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Fターム[5F044LL11]の内容

ボンディング (23,044) | フェイスダウンボンディング (4,630) | 絶縁材料でチップと配線を密着させるもの (1,009)

Fターム[5F044LL11]に分類される特許

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【課題】種類の異なる半導体チップの間で接合不良が発生することを防止した半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】配線基板2の一面に実装されたチップ積層体3は、配線基板2の一面とは反対側から順に、一面側に第1のバンプ電極12と他面側に第2のバンプ電極13とを有する複数のメモリーチップ10a〜10dを、それぞれの一面と他面とを対向させながら、それぞれの間にある第1のバンプ電極12と第2のバンプ電極13とを接合して積層し、その上に、一面側に第3のバンプ電極15と他面側に第4のバンプ電極16とを有するロジックチップ11を、その一面と、その下にあるメモリーチップ10dの他面とを対向させながら、その間にある第2のバンプ電極13と第3のバンプ電極15とを接合部材18を介して接合して積層した構造を有する。 (もっと読む)


【課題】フリップチップ接続方式への対応が可能となるフィルム状接着剤およびそれを用いた半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】(a)重量平均分子量10000以下で常温(25℃)において固形樹脂と、(b)絶縁性球状無機フィラーと、(c)エポキシ樹脂と、(d)マイクロカプセル型硬化剤を含む硬化剤を含有し、(a)の配合量が(a)成分、(b)成分及び前記(c)成分の総量100重量部に対して5〜50重量部、前記(b)の配合量が25〜80重量%、、(c)の配合量が10〜70重量、(d)の配合量が(c)100重量部に対し0.1〜40重量部で、150℃の溶融粘度が200Pa・sより高く、100℃で加熱・加圧した場合の平行板間にはさんだフィルム状接着剤の初期面積と加熱・加圧後の面積との比である流れ量が1.5以上、かつ、硬化物の20〜300℃の平均線膨張係数が200×10−6/℃以下であるフィルム状接着剤。 (もっと読む)


【課題】アタッチメントへの半導体用封止材の付着を抑制しながら、良好なフィレットを形成することのできる半導体チップの実装方法を提供する。
【解決手段】厚みが100μm以下の半導体チップを基板に実装する半導体チップの実装方法であって、基板に半導体用封止材を供給する工程と、前記半導体用封止材を介して、半導体チップを前記基板に搭載する工程と、前記半導体用封止材を硬化する工程とを有し、前記基板は、水との接触角が30°以下である半導体チップの実装方法。 (もっと読む)


【課題】フリップチップ配線を提供すること。
【解決手段】基板上のダイのフリップチップ配線は、配線の隆起を、キャプチャパッド上にではなく、リードまたはトレースの上の狭い配線パッドの上に嵌合することによってなされる。狭い配線パッドの幅は、取り付けられるダイ上の隆起のベース直径未満である。また、フリップチップパッケージは、活性表面において配線パッドに取り付けられた半田の隆起を有しているダイと、ダイ取り付け表面において導電性トレースの上に狭い配線パッドを有している基板とを含んでおり、上記基板における隆起は、トレース上の狭いパッドに嵌合される。 (もっと読む)


【課題】微細ピッチ技術に適用可能なフリップチップボンデッドパッケージを提供する。
【解決手段】2列に、かつ互いにジグザグに配列されるボンディングパッドを有する半導体チップ10aと、半導体チップ10a上の、隣接する3つのボンディングパッド毎に3つのパッド間の領域及びその3つのパッドのそれぞれの一部を覆うように形成された絶縁ポスト50aと、絶縁ポスト50aによって覆われていないボンディングパッドの部分及びこれに隣接した絶縁ポスト50aの部分上に形成された信号接続金属部材52aと、半導体チップ10aが絶縁ポスト50a及び信号接続金属部材52aによってフリップチップボンディングされ、第1面に電極を有し、第2面にボールランドを有する基板と、半導体チップ10aと基板との間の空間をアンダーフィルする埋込材と、各ボールランド上に付着されたソルダボールとを備える。 (もっと読む)


【課題】 先供給型封止剤として塗布した後、半導体チップを載せるまで、先供給型封止剤が塗布後の形状を保持し、かつ短時間での硬化が可能で、さらに硬化後には、PCT試験での耐湿信頼性に優れたエポキシ樹脂組成物を提供することである。
【解決手段】 (A)エポキシ樹脂、(B)硬化剤、(C)硬化促進剤、(D)形状保持剤、および(E)揺変剤を含むことを特徴とする、エポキシ樹脂組成物であり、好ましくは、(D)成分が、シロキサン系形状保持剤である。 (もっと読む)


