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Fターム[5F044AA19]の内容

ボンディング (23,044) | ワイヤによるペレット電極との接続構造 (951) | 同一のリードに複数本のワイヤ接続 (43)

Fターム[5F044AA19]に分類される特許

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【課題】単一のパワー半導体モジュールに例えば12アームを搭載可能にコンパクトに実装するとともに、直流端子と交流端子のそれぞれの端子をモジュール端面にそれぞれ配置し、また、電力回路のインダクタンスを低く保つこと。
【解決手段】1枚の絶縁基板108上に2組の上アーム(100,104と102,106)を絶縁基板上の上寄り左右に配置し、2組の下アーム(101,105と103,107)を絶縁基板上の下寄り左右に配置して、絶縁基板上の配線パターンとして、2組の上アームを第1の配線パターンC01上に実装し、2組の下アームは第1の配線パターンの下に配置した第2、第3の配線パターンC02,C02上にそれぞれ実装して、第2、第3の配線パターンの間に第1の配線パターンC01を延長し、その延長した端部に正極端子T01からの配線を接続し、さらに、絶縁基板108を1モジュール中に3枚並置して実装して12in1モジュールの構成とすること。 (もっと読む)


【課題】 半導体チップの電極パッドを厚膜化あるいは大面積化することなく、電極パッドの溶断を防止し、電流パッドの許容電流値を高める。
【解決手段】 半導体チップ20の少なくとも1つの電極パッド21s、21dにおいて、単一の電極パッド21上に、第1ワイヤ41が複数箇所45でボンディングされる。さらに、第1ワイヤ41に沿って、第1ワイヤ上41に、第2ワイヤ42が複数箇所46でボンディングされる。一部の実施形態において、第2ワイヤ42のボンディングに先立って、電極パッド21上の第1ワイヤ41の頂部形状を加工してもよい。 (もっと読む)


【課題】接合機との干渉を防止し、半導体モジュールの小型化を図ること。
【解決手段】ワイヤボンドの接合構造は、バスバ11,13を多段構造に構成し、バスバ11,13にワイヤ15,16を接合する。詳しくは、上段バスバ13及びそれを支持する上段支持部14を含む上段バスバ部材6が、下段バスバ11及びそれを支持する下段支持部12を含む下段バスバ部材5と別体に構成される。下段バスバ11と下段ワイヤ15とが接合され、上段バスバ部材6が下段バスバ部材5に固定され、その後に、上段バスバ13と上段ワイヤ16とが接合される。下段バスバ部材5の上面であって、下段バスバ11と下段ワイヤ15との接合部15aの近傍を除く領域に、上段バスバ部材6が固定される。 (もっと読む)


【課題】クロストークノイズの抑制及びEMCを強化し、且つ、クロストークノイズの抑制等に用いるスペースを縮小して小型化を可能とする半導体集積回路装置を得られるようにする。
【解決手段】半導体集積回路装置は、実装基板10の上に保持され、半導体集積回路を含む半導体チップ11と、実装基板10の上に形成され、半導体集積回路が処理する信号を伝送する第1の配線1と、半導体集積回路と第1の配線6とを接続する第1のボンディングワイヤ6と、実装基板10の上に形成された複数の第2の配線2と、半導体集積回路と複数の第2の配線2のうちのいずれかとをそれぞれ接続する複数の第2のボンディングワイヤ8とを備えている。第2のボンディングワイヤ8は、第1のボンディングワイヤ6の上方で且つ該第1のボンディングワイヤ6と間隔をおくように互いに交差して形成されている。 (もっと読む)


【課題】 低オン抵抗のパワートランジスタを提供する。
【解決手段】 半導体チップの裏面とヘッダの上面とが対向するように前記半導体チップが前記ヘッダの上面に搭載されていることにより、前記半導体チップのドレイン電極と前記ヘッダとは電気的に接続されており、
平面視において、前記半導体チップのソース電極の一部が前記半導体チップのゲート電極とソースリードとの間に位置するように前記ソース電極は前記半導体チップの表面に配置されており、
前記ゲート電極と第1導電ワイヤとが接続している部分は、前記ソース電極と第2導電ワイヤとが接続している部分よりも前記ソースリードから遠い位置にある。 (もっと読む)


【課題】半導体装置のコストの低減化を図る。
【解決手段】半導体チップ3の電極パッド3cとこれに対応するインナリード2aとが複数のボンディングワイヤ6によって電気的に接続された半導体パッケージにおいて、センシングワイヤA,B(第2ボンディングワイヤ6b,第4ボンディングワイヤ6d)を、同一のインナリード2aに接続された他のボンディングワイヤ6(第1ボンディングワイヤ6a,第3ボンディングワイヤ6c)より細くすることで、金ワイヤに掛かるコストを減らして前記半導体パッケージの原価低減を図る。 (もっと読む)


