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Fターム[5F044RR02]の内容

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Fターム[5F044RR02]に分類される特許

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【課題】 3次元実装のプロセスに親和性のある、高精度のアライメントを提供すること。
【解決手段】 複数のシリコンチップ間においてはんだバンプが溶融した場合に、複数のシリコンチップ同士の横方向の相対的な動きを規制する複数のスタッド(40)の組合わせであって、複数のシリコンチップ間に配置される複数のはんだバンプ(10)のピッチに従い、これらの横方向の位置をリファレンスにして横方向位置が決定されていて、複数のシリコンチップが横方向に相対的に移動した場合に相対的に動きが規制されて、複数のシリコンチップのそれぞれに設定された複数のはんだバンプ同士の横方向位置が(高さ方向において)整列するように、一方のシリコンチップおよび他方のシリコンチップにおいて複数のスタッド(40)が設けられる。 (もっと読む)


【課題】空洞部の破壊を防ぐと共に、基板間の接続の信頼性を向上できるようにした半導体装置の製造方法及び半導体装置、電子機器を提供する。
【解決手段】第1の基板は、第1の面と第2の面とを有する第1の基材と、第1の基材の第1の面側に設けられた犠牲層と、第1の基材の第1の面と第2の面との間を貫通する貫通電極と、貫通電極と第1の基材との間に設けられた絶縁膜と、を有する。第2の基板は、第3の面を有する第2の基材と、第2の基材の第3の面側に設けられたバンプと、第2の基材の第3の面側に設けられ、バンプを囲む環状導電部と、を有する。第2の面と第3の面とを対向させた状態で、貫通電極とバンプとを接続すると共に、第1の基板の周縁部を環状導電部に埋入させる実装工程と、実装工程の後で、犠牲層をエッチングして第1の基材の第1の面側に空洞部を形成するエッチング工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】アンダーフィルの収縮が半導体チップの電気特性に及ぼす影響を低減できる半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置1は、半導体チップ2とベース材3との積層構造を有する。半導体チップ2の表面上に電極21が形成されており、ベース材3の表面上に電極31が形成されている。半導体チップ2の前記表面とベース材3の前記表面とが対向すると共に電極21と電極31とが突起電極4を介して電気的に接続されている。半導体チップ2の前記表面とベース材3の前記表面とに挟まれた領域のうち、電極配置領域B以外の他の領域に位置する部分のアンダーフィル5に分断領域6が設けられている。 (もっと読む)


【課題】回路チップの一面側にセンサチップを電気的に接続するとともに、回路チップの一面側に接続部材を設け、接続部材を介して回路チップを基台に支持してなるセンサ装置において、接続部材と基台とのはんだ接合性を向上させる。
【解決手段】接続部材は、Ag−Sn合金の焼結体よりなり、回路チップ20側から基台10側に向かって先窄まりとなるアスペクト比が1以上の円錐形状をなす円錐部材40であり、基台10の一面11に設けられたはんだ60により、円錐部材40の先端部42側と基台10とが接合されている。 (もっと読む)


【課題】生産性および信頼性を向上することができる半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】第一の接合工程では、半導体チップ10、第一樹脂層11、半導体チップ12、第二樹脂層13、半導体チップ14を積層することにより得られ、半導体チップ10,12同士、半導体チップ12,14同士が半田接合されていない状態の積層体2を加熱して、半導体チップ10,12間、半導体チップ12,14間の半田接合を行う。その後、半田接合した積層体2を基材18上に設置する。積層体2の基材18への接続用端子162と、基材18の積層体2への接続用端子181とが当接するように、積層体2を基材18上に設置する。 (もっと読む)


【課題】3次元実装された半導体素子間の空間の充填を容易かつ確実に行うことができる積層フィルムを提供する。
【解決手段】積層フィルムは、接続用部材41bを介して電気的に接続された半導体素子間の空間を充填するための積層フィルムであって、基材1上に粘着剤層2が積層されたダイシングシートと、粘着剤層上に積層された硬化性フィルム3とを備え、硬化性フィルムの50〜200℃における最低溶融粘度は、1×10Pa・s以上1×10Pa・s以下である。 (もっと読む)