【課題】 均一性が高く、短時間での硬化が可能で、さらに硬化後には、PCT試験での吸湿性が低いため、エポキシ樹脂組成物と基板の間での剥離を抑制する、耐湿信頼性に優れたエポキシ樹脂組成物を提供することである。
【解決手段】 (A)液状エポキシ樹脂、(B)スルフィド構造を含むエポキシ樹脂、(C)硬化剤、および(D)硬化促進剤を含み、かつ(A)成分と(B)成分の合計100質量部に対して、(B)成分を1〜50質量部含むことを特徴とする、エポキシ樹脂組成物である。 (もっと読む)


【課題】第1の被着体と第2の被着体とを接合する際、容易に、第1の被着体と第2の被着体との位置合わせを行うことができる樹脂組成物を提供すること、および、このような樹脂組成物を用いた接着フィルム、半導体装置、多層回路基板および電子部品を提供すること。
【解決手段】本発明の樹脂組成物は、第1の被着体と第2の被着体とを接合する際に用いられ、前記第1の被着体上に設けられる樹脂組成物層1を構成するものであり、前記樹脂組成物層1を平均厚さt[μm]で設け、前記樹脂組成物層1の波長800nmの光における吸収係数をα[1/μm]としたとき、下記(1)式および(2)式を満たすよう構成されている。
α×t≦−log10(0.05) ・・・(1)
1≦t≦200 ・・・(2) (もっと読む)


【課題】硬化後に低線膨張率となる信頼性の高い電子部品用接着剤を提供する。また、該電子部品用接着剤を用いた半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】エポキシ化合物と、ベンゾオキサジン化合物と、フェノール系硬化剤とを含有する電子部品用接着剤であって、前記フェノール系硬化剤のOH等量に対する、ベンゾオキサジン環を1官能とした場合の前記ベンゾオキサジン化合物の等量の比が、1.40〜2.00である電子部品用接着剤。 (もっと読む)


【課題】はんだ材を用いることなく、接合界面のクラックの発生の抑制を図ることのできる電子部品の表面実装方法及び電子部品が実装された基板を提供する。
【解決手段】絶縁性基材10上に、導電性回路21と、導電性回路21の表面側に形成される熱可塑性樹脂で構成されるレジスト30とを設ける工程と、電子部品40の電極41の表面に金属層50を設ける工程と、電子部品40の金属層50を、レジスト30に押し当てながら、金属層50の表面に略平行な方向に振動する超音波振動による負荷を与えることで、レジスト30を溶融により部分的に除去させて金属層50と導電性回路21とを接合させ、その後、超音波振動による負荷をなくして、溶融した熱可塑性樹脂を冷却により硬化させる工程と、を備える電子部品40の表面実装方法であって、金属層50は、そのせん断強度が導電性回路21を構成する材料のせん断強度よりも低い材料からなる薄い層で構成される。 (もっと読む)


【課題】透明性が高く、接合信頼性にも優れた半導体接合用接着剤を提供する。また、該半導体接合用接着剤を用いて製造される半導体接合用接着フィルム、該半導体接合用接着剤を用いた半導体チップの実装方法、及び、該半導体チップの実装方法により製造される半導体装置を提供する。
【解決手段】エポキシ樹脂、前記エポキシ樹脂と反応する官能基を有する高分子化合物、硬化剤及び応力緩和剤を含有する半導体接合用接着剤であって、前記応力緩和剤は、ゴム成分からなるコア層と、アクリル樹脂からなるシェル層とを有する平均粒子径が0.1〜2μmのコアシェル粒子であり、前記応力緩和剤の含有量は、1〜20重量%である半導体接合用接着剤。 (もっと読む)


【課題】 アンダーフィル材が受ける熱応力を低下させて、半導体装置の信頼性を向上すること。
【解決手段】 複数の辺部及び複数の角部を含む輪郭の実装面を備える電子部品と、前記電子部品の実装面に対向する被実装面を備え、前記電子部品の角部に対向する位置に凹部が形成された回路基板と、前記電子部品及び前記回路基板間に設けられ、前記回路基板と前記電子部品とを電気的に接続する接続部と、前記凹部に埋め込まれ、前記電子部品及び前記回路基板よりも剛性が低い第1の部材と、前記電子部品及び前記回路基板間に設けられ、前記電子部品及び前記回路基板よりも剛性が低い第2の部材と、を備える電子装置。 (もっと読む)