【課題】 半導体パッケージで発生する電磁ノイズを当該パッケージ内部で減衰させることができるリードフレーム及びインターポーザを提供すること。
【解決手段】 LSIチップ10と外部の電気回路とを接続するものであり、複数のリード6を備えている。この複数のリード6の1本であるリード6aの一端はLSIチップ10と導線7aにより接続され他端がプリント基板に接続され、リード6aは一端において隣接するリード6bに導線7bにより接続され、リード6bの他端はリード6bに隣接するリード6cの一端に導線7cにより接続され、リード6cの他端はオープンとなっている。これにより、リード6aに接続されたリード6b、6cがオープンのスタブ線路として機能する。 (もっと読む)


【課題】ワイヤの低インダクタンス化、半導体チップへのダメージ軽減、接合部の強固な接合、及び半導体パッケージの小型化を同時に実現することで、高信頼性及び小型化を両立した半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】ボールを介して半導体チップ5のチップ電極にワイヤを接合する1回目のボンディングステップと、ボールを介してリード端子にワイヤを接合する2回目のボンディングステップと、ボールを介して半導体チップ5のチップ電極にワイヤを接合する3回目のボンディングステップと、リード端子にワイヤを接合する4回目のボンディングステップと、ワイヤを切断するステップとを備える。 (もっと読む)


【課題】第1の電極端子と第2の電極端子間の配線におけるオン抵抗を低減する、半導体装置及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置100は、第1の電極端子と、第2の電極端子と、前記第1及び第2の電極端子を接続する少なくとも2本のワイヤー14とを有する。少なくとも2本のワイヤー14は、ワイヤー14が延びる方向に沿って導電性接着剤15を用いて互いに電気的に接続されている。第1の電極端子は、例えば外部引き出し電極20の端子である。また、第2の電極端子は、例えばMOSFETのソース電極22の端子である。 (もっと読む)


【課題】信頼性と新規機能を実現したパワーMOSFETと、部品点数の削減や多機能化を可能とした電池監視装置を提供する。
【解決手段】パワーMOSFETは、半導体基板の第1主面と第2主面にソース,ドレインが形成され、半導体基板の厚み方向に流れる電流を制御するようゲート絶縁膜及び上記第1主面側に第1接続電極が設けられたゲート電極が形成され、上記第1主面側に一端が上記ソース電極に接続可能にされ、他端が第2接続電極に接続された抵抗素子が設けられる。ソース端子と上記ソースを接続し、ゲート端子と上記ゲート電極を接続し、上記検出端子と上記第2接続電極を接続する。電池監視装置の充放電経路に上記パワーMOSFETを用い、上記抵抗素子を監視ICやエラーアンプに必要な保護用に用いる。 (もっと読む)


【課題】樹脂封止の工程に於ける金属細線の変形が抑制された半導体装置およびその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の半導体装置10は、分離されたアイランド12Aおよびアイランド12Bと、アイランド12A、12Bに一端が接近するリード14と、アイランド12Aに固着されて金属細線24Cを経由してリード14Eと接続される制御素子20と、アイランド12Bに固着されて金属細線26を経由してリード14Eと接続されるスイッチング素子18と、を備える。更に、金属細線24Cと金属細線26とが交差して配置される構成となっている。 (もっと読む)


【課題】ワイヤ等超音波ボンディング接合性を向上させることができるリードフレーム及びそれを用いた信頼性の高い半導体装置を提供すること。
【解決手段】アウターリード31から段差形成されたステッチ部32を有し、ステッチ部32の一部がアウターリード31側へ延在した、ステッチ部延在部32aを有するリードフレーム30及びそれを用いた半導体装置である。 (もっと読む)


本発明は、第1電気コンタクト面と第2コンタクト面との間の電気的なボンディング接続構造であって、少なくとも1つの第1ボンディング接続部によって前記コンタクト面の少なくとも1つの上にボンディングされている少なくとも1つの第1電気導体を備えたボンディング接続構造に関する。ここでは、前記第1電気導体(8)の上に、少なくとも1つの第2ボンディング接続部(10,13)によってボンディングされている少なくとも1つの別の第2電気導体(9)が設けられており、前記2つのボンディング接続部(10)は互いにずらされて位置している。本発明はさらに、第1電気コンタクト面と第2電気コンタクト面の間に存在する電気的なボンディング接続構造を形成するための方法に関する。
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【課題】ワイヤの配線高さを低減できる回路装置を提供する。
【解決手段】回路装置1Aは、基体40と、リード部10と、ダイ部20と、上記リード部10と上記ダイ部20とを電気的に接続するワイヤ30とを有する。上記ワイヤ30の一端部30aは、上記リード部10にボールボンド部31にて接合されている。上記ワイヤ30の中途部30bは、上記リード部10にボールボンド部31にて接合されている。上記ワイヤ30の他端部30cは、上記ダイ部20に接合されている。 (もっと読む)


