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Fターム[5F058AF01]の内容

絶縁膜の形成 (41,121) | 有機絶縁膜の形成法 (1,440) | 気相堆積 (356)

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【課題】放置時間が長くても、化合物半導体積層構造の表面のダングリングボンドがフッ素で終端された状態が維持されるようにし、閾値電圧の変動を抑制して、信頼性を向上させる。
【解決手段】半導体装置は、化合物半導体積層構造6と、化合物半導体積層構造6の表面を覆うフッ素含有バリア膜9と、化合物半導体積層構造6の上方にフッ素含有バリア膜9を挟んで設けられたゲート電極8とを備える。 (もっと読む)


【課題】化学気相成長により基材上に膜を形成するための組成物を提供すること。
【解決手段】式Aによって表されるアミノシラン及びそれらの混合物からなる群より選択されるアミノシランを含有する、化学気相成長用組成物であって、式中のRが、直鎖、分枝若しくは環状の飽和若しくは不飽和C1〜C10アルキル基、芳香族基、複素環基、アミン基、又は式Cにおいてシリル基から選択され、R1が、分枝又は環状の飽和又は不飽和C3〜C10アルキル基、芳香族基、複素環基、水素、シリル基から選択され、置換基を有していても又は有していなくてもよく、RとR1を結合して環状基にすることも可能であり、ただし、ジイソプロピルアミノシラン、ジsecブチルアミノシラン、及びジtertブチルアミノシランを除く。 (もっと読む)


【課題】形成されるシリコン酸化膜の誘電率、又は成膜レートを、成膜条件を変更することにより制御することができる基板処理装置や半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】基板を処理する処理室と、非シロキサン材料ガスを処理室内へ供給する材料ガス供給部と、酸素含有ガスを処理室内へ供給する酸素含有ガス供給部と、処理室内へ供給されたガスを励起する励起部と、制御部とを備え、材料ガス供給部及び酸素含有ガス供給部から処理室内へ、それぞれ非シロキサン材料ガスと酸素含有ガスを供給する際に、非シロキサン材料ガスと酸素含有ガスの合計流量に対する酸素含有ガスの流量比を、非シロキサン材料ガス分子中のシリコン原子と酸素含有ガス分子中の酸素原子の合計数に対する酸素含有ガス分子中の酸素原子の比が、0.3以上で0.8以下とするとともに、処理室内へ供給されたガスを励起するよう基板処理装置を構成する。 (もっと読む)


【課題】基板の表面にビアが形成された基板を密着促進剤により処理するときに、ビアの底に液溜まりを形成せずに表面処理できる表面処理方法及び成膜方法を提供する。
【解決手段】処理容器20内に搬入されており、表面に穴部が形成されている基板の表面を、密着促進剤を気化させた密着促進剤ガスにより処理する表面処理方法において、基板を加熱するとともに、処理容器20内に密着促進剤ガスと水蒸気とを供給し、供給された密着促進剤ガスと、加熱されている基板とを、水分を含む雰囲気中で反応させることによって、基板の表面を処理する表面処理工程を有する。 (もっと読む)


【課題】表面処理された基板上に膜を成膜する際に膜が変質せず、表面処理の際にパーティクルが発生せず、また、予め基板表面の終端状態を調整するための工程数を削減できる表面処理方法及び成膜方法を提供する。
【解決手段】処理容器60内に搬入されている基板の表面を、密着促進剤を気化させた密着促進剤ガスにより処理する表面処理方法において、基板を加熱するとともに、処理容器60内に密着促進剤ガスを供給し、供給された密着促進剤ガスと、加熱されている基板とを、水分を含まない雰囲気中で反応させることによって、基板の表面を処理する表面処理工程を有する。 (もっと読む)


【課題】成膜されたポリイミド膜の膜質を向上させるとともに、単位時間当たりに成膜処理される基板の枚数を増やすことができる成膜装置を提供する。
【解決手段】基板にポリイミド膜を成膜する成膜装置において、成膜容器60内に搬入されている基板を加熱する加熱機構62と、成膜容器60内に密着促進剤を気化させた密着促進剤ガスを供給する密着促進剤供給機構80と、加熱機構62と密着促進剤供給機構80とを制御する制御部100とを有する。制御部100は、基板を成膜容器60内に搬入した後、加熱機構62により、基板の温度を、基板にポリイミド膜を成膜するときの所定温度まで上昇させる間に、密着促進剤供給機構80により密着促進剤ガスを成膜容器60内に供給し、基板の表面を密着促進剤ガスにより処理するように、制御する。 (もっと読む)


【課題】保護膜の成膜時に圧電体膜が水素によって還元されることがなく、圧電体膜を水分から保護する保護膜を有する圧電体の製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の一態様は、圧電体膜16上に、水素を含まない原料ガスを用いたCVD法によりC膜、C膜、C膜及びC膜のいずれかの膜15を形成する圧電体の製造方法であって、前記原料ガスは、炭素とフッ素を含む有機物原料ガスを有することを特徴とする圧電体の製造方法である。ただし、a,b,c,dは、自然数である。 (もっと読む)


