Fターム[5F044AA02]の内容
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基板配線にメッキしているもの (25)
基板配線にボンディングチップがあるもの (12)
基板配線の配置、形状に関するもの (52)
Fターム[5F044AA02]に分類される特許
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イグナイタ
【課題】効率的なコネクタを兼ねるイグナイタケースの設計を実現させ、2ndボンドをセラミック基板上に安定的に行うイグナイタを提供することを目的とする。
【解決手段】セラミック基材の片側に導体パターンが形成されたセラミック基板と、前記セラミック基板の導体パターンとコネクタを兼ねるイグナイタケースにインサート成形された端子の間がアルミワイヤボンディングで電気的に接続され、前記セラミック基板上に形成される導体パターンにアルミワイヤボンディングが直接なされるイグナイタにおいて、アルミワイヤボンディング部の導体パターンの下にセラミック基材の表裏を貫く穴が形成され、穴の内部に金属が充填される。
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半導体装置製造用接着フィルム
【課題】半導体装置の製造方法において、最終的に除去される接着フィルムであって、導体の一部が封止樹脂から突出したいわゆるスタンドオフを有する半導体装置の製造に好適に用いられ、かつ良好なワイヤボンディング性能を有する半導体装置製造用接着フィルムを提供すること。
【解決手段】(a)導体4の少なくとも一部を接着フィルム3に埋没させる工程、(b)導体上に半導体チップ5を搭載する工程、(c)半導体チップと導体とを結線する工程、(d)封止樹脂8により半導体チップを封止する工程、及び (e)接着フィルムを除去する工程、を有する半導体装置の製造方法に使用される、熱硬化性接着剤層を有する接着フィルムであって、該熱硬化性接着剤層に層状粘土鉱物が含有されていることを特徴とする半導体装置製造用接着フィルム。
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半導体装置
【課題】メモリチップを複数積層する際の実装面積の増加を抑制する。
【解決手段】実装基板101の一方の面にこの順に搭載された第一メモリチップ103aおよび第二メモリチップ103bは、矩形の平面形状を有し、矩形の一辺に沿って一列にのみ配置された複数の電極パッドを含む。第二メモリチップ103bの電極パッド列は、第一メモリチップ103aの電極パッド列に平行に配置される。電極パッド列の一方の端部にチップセレクトパッドが配置される。第一メモリチップ103aのコントロール、アドレスまたはデータパッド113aが、矩形の一辺に沿って一列に配置された第一ステッチ109にワイヤボンディングされ、チップセレクトパッド121aおよびチップセレクトパッド121bは、チップセレクトパッド121aの側の隣接辺に沿って一列に配置された第二ステッチ111にワイヤボンディングされる。
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半導体パッケージおよびその製造方法
【課題】 ボンドパッドサイズとボンドパッドピッチ減少の限界を克服できる集積回路チップを提供する。
【解決手段】 集積回路チップ10は、センターパッド型チップ設計による集積回路が形成されたセル領域Acell1、Acell2の間に周辺領域Aperiを有する半導体基板11と、該半導体基板11上に集積回路と接続されるボンドパッド配線パターン12とを含む。ボンドパッド配線パターン12は、従来のボンドパッドが形成される層に所定のパターンを有するライン形態で形成され、一端が周辺領域Aperiに位置する。周辺領域Aperiの幅は、ボンドパッド領域が確保されていなくて、ライン形態である一部のボンドパッド配線パターン12だけが存在するので、従来と比べて狭くなっている。これにより、半導体基板11は、ボンドパッド領域のために必要な幅だけ減少された全体幅を有する。
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半導体装置に配設される中継部材及び半導体装置
【課題】半導体装置に配設される中継部材のボンディングパッドの配列及び当該ボンディングパッドを結ぶ配線を任意に設定できるようにして、異なる構造を有する他の半導体装置に対しても適用することができる当該中継部材及び当該中継部材を備えた半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置に配設される中継部材50は、第1の端子51と第2の端子52とを備える。第1の端子51に接続される第1端子用配線56の端部及び第2の端子に接続される第2端子用配線57の端部のうち少なくとも1つにより連結部60が形成される。少なくとも前記連結部に接続部材61が形成され、第1の端子51と第2の端子52が接続される。
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半導体装置の製造方法
【課題】 従来よりも歩留まりの向上が可能な半導体装置の製造方法、及び当該方法に使用する接着シートを提供する。
【解決手段】 本発明の半導体装置の製造方法は、接着シートを介して、半導体素子を被着体上に仮固着する仮固着工程と、前記接着シートを所定条件で加熱することにより、前記被着体に対するせん断接着力が0.5MPa以上の半硬化状態にする半硬化工程と、前記接着シートが半硬化された状態で、半導体素子をワイヤーボンディングするワイヤーボンディング工程を有することを特徴とする。
