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Fターム[5F102HC27]の内容

接合型電界効果トランジスタ (42,929) | 個別プロセス (4,778) | 多孔質化 (2)

Fターム[5F102HC27]に分類される特許

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【課題】大電流容量を有する半導体装置を提供する。
【解決手段】半導体装置は、エピウエハ110と、絶縁膜と、第1の電極と、導電層と、第2の電極160とを備えている。エピウエハ110は、高欠陥領域111と、高欠陥領域111よりも欠陥密度の低い低欠陥領域112とを含み、主表面113と、主表面113と反対側の裏面114とを有する。絶縁膜は、エピウエハ110の主表面113における高欠陥領域111を覆うように形成される。第1の電極は、低欠陥領域の上に形成され、絶縁膜を介して隣り合う。導電層は、絶縁膜を介して隣り合う第1の電極を電気的に接続する。第2の電極160は、エピウエハ110の裏面114上に形成されている。 (もっと読む)


【課題】AlGaN層の表面を平坦とし、かつ、AlGaN/GaN界面に存在する二次元電子ガスにダメージを与えない半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】先ず、サファイア又は炭化珪素で形成される支持基板12を用意して、支持基板上にバッファ層14を堆積させる。次に、支持基板及びバッファ層を900℃以上1100℃以下に設定された成長温度に保持した状態で、バッファ層上に、GaN層16及びAlGaN層20を順次に積層してGaN半導体基板10を形成する。GaN半導体基板を形成する工程に引き続いて、GaN半導体基板を500℃以上成長温度以下の温度に保持した状態で、AlGaN層の上側表面28上に、表面保護膜としてAlN層30を形成する。 (もっと読む)


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