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Fターム[5F044LL11]の内容

ボンディング (23,044) | フェイスダウンボンディング (4,630) | 絶縁材料でチップと配線を密着させるもの (1,009)

Fターム[5F044LL11]に分類される特許

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【課題】半導体チップ及び配線回路基板のそれぞれの接続部が互いに電気的に接続された半導体装置、又は、複数の半導体チップのそれぞれの接続部が互いに電気的に接続された半導体装置において、接続部を封止するための接続信頼性及び絶縁信頼性に優れた接着剤組成物、それを用いた半導体装置の製造方法、及び半導体装置の提供。
【解決手段】エポキシ樹脂と、硬化剤と、ビニル系表面処理フィラーとを含有する接着剤組成物。 (もっと読む)


【課題】機能部を有する機能性素子が配線基板上に搭載されるとともに、少なくとも配線基板と機能素子との接合部を保護するための封止層が設けられている電子部品において、封止層の機能部への侵入を防止し、当該機能部が動作できるような空間を、電子部品のサイズを大型化させることなく形成する。
【解決方法】配線基板の主面上において、機能性素子の機能部と対向する領域に撥水層を形成し、封止層を形成する際のその構成樹脂が、配線基板の主面と機能性素子の機能部との間に流入するのを抑制して、これらの間に前記機能部が動作できるための空間を形成するようにして、電子部品を構成する。 (もっと読む)


【課題】半田付け工程を行う必要がなく、材料コストを効果的に低減するとともに製造工程の簡素化を図ることができる半導体パッケージ構造の製造方法を提供する。
【解決手段】能動面20aを有し、能動面に複数の導電バンプ200が設けられたチップ20と、表面にアンダーフィル210が設けられた基材21と、を提供する工程と、チップの能動面をアンダーフィルに結合させることにより各導電バンプをアンダーフィルに埋設させる工程と、基材を除去することによりアンダーフィルを露出させる工程と、チップをアンダーフィルによりパッケージ基板に結合させることでチップを各導電バンプによりパッケージ基板に電気的に接続させる工程と、を備える半導体パッケージ構造の製造方法。アンダーフィルをチップの能動面に結合させた上で、アンダーフィルをパッケージ基板に設けるようにした。 (もっと読む)


【課題】電極間の接続抵抗が低く、かつ耐熱衝撃特性が高い接続構造体を提供する。
【解決手段】本発明に係る接続構造体1は、第1の電極2bを上面2aに有する第1の接続対象部材2と、第2の電極4bを下面4aに有する第2の接続対象部材4と、第1の接続対象部材2の上面2aと第2の接続対象部材4の下面4aとの間に配置され、導電性粒子21を含む異方性導電材料により形成されており、導電性粒子21により第1の電極2bと第2の電極4bとを電気的に接続している接続部3とを備える。導電性粒子21は、樹脂粒子22と、第1の導電層23と、第1の導電層23よりも融点が低い第2の導電層24とを有する。第1,第2の電極2b,4bを電気的に接続している導電性粒子21における第1の導電層23は、第1の電極2bと第2の電極4bとに接触している。 (もっと読む)


【課題】半導体チップと配線基板との間にNCPを配した態様の半導体装置に関して、NCPと配線基板の密着力を向上させる。
【解決手段】まず、片面に、半導体チップの搭載領域に対応させた開口部を有する絶縁膜10が形成され、該開口部が、該半導体チップの主面の電極パッドが接続される接続パッド7とこれに繋がる配線パターン8とを露出させた配線基板1−1を用意する。次に、上記開口部内の接続パッド7を除いた場所にある、配線パターン8の表面および配線基板1の基材表面にコート材12を吹き付ける。コート材12は、NCP11との密着力が該NCP11と配線パターン8の表面との密着力より優れている。次に上記の開口部の、半導体チップを搭載する領域全体にNCP11を塗布する。次にフリップチップ実装方式で半導体チップ2の電極パッド5と配線基板1の接続パッド7とを電気接続しながら、半導体チップ2を配線基板1にNCP11を介して接合する。 (もっと読む)