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半導体装置
【課題】簡単な構成で高集積化と高信頼性を実現した半導体装置を提供する。
【解決手段】表面に複数のリードを有する搭載基板の表面上に複数の第1パッドを有する第1半導体チップと、上記搭載基板又は上記第1半導体チップ上に、複数の第2及び第3パッドを有する第2半導体チップとを搭載する。上記複数のリードと上記複数の第1パッドとの対応するもの同士を第1ボンディングワイヤで接続する。上記複数の第2パッドと上記複数の第1パッドとの対応するもの同士を第2ボンディングワイヤで接続する。上記複数の第3パッドと上記複数のリードとの対応するもの同士を第3ボンディングワイヤで接続する。上記第1及び第2ボンディングワイヤは、上記第3ボンディングワイヤよりも太くされ、第1及び第2パッドは、上記第3パッドよりも大きな面積を持つ。
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半導体装置製造用の接着シート、及びそれを用いた半導体装置の製造方法
【課題】耐熱性を向上させつつ、従来の製造工程を変更することなく、高信頼性の半導体装置を製造することが可能な半導体装置の製造方法、当該方法に使用する接着シート及び当該方法により得られる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置製造用の接着シート10,12は、半導体素子を被着体に接着させ、該半導体素子にワイヤーボンディングをする際に用いる半導体装置製造用の接着シート10,12であって、親油性の層状粘土鉱物を含有することを特徴とする。
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ボンディング装置及びボンディング装置における回路基板の吸着方法
【課題】ボンディング装置において、湾曲した回路基板の吸着固定と加熱とを同時に行う。
【解決手段】搬送ガイド13の間に、搬送された回路基板12を上面の基板吸着面15に吸着保持し、吸着した回路基板12を加熱するヒートブロック10を設ける。ヒートブロック10の基板吸着面15には孔19が設けられており、真空吸引ベローズ18を含む真空吸引パッド16が取りつけられ、真空吸引パッド16は真空装置に接続されている。真空吸引パッド16内の空気を真空装置に吸引しながらヒートブロック10を回路基板12に向かって上昇させて、真空吸着ベローズ18によって回路基板12を吸引して回路基板12を基板吸着面15に吸着固定すると同時に加熱する。
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半導体装置及びその製造方法
【課題】ボンディングワイヤの短絡のない半導体装置を提供する。
【解決手段】1主面に複数の電極5(5a,5b,5c)を有した少なくとも1個の半導体チップ4と、複数の内部電極2(2a,2b,2c)及び外部電極3を有し、半導体チップ4を内部電極形成面に固着した半導体チップ支持体であるBGA用基板1と、半導体チップ4の電極5とBGA用基板1の内部電極2とを接続した複数のボンディングワイヤ6,7,8と、半導体チップ4及びボンディングワイヤ6,7,8を封止した封止樹脂9とを有する半導体装置において、前記のボンディングワイヤ6,7,8は、金属細線である第1のボンディングワイヤ6,8と、金属細線の少なくとも一部が絶縁性樹脂で被覆されてなる第2のボンディングワイヤ7とで構成する。
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半導体装置及びその製造方法
【課題】多ピンの半導体チップを用いる半導体装置のボンディングワイヤどうしの接触をなくし、歩止まりを向上させる。
【解決手段】半導体チップ2の1主面上に形成された複数の電極3と前記半導体チップ2の周囲に配された導体部の内部電極4とを接続して互いに上下に配されるワイヤ5a,5b,5cの内、最下位のワイヤ5aに剛性が最も小さいものを用い、上位のワイヤ5b,5cに剛性がより大きいものを用いる。最下位のワイヤ5aは剛性が最も小さいことから、ワイヤ高さを低くできる。それよりも上位のワイヤ5b,5cの剛性が大きいと、ボンディング時にループ形状の制御が容易であるだけでなく、ボンディング後のループの変形が抑えられる。このため、ワイヤ5a,5b,5cどうしの接触を回避することが可能である。
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ホールセンサ搭載基板
【課題】半田を使用しない小型のアイリス用のホールセンサ搭載基板を提供する。
【解決手段】GaAsからなるホール素子ベアチップ3を直接フレキシブル基板1に搭載して、そのホール素子ベアチップ3をシリコーンゴム6などで樹脂封止したものである。
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半導体装置およびその製造方法
【課題】外部への電極取出しに必要なパッド面積を確保しつつ、パッド面積の低減を図ることにより、小型化された半導体装置、およびその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置10は、半導体回路基板1の能動面の対向する二辺の端部近傍に、断面テーパー形状を有するパッド形成部T1を形成し、このパッド形成部T1上に複数のパッド5が設けられている。これにより、断面テーパー形状を有したパッド形成部T1にパッド5が配設されているので、パッド5が斜めに形成され、同じサイズのパッドを平坦な能動面の端部近傍に形成した場合に比して、平面視でのパッド5のサイズが小さくなる。
