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Fターム[5F157AC12]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 洗浄、すすぎ、乾燥工程の態様 (3,638) | 単槽(室) (1,331) | 単一の工程 (620)

Fターム[5F157AC12]の下位に属するFターム

洗浄 (517)
すすぎ (22)
乾燥 (59)

Fターム[5F157AC12]に分類される特許

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【課題】ディスク状対象物の少なくとも下面の処理を行うための装置において、ディスク状対象物の汚染が回避できるような装置を提供する。
【解決手段】本発明の装置は、上面(2o)を有しかつディスク状対象物(1)を位置決めするための少なくとも2つの部材(19)が上面から垂直に突出している回転可能保持器(2)と、ディスク状対象物(1)の下面(1u)に処理媒体を供給するために固定的に設けられかつ保持器(2)を貫通するように配置された少なくとも1つの配管(24,26)と、保持器(2)の下面(2u)の少なくとも一部から離隔して固定配置され環状間隙(16)を形成しているカバー(4)と、を備え、前記少なくとも1つの配管(24,26)は、隙間のない状態でカバー(4)を貫通していることを特徴とする。 (もっと読む)


シリコンウェハー等は、基板の中央領域に面する区画に配置された一つ以上の非接触部分を有する回転ブラシを用いるか、またはウェハー及び回転ブラシの相対位置を切り換えるか、またはウェハーの中央領域の方へ優先的に洗浄液を向けることによって、ウェハーの中央領域の特異な洗浄を補償する手段を取る新しいスクラバータイプ装置を用いて洗浄される。本発明の別の態様は、回転ブラシをローラー(110)で置換したスクラバータイプの洗浄装置を提供する。洗浄材のウェブ(116)を各ローラーと基板との間に介装する。洗浄材の様々の異なるウェブ、例えば一つの織物、表面が各洗浄パスで再生された洗浄材の連続ループ、キャリアテープ等に設けた接着剤等を用いることができる。
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