【課題】ユーザの要求に出来る限り対応しつつも、チップサイズを増大させないようにすることが重要となる。
【解決手段】本発明の半導体装置は、基板上の外周に沿って配置される第1乃至第4内部端子と、第1内部端子に接続される回路と、第2内部端子と接続される第1外部端子と、第3内部端子と接続される第2外部端子と、第4内部端子と接続される第3外部端子と、を備え、回路は、第1内部端子と第1外部端子との接続状態に応じた信号を出力し、第1及び第2内部端子は、第1外部端子が対応する基板の1辺に平行な方向における第1及び第2内部端子の中心間の距離がL1となるように配置され、第3及び第4内部端子は、第2及び第3外部端子が対応する基板の1辺に平行な方向における第3及び第4内部端子の中心間の距離がL2となるように配置され、距離L1は、距離L2よりも小さいことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】不良のワイヤーボンディングマシンを識別する所要時間を短縮可能な識別コードの形成方法を提供する。
【解決手段】複数のボンディングパッド111を有するチップ110は、複数のフィンガー121を有する搭載体120に設置される。搭載体120上に一本の二進法コード基準ライン130を設定し、二進法コード基準ライン130によりフィンガー121群を第1コード区域122と第2コード区域123とに区切る。ワイヤーボンディング方式でボンディングパッド111群とフィンガー121群とを電気接続するボンディングワイヤ140群は、フィンガー121群の第1コード区域122または第2コード区域123の何れかと接合して、ワイヤーボンディングマシンの識別コードを構成する。このような方法によると、不良のワイヤーボンディングマシンを前記識別コードにより迅速に追跡することができる。 (もっと読む)


【課題】 ワイヤボンディングを用いながら、半導体スイッチング素子の小型化および大電流化の利点を受けることができる給配電経路を有するパワーモジュールを提供する。
【解決手段】 直流電力又は交流電力の供給用のバスバー15、電極31a,32aを有する半導体スイッチング素子31,32およびバスバーと電極とを電気接続するための長尺導体とを備えるパワーモジュールにおいて、ワイヤ3の中間部分が半導体スイッチング素子の電極に電気接続され、かつ、ワイヤの中間部分を挟む両側の部分がともに、同じバスバー15に電気接続されている。 (もっと読む)


【課題】半導体チップ上の電極と基板上の電極との間で複数本のワイヤを接続する場合に、1組の電極間にて複数本のワイヤを重ねるにあたって適切なワイヤ形状を形成できるようにする。
【解決手段】半導体チップ10の電極11と基板20の電極21との間でワイヤ接続工程を複数回行って両電極11、21上にワイヤ30を複数本重ねて形成するものであって、重ねられた複数本のワイヤ30のうち最上部に位置するワイヤ30よりも下側に位置するワイヤ30を形成する接続工程では、1次ボンディング後のワイヤ30の引き出しを、当該ワイヤ30における1次ボンディング部30a側の根元部から中間部までが2次ボンディング側のランド21に向かって水平面Hから斜め上方の方向に延びる形状となるように行う。 (もっと読む)


【課題】アイランドに設置された半導体素子とその周囲の端子部とをボンディングワイヤで接続し、これらをモールド樹脂で封止してなる半導体装置において、ワイヤ長Lが6mm以上であっても、ワイヤ流れおよびワイヤの下方へのたわみを極力抑制し、ワイヤの短絡を防止する。
【解決手段】ワイヤ40における半導体素子30側の接続部と端子部20側の接続部との間に、第1の屈曲点41、第2の屈曲点42、第3の屈曲点43、第4の屈曲点44を設け、半導体素子30の上方から見たときのワイヤ40における半導体素子30側の接続部と第2の屈曲点42との距離L2、当該接続部と第3の屈曲点43との距離L3、当該接続部と第4の屈曲点44との距離L4を、それぞれワイヤ長Lに対して、0.25L以上0.35L以下、0.5L以上0.6L以下、0.85L以上0.95L以下としている。 (もっと読む)


【課題】半導体チップ上の同一の電極に複数本のワイヤを接続する構造において、電極面積を抑制することができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】まず、図3(a)〜図3(d)に示すように、半導体チップ1上の電極3にボールボンディングを行って接続部7aを形成した後、図3(e)〜図3(g)に示すように、インナーリード4aにウェッジボンディングを行う。続いて、図3(h)、図3(i)に示すように、ボール11bを接続部7aに直上から圧着するボールボンディングを行って接続部7bを形成した後、図3(j)〜図3(l)に示すように、インナーリード4aにウェッジボンディングを行う。 (もっと読む)


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