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Fターム[5F157CF20]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 構成要素細部 (6,182) | 吸排気構造 (450) | 排気口 (222)

Fターム[5F157CF20]に分類される特許

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【課題】直径の大きい基板のためのチャンバ内で、処理ガスを均一に散布するガス分配器を備えた処理チャンバを得る。
【解決手段】半導体基板を処理する処理チャンバ(25)は、基板(50)を支持する支持装置を含む。処理ガスをチャンバ(25)に導入するガス分配器(90)は、基板(50)平面に対して所定の傾斜角度で処理ガスをチャンバ(25)に噴射するガスノズルを有する。隋的に、ガス流制御装置(100)は、処理ガスの流れを1つ又はそれ以上のガスノズル(140)を通して制御してパルス化する。排気装置はチャンバ(25)からの処理ガスを排出するのに用いられる。 (もっと読む)


【課題】半導体ウエハに対してレジスト膜を形成し、露光後のウエハに対して現像を行う、塗布、現像装置において、例えばレジスト膜形成前のウエハに対して疎水化流体により疎水化処理を行うことによりウエハの裏面の周縁部が疎水化状態になる。このウエハの裏面を洗浄液とブラシとを用いて洗浄するとブラシが削れてウエハの裏面が汚染され、露光に不具合が生じる。そこでウエハの裏面を良好に行える手法を提供する。
【解決手段】露光前のウエハWを水平保持し、鉛直軸周りに回転させるスピンチャック10と、回転するウエハWの裏面51を、自転しながら洗浄する洗浄ブラシ30と、洗浄時にウエハWの裏面51に洗浄液Sを供給する洗浄液ノズル15と、を用い、少なくともウエハWの周縁部52を洗浄するときに、ウエハWの回転数80rpm以下となるように制御する。 (もっと読む)


【課題】基板を処理する処理容器内におけるガスの流れをコントロールすることにより、処理容器内の圧力を適切に制御し、所望の圧力状態にすることが可能な基板処理技術を提供する。
【解決手段】処理容器2内に処理ガスを導入するとともに排気して処理容器2内の載置台4上に置かれた基板Gを処理する基板処理装置1であって、処理容器2内において、載置台4の周囲を複数の領域15に仕切る仕切り部材6と、処理容器2の底面2aにおいて、仕切り部材6によって仕切られた複数の領域15にそれぞれ設けられた、処理ガスを排気する複数の排気口5と、複数の排気口5の各々に接続されて個別に作動可能な排気機構55と、各領域15の圧力を検出するセンサ47と、センサ47が検出した圧力に基づいて排気機構55を個別に制御する制御装置45を有する。 (もっと読む)


【課題】 スタブ導波管を備えたスロットアンテナ方式のマイクロ波プラズマ処理装置において、スタブ導波管の直下の電界強度を高めることにより、スロットアンテナ付近の電界分布を効果的に調節し、スロットアンテナ全体に均一な電界分布を形成させる。
【解決手段】 プラズマ処理装置100は、偏平導波管を構成する平面アンテナ板31の上に形成される電界分布を調整する第2の導波管としてのスタブ43Aを備えている。スタブ43Aは、導電性のカバー部材34に設けられている。スタブ43Aは、平面アンテナ板31の最外周に配列されたスロット対を構成するスロット32と上下に重なるように配置されている。透過板28の下面には、スタブ43Aと上下に重なるように環状溝28bが設けられている。 (もっと読む)


【課題】 トランジスタの動作性能劣化を引き起こす可能性を軽減しつつ、低温プロセス、かつ、高スループットで有機化合物ガスを用いた基板処理を可能とする基板処理方法を提供すること。
【解決手段】 銅又は銅合金を含む薄膜を有した被処理基板の基板処理方法であって、複数の被処理基板Wと、複数のダミー基板DWとを、複数段の被処理基板保持部6aを有する被処理基板ボート5に、交互に保持させていく工程と、被処理基板W及びダミー基板DWを、交互に保持した被処理基板ボート5を、有機化合物ガスを用いたドライ処理を行う処理容器に搬入する工程と、処理容器内において、被処理基板ボート5に保持された被処理基板Wに対し、有機化合物ガスを用い、銅又は銅合金を含む薄膜に対してドライ処理を行う工程と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】この発明は基板を搬送するための搬送ユニットを処理槽内に容易かつ精度よく設置することができるようにした処理装置を提供することにある。
【解決手段】処理槽1は、矩形状の下部フレーム2の四隅部に下端部が連結されて立設された支柱部材4と、支柱部材の上端部に四隅部が連結されて設けられた上部フレーム3と、支柱部材の高さ寸法に対応する間隔で上下方向に離間した下部フレームと上部フレームとがなす4つの側面に設けられ所定方向に位置する一対の側面の一方に上記基板の搬入口が形成され他方に上記基板の搬出口が形成された側壁部材11と、下部フレームに所定間隔で架設されそれぞれの上面に第1の基準面18が形成された複数の連結部材9と、第1の基準面を基準にして取付けられ搬入口から内部に搬入された基板を搬出口に向かって搬送する搬送ユニット29と、下部フレームの開口部分を閉塞する底部材21a,21bと、上部フレームの開口部分を閉塞する天井部材25によって構成されている。 (もっと読む)


