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Fターム[5F045DQ03]の内容

気相成長(金属層を除く) (114,827) | 装置の形式(成膜室の形態) (3,439) | 成膜室が管状のもの(封管を除く) (1,171)

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Fターム[5F045DQ03]に分類される特許

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【課題】膜厚や膜特性の均一性に優れた堆積膜を歩留まり良く形成する方法。
【解決手段】底部材および蓋部材ならびに底部材および蓋部材から絶縁されている壁部材からなる反応容器の中に基体および基体を保持している基体ホルダを入れ、基体ホルダの一端と底部材とを電気的に接続し、基体ホルダの他端と蓋部材とを電気的に接続する工程(i)と、蓋部材、基体ホルダおよび底部材からなる電気が伝わる経路の電気抵抗値を測定する工程(ii)とをこの順に有し、電気抵抗値が所定値以下である場合、底部材および蓋部材を反応容器の外部で電気的に接続し、反応容器に堆積膜形成用原料ガスを導入し、反応容器に導入された堆積膜形成用原料ガスを励起させて励起種を生成して基体上に堆積膜を形成する工程(iii)に進み、電気抵抗値が所定値を超える場合、工程(iii)に進まない。 (もっと読む)


【課題】金属塩化物ガス濃度の安定性の向上と金属塩化物ガスの濃度変化の応答性の向上が図れる金属塩化物ガスの発生装置を提供する。
【解決手段】金属原料Mを収容する原料容器1と、原料容器1内に塩素系ガスを含む塩素系含有ガスG1を供給する、原料容器1に設けられたガス供給口2と、塩素系含有ガスG1に含まれる塩素系ガスと金属原料Mとの反応により生成される金属塩化物ガスを含む金属塩化物含有ガスG2を原料容器1外に排出する、原料容器1に設けられたガス排出口2と、原料容器1内の金属原料Mの上方の空間Sを仕切って、ガス供給口2からガス排出口3へと続くガス流路Pを形成する仕切板6とを備え、ガス流路Pは、ガス供給口2からガス排出口3へと至る一通りの経路Rとなるように形成され、ガス流路Pの水平方向の流路幅Wが5cm以下であり、且つガス流路Pには屈曲部Eを有する金属塩化物ガスの発生装置である。 (もっと読む)


【課題】全表面でイエロー発光が少なく、導電性を有するGaN結晶自立基板およびその製造方法を提供する。
【解決手段】本GaN結晶自立基板は、HVPE法により、結晶側面を除く結晶成長面として、(0001)面と{10−11}面および{11−22}面の少なくともいずれかの面とが混在する状態で成長させたものであり、(0001)面成長結晶領域において炭素濃度が5×1016個/cm3以下かつ珪素濃度が5×1017個/cm3以上2×1018個/cm3以下かつ酸素濃度が1×1017個/cm3以下であり、{10−11}面および{11−22}面の少なくともいずれかの面を結晶成長面として成長したファセット結晶領域において炭素濃度が3×1016個/cm3以下かつSi濃度が5×1017個/cm3以下かつ酸素濃度が5×1017個/cm3以上5×1018個/cm3以下である。 (もっと読む)


【課題】純化処理の純化効率を向上した、長尺化したウエハ支持部を有する縦型ウエハボートを提供する。
【解決手段】天板7には、載置されるウエハWの中心点を中心として形成された開口部7aと、前記開口部7に通じるウエハの挿入側に形成されたスリット部7bとを備え、前記スリット7の幅Tが前記天板7の幅φDの35%以上45%以下であり、更にウエハ支持部2a,3a,4a,5aの先端部から支柱部2b,3b,4b,5b方向に向かって、ウエハ支持部2a,3a,4a,5aの長さの40%以上60%以下の位置まで上面角部2a1,3a1,4a1,5a1が面取りされ、かつ前記面取り終端位置から前記支柱部2b,3b,4b,5bまでの上面角部2a2,3a2、4a2,5a2が90°以下の角度をもって形成されている。 (もっと読む)


【課題】良好な特性を有する半導体デバイスを得ることができるAlN結晶の製造方法、AlN結晶、AlN結晶基板およびそのAlN結晶基板を用いて作製された半導体デバイスを提供する。
【解決手段】SiC種結晶基板3の表面上にAlN結晶8を成長させる工程と、SiC種結晶基板3の表面からAlN結晶8側に2mm以上60mm以下の範囲8aにある少なくとも一部のAlN結晶8bを取り出す工程と、を含む、AlN結晶8の製造方法である。また、その方法により得られるAlN結晶8、AlN結晶基板およびそのAlN結晶基板を用いて作製された半導体デバイスである。 (もっと読む)


【課題】 ノズル等のガス出力手段の内壁全体をクリーニングガスによってクリーニングすることができるようにする。
【解決手段】 基板に所定の処理を施すための反応管37と、前記反応管内に反応ガスを供給する複数のノズル43、44、45と、前記複数のノズルのそれぞれに接続されるとともに、前記反応ガス、クリーニングガスの蓄積源に接続される配管部と、前記配管部の少なくとも前記複数のノズルのそれぞれと前記各ガスの蓄積源との間にそれぞれ設けられたバルブと、前記配管部に設けられ、前記各ガスの流量を制御するマスフローコントローラと、前記複数のノズルの内部をクリーニングする場合に、前記複数のノズルに供給する前記クリーニングガスの流量をそれぞれ異ならせるよう前記マスフローコントローラを制御するコントローラ103と、を有する。 (もっと読む)


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