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Fターム[5F103AA04]の内容

半導体装置を構成する物質の物理的析出 (6,900) | 析出方法 (899) | 蒸着 (423) | 分子ビーム(MBE)、原子ビーム (251)

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【課題】平坦な高品質ZnO系薄膜を形成可能な結晶成長方法の提供。
【解決手段】基体表面にZn系材料とO系材料とを供給し、基体表面にZnO系薄膜を成長させるZnO系薄膜の結晶成長方法であって、前記基体として、O極性ZnO基体を用い、かつO系材料に対してZn系材料が過剰となるように各材料を供給しながら基体表面にZnO系薄膜を成長させることを特徴とするZnO系薄膜の結晶成長方法。 (もっと読む)


【課題】不純物の取り込みや平坦性の悪化を抑制できる酸化物基板の清浄化方法、及び該方法によって清浄化された基板を用いた酸化物薄膜の製造方法の提供。
【解決手段】真空雰囲気中に置いた酸化物基板を加熱することなしに、その表面に原子状水素および原子状重水素のうち少なくとも一方を接触させて該酸化物基板の表面を清浄化処理することを特徴とする酸化物基板の清浄化方法。この酸化物基板の清浄化方法によって酸化物基板の表面を清浄化する工程と、清浄化した酸化物基板の表面に酸化物半導体結晶を成長させて酸化物半導体薄膜を得る工程とを有することを特徴とする酸化物半導体薄膜の製造方法。 (もっと読む)


【課題】磁性元素を含む半導体中で、磁性元素を高濃度に含むナノ結晶の自律的形成を人為的に制御し、結晶中の磁性元素の平均の組成が20%以下の小さい範囲でも、室温以上で強磁性あるいは超常磁性状態となって磁化過程に履歴現象が生じるような薄膜結晶を実現する。
【解決手段】磁性元素を含む半導体において、n型またはp型のドーパントを添加するか、あるいは化合物半導体の場合は結晶成長時の原料供給量の調節により化合物における構成元素の組成割合における化学量論比からのずれを調整することにより、磁性元素イオンの結晶中での価数を変化させてイオン間の引力相互作用を調整することで、磁性元素を高濃度に含むナノ結晶の自律的な形成を人為的に制御することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】MBE法を用いてIII−V化合物半導体膜を堆積するためのMBE用エピタキシャル基板を提供する。
【解決手段】MBE用エピタキシャル基板11は、GaAs、InPといったIII−V化合物半導体単結晶ウエハ13と、MBE法を用いてIII−V化合物半導体膜を堆積するための表面15aを有するホモエピタキシャル膜15とを含む。半導体単結晶ウエハ13とホモエピタキシャル膜15との界面17における炭素濃度、酸素濃度、シリコン濃度は4×1018個/cm未満、1×1018個/cm未満、4×1018個/cm未満である。III−V化合物半導体膜17をMBE法で堆積するに先立って、半導体単結晶ウエハ13の研磨面13a上にホモエピタキシャル膜15を形成すると、ウエハ主面のケミカルエッチング処理の有無に関するIII−V化合物半導体膜17の光学特性の依存性が低減される。 (もっと読む)


結晶支持構造110をその上に有する基板115とIII−V結晶210を備えるデバイス100。III−V結晶は、結晶支持構造の1つの単一接触領域140上にある。接触領域の面積は、III−V結晶の表面積320の約50パーセント以下である。
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【課題】歩留まりの向上を図ることができ、量産性に優れ、高性能でかつ高信頼性な半導体素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】半導体素子10は、ZnO(酸化亜鉛)単結晶基板12と、ZnO単結晶基板12上に成長させて形成される窒化物半導体層を含む素子30と、ZnO単結晶基板12の外面のうち、素子30を形成する表面12aとは反対側の裏面12bおよび両側面12c、12cを覆う窒化物半導体からなる保護膜40と、を備えている。ZnO単結晶基板12の裏面12bおよび両側面12c、12cが窒化物半導体からなる保護膜40で覆われているので、ZnO単結晶基板12の表面12a上に窒化物半導体層を成長させる際にZnOの昇華を抑制できる。V族原料としてアンモニアNH3を用いて窒化物半導体層を成長させるMOCVD法を利用できる。
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【課題】キャリア密度を向上可能な、半導体膜を製造する方法を提供することを目的とする。
【解決手段】2種以上の同極のドーパントを添加しながら分子線エピタキシ装置13を用いて半導体膜15を基板11上に成長する。分子線エピタキシ装置13において、Gaセル、Mgセル、BeセルおよびRF−Nラジカルガンのシャッタを開き、半導体膜15としてGaN膜を基板11上に成長する。GaN膜は、p型ドーパントMgおよびBeを含む。Beドーパントは半導体の構成元素のうちのGaと置換され、Ga元素の原子半径R21は、Beドーパント17aの原子半径R17よりも大きいと共に、Mgドーパント19aの原子半径R19よりも小さいので、GaNホスト半導体において局所歪みの影響を低減可能である。 (もっと読む)


