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Fターム[5F045CA12]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 半導体素子等への用途 (4,120) | 発光素子 (1,898) | 半導体レーザ (526)

Fターム[5F045CA12]に分類される特許

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【課題】 基板を加熱するためのヒータ、及び該ヒータに通電する電流導入端子を備えた気相成長装置であって、電流導入端子から気相成長装置外部への熱拡散を効果的に抑制できる気相成長装置を提供する。
【解決手段】 電流導入端子の内部に冷媒の流路が設けられ、導電性の電流導入端子本体に該冷媒が接触可能となるように構成されてなる気相成長装置とする。好ましくは前記の冷媒の流路のほか、側壁部と電流導入端子の間及び/または電流導入端子と電流導入端子の間に、冷媒が流通する冷却容器を備えた気相成長装置とする。 (もっと読む)


【課題】高い光利得を得ながら閾値電流値を低減することができる光半導体素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】基板の上方に形成された複数の量子ドット層12と、複数の量子ドット層12間に位置する中間層と、が設けられている。量子ドット層12に含まれる量子ドット12aの組成が、InxGa1-xAsySb1-y(0<x≦1、0<y≦1)で表わされる。中間層には、組成がInaGa1-aAsb1-b(0<a<1、0<b<1)で表わされ、厚さが10nm以上40nm以下のInGaAsP層13、15と、InGaAsP層13、15の底面から10nm以上40nm未満の高さに位置し、厚さが0.3nm以上2nm以下のInP層14と、が含まれている。 (もっと読む)


【課題】選択成長時のマスク近傍における屈折率変化の揺らぎに起因する意図しない位相シフトを低減し、特性劣化を防止することを可能とした波長可変半導体レーザを提供する。
【解決手段】半導体基板11上に形成された活性導波路層12の一部をエッチングし、活性導波路層12とは組成または層構造が異なる非活性導波路層13を選択成長することによって作製された二つのレーザ部A1,A2を有し、活性導波路層12及び非活性導波路層13の全長にわたって回折格子15が形成され、選択成長時に生じる活性導波路層12と非活性導波路層13との間の屈折率変動に起因する−ΔΩの等価的な位相シフトに対して、活性導波路層12と非活性導波路層13との接合面に対応する回折格子15の位置に位相シフト量ΔΩの補正位相シフトを挿入した。 (もっと読む)


【課題】結晶成長を繰り返し実行しても、成長結晶層の層厚及び結晶組成の変化が低減された、高品質な結晶層を成長できる結晶成長装置を提供する。
【解決手段】押さえガスを供給する副噴射器の内部に遮熱器25が設けられている。遮熱器25は、押さえガスが流入する複数の流入側通気部27Aと、流入側通気部と互いに連通し、流入側通気部27Aから流入した押さえガスを噴出する複数の流出側通気部27Bを有し、上記流出側通気部27B及び流入側通気部27Aは、流出側通気部27Bの開口部から流入側通気部27Aの開口部への見通し経路を有しないように形成されている。 (もっと読む)


【課題】窒化珪素層を形成した場合でも、窒化物半導体層の転移密度を低減することができるとともに、窒化物半導体層の表面モフォロジーを優れたものとすることができる窒化物半導体素子の製造方法を提供する。
【解決手段】斜めファセットを有する第2の窒化物半導体層を有機金属気相成長法により形成する工程において、有機金属気相成長装置の成長室に供給されるIII族元素ガスに対するV族元素ガスのモル流量比が240以下である窒化物半導体素子の製造方法である。 (もっと読む)


【課題】シリコン基板上に形成した、転位及びクラックの少ない窒化物半導体ウェーハ、窒化物半導体装置及び窒化物半導体結晶の成長方法を提供する。
【解決手段】実施形態によれば、シリコン基板と、その上に順次設けられた、下側歪緩和層、中間層、上側歪緩和層及び機能層と、を有する窒化物半導体ウェーハが提供される。中間層は、第1下側層と、第1ドープ層と、第1上側層と、を含む。第1下側層は、下側歪緩和層の上に設けられ下側歪緩和層の格子定数よりも大きい格子定数を有する。第1ドープ層は、第1下側層の上に設けられ第1下側層の格子定数以上の格子定数を有し1×1018cm−3以上1×1021cm−3未満の濃度であり第1下側層よりも高い濃度で不純物を含有する。第1上側層は、第1ドープ層の上に設けられ第1ドープ層の格子定数以上で第1下側層の格子定数よりも大きい格子定数を有する。 (もっと読む)