【課題】大型化することなく、処理室内からの処理流体を含む排気を、所望の個別排気管に良好に導くことができる基板処理装置を提供すること。また、3つの個別排気管が全て閉塞することを確実に防止することができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】処理室からの排気が集合管45に導入される。排気切換器50は、集合管45から排気が導入される排気導入室54と、排気導入室54の内部に回転可能に設けられた回転板55とを備えている。排気導入室54の側壁59には、3つの導出接続孔62,72,82が、回転軸線Cを中心とする円周上に等角度間隔に貫通して形成されている。各導出接続孔62,72,82には、個別排気管60,70,80の上流端が接続されている。回転板55の回転軸線Cまわりの回転に伴って、選択孔49が3つの導出接続孔62,72,82と順に対向する。 (もっと読む)


本発明による高圧処理器を利用した基板処理装置は、高圧の二酸化炭素を使用して基板を処理する高圧処理器と、前記高圧処理器で使用された二酸化炭素を排出する排出管から各々二酸化炭素を分岐する第1及び第2分岐ラインと、前記第1分岐ラインを通じて供給される二酸化炭素から添加剤を分離し、前記二酸化炭素を凝縮させ、且つ、その凝縮に冷却部の冷媒が通過する冷媒循環管と共に前記第2分岐ラインを通じて供給される二酸化炭素の断熱膨脹による温度下降が関与されるようにするリサイクル部と、前記リサイクル部または二酸化炭素供給部の液体二酸化炭素を高圧でポンピングする高圧ポンプと、前記高圧ポンプを通じて昇圧された二酸化炭素を段階的に加熱し、前記高圧処理器に供給するバッファーの役目をする第1及び第2加熱バッファー部と、を含む。このような構成を有する本発明は、集約化した単一構造のリサイクル部を構成し、洗浄または乾燥に使用された二酸化炭素から添加剤を分離し、凝縮過程を処理し、設備の体積を減少させ、フットプリントを低減し、点検項目の数を減らすことができるという効果がある。 (もっと読む)


【課題】装置設計、コスト、メンテナンス等の負担を軽減し、洗浄工程に要する時間を軽減することが可能な、噴射蒸気により被洗浄物の洗浄を行なうスチームジェット用ノズルを提供する。
【解決手段】ノズル本体10は、蒸気室12と、空気室14と、蒸気室12に通じる蒸気入力口15と蒸気噴射口16と蒸気排気口17と、空気室14に通じる空気入力口18とを有し、蒸気室内12には、噴射用バルブ20と排気用バルブ30を有し、空気入力口18から入力される圧縮空気により、噴射用バルブ20と排気用バルブ30を制御し、洗浄処理時には、蒸気入力口15から入力された蒸気を、蒸気噴射口16から噴出させ、待機時には、蒸気排気口17から排気させる。 (もっと読む)


【課題】表面処理装置において、被処理物の表面上での処理ガスの流れを調節する。
【解決手段】被処理物9を支持部21にて処理領域に配置して支持する。第1処理ガス供給系60Aにて、処理ガスを被処理物9の相対的に内側の部分に供給する。第2処理ガス供給系60Bにて、処理ガスを被処理物9の相対的に外周側の部分に供給する。第1処理ガス供給系60Aの処理ガスの供給流量と第2処理ガス供給系60Bの処理ガスの供給流量を互いに連関させて調節する。好ましくは、第1処理ガス供給系60Aの供給流量を第2処理ガス供給系60Bの供給流量より大きくする。 (もっと読む)


【課題】処理ガスや反応生成物が基板の外周側縁部の上側に滞留するのを防止したり、基台にバイアス電位を均一にかけることができるプラズマ処理装置などを提供する。
【解決手段】プラズマ処理装置1は、処理チャンバ11と、処理チャンバ11内に配設され、基板Kが載置される基台と、処理ガスを供給するガス供給装置と、供給された処理ガスをプラズマ化するプラズマ生成装置40と、基台の電極17に高周波電圧を印加する高周波電源45と、環状且つ板状に形成され、基台上に載置された基板Kの外周側縁部上面を内周側縁部により覆う保護部材25と、基台を駆動して、基台上の基板Kが保護部材25により覆われる保護位置と覆われない退避位置との間で昇降させる駆動装置23とを備えており、保護部材25は、基台が保護位置に移動したときに、基板Kの上面から保護部材25の上面までの高さが1mm以上5mm以下となる板厚に形成される。 (もっと読む)


