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Fターム[5F045EN00]の内容

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【課題】清浄な表面処理を実行可能な基板処理システムおよび基板処理方法を提供する。
【解決手段】搬送ロボット室11、第1ロードロック室21、予熱チャンバ31、処理チャンバ41、冷却チャンバ51および第2ロードロック室61のいずれにおいても、その内部圧力が大気圧以上に調整される。また、予熱チャンバ31内の圧力が搬送ロボット室11内の圧力よりも低くなるように圧力調整が実行される。したがって、プリベーク処理時に発生した酸素や水分などが予熱チャンバ31から搬送ロボット室11に流入するのを効果的に防止することができ、プリベーク処理後の基板Wに対する酸素や水分の再付着が抑制される。その結果、酸素や水分が処理チャンバ41に入り込むのを抑制することができ、各電子ビームキュアユニット4A、4Bにおいて清浄なキュア処理を行うことができる。 (もっと読む)


【課題】 半導体ウエハ上への微粒子などの異物の付着を防止し、半導体装置の製造歩留りを向上させる。
【解決手段】 半導体ウエハを処理する処理室2と、前記半導体ウエハを収容するロードロック室6と、処理室2とロードロック室6とをつなぎ、前記半導体ウエハを搬送する搬送室4と、搬送室4内を外部から観察できる覗き窓10とを備えたプラズマCVD装置1において、搬送室4の覗き窓10に、アースと電気的に接続され、かつ覗き窓10をコーティングしてなる導電性膜による電荷除去手段を持たせる。 (もっと読む)


【課題】 本発明の目的は、半導体製造装置、とくにドライプロセスにおいて使用されている各種の半導体製造装置およびその構成部材のうち可動部部材が、ハロゲンやハロゲン化合物のガスによる腐食とエロージョン摩耗によって減肉した場合に、その表面を簡便に補修して復元させることにより、これらの耐摩耗性、耐久性を初期状態に戻すかさらに向上させるための方法を提案する。
【解決手段】 ハロゲン系ガス使用環境下にある半導体製造製装置用可動部材の摩耗腐食した損耗部に、Cr23およびAl23のいずれか一方、またはこれらの混合物からなる酸化物セラミックを溶射被覆する、半導体製造装置用可動部部材の補修方法。 (もっと読む)


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