Fターム[5F045EF00]の内容
気相成長(金属層を除く) (114,827) | ノズル・整流・遮蔽・排気口 (3,640)
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Fターム[5F045EF00]に分類される特許
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半導体製造装置
【課題】炉体を用いたバッチ式成膜装置で、多孔ノズルを用いて原料ガスを供給するALD成膜ではノズル内のガス置換が不十分となり原料が残留する結果、パーティクルの発生や膜厚の面内均一性が悪化する問題を回避する半導体製造装置を提供する。
【解決手段】ノズル106の先端を閉塞させずに、配管132およびバルブ133を介して真空ポンプに接続するようにした。反応室102とは独立してノズル106内の真空排気、パージを容易にできるので原料の置換効率が向上し、原料の残留を防止することができる。
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有機金属気相成長装置及び半導体の製造方法
【課題】 反応生成物が基板以外の領域に堆積することを防止すると共に、再現性良く半導体を成長させることができるMOCVD装置又は半導体層の製造方法を提供する。
【解決手段】 有機金属気相成長装置は、内部に配置されたサセプタ15上に基板1Aを保持するチャンバー10と、チャンバー10の壁部から内部にかけて設けられ、チャンバー10内に冷却ガスを導入する冷却ガス導入口2dと、チャンバー10の壁部から内部にかけて冷却ガス導入口2dとは独立して設けられ、チャンバー10内に原料ガスを導入するプロセスガス導入口2a及び2bと、プロセスガス導入口2a及び2bから連続するように設けられ、プロセスガス導入口2a及び2bから導入される原料ガスを基板1A上に搬送するプロセスガスフローチャンネルとを備えている。冷却ガス導入口2dは、冷却ガスがプロセスガスフローチャンネルの外壁に当たるような位置に設置されている。
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