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半導体装置
【課題】パッケージの反りを防止し、かつ隣接するワイヤ同士の接触を防止することができる半導体装置を得る。
【解決手段】基板11と、基板上に搭載されたチップ13と、チップ上の複数のパッド16と基板上の複数のパッド17とをそれぞれ接続する複数のワイヤ18と、チップ及び複数のワイヤを封止するモールド樹脂41とを有し、モールド樹脂は、平均粒径が3〜7μmで最大粒径が20〜30μmのフィラーを80wt%以上含有し、複数のパッドのピッチが100μm以上である。
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半導体素子、半導体装置、および、素子製造方法
【課題】素子側面に外部接続端子が位置しながらも製造が簡単な構造の半導体素子を提供する。
【解決手段】半導体素子100は、ボンディングワイヤ210が接続される外部接続端子110を有する。積層されている複数の導電層112が素子側面に露出しており、外部接続端子110が複数の導電層112の露出している側面からなる。従って、素子側面に位置する外部接続端子110を形成する複数の導電層112は、一般的な製造プロセスで形成することができ、複数の導電層112が露出している素子側面も、半導体ウェハをダイシングする通常の必須の工程で形成することができる。
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電子デバイスの製造方法及び支持部材
【課題】信頼性の高い電子デバイスの製造方法、及び、信頼性の高い電子デバイスを製造することができる支持部材を提供する。
【解決手段】電子デバイスの製造方法は、電極12を有する電子部品(半導体チップ10)を用意する工程と、支持面32と、支持面32の側方であって支持面よりも低い位置に配置された吸気口34とを有する支持部材30の支持面32で、電子部品が吸気口34に接触しないように、かつ、電子部品の前記支持面と対向する面の一部が支持面32から露出するように電子部品を支持して、吸気口34で電子部品における支持面32から露出した領域を吸引することによって電子部品を支持部材30に固定する工程と、電子部品を支持部材に固定した状態で、電極12と導電パターン(配線パターン22)とを電気的に接続する工程と、を含む。
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半導体装置、半導体装置の製造方法
【課題】複数の電気接続端子を有する半導体チップと複数の電気接続端子を有する基板とが金属ワイヤによって導電接続されているワイヤ接続型に関し、特に小型化、高密度化したときに高い接続信頼性を発揮できる半導体装置、及び、半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】複数の電気接続端子を有する半導体チップと複数の電気接続端子を有する基板とが金属ワイヤによって導電接続されている半導体装置であって、前記金属ワイヤの表面が、平均粒子径0.1〜5μmの絶縁粒子によって略均質に被覆されている半導体装置。
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実装基板
【課題】 本発明は、フィルドビア直上領域をはんだボールを配置するだけの領域として用いることなく、より高密度な実装が行える実装基板を提供することを目的とする。
【解決手段】 一方を開放され、他方を閉塞された非貫通穴を有した基板と、上記非貫通穴内に充填される導電性物質と、この導電性物質にワイヤボンディングにより導通される半導体実装部品とを備えた実装基板。
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半導体装置の製造方法
【課題】ボールボンディングを行なう際に初期の合金化率を高める。
【解決手段】ボンディングパッド10には、凹部30が設けられている。ボンディングパッド10及び凹部30は、略円形に形成されている。凹部30は、配線層24に向かうに従って面積が狭まるように傾斜した側面30aを有している。ワイヤ54は、ボール54aの直径が凹部30の直径と同じか又はわずかに大きくなるワイヤ径のものが選定される。この状態でボンディングを行なうと、ボール54aの外周付近が凹部30の側面30aと接触し、熱や超音波振動が外周付近にも正確に伝わるようになる。これにより、接合界面の全域に亘って正常なAu−Al合金層54bが形成される。
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半導体装置モジュールの製造方法及び半導体装置モジュール
【課題】半導体装置モジュールの低コスト化及び歩留まりの向上を図る。
【解決手段】金属ベース基材上に絶縁層を形成し、その上に銅箔パターンを形成する(ステップS3)。次に、銅箔パターンの一部を被覆するように、ソルダーレジスト層を絶縁層上に形成し(ステップS4)、金属膜表面が露出した銅箔パターン表面に水溶性の耐熱性プリフラックスを塗布する(ステップS5)。次に、金属膜上にクリーム半田を塗布し(ステップS6)、この上に半導体素子を設置するために(ステップS7)、リフローする(ステップS8)。不純物を除去した後(ステップS9)、超音波接合法によって、ワイヤを半導体素子の電極部及び銅箔パターンに直接接合させる(ステップS10)。これにより、半導体装置モジュールの低コスト化及び歩留まりの向上を図ることができる。
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