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Fターム[5F046CC16]の内容

Fターム[5F046CC16]に分類される特許

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【課題】 ステージの位置を高精度に計測するために有用な技術を提供する。
【解決手段】被測定物の位置を計測する計測装置は、前記被測定物に向けて光を射出し、前記被測定物で反射した光を検出する干渉計と、前記干渉計から射出された光と前記被測定物で反射した光の光路へ気体を吹き出す気体吹き出し部と、第1部材および第2部材を含み、前記光路が前記第1部材と前記第2部材の間にあり、前記気体吹き出し部により吹き出される気体を前記被測定物に向けて整流する構造体と、を備える。前記第1部材は、前記被測定物に取り付けられ、前記第2部材は、前記被測定物との間に隙間ができるように配置されている。 (もっと読む)


【課題】テーブルの位置決めに有利なステージ装置を提供する。
【解決手段】ベース部と、XY平面に沿って移動可能なテーブルと、Y軸方向に沿った前記第1の端面の位置を計測する第1のY軸干渉計222と、前記Y軸方向に沿った第2の計測光路を有する第2の端面の位置を計測する第2のY軸干渉計224と、前記第1のY軸干渉計及び前記第2のY軸干渉計から前記XYZ座標系のX軸方向に離間して、且つ、前記Y軸方向に沿った第3の計測光路を有する第3のY軸干渉計228と、前記第1のY軸干渉計の計測値、前記第2のY軸干渉計の計測値及び前記第3のY軸干渉計の計測値に基づいて前記テーブルの変形量を求め、前記変形量に基づいて目標位置を補正した補正目標位置を求め、前記第1のY軸干渉計の計測値と前記第2のY軸干渉計の計測値から求まる前記テーブルの位置が前記補正目標位置に位置するように前記テーブルを位置決めする制御部とを有する。 (もっと読む)


【課題】安価な構成で、チャックのθ方向の傾きを精度良く検出して、基板のθ方向の位置決めを精度良く行う。
【解決手段】X方向(又はY方向)へ移動する第1のステージ(14)、第1のステージに搭載されY方向(又はX方向)へ移動する第2のステージ(16)、及び第2のステージに搭載されθ方向へ回転する第3のステージ(17)を有する移動ステージにチャック(10a,10b)を搭載する。チャック(10a,10b)に複数の光学式変位計(41)を設け、複数の光学式変位計(41)により、第2のステージ(16)に取り付けた第2の反射手段(35)までの距離を複数箇所で測定する。複数の光学式変位計(41)の測定結果から、チャック(10a,10b)のθ方向の傾きを検出し、検出結果に基づき、第3のステージ(17)によりチャック(10a,10b)をθ方向へ回転して、基板(1)のθ方向の位置決めを行う。 (もっと読む)


【課題】干渉計の光路へのガス漏れを抑制しつつ、インプリント処理時に基板とモールドとの隙間にガスを迅速に高い濃度に充填させるインプリント装置を提供する。
【解決手段】モールド11を保持するヘッドと、ウエハ21を保持するウエハステージ23と、樹脂を前記ウエハに供給する樹脂供給口32と、前記ウエハステージの第1方向における位置を計測する干渉計と、型と前記ウエハとの間の空間に空気と置換するためのガスを供給する第1ガス供給口41aを前記ウエハステージの上に有する第1ガス供給部と、前記空間に前記ガスを供給する第2ガス供給口41bを前記ウエハステージの上に有する第2ガス供給部と、前記空間に前記ガスを供給する第3ガス供給口43を前記ウエハステージの前記干渉計側の縁部に有する第3ガス供給部と、制御部60とを備える。 (もっと読む)


【課題】複数のレーザー変位計を用い、チャックのθ方向の傾きを精度良く検出して、基板のθ方向の位置決めを精度良く行う。
【解決手段】第2のステージ(Yステージ16)に複数のレーザー変位計43を設けて、複数のレーザー変位計43をチャック10a,10bと共にXY方向へ移動し、第2のステージに冷却装置を設けて、第2のステージが搭載されたガイド(Yカイド15)で発生する熱により第2のステージが変形するのを防止しながら、複数のレーザー変位計43によりチャック10a,10bの変位を複数箇所で測定する。測定結果からチャック10a,10bのθ方向の傾きを検出し、検出結果に基づき、第3のステージ(θステージ17)によりチャック10a,10bをθ方向へ回転して、基板1のθ方向の位置決めを行う。 (もっと読む)


【課題】リニアモータの固定子と可動子との衝突を防止する。
【解決手段】Xボイスコイルモータ18xの固定子73に、ストッパブロック70を固定する。ストッパブロック70と可動子71のヨーク75との間のY軸方向に関するクリアランスは、コイルユニット78と磁石ユニット77とのY軸方向に関するクリアランスよりも狭く設定されている。従って、コイルユニット78と磁石ユニット77が接触するよりも前にストッパブロック70とヨーク75とが接触し、これによりコイルユニット78及び磁石ユニット77が保護される。 (もっと読む)