【課題】成膜容器の圧力を測定するための圧力計に耐熱性を要求せず、かつ、設置面積を低減可能な成膜装置を提供する。
【解決手段】成膜容器11内に保持されている基板に原料ガスを供給することによって、基板に膜を成膜する成膜装置において、成膜容器11に原料ガスを供給する供給機構と、成膜容器11からガスを排気する排気機構25と、成膜容器11から排気機構25にガスが流れる排気流路55の途中に設けられており、原料ガスを含む生成物を析出させることによって、原料ガスを捕捉するトラップ部30と、成膜容器11とトラップ部30との間で排気流路55に合流するように接続されており、排気流路55にパージガスを供給するパージガス供給部50と、パージガス供給部50から排気流路55にパージガスが流れるパージガス供給流路52の途中に設けられた圧力計51とを有する。 (もっと読む)


【課題】誘電率の上昇を抑制しつつも多孔質層の表面を改質できる半導体装置の製造方法および多孔質層の改質方法を提供する。
【解決手段】半導体装置の製造方法は、半導体基板102上に、表面にSiH基を有する多孔質絶縁層114を形成する工程と、SiH基をSiOH基に酸化させ、かつ多孔質絶縁層114のSi原子と結合を形成しない改質物質を含む液体を多孔質絶縁層114の表面に接触させる工程と、を含む (もっと読む)


【課題】複数の基板を接着する際のそりを抑制できる基板の接着方法を提供する。
【解決手段】第1の基板の表面に第1の単量体を蒸着させる第1の単量体蒸着工程と、第2の基板の表面に前記第1の単量体と反応して重合体を形成する第2の単量体を蒸着させる第2の単量体蒸着工程と、前記第1の基板と前記第2の基板とを前記単量体を蒸着させた側の面が対向するように載置し、前記第1の単量体を蒸着させた面と前記第2の単量体を蒸着させた面とを接触させると共に、前記第1の単量体と前記第2の単量体とを反応させて重合体を形成することにより、前記第1の基板と前記第2の基板とを接着する重合体形成工程とを有する。 (もっと読む)


【課題】基板の表面における酸二無水物及びジアミンのそれぞれのガスの供給量の変動を防止し、酸二無水物とジアミンとの重合反応により成膜されるポリイミド膜を連続して安定に成膜できる成膜装置を提供する。
【解決手段】内部の圧力が圧力調整可能に設けられており、固体状態の第1の原料を気化させ、気化した第1の原料ガスを基板に供給するための第1の気化器21と、内部の圧力が圧力調整可能に設けられており、液体状態の第2の原料を気化させ、気化した第2の原料ガスを基板に供給するための第2の気化器41と、第1の気化器21の内部の圧力と第2の気化器41の内部の圧力とを調整することによって、第1の原料ガスの供給量と第2の原料ガスの供給量との比が一定になるように、第1の気化器21及び第2の気化器41を制御する制御部60とを有する。 (もっと読む)


【課題】微細配線を有する半導体装置の信頼性を向上させる。
【解決手段】本発明に係る半導体装置は、第1のCu配線102と、第1のCu配線102の上に設けられ、第1のCu配線102からCuの拡散を防ぐ第1のバリア絶縁膜103とを備える。また、第1のバリア絶縁膜103の上には、第2のCu配線105と、第1のCu配線105の上に設けられ、第2のCu配線105からCuの拡散を防ぐ第2のバリア絶縁膜106と、を備える。第1、第2のバリア絶縁膜103、106は、分枝アルキル基、及び、炭素−炭素二重結合を有するシリコン系絶縁膜からなる。 (もっと読む)


【課題】軽量であり、かつ強固な信頼性を備えた半導体デバイスを提供する。
【解決手段】集積回路チップは、プラスチックの基板101と、基板101上に配されたポリマー誘電体103と、電極同士の間に形成された有機半導体材料112および受動層114の少なくとも1つのを含むアクティブデバイス104と、少なくとも1つのアクティブデバイス104に隣接する導電性ポリマー106および/または108とを備えている。 (もっと読む)


【課題】a)紫外線スペクトル領域において強力かつ均一に吸収でき、b)レジスト材料を、「倒れ込み」および意図したレジストラインの外側への広がりまたは内側への接触から守ることができ、およびc)フォトレジスト現像剤に対して不浸透性であることのできる反射防止コーティングならびにスピンオンガラス反射防止コーティングの製造方法を提供。
【解決手段】吸収組成物は、少なくとも1つの無機ベース化合物、少なくとも1つの吸収化合物および少なくとも1つの材料変性剤を含む。更に、吸収組成物の製造方法は、a)少なくとも1つの無機ベース化合物、少なくとも1つの吸収化合物、少なくとも1つの材料変性剤、および1つまたは複数の溶媒を組み合わせて反応混合物を形成する工程であって、少なくとも1つの材料変性剤が、少なくとも1つの酸および水を含む工程、およびb)反応混合物を、吸収材料、コーティングまたはフィルムに形成する工程を含む。 (もっと読む)