【課題】半導体レーザ(ストライプ状の活性層)が高密度に配置された半導体レーザを提供すること。
【解決手段】互いに離間してストライプ状に設けられた、複数の活性層10と、活性層10のそれぞれに対応して、活性層10の上側に設けられた複数の電極12と、半導体からなり、活性層10の間の領域にそれぞれに設けられ、電極12よりも高い位置にその上面が位置する支持部40と、複数の電極12のうち1つと電気的に接続されるとともに、複数の支持部40によって支えられて、当該複数の支持部40の間に位置する電極12と離間した構造を備える配線16と、を備えることを特徴とする半導体レーザ。 (もっと読む)


【課題】 基板を加熱するためのヒータに通電する電流導入端子が、冷媒を導入する冷却容器に備えられた構成を有するIII族窒化物半導体の気相成長装置であって、ヒータからの熱が電流導入端子を介して気相成長装置の各部品に拡散することを、効果的に抑制できるIII族窒化物半導体の気相成長装置を提供する。
【解決手段】 電気絶縁された電流導入端子の少なくとも一部を厚さ0.1〜1mmのフッ素樹脂膜で被覆し、該フッ素樹脂膜を介して該電流導入端子を冷媒により冷却できる構成とする。 (もっと読む)


【課題】 ベアリングによる回転機構を介して複数の基板ホルダーを回転自在に保持するサセプタを内蔵する気相成長装置の構成部品の洗浄装置であって、気相成長後の基板ホルダー、サセプタ等の気相成長装置構成部品に付着する付着物あるいは堆積物を効率よく除去する洗浄装置及び洗浄方法を提供する。
【解決手段】 サセプタ及び基板ホルダーの収納部、サセプタを回転させる手段及び/または基板ホルダーを回転させる手段、ヒータ、洗浄ガス導入部、及び洗浄ガス排出部を備えてなる洗浄装置とする。また、この洗浄装置に、気相成長に使用した後の、基板ホルダーを保持したサセプタを収納し、サセプタ及び/または基板ホルダーを回転させるとともに、洗浄ガスを導入して、気相成長の際に付着した付着物あるいは堆積物を除去する。 (もっと読む)


【課題】基板上に効率よく三族窒化物半導体の膜を生成し、かつ生成膜の均一性を向上させる。
【解決手段】窒化物半導体結晶成長装置100は、窒素含有ガス供給口8と三族金属含有ガス供給口9と、窒素含有ガス6を分解して活性種を生成する触媒材料1と、を備えており、触媒材料1は、窒素含有ガス供給口8の内部等に設けられており、窒素含有ガス供給口8および三族金属含有ガス供給口9は、何れも基板面に正対している。 (もっと読む)


【課題】高性能な窒化物系III−V族化合物半導体素子を歩留まり良く安価に製造する。
【解決手段】基板11上に、高炭素濃度Al−N系化合物半導体単結晶層からなる第1バッファ層12、低炭素濃度Al−N系化合物半導体単結晶層からなる第2バッファ層13をエピタキシャル成長し、その上に、不純物元素を故意にドープしない第1の窒化物系III−V族化合物半導体単結晶層14を、平坦化が不十分な状態でエピタキシャル成長し、その上に、ゲルマニウム(Ge)を濃度1×1017cm-3以上含むように、第2の窒化物系III−V族化合物半導体単結晶層16をエピタキシャル成長し、その上に、素子構造部(21〜29)をエピタキシャル成長する工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】非極性面及び半極性面を主面とした結晶成長において、多結晶が発生することにより生じる、結晶の厚膜成長阻害を防ぐことを課題とする。
【解決手段】III族窒化物結晶からなり非極性面又は半極性面を主面とする下地基板上に、III族窒化物半導体結晶を成長させるIII族窒化物半導体結晶の製造方法において、前記主面からc軸方向に±90°傾斜した面をK面と定義したとき、該K面に対して特定の角度の面を有する側面を持った下地基板を用いることで多結晶発生の問題を解決する。 (もっと読む)


【課題】複数の基板ホルダーをサセプタにより保持するフェイスダウン型の気相成長装置であっても、1000℃を超える気相成長温度を必要とする3族窒化物半導体のフェイスダウン型の気相成長装置であっても、前記サセプタの重力あるいは加熱による変形を抑制できる気相成長装置を提供する。
【解決手段】基板1を保持する基板ホルダー2、及び該基板ホルダーを回転自在に保持するサセプタ3が備えられた気相成長装置であって、中心部が上向きに凸となるように撓ませたサセプタを、基板ホルダーに回転駆動力を伝達するための回転駆動軸10を介して、上から中心部を押圧して配置した気相成長装置とする。 (もっと読む)


【課題】1枚のウェハからより多くのチップを取得することができる高性能な発光素子用エピタキシャルウェハを提供する。
【解決手段】加熱したn型基板100上にIII族原料ガス及びV族原料ガスを供給し、n型基板100上に少なくともn型クラッド層5、活性層7、p型クラッド層9,11及びコンタクト層13からなるIII−V族半導体層2を積層する発光素子用エピタキシャルウェハ1において、III−V族半導体層2のいずれかの層に不可避不純物として混入するS(硫黄)の濃度を1.0×1015cm-3以下にすべく、その層の成長時の基板温度を620℃以上とし、かつV族原料ガスとIII族原料ガスの実流量比を130以上とした。 (もっと読む)