【課題】重量キャンセル装置の姿勢の安定化を図りつつ移動体の水平面に交差する方向に位置情報を求める。
【解決手段】 複数のレベリングセンサユニット70は、微動ステージ50に固定され、ターゲット用ステージ装置75に取り付けられたターゲット72,74を用いて、微動ステージ50の鉛直方向(Z軸方向)、及び水平面(XY平面)に平行な軸線周りの回転量情報を求める。従って、ターゲット72,74を重量キャンセル装置40に取り付ける場合に比べ、重量キャンセル装置40を軽量化できる。従って、重量キャンセル装置40が定盤12上を移動する際の動作が安定する。 (もっと読む)


【課題】位置精度性能が向上した、改善されたリソグラフィ装置を提供する。
【解決手段】基準構造に対してある方向に移動可能である支持部と、第1の周波数範囲内で上記方向における基準構造に対する支持部の位置を表す第1測定信号を提供するように構成される第1位置測定システムと、第2の周波数範囲内で上記方向における基準構造に対する支持部の位置を表す第2測定信号を提供するように構成される第2位置測定システムと、(a)第2周波数範囲内の周波数を有する信号成分を減衰させるように第1測定信号をフィルタリングし、(b)第1周波数範囲内の周波数を有する信号成分を減衰させるように第2測定信号をフィルタリングし、(c)フィルタリング後の第1測定信号とフィルタリング後の第2測定信号とを結合して、上記方向における基準構造に対する支持部の位置を表す結合測定信号を生成するように構成されるプロセッサと、を備える。 (もっと読む)


【課題】ウエハステージを精度良く駆動する。
【解決手段】平面モータ30により駆動されるウエハステージWST1,WST2の位置をエンコーダシステムを用いて計測し、エンコーダシステムからのウエハステージWST1,WST2のそれぞれについての位置計測情報と、両ステージWST1,WST2の位置に応じたエンコーダシステムの位置計測誤差の補正情報とに基づいて、ウエハステージWST1を駆動する。これにより、主として両ウエハステージWST1,WST2の移動に伴う周辺磁場の変動に起因する誤差を補正することができる。 (もっと読む)


【課題】反射光を常に入射光と平行な方向へ効率よく戻すことができるレーザ反射体を提供すること。
【解決手段】レーザ光の光軸(P軸)上に設けられるレンズ5および球体4と、球体4の表面を覆いレーザ光を反射する被覆体12と、これらを収納する筺体7を備えており、レーザ光をレンズ5と球体4で1点に集光させ、被覆体12で反射させる。レンズ5の中心と焦点FをP軸上に配置して、球体4の中心を、レンズ5の中心と焦点Fを結ぶ線上に配置する。被覆体12は、焦点Fに近い方の半球面上の領域で、半球面とP軸との交点Qを少なくとも含む領域を覆う。レンズ5と球体4の中心間距離S、球体4の屈折率n1を、レンズ5により焦点Fに向けて集光されるレーザ光が球体4で屈折して被覆体12で覆われた交点Qに集光するように設定する。 (もっと読む)


【課題】測定用レーザー光の遮断に影響されることなく、マスクステージと基板ステージの位置及び水平面内での姿勢を高精度で測定可能であるとともに、マスクステージと基板ステージを近接して配置して、環境温度を略同じにしてマスクと基板の熱膨張の差を抑制することができ、高精度な露光を実現する露光装置を提供する。
【解決手段】マスクステージ位置測定装置66は、基板ステージ11,12の移動方向と直交する方向に離間し、マスクステージ10の側面に配置された2箇所のマスクステージ測長ミラー71A,71Bによりマスクステージ10の位置及び水平面内での姿勢を測定する。また、基板ステージ位置測定装置63,64は、基板ステージ11,12の側面に配置される基板ステージ測長ミラー61の2つの測定点72A,72Bにより、基板ステージ11,12の位置及び水平面内での姿勢を測定する。 (もっと読む)


【課題】測長結果から精度よくデッドパスの影響を排除するヘテロダインレーザー干渉測長器を提供する。
【解決手段】ヘテロダインレーザー光源10からのビームを2本の物理的に離れた平行なレーザービームに分岐させて測定ビームB1と参照ビームB2を生成する分岐器80と、測定ビームB1及び参照ビームB2を測定光路LP1,LP2に向けて分割する偏光ビームスプリッタ30と、測定光路LP1,LP2に設けられる1/4波長板31,32と、可動測定物50に仮想直線上にお互いの反射面を反対方向に向けて固定され、測定ビームB11,B12が照射される測定ミラー341,342と、測定ミラー341,342近傍に配置され、参照ビームB21,B22が照射される反射ミラー411,412と、測定ミラー341,342の反射光を干渉させた光と反射ミラー411,412の反射光を干渉させた光に基づく2つのビート信号から変位を算出する演算回路70を備える。 (もっと読む)