【課題】トラップ機能とバイパス機能とを有する小型のトラップ装置を低コストで提供する。
【解決手段】基板を処理するためのガスを導入するためのガス供給部が接続されているチャンバーと、前記チャンバー内のガスを排気するための排気部との間に設けられたトラップ装置50であって、前記チャンバーと接続される吸入口52と、前記排気部と接続される排出口53と、第1の空間57を有するバイパス部51と、前記ガスに含まれる未反応成分を冷却して凝固させて除去する第2の空間61を有する冷却トラップ部60と、を有し、前記ガスは、第1の状態では前記第1の空間57を介し流れ、第2の状態では前記第2の空間61を介し流れるものであって、前記冷却トラップ部60に対し第1の流路55及び第2の流路56を、回転部54により相対的に移動させることにより、前記第1の状態と前記第2の状態とを切り替える。 (もっと読む)


【課題】蒸着重合によるポリイミドの成膜に適した基板処理装置を提供する。
【解決手段】真空ポンプにより排気可能なチャンバーとなる外部管と、前記外部管内に設けられており、内部に基板が設置される内部管と、前記内部管内にガスを導入するためのガス供給部と、前記基板、前記外部管、前記内部管を加熱するためのヒーターと、前記外部管と前記内部管との間に設けられたトラップ部と、を有し、前記基板を前記ヒーターにより第1の温度に加熱することにより、前記ガス供給部から供給されたガスが蒸着重合反応し、前記基板表面において前記蒸着重合反応によりに生成された膜が成膜され、前記内部管に設けられた開口部から流入した前記ガスにより、前記トラップ部においても、前記蒸着重合反応により生成された膜が成膜されることを特徴とする基板処理装置により上記課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】ケイ素含有誘電体材料の層の誘電率の修復
【解決手段】第1の誘電率および少なくとも1つの表面を有するケイ素含有誘電体材料の層の誘電率の修復方法であって、ケイ素含有誘電体材料の層の第1の誘電率が第2の誘電率まで増加しており、該方法は、ケイ素含有誘電体材料の層の少なくとも1つの表面と、ケイ素含有流体とを接触させるステップ、そしてケイ素含有誘電体材料の層の少なくとも1つの表面を、紫外線照射、熱、および電子ビームからなる群から選択されるエネルギー源に曝すステップ、の各ステップを含み、ケイ素含有誘電体材料の層は、ケイ素含有誘電体材料の層をエネルギー源に曝した後の第2の誘電率より低い第3の誘電率を有する、方法。 (もっと読む)


【課題】隣接する膜パターンの間隔を制御することが可能なパターン付基板の作製方法を
提供する。また、膜パターンの幅の制御が可能で、特に、幅が細く且つ厚みのあるパター
ン付基板の作製方法を提供する。また、アンテナのインダクタンスのバラツキが少なく、
起電力の高い導電膜を有する基板の作製方法を提供することを課題とする。また、歩留ま
り高く半導体装置を作製する方法を提供することを課題とする。
【解決手段】基板、絶縁膜又は導電膜上に珪素及び酸素が結合し且つ前記珪素に不活性な
基が結合する膜を形成した後、珪素及び酸素が結合し且つ前記珪素に不活性な基が結合す
る膜表面に印刷法を用いて組成物を印刷し、組成物を焼成して膜パターンを形成すること
を特徴とする。 (もっと読む)


【課題】ポーラス絶縁層を用いた半導体装置において、当該ポーラス絶縁層を覆うポアシール絶縁層を良好に形成すること。
【解決手段】本発明に係る半導体装置の製造方法は、(A)ポーラス絶縁層の表面にトレンチを形成する工程と、(B)ビニル基を含み−Si−O−を含む構造を備える化学物質を、ポーラス絶縁層の表面上あるいはポーラス絶縁層中に導入する工程と、(C)当該化学物質の重合を行うことにより、ポーラス絶縁層よりも高密度のポアシール絶縁層をトレンチの表面上に形成する工程と、を含む。 (もっと読む)


反応器内部の露出面上の望ましくない成長または核生成を防止するために、混合SAMの形成に関する方法および構造が記載される。混合SAM(322)は、核生成が望ましくない表面(308)上に、第1の長さ(334)の分子を有する第1のSAM前駆体、および第1の長さより短い第2の長さ(338)の分子を有する第2のSAM前駆体を導入することによって形成されることができる。提供できる合成SAM(322)に覆われる露出面の例は、反応器表面ならびに絶縁体および誘電体層などの集積回路構造(800)の選択表面を含む。 (もっと読む)


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