【課題】大きな面積のウェハを貼り合わせた場合に該ウェハ間に形成される間隙にも十分に注入することができ、かつ注入途中で硬化しない接着部材を提供する。
【解決手段】接続領域を有する接着基板および被接着基板と、接着基板および被接着基板の各接続領域の間に配置された接続部材と、接続部材を囲み、接着基板と被接着基板とを接着する接着部材とを備えた半導体装置であって、接着部材は、官能基を有する主剤と、エネルギーの付与により官能基の活性化機能を発現する硬化剤と、を含み、硬化剤により活性化された官能基が他の官能基と結合することによって硬化する樹脂である半導体装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】三次元積層型半導体装置の製造プロセス適合性を満たした上で、高い熱伝導性を有するエポキシ樹脂組成物を提供する。
【解決手段】フェノール骨格を有するエポキシ樹脂と、下記式(4)で表される構造のエポキシ樹脂を含有するエポキシ樹脂組成物。
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【課題】搬送中に、位置合わせされた基板と基板との相対位置がずれるといった課題がある。
【解決手段】基板貼り合せ方法は、仮接合部において、複数の基板を重ね合わせて複数の対向面および側面の少なくとも一方の一部を仮接合部材によって接合する仮接合段階と、前記仮接合段階で仮接合された前記複数の基板を、本接合部へ搬送する搬送段階と、前記本接合部において、前記仮接合段階で仮接合された前記複数の基板を本接合部材によって本接合する本接合段階とを備える。 (もっと読む)


【課題】バンプ電極同士の横滑りを防止し、バンプ電極同士を接合する接合材料のはみ出しを抑制する。
【解決手段】
半導体チップ10は、基板17と、基板17の一方の面に設けられた第1のバンプ電極50と、基板17の他方の面に設けられた第2のバンプ電極60と、第1のバンプ電極50と第2のバンプ電極60のうちの少なくとも一方の頂面に形成された導電性の接合材料層61と、を有している。第1のバンプ電極50の頂面は凸面54であり、第2のバンプ電極60の頂面は凹面63である。 (もっと読む)


【課題】バンプ部分のボイドが低減され、研削後の反りを小さくすることができる、接着剤層付き半導体ウェハを用いる半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】金属バンプ12が形成された回路面を有する半導体ウェハ10の回路面上に、2種類以上の液状感光性接着剤の塗布及び塗膜の光照射によって、2層以上の構造を有する接着剤層付き半導体ウェハを得る工程と、接着剤層付き半導体ウェハを接着剤層とともに切断して複数の接着剤層付き半導体素子を得る工程と、接着剤層付き半導体素子と、他の半導体素子又は半導体素子搭載用支持部材とを、接着剤層付き半導体素子の接着剤層を挟んで圧着する工程とを備え、2層以上の構造を有する接着剤層が、回路面側にフィラーを含有する内層7と、フィラーを含有しない又は内層よりもフィラーの含有量が小さい最表面層6とを有する。 (もっと読む)


【課題】ボイドが低減され、研削後の反りを小さくすることができる接着剤層付き半導体ウェハの製造方法、並びに、接着剤層付き半導体ウェハを用いる、半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】金属バンプ12が形成された回路面を有する半導体ウェハ10の回路面上に、2種類以上の液状感光性接着剤6,7の塗布及び塗膜の光照射によって、2層以上の構造を有し最表面層がフラックス成分を含有するBステージ化された接着剤層を設けて接着剤層付き半導体ウェハ40を得る工程と、接着剤層付き半導体ウェハ40と、他の半導体ウエハ50とを、接着剤層付き半導体ウェハ40の接着剤層を挟んで圧着する工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】本発明は、接合材料を微細ピッチで供給し電気的な接続が可能な電子部材を提供することを目的とする。
【解決手段】回路基板に設けられた一つ以上の接続端子に対して、電子部材に設けられた一つ以上の電極が接合層を介して電気的に接合され、前記接合層は焼結銀を主体として構成され、前記接合層と接していない電極表面の全面あるいは一部が酸化銀の粗化層であり、当該酸化銀の粗化層の厚さは400nm以上5μm以下であり、前記酸化銀の層の最表面は1μmより小さい曲率半径となっていることを特徴とする電子部品。 (もっと読む)


