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Fターム[5F157CC00]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 基板以外の洗浄 (700)

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【課題】フィルタの寿命を延ばすことができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】基板処理装置1は、基板Wに供給される処理液をろ過するフィルタ16を内部で保持するハウジング17と、ハウジング17に保持されている状態のフィルタ16の温度を変化させるフィルタ洗浄機構22とを含む。フィルタ洗浄機構22は、ハウジング17に保持されているフィルタ16を加熱および/または冷却することにより、フィルタ16の温度を変化させて、フィルタ16に対する異物の結合力を低下させる。 (もっと読む)


【課題】吐出ヘッドを保持するノズルアームに起因した汚染を防止することができる洗浄処理装置および洗浄処理方法を提供する。
【解決手段】吐出ヘッドを保持するノズルアーム62は、旋回駆動部63によって基板Wの上方の処理位置と基板Wを取り囲む処理カップよりも外側の待機位置との間で移動される。基板Wの洗浄処理を行ったノズルアーム62が待機位置に位置しているときに、シャワーノズル71から斜め下方のノズルアーム62に向けて洗浄液が噴出される。斜め下方に向けて噴出される洗浄液の液流を3本のノズルアーム62が横切るように昇降することにより、3本のノズルアーム62が順次に洗浄される。その後、乾燥ガスノズル76からノズルアーム62に窒素ガスを吹き付けてアームに付着している洗浄液を乾燥させる。 (もっと読む)


【課題】磁気中性線放電(NLD)プラズマエッチング装置のクリーニングの終点を制度良く検出することが可能なプラズマ処理方法を提供する。
【解決手段】磁気中性線放電(NLD)プラズマエッチング装置において、チャンバクリーニング処理の際に磁気コイルに流す電流値を、基板エッチング処理の際に前記磁気コイルに流す電流値よりも小さくすることにより、プラズマ中の分子種の時間変化をアンテナコイル電圧Vppの変化に反映させ易くして監視し、クリーニングの終点を検出する。 (もっと読む)


【課題】減圧乾燥処理装置のチャンバーにおける配管の引き回し施行の簡略化と、装置の構造の簡素化を図ることにある。
【解決手段】隔壁部1にて大気と隔離して密封状態を保持可能な1乃至複数の基板pを収容する減圧チャンバー室Aと、該チャンバー室A内に装備され収容する前記1乃至複数の基板pを載置する可動式又は固定式の加熱用プレートCと、隔壁部21にて大気と隔離して密封状態を保持可能な加圧チャンバー室Bとを備え、前記減圧チャンバー室Aと加圧チャンバー室Bは、互いに近接位置に隣接して開閉する密閉シャッタ部25にて区画され、該密閉シャッタ部の開動作による連通状態と閉動作による互いに独立した密封状態とを保持可能であり、前記密閉シャッタ部25を閉鎖して減圧チャンバー室A内の基板pの減圧乾燥を行い、開放して減圧チャンバー室A内を大気圧に戻すことができる。 (もっと読む)


【課題】液処理装置において、角型の基板から飛散する処理液が基板に付着することを防ぐことができる技術を提供すること。
【解決手段】基板の辺に沿って形成されると共に外縁部が円形に形成され、前記基板を保持する基板保持部と共に回転する液受け部と、前記液受け部を囲むように設けられ、その上縁部が当該液受け部との間に排気空間を形成するように液受け部の上方側に屈曲すると共にその内周縁が円形に形成され、前記基板保持部と共に回転する円筒状の回転カップと、を備えるように液処理装置を構成する。回転カップの内外で周方向に均一性高く気流を形成すると共に気流の淀みを防ぎ、液受け部により基板の周縁部から外側上方へ飛散した処理液をその下面で受け止めて基板の外側方向へ排出することができるので、基板の周囲から効率良く処理液を排出して基板への付着を防ぐことができる。 (もっと読む)


【課題】被処理基板と支持基板の剥離処理を効率よく行い、当該剥離処理のスループットを向上させる。
【解決手段】剥離システム1の剥離処理ステーション3は、重合ウェハTを剥離する剥離装置30と、剥離された被処理ウェハWを洗浄する第1の洗浄装置31と、剥離装置30と第1の洗浄装置31との間で被処理ウェハWを搬送する第2の搬送装置32と、剥離された支持ウェハSを洗浄する第2の洗浄装置33とを有している。第2の搬送装置32は、被処理ウェハWの接合面を支持し、且つ被処理ウェハの接合面に洗浄液を供給する供給口が形成された支持板230と、被処理ウェハWの非接合面を保持するベルヌーイチャック231とを有し、支持板230とベルヌーイチャック231で支持された被処理ウェハWの表裏面を反転自在になっている。 (もっと読む)