【課題】 低温短時間硬化性と保存安定性とを両立することができ、接続信頼性に優れた回路接続材料の実現を可能とする接着剤組成物、それを用いた回路接続材料、接続体及びその製造方法並びに半導体装置を提供すること。
【解決手段】 本発明の接着剤組成物は、オキセタン化合物と、エポキシ化合物と、下記一般式(1)で示されるスルホニウム塩型熱潜在性カチオン発生剤とを含有する。



一般式(1)中、R及びRはそれぞれ独立に、炭素数が1〜4の炭化水素基を示し、R及びRは互いに結合して環を形成していてもよく、R及びRはそれぞれ独立に、水素原子、炭素数が1〜10の脂肪族炭化水素基、又は、芳香族炭化水素基を示し、Xは、テトラフルオロホウ酸イオン、ヘキサフルオロリン酸イオン、ヘキサフルオロアンチモン酸イオン、又は、テトラキスペンタフルオロフェニルホウ酸イオンを示す。 (もっと読む)


【課題】半導体素子・配線回路基板間の熱膨張率差による接続不良を改善するとともに、半導体素子・配線回路基板の端子間での無機質充填剤の噛みこみを、より確実に抑え、接続信頼性を向上させた、封止用樹脂シートおよびそれを用いた半導体装置、並びにその半導体装置の製法を提供する。
【解決手段】配線回路基板と半導体素子との間の空隙を樹脂封止するための封止用樹脂シート1であって、上記封止用樹脂シート1が、無機質充填剤含有層3と無機質充填剤不含層2との二層構造のエポキシ樹脂組成物シートであり、無機質充填剤含有層3の溶融粘度が1.0×102〜2.0×104Pa・s、無機質充填剤不含層2の溶融粘度が1.0×103〜2.0×105Pa・s、両層の粘度差が1.5×104Pa・s以上であり、無機質充填剤不含層2の厚みが、半導体素子に設けられた接続用電極部の高さの1/3〜4/5である。 (もっと読む)


【課題】スピンコート法により半導体ウェハー表面に塗布した場合において、厚みが均一な塗布膜を形成可能な、ウェハレベルアンダーフィル工法に用いられるプリアプライド用封止樹脂組成物を提供する。
【解決手段】本発明のプリアプライド用封止樹脂組成物は、半導体チップと基板との間隙を封止する封止樹脂層を得るために用いられる。当該封止樹脂層は、半田バンプを備えた半導体ウェハーの該半田バンプを備えた表面上にスピンコート法により塗布しB−ステージ化し、当該半導体ウェハーを個片化することにより得られる塗布膜付き半導体チップを、半田バンプを介して基板にフリップチップ実装することにより該塗布膜から形成される。当該プリアプライド用封止樹脂組成物は、(A)エポキシ樹脂と、(B)硬化剤と、(C)無機充填剤と、(D)溶剤と、(E)アミノ基を含有するシランカップリング剤と、を含んでなる。 (もっと読む)


【課題】 半導体装置の製造の際の工程数の増加を抑制しつつ、半導体ウエハが有する低誘電材料層のクラックを防止することを可能とする保護層形成用フィルムを提供すること。
【解決手段】 低誘電材料層が形成されているバンプ付きウエハに保護層を形成するための保護層形成用フィルムであって、支持基材と粘着剤層と熱硬化性樹脂層とがこの順で積層されており、熱硬化性樹脂層の溶融粘度が、1×10Pa・S以上2×10Pa・S未満となり、且つ、粘着剤層のせん断弾性率が、1×10Pa以上2×10Pa以下となる温度が50〜120℃の温度範囲内に存在する保護層形成用フィルム。 (もっと読む)


【課題】製造が容易であり、高い透明性を維持するとともに半導体チップをボンディングする際にはボイドの発生を抑制しながら、貯蔵安定性及び熱安定性にも優れ、更に、耐熱性に優れた硬化物を得ることができる熱硬化性樹脂組成物、該熱硬化性樹脂組成物を含有するフリップチップ実装用接着剤、該フリップチップ実装用接着剤を用いる半導体装置の製造方法、及び、該半導体装置の製造方法を用いて製造される半導体装置を提供する。
【解決手段】エポキシ樹脂と、ビシクロ骨格を有する酸無水物と、常温で液状のイミダゾール硬化促進剤とを含有する熱硬化性樹脂組成物。 (もっと読む)