【課題】耐圧特性を十分に維持しながら放熱特性を向上させることが可能な埋め込みヘテロ構造半導体レーザの製造方法等を提供する。
【解決手段】埋め込みヘテロ構造半導体レーザの製造方法は、半導体基板1上に半導体積層9とマスク層11を形成する工程と、マスク層11を用いて半導体構造物10をエッチングすることにより、第1方向に沿って延びる半導体メサ15であって、第1方向と直交する第2方向において被エッチング領域17と隣接する半導体メサ15を形成する工程と、マスク層11を半導体メサ15上に残した状態で、被エッチング領域17の第1領域17A1のみに埋め込み層19Aを形成する工程と、上部電極25を形成する工程と、を備える。上部電極25は、半導体メサ15の上面15Tから被エッチング領域17の第2領域17A2に亘って形成されることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】簡単な工程で光抽出効率を向上させた半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の半導体発光素子の製造方法は、互いに対向する第1及び第2の主面を有する基板を設ける段階と、基板の第1の主面に柱状を有する複数の凸部を形成する段階と、凸部が形成された第1の主面上に第1の導電型半導体層、活性層、及び第2の導電型半導体層を含む発光積層体を形成する段階と、発光積層体のうちの凸部の周囲の溝部に対応する領域に形成された部分を除去して複数の発光構造物を形成する段階と、基板上に形成された複数の発光構造物から個別素子が得られるように溝部に沿って基板を分離する段階と、を有する。 (もっと読む)


【課題】 絶縁物からなる断熱層パターン上に良好な結晶性の光導波路を形成する。
【解決手段】 絶縁物からなる断熱層パターン2上に、断熱層パターン2から露出した基板1上の半導体結晶面1Aを核としたエピタキシャル成長により、埋込層3を形成する。断熱層パターン2上には、埋込層3が横方向にエピタキシャル成長し、これによって断熱層パターン2が埋め込まれる。断熱層パターン2上にエピタキシャル成長によって埋込層3が形成できるので、断熱層パターン2上に半導体結晶からなる光導波路10を形成することができる。 (もっと読む)


【課題】バットジョイント構造を構成する第1及び第2の半導体積層部上に成長する半導体層に生じる結晶欠陥を低減する。
【解決手段】エッチングマスク30を用いて第1の半導体積層部20にエッチングを施す工程と、Alを含む光吸収層42、及び光吸収層42上に設けられるInPクラッド層44を有する第2の半導体積層部40を、エッチングマスク30を用いて選択的に成長させる第1の再成長工程と、エッチングマスク30を除去するマスク除去工程と、第1及び第2の半導体積層部20,40上に第3の半導体積層部を成長させる第2の再成長工程とを行う。第1の再成長工程において、InPに対してエッチング選択性を有するInP系化合物半導体を含むキャップ層46を第2の半導体積層部40上に更に成長させる。マスク除去工程の前に、エッチングマスク30上に生じたInP系堆積物Deを除去する。 (もっと読む)


【課題】低転位であり、特に、窒化物半導体基板に内在する応力を抑制させて、反りの少ない窒化物半導体基板の製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】サファイア基板の(0001)面上に、第1の窒化物半導体パターンを形成し、該第1の窒化物半導体パターンを成長核として第2の窒化物半導体層を成長させ、少なくとも前記サファイア基板を除去することを含む窒化物半導体基板の製造方法であって、第1の窒化物半導体パターンは、平面形状が三角形の複数の枠体によって形成され、該枠体の頂点のみを、隣接する枠体と共有するように規則的に配置されて構成される窒化物半導体基板の製造方法。 (もっと読む)


【課題】p型化合物半導体層の形成の際に、p型不純物と水素の結合を遮断するp型化合物半導体層の形成方法を、提供する。
【解決手段】
p型化合物半導体層の形成方法が開示される。この方法では、反応チェンバ内に、III族元素のソースガス、p型不純物のソースガス、及び水素を含有する窒素のソースガスを供給し、p型化合物半導体層を成長させる。また、p型化合物半導体層の成長が完了した後、III族元素のソースガス及びp型不純物のソースガスの供給を中断し、基板の温度が400〜900℃である間に、水素を含有する窒素のソースガスの供給を中断及び排出し、冷却ガスで常温まで冷却させる。これにより、基板の温度を冷却させる過程で、p型化合物半導体層に含まれたp型不純物に水素が結合することを防ぐことができる。 (もっと読む)


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