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Fターム[5F053AA21]の内容

半導体装置を構成する物質の液相成長 (5,002) | 成長方法 (895) | 成長制御・調整・監視・計測方法 (158)

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【課題】CBD成膜装置を、CBD溶液に溶解してしまうような部分を含む基板であっても基板を溶解させることがないものとする。
【解決手段】基板2を裏面から支持して加熱する支持加熱部3と、支持加熱部3により支持された基板2の表面に膜形成用のCBD反応液を供給するための、開口部4aを有する反応槽4と、反応槽4を支持加熱部3により支持された基板2の表面に向けて前進させて基板2の表面に対して開口部4aを押し付けるとともに、反応槽4を基板2の表面から後退させて基板2の表面から開口部4aを引き離すことが可能な反応槽進退駆動部とを備えたものとする。 (もっと読む)


【課題】加工処理を行わずとも結晶の所在および結晶方位を容易に視認できる窒化物結晶およびその製造方法を提供する。
【解決手段】種結晶の外周に成長した窒化物結晶において、第1の部分領域と、光学的特性が該第1の部分領域と異なっており、かつ結晶方位を示す光学的特性を有する第2の部分領域と、を備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】溶湯中の冷却体の溶湯中への浸漬軌道と干渉する物による生産性に対する悪影響を防止することができる析出板製造装置および析出板製造方法を提供する。
【解決手段】放射温度計50が、溶湯23の表面温度を検出すると、制御装置45は、溶湯23の表面温度の変化に基づいて、溶湯23中の冷却体基板25の溶湯23中への浸漬軌道と干渉する物の有無を判断する。具体的には、溶湯23の表面温度の変化が、予め定める変化幅以上であり、かつその状態が予め定める期間継続したときに、溶湯23中に冷却体基板25の溶湯23中への浸漬軌道と干渉する物が有るものと判断する。制御装置45は、溶湯23中に冷却体基板25の溶湯23中への浸漬軌道と干渉する物が有ると判断されたときは、冷却体基板25の溶湯23中への浸漬を停止する。 (もっと読む)


基板に接着させたIII−V族アモルファス材料を形成する反応性蒸着方法であり、この方法は、基板に0.01Paと同程度の周囲圧力を印加する手順、及び基板の表面上にアモルファスIII−V族材料層が形成されるまで、0.05Paと2.5Paとの間の動作圧力で基板の表面に活性V族物質を導入し、且つ、III族金属蒸気を導入する手順を備える。 (もっと読む)


【課題】 半導体材料の融液の湯面における湧出し位置が、基板の浸漬方向に対して直交する方向で対称の位置になるように、また湯面の盛上がり高さが0になるように調整して薄板の板厚分布を均一にする。
【解決手段】 坩堝22内に収容される半導体材料の融液21に基板25を浸漬し引上げて薄板を生成する薄板生成装置20は、坩堝22に対するコイル23の相対位置を修正するコイル設定位置修正手段28と、融液21の湧出し位置29を検出する湧出位置検出手段30と、融液21の湯面21aの盛上がり高さを調整する湯面高さ調整手段31とを備え、制御手段32によって、湧出し位置29の検出結果に応じて、基板25の浸漬位置と湧出し位置29との配置が好適になるようにコイル23の設定位置を修正するとともに、湯面21の盛り上がり高さを調整する。 (もっと読む)


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