【課題】優れた接続信頼性及び透明性を有するエポキシ樹脂組成物及びそれを用いた接合体の製造方法、並びに接合体を提供する。
【解決手段】ノボラック型フェノール系硬化剤と、ジメチルアクリルアミドとヒドロキシエチルメタクリレートとを含む共重合体からなるアクリルエラストマーと、エポキシ樹脂と、エポキシ樹脂100質量部に対して5質量部以上20質量部未満配合された無機フィラーとを含有するエポキシ樹脂組成物2をプリント基板1上にシート状に貼付する貼付工程と、エポキシ樹脂組成物2上に半導体チップ3及びコンデンサ4a〜4dを仮搭載する仮搭載工程と、半導体チップ3及びコンデンサ4a〜4dを熱圧着ヘッド20により押圧し、半導体チップ3及びコンデンサ4a〜4dを本圧着させる本圧着工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】低温速硬化性を有し、かつ実用的な保存安定性を持つ組成物からなり、被着体である金属基板や金属及び無機材質で構成される回路電極の腐食がなく、信頼性低下を防ぐことのできる回路接続用接着剤及びそれらを用いた回路接続方法、接続体を提供する。
【解決手段】エポキシ化合物(A)、光カチオン発生剤(B)、金属水酸化物または金属酸化物(C)及び反応調節剤(D)を含む接着剤組成物と、導電粒子とを含み、金属水酸化物または金属酸化物(C)が、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、水酸化カルシウム、酸化ケイ素、酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、酸化アンチモン、酸化錫、酸化チタン、酸化マンガン、酸化ジルコニウムから選ばれる少なくとも一種であり、更に反応調節剤(D)が、鎖状エーテル化合物または環状エーテル化合物である回路接続用接着剤。 (もっと読む)


【課題】アンダーフィル材の上面におけるシワの発生を抑制すること。
【解決手段】ボンディングツール10は、防着テープ30を介してチップ41を吸着する。ボンディングツール10は、チップ41を吸着する電子部品吸着穴11と、電子部品吸着穴11の周囲に設けられ、防着テープ30を吸収する溝13を有する。チップ41をアンダーフィル材70に押し付けて加熱し、アンダーフィル材70をチップ41からはみ出させて上段チップの実装面を形成する際に、防着テープ30が加熱を受けて膨張した分が溝13に入り込むので、アンダーフィル材の上面にシワが発生しない。 (もっと読む)


【課題】回路構成体の接着剤注入領域への接着剤の注入を確実に行うことができるようにする。
【解決手段】接着剤注入領域50Aを有する回路構成体50が収納されたチャンバ10Aをパージして、回路構成体50から接着剤注入領域50Aに放出されたガスをチャンバ10Aから排出する。チャンバ10A内を減圧して、回路構成体50の接着剤注入領域50Aへの接着剤44aの注入を開始させる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、回路部材の接続を行う際に回路部材接続用接着剤を透過してチップ回路面の認識マークを識別することを可能にし、同時に、回路部材の接続後に導通不良が発生しないこと及び安定した低接続抵抗を得ることを可能にする回路部材接続用接着剤を提供することを課題とする。
【解決手段】熱架橋性樹脂及び該熱架橋性樹脂と反応する硬化剤を含む樹脂組成物と、
該樹脂組成物中に分散している、2種類以上の金属を含み、結晶化した金属酸化物からなる複合酸化物粒子と、を含有する熱硬化型の回路部材接続用接着剤であって、
突出した接続端子を有する半導体チップと配線パターンを有する回路基板とを、前記接続端子と前記配線パターンとが電気的に接続されるように接着するための回路部材接続用接着剤。 (もっと読む)


【課題】注入された接着剤に、基板内部に残留するガスによるボイドが形成されることを防止する。
【解決手段】基板Wの周側面には、接着剤注入口101aと排気口101bを有するシール材101が形成されている。シール材101の接着剤注入口101aを接着剤102中に浸漬し、排気口101bを排気用ノズル110で覆う。真空ポンプP1に接続されたポンプ側継手122が嵌合されたノズル用継手121を、排気用ノズル110に接続する。真空ポンプP1により、排気口101bを介して基板W内部の空隙に残留するガスを吸気し、接着剤102を注入する。 (もっと読む)


【課題】簡易な構成で有機膜の除去を行い、清浄な電極表面を露出させた後、直ちに電子部品の実装工程に移る。
【解決手段】少なくとも電極2a上が有機膜4で被覆された配線基板2が載置される載置部3と、載置部3に載置された配線基板2の有機膜4を削り取る研削部材5と、研削部材5を移動させる移動機構6と、有機膜4が削り取られた電極2a上に接着剤7を介して搭載された電子部品8を熱加圧する加熱押圧ヘッド9とを備える。 (もっと読む)


【課題】本発明は、接合材料を微細ピッチで供給し、信頼性が高く電気的な接続が可能な電子部材を提供することを目的とする。
【解決手段】酸化銅から銅へ還元する際、酸化銅内に多数の金属銅の核が形成し、元の外形を維持したまま形骸化して還元され、生成する銅の曲率は大きくなる。この微粒子化メカニズムを利用することで、酸化銅を粒子状ではなく、緻密な層状で提供しても接合が可能となる。また、耐マイグレーション耐性の高い銅を用いることで従来の銀よりも高い信頼性を有する接合が可能となる。本発明は、電気信号を入出力する電極または電気信号を接続するための接続端子を備えた電子部材であって、電極または接続端子の最表面が酸化銅層であることを特徴とする。 (もっと読む)


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