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Fターム[5F140BH00]の内容

絶縁ゲート型電界効果トランジスタ (137,078) | ソース、ドレイン領域及びSD近傍領域 (10,828)

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【課題】インパクトイオン化MISFETに関して、微細素子において二つの入力によりAND型論理素子動作することを可能とし、素子バラツキを低減することを可能とし、消費電力を低減することを可能とする半導体装置を提供する。
【解決手段】第1導電型または真性である半導体領域の表面上に形成された二つの独立した第一および第二のゲート電極への両者への入力により反転層が形成された場合に、インパクトイオン化によるスイッチング動作が可能となることを特徴とする、半導体装置である。 (もっと読む)


【課題】ゲート絶縁膜の側壁を熱酸化させて修復する際に、Ti元素を含む金属材料からなるゲート電極膜の酸化を抑制する。
【解決手段】基板上に形成されたゲート絶縁膜の側壁にプラズマによって活性化させた反応ガスを供給する工程を有する半導体装置の製造方法であって、ゲート絶縁膜上にはTi元素を含む金属材料からなるゲート電極膜が形成されており、前記反応ガス中に含まれるOガスの流量を、前記反応ガス中に含まれるHガスの流量の1/19以下とする。 (もっと読む)


【課題】ゲート絶縁膜の信頼性が向上した炭化珪素半導体装置を提供する。
【解決手段】第1と第2の主面を有する炭化珪素基板(101)と、炭化珪素基板の第1の主面に設けられた第1導電型の炭化珪素層(102)と、炭化珪素層の表面に設けられた第2導電型の第1の炭化珪素領域(103)と、第1の炭化珪素領域内の表面に設けられた第1導電型の第2の炭化珪素領域(104)と、炭化珪素層、第1の炭化珪素領域、及び第2の炭化珪素領域が連続して連なる部分に跨るように選択的に設けられたゲート絶縁膜(105)と、ゲート絶縁膜上に形成されたゲート電極(106)と、第2及び第1の炭化珪素領域の隣接する部分に選択的に設けられたトレンチに埋め込まれた第1の電極(108)と、炭化珪素基板の前記第2の主面に形成された第2の電極(107)とを具備する。 (もっと読む)


【課題】 半導体チップを折り曲げることにより、Pチャネル電界効果型トランジスタとNチャネル電界効果型トランジスタの移動度を同時に向上させる。
【解決手段】 <110>方向に沿って凹状に折り曲げられた(100)基板11には、<110>方向に沿って(100)基板11の折り曲げ方向と平行にチャネルが配置されたPチャネル電界効果型トランジスタが形成されるとともに、<110>方向に沿って(100)基板11の折り曲げ方向と平行にチャネルが配置されたNチャネル電界効果型トランジスタが形成され、Nチャネル電界効果型トランジスタ上には、(100)基板11の折り曲げによる圧縮応力よりも大きな引っ張り応力F1´を印加するゲートキャップ膜15が形成されている。
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【課題】ゲート長が100nm以下であってもオフリーク電流を十分に抑制することができる半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】N型ウェル並びにゲート絶縁膜32及びゲート電極33が形成された半導体基板31に対し、リンをイオン注入することにより、半導体基板31の表面にN型ポケット層34を形成する。ゲート電極33の長さ(ゲート長)は、100nm以下である。イオン注入は、4方向からの斜めイオン注入により行う。また、例えば、注入エネルギを15乃至30keVとし、ドーズ量を1方向当たり3×1012乃至1.5×1013cm-2とする。この方法によれば、N型ポケット層34の形成にあたり、リンのイオン注入を行っているので、ゲート長を100nm以下と短くしても、チャネル近傍に強い電界が発生することを抑制することができる。このため、BD間リーク電流を抑制して、オフリーク電流を低減することが可能である。 (もっと読む)


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