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Fターム[5F048BH00]の内容

MOSIC、バイポーラ・MOSIC (97,815) | PN接合分離 (956)

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Fターム[5F048BH00]に分類される特許

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【課題】 素子分離領域の広がりによる素子形成領域間の拡大等の改善を図る。
【解決手段】 半導体基体11に、素子分離領域16が、所定の濃度をもって第1導電型不純物が導入された第1の選択的不純物導入領域17と、第1の選択的不純物導入領域17に比し低い所定の不純物濃度の第2導電型不純物が選択的に導入された第2の選択的不純物導入領域18とによって構成され、第2の選択的不純物導入領域18の不純物濃度の選定によって第1の選択的不純物導入領域17からの不純物の横方向拡散による広がり領域における第1導電型の打消しを行って、素子分離領域16の横方向の実質的広がりを抑制する。 (もっと読む)


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