説明

Fターム[5F083KA00]の内容

半導体メモリ (164,393) | 配線(断面図中心) (3,852)

Fターム[5F083KA00]の下位に属するFターム

Fターム[5F083KA00]に分類される特許

1 - 4 / 4


【課題】電源電圧の供給の停止及び再開を行う構成において、揮発性の記憶装置と不揮発性の記憶装置との間のデータの退避及び復帰の必要のない半導体記憶装置を提供する。
【解決手段】不揮発性の半導体記憶装置とする際、揮発性の記憶装置と不揮発性の記憶装置を分離することなく構成する。具体的に半導体記憶装置には、酸化物半導体を半導体層に有するトランジスタ及び容量素子に接続されたデータ保持部にデータを保持する構成とする。そしてデータ保持部に保持される電位は、電荷をリークすることなくデータの出力が可能なデータ電位保持回路及び電荷をリークすることなくデータ保持部に保持した電位を容量素子を介した容量結合により制御可能なデータ電位制御回路で制御される。 (もっと読む)


【課題】本発明は、配線層の平坦性を保つためのダミーパターンを有する半導体装置とその製造方法を提供することを目的とする。
【解決手段】半導体装置の機能を実現するうえで必要な機能パターンと、半導体装置の所定の層に、前記機能パターンと共に複数のダミーパターンとを備え、第一の大きさの複数のダミーパターンが配置され、前記第一の大きさの複数のダミーパターンが配置されない領域に、第二の大きさの複数のダミーパターンが配置され、前記第一の大きさの複数のダミーパターンと前記機能パターンとの間に前記第二の大きさの複数のダミーパターンが配置され、第一所定方向に配置された前記第一の大きさの複数のダミーパターンと、第二所定方向に配置された前記第二の大きさの複数のダミーパターンとは隣り合い、前記第一の大きさのダミーパターン間の幅は、前記第二の大きさのダミーパターン間の幅よりも大きい。 (もっと読む)


【課題】良好な動作特性を有するとともに加工が容易な不揮発性記憶装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】基板上に、第1の方向に延在する第1の配線と、前記第1の方向に非平行な第2の方向に延在する第2の配線と、前記第1の配線と前記第2の配線との間に挟持され、前記第1の配線と前記第2の配線とを介して供給される電流により、第1の状態と第2の状態との間を可逆的に遷移可能な記録層と、を備え、前記記録層は、前記第1及び前記第2の方向に対して平行な断面が前記第2の配線に近づくにつれて大きくなる逆テーパ形状を有することを特徴とする不揮発性記憶装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】半導体装装置を構成する半導体素子の微細化にともない、電極の間の距離も縮小され、電極の間に設ける層間絶縁膜の中にボイドが発生していた。このボイドは、半導体装置の信頼性を悪化するため、大きな問題であった。
【解決手段】半導体基板11の上部に絶縁膜21を設け、この上部に第1の導電性材料14と第2の導電性材料15とを積層して設ける。絶縁性を有する被服層16を第1の導電性材料14の側端部に設け、これらにより電極10を構成する。第2の導電性材料15の側端部は、第1の導電性材料14の側端部より内側に設け、第1の導電性材料14と第2の導電性材料15とが接する面積は、第1の導電性材料14の上面部の面積よりも小さい。 (もっと読む)


1 - 4 / 4