【課題】真のクリティカルパスで最高動作周波数が簡単に測定化可能な集積回路装置、クリティカルパスのテスト方法を目的とする。
【解決手段】集積回路装置からクリティカルパスとなるクリティカルパス回路を検出し、入り口フィリップフロップと出口フィリップフロップをスキャンチェーンで接続し、前記出口フィリップフロップに、当該フィリップフロップの値を外部に出力するための出力回路を接続するステップと、スキャンイネーブル信号を第１の状態にしてスキャンイン入力を行い、スキャンチェーン回路の前記入り口フィリップフロップと前記出口フィリップフロップに所定の値を設定し、前記出口フィリップフロップ及び前記入り口フィリップフロップに所定の値が設定されたタイミングでスキャンイネーブル信号を、第１の状態から第２の状態に切り替え、前記出口フィリップフロップがクリティカルパス回路の出力を設定可能な状態にし、前記出力回路の出力値がスキャンイネーブル信号の切り替えに対応して反転したか否かを検出する集積回路装置のクリティカルパステスト方法。 （もっと読む）

【課題】 フィールドスルー電荷補償機能を備えるアナログスイッチにおいて、半導体製造工程の誤差によらず、スィッチング用のＭＯＳトランジスタのフィールドスルー電荷を安定に補償し、アナログスイッチ動作時の入出力間の誤差を低減できる構造を実現する。
【解決手段】 入力端子ＩＮと出力端子ＯＵＴの間に同一サイズの２つのトランジスタ１ａ、１ｂを、電気的に並列に、また物理的には相対するように配置し、トランジスタ１ａ、１ｂの入力端子ＩＮ側に、トランジスタ１ａ、１ｂと同一サイズで、そのソースとドレインを共通接続されたトランジスタ２を配置し、トランジスタ１ａ、１ｂの出力端子ＯＵＴ側に、トランジスタ１ａ、１ｂと同一サイズで、そのソースとドレインを共通接続されたトランジスタ３を配置し、製造工程の誤差によって、位置ずれが発生しても、トランジスタ１ａ、１ｂのソース側の寄生容量の総和および、ドレイン側の寄生容量の総和が不変であるようにし、トランジスタ１ａ、１ｂのスィッチング動作に伴うフィールドスルー電荷の補償が、設計通りにできるようにした。 （もっと読む）