説明

Fターム[5F157AB17]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 被洗浄物の取扱い (8,692) | 被洗浄物の支持 (5,429) | 支持手段 (1,596) | 弾性部材を有する (4)

Fターム[5F157AB17]に分類される特許

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【課題】基板の汚染を防ぎつつ、安定的に基板を洗浄することができる洗浄装置および基板の洗浄方法を提供する。
【解決手段】本発明は、支持膜が接着されている基板を洗浄する洗浄装置100であって、上記支持膜の上記基板が接着されている側の面における、基板が接着されていない露出面に、当該露出面側から紫外線を照射する紫外線照射ユニット10と、上記紫外線が照射された支持膜に接着されている上記基板を洗浄する洗浄ユニット20とを備える。 (もっと読む)


【課題】 ウエーハ裏面側に研削屑が付着したり、研削屑による傷の発生を抑制可能な洗浄装置のチャックテーブルを提供することである。
【解決手段】 ウエーハ洗浄装置のチャックテーブルであって、回転可能なチャックテーブル基台と、該チャックテーブル基台の上面に該チャックテーブル基台の回転中心を中心とする同心円状に等間隔離間して配設された弾性部材からなる少なくとも3個の真空吸着パッドとを具備し、該チャックテーブル基台は該真空吸着パッドの各々に連通する吸引路を有していることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】被処理基板に対する処理を均一に行うことができるとともに処理液がウエハに再付着したりウエハの端縁付近の気流が乱されたりすることを抑制することができる基板処理装置および基板処理方法を提供する。
【解決手段】支持部20により支持される被処理基板Wを、略垂直方向に延びる軸を中心として回転させる。支持部20上にある被処理基板Wの上面に向かってガスを下方に噴射するとともにこの被処理基板Wの上方領域からガスを上方に吸引することによって支持部20上にある被処理基板Wを当該支持部20に向かって押圧する。被処理基板Wを回転させ、この被処理基板Wを支持部20に向かって押圧させながら、被処理基板Wの下面に対して下方からエッチング液や洗浄液等の処理液を供給する。 (もっと読む)


【課題】 基板に対する洗浄ブラシの押し込み量の設定に当って、その基準となる洗浄ブラシの基準位置を容易に確定でき、作業者の負担を軽減し、基板の洗浄処理品質の向上が達成できるような基板洗浄装置を用いた基板洗浄方法を提供する。
【解決手段】 基板洗浄装置は、洗浄すべき基板2を保持するホルダ1と、洗浄ブラシ7を保持しこれを基板の主面の法線方向に移動させかつ基板の主面に平行な方向に移動させて基板に対する洗浄ブラシの相対的位置を定める位置決め機構4,21を有している。この基板洗浄装置は、さらに、基板の主面の存在する平面Pにおいて基板から離れて配置され平面における洗浄ブラシの有無を検知する検知手段16,17を備える。 (もっと読む)


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