【課題】露光による回路パターン(素子)の寸法変動を抑制することにある。
【解決手段】透光性基板10´上に遮光機能膜21´,22´及びレジスト膜23が形成されたフォトマスク用ブランクに、少なくとも描画、エッチング及びレジスト剥離等の処理を行って所望の回路パターンが形成されるフォトマスクであって、
エッチング雰囲気中の不活性ガスもしくは硫黄を含まないエッチャントを使用して前記エッチング処理を行って前記回路パターンを形成し、かつ、前記レジスト剥離洗浄もしくは最終洗浄、或いはその両方の洗浄する際に硫酸溶液以外の洗浄液を用いて洗浄し前記回路パターンの寸法変動を抑制するフォトマスクである。 (もっと読む)


【課題】洗浄時の環境負荷をできるだけ低くし、かつ構造体の破壊のおそれがある片寄った物理的負荷を与えずに、電子部品あるいは微細構造を有する精密加工部品もしくは微細加工用金型等に付着した難洗浄性汚れを除去する。
【解決手段】被洗浄物を水、低級アルコール、または界面活性剤溶液に浸漬し、100MPa〜1000MPaの超高圧の静水圧を当該被洗浄物に付与することによって、難洗浄性汚れを除去する。 (もっと読む)


【課題】ペリクルを損傷させることなく、異物を除去することができる異物除去装置を提供すること。
【解決手段】本発明の一態様に係る異物除去装置10は、ペリクルフレーム23を介してペリクル22が装着されたマスク20のペリクル22上の異物を除去する異物除去装置であって、ペリクル22側から超音波を照射して、ペリクル22の近傍を腹とする定在波を発生させる超音波発生手段11を備える。また、ペリクル22と異物25との間の静電気を除去するイオナイザ12をさらに備える。 (もっと読む)


【課題】露光ユニットを大気開放することなくレチクルステージを洗浄することができる洗浄用レチクル、レチクルステージの洗浄方法及び半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】極端紫外線露光装置のレチクルステージの洗浄方法において、基板上にパーティクル取込層が形成された洗浄用レチクルのパーティクル取込層をレチクルステージに押し付ける工程と、洗浄用レチクルをレチクルステージから剥離する工程と、基板上からパーティクル取込層を除去する工程と、パーティクル取込層が除去された基板上に新たにパーティクル取込層を形成する工程と、を設ける。 (もっと読む)


【課題】装置内部の部品の劣化を抑制しつつ、装置内部に付着した付着物を除去することができる薄膜形成装置の洗浄方法、薄膜形成装置及びプログラムを提供する。
【解決手段】熱処理装置1の制御部100は、反応室内を、水が液膜として存在し得る温度、例えば、室温に維持する。また、制御部100は、反応室内を53200Paに設定する。反応管2内が所定の圧力及び温度で安定すると、制御部100は、処理ガス導入管17からフッ化水素と窒素とからなるクリーニングガスを反応管2内に導入し、装置内部に付着した反応生成物を除去する。 (もっと読む)


【課題】キャリアの取り外しを必須とすることのない両面研磨装置用の洗浄装置を提供する。
【解決手段】ワークWを嵌め込むホール2を有するキャリア3と、対向する上下一対の回転定盤4、5とを具え、回転定盤4、5の対向面に、研磨布6を夫々有する両面研磨装置1において、研磨布6に対し流体を吹き付けて、研磨布6を洗浄するにあたり、離間させた上下の回転定盤4、5間に、二股の先端部分9に流体を研磨布6に対し吹付けるノズル10を有するアーム11を挿入し、キャリア3を、上の回転定盤5側へと移動させて、ノズル10をキャリア3のホール内に配置し、上下の回転定盤4、5を回転させ、ノズル10をホール2内にてホール径方向に往復移動させつつ、ノズル10から研磨布6に向かって流体を吹き付けて、両研磨布6を洗浄する方法である。 (もっと読む)


【課題】露光不良を抑制できる、ステージ装置、露光装置、洗浄方法及びデバイス製造方法を提供すること。
【解決手段】
基板ステージ2の基板保持部5は、液体供給装置7に接続可能な液体供給口3を備える。液体供給装置7は、液体供給口3を介して、チャック面5aに液体を供給することが可能である。 (もっと読む)


【課題】異物除去性能および搬送性能に優れ、かつ、所定の粒子径を有する異物を特に効率よく除去し得るクリーニングシートおよびクリーニング機能付搬送部材を提供する。
【解決手段】本クリーニングシート100は、実質的に粘着力を有さないクリーニング層10を備えるクリーニングシートであって、該クリーニング層は、平均表面粗さRaが0.10μm以上である凹凸形状部分を有し、該クリーニング層は、シリコンウェハのミラー面に対する、JIS−Z−0237で規定される180°引き剥がし粘着力が0.20N/10mm未満である。クリーニング機能付搬送部材は、搬送部材と、該搬送部材の少なくとも片面に設けられたクリーニング層とを備える。 (もっと読む)