【課題】低温、短時間の条件で硬化し、かつ、接続信頼性の高い接着剤を提供する。
【解決手段】接着剤は金属キレートと、シランカップリング剤と、熱硬化性樹脂とを有しており、シランカップリング剤のアルコキシ基が接着剤中で加水分解され、シラノール基となる。このシラノール基と金属キレートとが反応することによって接着剤中にカチオンが放出されると、そのカチオンによって熱硬化性樹脂であるエポキシ樹脂がカチオン重合する。このように、接着剤はカチオン重合によって硬化されるので、低い温度でも接着剤が硬化する。 (もっと読む)


【課題】半導体装置を簡便に製造することが可能で、且つ、生産性に優れた半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る半導体装置の製造方法は、回路面S1上に、複数の突出電極10aを覆う絶縁性樹脂層12を形成する工程と、半導体ウエハ10をダイシングフレーム14及びダイシングテープ16に取り付ける工程と、半導体ウエハ10の回路面S1側から半導体ウエハ10及び絶縁性樹脂層12をダイシングすることで、複数の半導体チップ20に個片化する工程と、ピックアップされた半導体チップ20を位置合わせヘッドによって保持した状態で、半導体チップ20の突出電極10aと基板上の回路電極との位置合わせを行い、仮固定する工程と、接続ヘッドを用いて半導体チップ20と基板とを加熱圧着することで、半導体チップ20の突出電極10aと基板の回路電極とを電気的に接続する工程とを備える。 (もっと読む)


【課題】保存安定性に優れ、かつ、先供給方式によりフリップチップ接続を行う場合でも充分な接続信頼性を得ることが可能な樹脂組成物を提供すること。
【解決手段】エポキシ樹脂、酸無水物、硬化促進剤及びフラックス剤を含み、硬化促進剤がイミダゾール類の有機酸付加体である、半導体封止充てん用エポキシ樹脂組成物。前記有機酸が、イソシアヌル酸、芳香族カルボン酸及びルイス酸からなる群より選ばれる少なくとも1種の有機酸である、上記に記載の半導体封止充填用エポキシ樹脂素組成物6である。 (もっと読む)


【課題】電子部品同士を半田接合し、半田接合部の空隙を熱硬化性樹脂を含有する樹脂層で充填させ、半田接合部を補強する電子部品の製造方法において、空洞(エアギャップ)の発生を抑制することができ、さらに、ボイド(気泡)の発生をも抑制することができる、電子部品の製造方法および電子部品を提供する。
【解決手段】第1電子部品1または第2電子部品3の少なくとも一方に、熱硬化性樹脂を含有する樹脂層5を形成する第1の工程と、第1接続用金属電極2と第2接続用金属電極4を当接させる第2の工程と、両接続用金属電極を半田接合させる第3の工程と、を有する電子部品の製造方法において、第3の工程において、板状体を有する加圧装置で加圧を維持しながら前記半田接合に用いる半田の融点以上の温度に加熱し、さらに、前記半田接合に用いる半田の融点以上の温度で加圧を開放する。 (もっと読む)


【課題】容易に電極部間のピッチを狭めたり、容易に電極部上に微小な半田バンプ形成したりすることができる回路基板等の技術を提供すること。
【解決手段】回路基板10は、電極部21を有する配線部20を備える。電極部は、銅層22と、銅層上の酸化銅層23と、酸化銅層を貫通する孔24とを有する。孔により露出された銅層露出部25上には、フリップチップ実装用の半田バンプ1が形成される。半田バンプ形成時には、電極部上にクリーム半田等が塗布されて加熱される。半田は、銅には接着し易いが、酸化銅には接着にくい性質を有しており、この関係が利用される。つまり、クリーム半田加熱時には、半田バンプは、接着し易い銅層露出部上に形成され、酸化銅層上には形成されない。これにより、孔の大きさを調整することで、容易に微小な半田バンプを形成することができ、また、電極部の構造を複雑化する必要もないので、容易にピッチを狭めることができる。 (もっと読む)