【課題】複数の光ファイバを接続した光ファイバケーブルを介してエンコーダヘッドから検出器へ出力ビームを接続損失なく送る。
【解決手段】エンコーダから出力ビームを検出器へ送る一系統の受光用ファイバとして、エンコーダ側に位置する光ファイバF1のコアCR1の端面(射出端面)と該射出端面より大きな検出器側に位置する光ファイバF2のコアCR2の端面(受光端面)とを対向して継がれた光ファイバケーブルを用いる。これにより、光ファイバの継ぎ部において光の漏れが生じることがなく、エンコーダの高い計測精度を確保することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】露光装置の製造を迅速に行う。
【解決手段】
露光装置100の製造工場において、ボディ工具とステージモジュール20とをドッキングさせ、ボディ工具が有する光干渉計を用いてステージモジュール20の移動鏡の調整(傾き調整、直交度調整など)を行なった後、そのステージモジュール20を所定の出荷先に出荷する。出荷先に設置されたボディBDは、予め製造工場にて光干渉計に関してボディ工具と同じ状態となるように調整(取付位置調整、光軸調整など)されている。従って、出荷先で改めてステージモジュール20の移動鏡の調整を行う必要がなく、露光装置100の製造を迅速に行うことができる。 (もっと読む)


【課題】アライメントマークの検出条件を最適化する。
【解決手段】 アライメント検出系ASを用いてウエハW上に形成されたアライメントマーク(EGAマーク又はサーチマーク)が複数の照明条件及び結像条件で検出され、得られた検出信号が複数のフィルタ処理を用いて解析され(ステップ302〜306)、その解析結果に基づいて複数のフィルタ処理の処理条件を含む複数の照明条件及び結像条件以外の検出条件が最適化される(ステップ308〜314)。これにより、アライメントマークの検出条件を最適化することができる。 (もっと読む)


【課題】 プレートが搭載されるステージの位置を位置計測系を用いて管理する。
【解決手段】 主制御装置は、所定形状のプレート50が着脱可能に搭載されたステージWSTの位置を位置計測系(18等)を用いて計測しつつ、アライメント系ALGを用いてプレート50の一部を検出するとともに、その検出結果と対応する位置計測系の計測結果とに基づいてプレート50の外周エッジの位置情報を取得する。このため、そのステージWST上に位置計測用のマーク(基準マーク)などが存在しなくても、プレートの外周エッジの位置情報に基づいて、プレート(すなわちステージ)の位置を前記位置計測系で設定される移動座標系上で管理することが可能になる。 (もっと読む)


【課題】位置計測系の周期誤差が発生しても、精度良く周期パターンの位置を検出する。
【解決手段】可動ステージの位置を位置計測系を用いて計測し、その計測情報を用いて可動ステージを駆動するとともに、可動ステージ外の周期パターンから成る計測用マークを可動ステージに一部が配置された検出器を用いて検出する。ここで、位置計測系の計測周期(図10(B)及び10(C)に示される例では0.25μm)の自然数倍と異なるピッチ(図10(C)の例では2.03125μm(なお、図10(B)の例では2μm))の周期パターンを計測用マークとして用いることにより、計測周期に等しい位置計測系の周期誤差が発生しても、検出精度を損なうことなく、計測用マークの位置情報を計測することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】光源から供給された光ビームを空間的光変調器により変調して基板にパターンを描画する際に、光源から供給された光ビームの強度の低下を容易に検出して、不良の発生を防止する。
【解決手段】光ビームの強度を検出する検出装置(レーザーパワーメータ51)をチャック10に取り付け、光ビームの強度を検査するための検査用の描画データを光ビーム照射装置20の駆動回路27へ供給し、チャック10と光ビーム照射装置20とを相対的に移動して、チャック10に取り付けた検出装置(レーザーパワーメータ51)により光ビーム照射装置20のヘッド部20aから照射された光ビームを受光し、検出装置(レーザーパワーメータ51)により検出した光ビームの強度に応じて、光源の出力を調整する。 (もっと読む)


【課題】レーザ干渉計システムの計測精度を向上させる。
【解決手段】基板ステージ装置には、基板Pが載置された微動ステージ21の位置情報を計測するためのX干渉計60Xから照射されるレーザビームL1、L2の光路の上方にエアガイド装置70が設けられている。エアガイド装置70は、X干渉計60Xから照射されるレーザビームL1,L2の上方に沿って配置されたガイド部材71の下面に気体を噴出し、その気体は、コアンダ効果によりガイド部材71の下面に付着した状態で、高速でレーザビームに平行に流れる。そして、高速で流れる気体に光路近傍の気体がベルヌーイ効果により引き寄せられることにより、その光路近傍の空気ゆらぎが抑制される。 (もっと読む)


【課題】 物体の変位量を高精度に測定可能な変位測定装置を提供すること。
【解決手段】 本発明の一側面としての変位測定装置は、格子パターン6が形成されたスケール7と、スケール7に光を照射する光源と、スケール7の格子パターン6で回折された光を受光する受光素子と、を備える。格子パターン6の形状は、その格子パターン6の格子方向Yに一定の周期で変化している。受光素子は、格子パターン6上の、格子方向Yにその周期の自然数倍の長さを有する領域100で回折された光を受光する。 (もっと読む)


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