【課題】2枚のシリコン基板を重ね合わせて接着し、2枚のシリコン基板のそれぞれに形成されたバンプ電極同士を電気的に接続する半導体装置において、樹脂によるバンプ保護性能の低下を防ぎ、また、バンプ電極間の接続性の低下を防ぐ。
【解決手段】第1シリコン基板100上および第2シリコン基板101上のそれぞれに、上面の高さが揃ったバンプ電極230、ダミーバンプ240および耐熱性樹脂膜300を形成した後、第1シリコン基板100と第2シリコン基板101とをそれぞれの基板に形成されたバンプ電極同士が電気的に接続されるように接着させる。その際、ダミーバンプ240を対向するシリコン基板上の耐熱性樹脂膜300に接着するように配置することで、バンプ電極同士の良好な電気的接続と、耐熱性が高くボイドがない樹脂膜によるバンプ保護性能を併せ持った半導体装置を実現できる。 (もっと読む)


【課題】開口部の形成工程(現像・露光工程)における再配線層の浸食等を低コストで抑制することを可能にした半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態においては、電極パッド21と再配線層22とを有する半導体チップ上に感光性絶縁樹脂層23を形成する。半田バンプの形成位置を強露光すると共に、ワイヤボンディング部を弱露光するように、感光性絶縁樹脂層23を露光した後に現像処理し、半田バンプの形成位置に開口部25を形成すると共に、ワイヤボンディング部に感光性絶縁樹脂層23を残存させつつ凹部31を形成する。開口部25に半田バンプ36を形成した後、凹部31内に残存させた感光性絶縁樹脂層23を除去し、ワイヤボンディング部における電極パッド21の表面を露出させる。 (もっと読む)


【課題】従来の上層集積回路の下面と下層集積回路の上面とを接着剤によって接着して形成される半導体装置に比べて、放熱性及び接続信頼性を向上する半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体装置1Aは、Si基板7Aの第1の面に設けられたトランジスタ形成層20と、トランジスタ形成層20のトランジスタと電気的に接続されてSi基板7Aを貫通して第2の面から突出して形成された貫通電極22とを有する上層集積回路2と、半導体基板に形成されたトランジスタ形成層30と、トランジスタ形成層30のトランジスタと電気的に接続され第3の面に設けられるパッド31と、パッド31と貫通電極22の先端とを電気的に接続するバンプ32とを有する下層集積回路3とを備え、上層集積回路2の第2の面と下層集積回路の第3の面は接触せずに構成される。 (もっと読む)


【課題】耐リフロー性及び接続信頼性及び絶縁信頼性に優れる半導体装置の作製を可能とする接着剤組成物、その接着剤組成物を用いた半導体装置の製造方法及び半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体チップ及び配線回路基板のそれぞれの接続部が互いに電気的に接続された半導体装置、又は、複数の半導体チップのそれぞれの接続部が互いに電気的に接続された半導体装置において接続部を封止する接着剤組成物であって、エポキシ樹脂と、硬化剤と、アクリル系表面処理フィラーとを含有する接着剤組成物。 (もっと読む)


【課題】半導体チップ同士を積層する際に生じる曲げモーメントによる破損を防止する半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】一面に形成された表面バンプFB及び積層方向から見て表面バンプFBと重なるように他面に形成された裏面バンプBBを含むコアチップCC1と、一面に形成された表面バンプFB及び積層方向から見て表面バンプFBと重ならないように他面に形成された裏面バンプBBを含むインターフェースチップIFとを準備し、コアチップCC1の裏面バンプBBとインターフェースチップIFの表面バンプFBが接続するように、インターフェースチップIFの裏面バンプBBに対応する位置に凹部GRを有するボンディングツールBTを用いて積層方向に重ね合わせる。これにより、積層時にチップに曲げモーメントが発生しないことからチップの破損を防止することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】チップ間に保護材を有する信頼性の高いチップオンチップ構造体およびその製造方法を提供する。
【解決手段】一実施の形態によるチップオンチップ構造体は、対向する第1のチップおよび第2のチップと、前記第1のチップの前記第2のチップ側の面上の第1の電極端子と、前記第2のチップの前記第1のチップ側の面上の第2の電極端子と、前記第1の電極端子と前記第2の電極端子とを電気的に接続するバンプと、前記第1のチップと前記第2のチップの間の前記バンプの周囲に形成され、感熱接着性を有する材料からなる層を含む保護材と、を有する。 (もっと読む)


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