【課題】積層半導体チップ、半導体装置およびこれらの製造方法を提供する。
【解決手段】積層半導体チップは、第1チップと、第1チップ上に積層された第2チップと、第1チップの上部面と第2チップの下部面との間に形成された導電性バンプと、第1チップと第2チップとの間に介在し、導電性バンプを封止し、第2チップの側壁に沿って形成され、第2チップの上部面に隣接して形成された上部面を有するアンダーフィル物質と、第1チップの上部面上のアンダーフィル物質の外側面上に配置され、第2チップとアンダーフィル物質を含む断面において、アンダーフィル物質によって第2チップの側壁から離隔され、第2チップの側壁と接しないモールディング材と、を含む。 (もっと読む)


【課題】電極間の導通信頼性を高めることができる接続構造体の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る接続構造体1の製造方法は、電極2bを上面2aに有する第1の接続対象部材2上に、導電性粒子5を含む異方性導電材料を用いた異方性導電材料層を配置する工程と、該異方性導電材料層の上面に、電極4bを下面4aに有する第2の接続対象部材4を積層する工程と、第2の接続対象部材4の上面4cに、加熱圧着ヘッドを降下させて、上記加熱圧着ヘッドが第2の接続対象部材4の上面4cに接した状態で、上記異方性導電材料層を硬化させる工程と、第2の接続対象部材4の上面4cから、上記加熱圧着ヘッドを引き上げる工程とを備える。本発明に係る接続構造体1の製造方法では、上記異方性導電材料層が硬化開始温度に達するまでに、電極に導電性粒子5が押し込まれた凹部を形成する。 (もっと読む)


【課題】半導体チップ周囲のアンダーフィルのフィレット形状をより均一な形状に近づけることで、半導体チップと基板との接続信頼性が高い半導体装置を得ること。
【解決手段】半導体チップ2が、アンダーフィル4を介在させて基板1にフリップチップ実装された半導体装置100であって、前記基板1の前記半導体チップ2が搭載されている領域の周囲に、前記アンダーフィル4のフィレット5形状を規制するフィレット形状規制部6が形成されている。 (もっと読む)


【課題】第1,第2の接続対象部材の接続信頼性が高く、かつ電極間の導通信頼性が高い接続構造体を提供する。
【解決手段】本発明に係る接続構造体1は、電極2bを上面2aに有する第1の接続対象部材2と、電極4bを下面4aに有する第2の接続対象部材4と、第1の接続対象部材2の上面2aと第2の接続対象部材4の下面4bとの間に配置されており、かつ接着剤を硬化させることにより形成された硬化物層3とを備える。第2の接続対象部材4の外周側面よりも側方の少なくとも一部の領域に、硬化物層3によるフィレットが形成されている。硬化物層3は、第1の接続対象部2材側に第1の硬化物層部分3aと、第2の接続対象部材4側に第2の硬化物層部分3bとを有する。第1の硬化物層部分3aの25℃での弾性率は、第2の硬化物層部分3bの25℃での弾性率よりも高い。 (もっと読む)


【課題】加熱によってフラックス機能が損なわれず、半導体チップ等と回路基板とを良好に電気的に接続可能な樹脂組成物、および、このような樹脂組成物を用いた半導体装置、多層回路基板および電子部品を提供する。
【解決手段】樹脂組成物は、第1の部材の半田接合面に用いられるフラックス機能を有する樹脂組成物層を構成する樹脂組成物であって、架橋反応可能な樹脂と、加熱により酸を発生する熱酸発生剤と、を含むことを特徴とする。熱酸発生剤は、オニウム塩化合物、トリアジン誘導体、有機スルホン酸縮合誘導体、および、有機カルボン酸縮合誘導体からなる群から選択される少なくとも1種であるのが好ましい。 (もっと読む)


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