【課題】キャリアのさらなる短寿命化が図られたテラヘルツ電磁波対応ウェハ、テラヘルツ発生検出デバイス及びそれらの製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係るテラヘルツ電磁波対応ウェハ11においては、表面11a近傍には多数のAsクラスター26が析出している。このAsクラスター26は、キャリアの捕獲中心として働くことが知られており、特に、表面11a近傍におけるAsクラスター26がキャリア捕捉に大きく寄与することが知られている。また、エピタキシャル層16が酸素を含有しており、この酸素により深い準位が形成されている。従って、このテラヘルツ電磁波対応ウェハ11においては、エピタキシャル層16の表面11a近傍におけるAsクラスター26が有意に増量されると共に、エピタキシャル層16中に酸素が含有されているため、キャリアのさらなる短寿命化を実現することが可能である。 (もっと読む)


【課題】p型ドーパントがBeである場合において、再現良く、高いホール密度を有するp型半導体層を備えるIII−V族化合物半導体の製造方法およびIII−V族化合物半導体を提供する。
【解決手段】III−V族化合物半導体1の製造方法は、基板10を準備する工程と、基板10上にIII−V族化合物半導体1からなるp型半導体層11を成長させる成長工程とを備えている。成長工程は、p型不純物10としてのBeをp型半導体層11に供給する第1供給工程と、S、Se、およびTeの少なくともいずれか1種のVI族元素を、第1供給工程で供給されるBeよりも少ない量で、p型半導体層11に供給する第2供給工程とを含んでいる。第1供給工程と第2供給工程とを実質的に同時に行なっている。 (もっと読む)


【課題】 III族窒化物半導体からなる微細柱状結晶を選択的に成長させることにより、III族窒化物半導体微細柱状結晶の位置および形状を制御する。
【解決手段】 微細柱状結晶の製造方法が、基板表面の所定領域に、金属窒化物または金属酸化物からなる表面を有する膜を形成する工程と、前記基板表面に成長原料を導き、前記膜上の領域を微細柱状結晶の成長促進領域として、少なくとも前記微細柱状結晶の成長促進領域上にIII族窒化物半導体からなる微細柱状結晶を成長させる工程とを含む。 (もっと読む)


約800℃未満の温度でエピタキシャルAlGaN層を調製するための方法が提供される。包括的には、基板が、エピタキシャルAlxGa1-xN層を形成するのに適した温度と圧力で、Al源の存在下で、H2GaN3、D2GaNsまたはそれらの混合物と接触させる。さらに、基板の上方に形成された、複数の反復合金層を含むスタックを備え、複数の反復合金層は2つ以上の合金層の種類を有し、少なくとも1つの合金層の種類はZrzHfyAl1-z-y2合金層からなり、zとyの合計は1以下であり、スタックの厚さは約50nmより大きい、半導体構造が提供される。 (もっと読む)


【課題】 高品質で実用レベルのGaInNAs面発光型半導体レーザ素子の製造方法を提供する。
【解決手段】 半導体基板(20)上に、レーザ光を発生する少なくとも1層の活性層(23)を含んだ活性領域と、レーザ光を得るために活性層の上部及び下部に設けられた反射鏡(21,25)を含んだ共振器構造を有する面発光型半導体レーザ素子において、前記活性層(23)はGa,In,N,Asを主成分として含み、前記反射鏡のうち少なくとも下部反射鏡は、屈折率が周期的に変化し入射光を光波干渉によって反射する半導体分布ブラッグ反射鏡を含み、前記活性層(23)をMOCVD成長室で成長させ、前記反射鏡(21,25)のうち少なくとも下部反射鏡(21)を、別のMOCVD成長室またはMBE成長室で成長させる。 (もっと読む)


