】
少なくとも１つの材料層を、表面にそれを有する拒絶されたマイクロエレクトロニクスデバイス構造から除去するための、除去組成物及びプロセス。除去組成物は、フッ酸を含む。この組成物は、前記構造を再生し、再加工し、リサイクルし、及び／又は再使用するために、保持される層に損傷を及ぼすことなく、除去される（１種又は複数の）材料の実質的な除去を実現する。 （もっと読む）

【課題】ｐ型ＭＯＳＦＥＴとｎ型ＭＯＳＦＥＴとの間で異なる所望のしきい値を得ることが可能な半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る半導体装置の製造方法は、半導体基板上にＨｆ、 Ｚｒの少なくとも１つと、Ｓｉ、Ｏ、Ｎを含むゲート絶縁膜を形成し、第１、第２のゲート電極層を形成し、第１のゲート電極層上および第２のゲート電極層上に、第１の金属含有層を形成し、第２の金属含有層を形成し、保護膜を形成し、保護膜を選択的に除去し、残存する保護膜をマスクとして、第１の金属含有層および第２の金属含有層を選択的に除去し、第１の金属含有層および第２の金属含有層が選択的に除去された第２のゲート電極層上に、第３の金属含有層を成膜し、加熱処理により、第１のゲート電極層を合金化するとともに、第２のゲート電極層を合金化し、異なる組成のゲート電極を形成する。 （もっと読む）

【課題】量子細線とみなしうる程度に高い空隙率のシリコン表層部を有するシリコン基板を、脱フッ化水素プロセスにより製造する方法の提供。
【解決手段】シリコン基板２の少なくとも一部に金属被膜３を均一に被着する工程、該被膜を被着したシリコン基板を少なくとも塩酸と硝酸を含む処理液４に浸漬し金属被膜が被着された表面をエッチングする工程、所定時間後に該シリコン基板を該処理液から回収する工程、微細溝が略均一に分布する領域を残して残部を切除する工程を少なくとも含むことを特徴とする、高空隙率表層部を有するシリコン基板の製造方法およびその製法によって製造された高空隙率表層部を有するシリコン基板。 （もっと読む）

【課題】薬液を用いた湿式のエッチングであるにもかかわらずアンダーカットが生じることのないＴｉＷアンダーバンプ層のエッチング方法を提供する。
【解決手段】金バンプ電極3が存在しない領域では、ＵＶエキシマ光の照射によって薬液Y（過酸化水素水）が活性化されるためにＴｉＷアンダーバンプ層2aのエッチング反応が早く進行するが、金バンプ電極3が存在する領域では、ＵＶエキシマ光が金バンプ電極によって遮られるために薬液Yが活性化されることはなく、エッチング反応は殆ど進行しない。つまり、金バンプ電極3の下方領域ではＴｉＷアンダーバンプ層2aのエッチング反応が非常に遅いので、アンダーカットの生じないＴｉＷアンダーバンプ層2aのエッチングを実現することができた。 （もっと読む）

【課題】コンタクトホールから露出する導電層間を連結するコンタクトパッドの形成の際、金属シリサイド層を用いて電気的な抵抗を低減する半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体基板上に第１導電層、第１層間絶縁膜、第２導電層、及び第２層間絶縁膜を順次形成し、マスク膜を食刻マスクとして用いて第２層間絶縁膜、第２導電層、及び第１層間絶縁膜を順次除去して第１導電層が露出するコンタクトホールを形成する段階と、コンタクトホールの側壁に露出した第２導電層を選択的に食刻してコンタクトホールの側壁に露出する第１層間絶縁膜と第２層間絶縁膜との間にリセスを形成する段階と、コンタクトホールの底部または側壁の少なくともいずれか一方に所定厚さの第３導電層を形成するとともに、リセスを埋める金属シリサイド層を形成する段階と、金属シリサイド層が形成された後、コンタクトホールを埋める第４導電層を形成する段階と、を含む。 （もっと読む）

本発明には、ケイ化ニッケルおよびケイ化コバルトをエッチングする方法ならびに導電線を形成する方法が含まれる。一実施形態では、ケイ化ニッケルを含む基板は、その基板からケイ化ニッケルをエッチングするために効果的な、少なくとも５０の温度および３５０トル〜１１００トルの圧力でＨ_３ＰＯ_４およびＨ_２Ｏを含む流体に曝露される。一実施形態では、ケイ化ニッケルまたはケイ化コバルトのうちの少なくとも一方が、基板からケイ化ニッケルまたはケイ化コバルトのうちの少なくとも一方をエッチングするために効果的な、５０以上の温度および３５０トル〜１１００トルの圧力で、Ｈ_２ＳＯ_４、Ｈ_２Ｏ_２、Ｈ_２Ｏ、およびＨＦを含む流体に曝露される。 （もっと読む）

【課題】ハードマスク層パターンを利用して格納電極領域の表面積を増加させ、格納電極用の酸化膜の損傷、及びコンタクト間のブリッジ現象を防止する。
【解決手段】本発明は半導体素子の格納電極形成方法に関し、特にハードマスク層パターンを利用して格納電極領域の表面積を増加させ、格納電極用は酸化膜の損傷、及びコンタクト間のブリッジ現象を防止することができる技術である。 （もっと読む）