【課題】基板上に発生した潮解性を有する汚染物質を簡便かつ確実に除去することができる洗浄方法、並びに装置を提供する。
【解決手段】本発明の一態様に係る洗浄装置は、マスク基板11上に汚染物質として発生した潮解性の汚染物質15を除去する洗浄装置であって、汚染物質15の周辺の相対湿度を、汚染物質の臨界湿度以上100%未満に制御し、汚染物質を水滴化する冷却手段23と、水滴化した汚染物質15にレーザ光を照射する光源22とを有する。 (もっと読む)


【課題】高スループットを実現することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】本発明の基板処理装置は、基板Wを研磨する研磨部3と、基板Wを搬送する搬送機構5,6と、研磨された基板Wを洗浄し乾燥する洗浄部4とを備えている。洗浄部4は、複数の基板を洗浄するための複数の洗浄ラインを有する。この洗浄ラインは、複数の洗浄モジュール201A,201B,202A,202Bを備えており、基板は複数の搬送ロボット209,210によって搬送される。 (もっと読む)


【課題】クリーニング処理開始前の被処理体の処理枚数に関係なく、ジャストエッチの時点を自動的に確実に把握することにより、エッチング処理の適正な終点時点を決定することが可能な処理装置を提供する。
【解決手段】真空引き可能になされた処理チャンバー16と、所定の処理が施される被処理体Wを載置する載置台20と、処理チャンバーへ必要なガスを供給するガス供給手段40と、途中に真空ポンプが介設されて処理チャンバー内の雰囲気を真空引きする排気系6とを有す処理装置において、排気ガス中に含まれるパーティクル数を計測するために前記排気系に設けられたパーティクル計測手段8と、処理チャンバー内にクリーニングガスを流してクリーニング処理を行う時にパーティクル計測手段の計測値に基づいてクリーニング処理の終点時点を決定するクリーニング終点決定手段14とを備える。 (もっと読む)


【課題】シャドーマスクのクリーニング時における塑性変形を抑えてシャドーマスクの再利用率を向上させ有機ELディスプレイの製造コストを低減させることができるシャドーマスクのクリーニング方法を提供する。
【解決手段】クリーニング装置100は、シャドーマスク10を磁気吸着するためのマグネットプレート103を備えたマスク保持具102を備えている。マグネットプレート103の下面には、シャドーマスク10を構成する素材と同一の素材であるインバー材からなる補強層104が形成されている。補強層104は、インバー材の熱拡散長よりも長い厚さに形成されている。マスク保持具102の下方には、シャドーマスク10にレーザ光を照射して蒸着物質を除去するための光源106,集光レンズ107およびガルバノミラー108が設けられている。この場合、レーザ光Lはシャドーマスク10に付着した蒸着物質表面での反射率が最小となる入射角θで照射される。 (もっと読む)


【課題】Ta、Ti、Ta−N、Ti−Nの成膜工程で使用した成膜装置部品の表面に付着・堆積した堆積物を、基材をできる限り傷めることなく、しかも短時間で除去する洗浄方法を提供する。
【解決手段】アルミニウム、ステンレス又はアルミナセラミックス等から構成される成膜装置部品の表面を算術平均粗さRaとして5ミクロン以上に粗面化することで、Ta、Ti、Ta−N、Ti−N堆積膜の形状を粒状に制御し、次いで硫酸とフッ化水素酸からなる洗浄液で洗浄することにより、堆積膜を除去する方法であり、粗面化した部品表面としては、部品表面にアルミニウム又はチタンの溶射膜を設けて粗面化したものが好ましい。 (もっと読む)


【課題】
原版の上に付着した微粒子を効果的に除去する露光装置を提供する。
【解決手段】
本発明の露光装置は、真空環境下で投影光学系を介して原版のパターンを基板に露光する露光装置であって、露光装置は、原版を洗浄する洗浄装置を有し、洗浄装置は、原版のレーザー照射領域にレーザー光を照射する照射手段と、原版を移動させるステージと、レーザー光を原版に正射影したときの方向をレーザー入射方向と定義した場合、照射手段又はステージの一方を用いて、レーザー照射領域をレーザー入射方向と直交する方向に移動させる第1の走査手段と、照射手段又はステージの他方を用いて、レーザー照射領域をレーザー入射方向と同一の方向に移動させる第2の走査手段とを有する。 (もっと読む)


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