【課題】ポートの数を増やすことなく,還元性ガスを分子線結晶成長装置の成長室内に導入することを可能にする分子線源を提供する。
【解決手段】本発明の分子線源は,結晶成長のための分子線を放出する分子線放出部と,前記分子線放出部に結合され,前記分子線を加熱して分解するクラッキングゾーンとを備え,前記分子線放出部と前記クラッキングゾーンの間に還元性ガスを導入するための還元性ガス導入部を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 結晶成長方法及び結晶成長装置に関し、基板とエピタキシャル層との格子定数の差を、用いられる物質により一義的決定されることなく一定程度の範囲で任意に設定する。
【解決手段】 湾曲させた基板1上にエピタキシャル成長をさせる。 (もっと読む)


本発明は真空蒸着装置及びこれに関連する蒸着方法に関する。基板が設置される蒸着領域を局部的にポンピングするために1つまたはそれ以上のクライオパネルを使用する真空蒸着装置が提供される。本発明は、特に、分子線エピタキシーにおいて高蒸気圧蒸着材料をポンピングしその再蒸発を最小限に抑えるために応用可能である。
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【課題】膜の成長量を精細に制御可能として生成膜の平坦性及び結晶性と成膜速度とを同時に有効に高めることができる金属窒素化合物のMBE成膜方法及び装置を提供すること。
【解決手段】固体金属用分子線セル11の出口部分に配置したシャッター12の周期的開閉動作と同期して、窒素励起セル21の励起コイル24へのRF電力投入量を切替えることにより該窒素励起セル21をLBモードとHBモード間で切替え、固体金属用分子線セル11から成長室内の基板5に所定量の金属分子線を照射すると同時に窒素励起セル21から金属分子と反応しない窒素励起分子線を照射する一方、基板5への金属分子線の照射期間とオーバーラップするか又は該金属分子線の照射停止後の一定期間中、LBモードからHBモードに切替えた窒素励起セル21から上記基板5へ所定量の窒素活性種を照射するようにして成長量を精密に制御可能とする。
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【課題】反りや残留歪の少ない自立窒化物基板の作製方法を提供する。
【解決手段】ZnMgOバッファー層120上に、GaN等の窒化物バッファー層130を成長させる(a)。HVPE法により、窒化物バッファー層130上に、低い基板温度(700〜900℃)でGaN等の窒化物層140を成長させる(b)。ZnO膜は窒化物層140成長中にin−situによりリフトオフする(b)〜(c)。 高い基板温度(900〜1500℃)でのHVPE法窒化物成長により、窒化物厚膜(100ミクロン以上)150を作製する(d)。 (もっと読む)


【課題】薄型でエネルギー変換効率が高いシリコンベースの太陽電池を提供すること。
【解決手段】少なくとも一方の表面がSiである基板1と、前記基板1のSi表面のうちの1つの表面上に配置されている、エピタキシャル成長により形成されたBa原子とSi原子とを含有するn型BaSi層2と、前記n型BaSi層2上に配置されている周期表13〜15族に属する少なくとも1種の不純物原子とBa原子とSi原子とを含有するn型BaSi層3と、前記n型BaSi層3上に配置されている上部電極6と、前記基板1の一方の表面上に配置されている下部電極5と、を備えることを特徴とするシリコンベースの高効率太陽電池。 (もっと読む)


【課題】基板上に結晶薄膜を均一に成長させることが可能な分子線エピタキシー装置および分子線エピタキシー法を提供すること。
【解決手段】その内部を真空状態に保持可能であり、その内部に収容した基板Sbに結晶成長させるための真空成長室1と、基板Sbを保持する基板ホルダ2と、筒状の側壁32と底31とを有しており、基板Sbに結晶成長させる材料Mtを溶融状態で保持可能なるつぼ3と、を備える分子線エピタキシー装置Aであって、るつぼ3の底31には、溶融した材料Mtが表面張力によって漏洩しないサイズとされた1以上の貫通孔31aが設けられており、基板ホルダ2は、るつぼ3に対して底31の外面31bが向く方向に配置されている。 (もっと読む)


【課題】GaNに格子定数の近い基板を用い,大型で良質のGaNエピタキシャの結晶を得る。
【解決手段】素子基板は、遷移金属二ホウ化物のホウ素面にアルミニウム含有膜を介して窒化物半導体膜をエピタキシャル成長させて形成されてなることを特徴とする構成。素子基板の製造方法であって、遷移金属二ホウ化物のホウ素面に、アルミニウム膜をエピタキシャル成長させ、次に、窒化物半導体膜をエピタキシャル成長させることを特徴とする構成。 (もっと読む)


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