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Fターム[5F102GM00]の内容

接合型電界効果トランジスタ (42,929) | ゲート下介在層(ゲートメタル電極底面とチャネル層表面間に介在する層) (3,125)

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Fターム[5F102GM00]に分類される特許

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【課題】GaN電子走行層、AlGaN電子供給層、およびGaNキャップ層が順次積層された半導体装置において、高周波数動作および高出力動作を実現することが可能な半導体装置を提供すること。
【解決手段】本発明は、基板10上に順次積層されたGaN電子走行層12、AlGaN電子供給層14、およびGaNキャップ層16と、GaNキャップ層16上に形成されたゲート電極18と、ゲート電極18の両側であって、AlGaN電子供給層14上に形成されたソース電極20およびドレイン電極22と、ゲート電極18とソース電極20との間のGaNキャップ層16に形成された第1の凹部30と、を具備し、第1の凹部30が有する底面32下におけるGaNキャップ層16の厚さは、ゲート電極18下におけるGaNキャップ層16の厚さに比べて薄い半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】、ショットキ接合のリーク電流を抑制すること。
【解決手段】本発明は、チャネル層を含む窒化物半導体層と、窒化物半導体層に接して設けられ不活性ガス雰囲気中で熱処理されたGZO層22を含むショットキ電極20と、チャネル層に接続して設けられたオーミック電極16、18と、を具備する電界効果トランジスタおよびその製造方法である。本発明によれば、窒化物半導体層とGZO層22とのショットキ接合を形成することにより、ショットキ接合の逆方向電流のリーク電流を抑制し、順方向電流の理想係数を1に近づけることができる。 (もっと読む)


【課題】 ZnOトランジスタ又はHEMTのようなZnOデバイスにおいて、ソース・ドレインのコンタクト抵抗を減少させることを課題とする。
【解決手段】 Zn極性面を有するアンドープZnO層をチャンネル層とし、該Zn極性面を有するZnO層上には、極性面反転層を介して、ソース・ドレインに接続されたO極性高濃度n型ZnO層が、選択的に形成されていることを特徴とするZnOデバイスである。 (もっと読む)


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