【課題】基板の処理品質を向上させることができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】基板処理装置1は、基板Wを保持するスピンチャック3と、スピンチャック3の周囲を取り囲む有底筒状の処理カップ6と、スピンチャック3および処理カップ6を収容する処理室2と、処理室2内に清浄空気を供給して、処理室2内に清浄空気の下降気流を形成するFFU(ファン・フィルタ・ユニット)11と、処理カップ6内の雰囲気を排気するための吸引機構33と、処理カップ6の周囲において処理室2内を上下に仕切る仕切板7とを備えている。 (もっと読む)


【課題】洗浄時におけるウエーハの裏面側への洗浄水の回り込みを抑制することができる洗浄装置を提供する。
【解決手段】ウエーハWの直径よりも小さい直径で保持面14を囲むように保持部11上面に環状に形成された溝部16と、一端が溝部16に連通し他端が大気に開放されるように保持部11に形成された連通路17とを備えることで、保持面14からの負圧吸引漏れによって吸着面に吸い込まれる雰囲気を、連通路17で開放された大気の雰囲気とし、溝部16より外周側におけるウエーハW裏面と保持部11上面との間からの吸い込み雰囲気を全周に亘って均等に低減させるようにし、よって、洗浄時におけるウエーハWの裏面側への洗浄水の回り込みを抑制できるようにした。 (もっと読む)


【課題】処理室内の試料台の結露を抑制し信頼性を向上させる。
【解決手段】真空容器内部に配置されガスが供給されてプラズマが形成される処理室200と、前記処理室内に配置されウエハが載置される前記略円筒形の試料台250と、前記試料台の下方で前記ガスが排気される開口204と、前記試料台内部に配置され熱交換媒体が流れる媒体用通路304と、前記処理室内で水平方向に前記試料台を支持する梁216と、前記試料台内の前記通路の下方に配置され内部が大気圧にされた円筒形の空間214と、前記空間の内側壁と前記真空容器外とを連通する連結路309と、この連結路内に配置された前記熱交換媒体用管路と、前記空間内に配置された中央側のウエハ用ピンの駆動機構308及びこの外周側で複数の前記媒体用管路の前記試料台との接続部を覆う複数の金属製ブロックとの間から高温のガスを供給し前記連結路を通り前記空間内のガスが外部に排出する。 (もっと読む)


【課題】加熱対象となる基板以外に加熱の影響が及ぶことを防ぎつつ、基板に過剰なストレスを与えることなく、塗布液または熱硬化性の部材を効率的に均一に乾燥させることができる、局所加熱装置を提供する。
【解決手段】基板1を搬送する搬送手段と、側部周囲を囲まれ上下に開口を有する空間11が形成され、上部開口端の全周が基板1の下面と接触して基板1を支持する基板支持部材4とを備える。また、基板支持部材4が基板1を支持した状態で上記空間11の内部に位置し、基板1の加熱対象となる局所位置の下面側に熱風を噴射して、非接触な状態で局所位置を加熱する非接触加熱手段3と、上記空間11と連通するように接続され、空間11に存在する空気を排出する排気手段とを備える。 (もっと読む)


【課題】複数の液処理モジュール間で共有されている共通用力系の負荷を抑えた処理装置等を提供する。
【解決手段】処理モジュール群は、基板に対して各々同一の処理を行うための多数の処理モジュールを、n個(n≧2)を1組としてk組(k≧2)備え、各組の処理モジュールには各組の処理モジュールに対して共通化されると共にその最大能力がm個(m≦n)分の大きさの共通用力系が設けられている。搬送機構は各組の処理モジュールに基板を順次1個づつ搬入する動作を繰り返し、このとき(1)共通用力系が使用されている一の処理モジュールにおける処理が終了した後にその組の他の処理モジュールへ基板を搬入するか、または(2)当該一の処理モジュールの処理の終了を待たずに他の処理モジュールへ基板を搬入してから当該一の処理モジュールにおける処理が終了した後に他の処理モジュールの処理を開始する。 (もっと読む)


【課題】水濡れしたシリコン材料に対してコンタミを生じさせることがなく、しかも当該シリコン材料を効率的に乾燥させることのできるシリコン用乾燥装置を提供する。
【解決手段】乾燥対象となる水濡れしたシリコン材料を密閉可能に収容するチャンバ12と、前記チャンバ12内に熱媒体として供給される清浄空気を加熱する加熱手段16と、前記洗浄空気の前記チャンバ12内への流路を開閉する開閉弁18と、上流端が前記チャンバ12内部に連通し、減圧開閉弁44を介して下流側に減圧ポンプ46が取り付けられた減圧配管系20と、上流端が前記チャンバ12内部に連通し、排気開閉弁52を介して下流側に排気ファン54が取り付けられた排気配管系22とで構成されると共に、前記加熱手段16が、高純度シリコンの塊体からなり、ケーシング16a内に収容される熱交換エレメント16cを有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】処理チャンバ内で基板表面に向けて電子ビームを照射して所定の基板処理を行う際に汚染物質が発生する基板処理装置において、処理チャンバから汚染物質を良好に、しかも低コストでクリーニング除去する。
【解決手段】電子ビーム照射を停止している間、オゾンガス供給ユニット48Bにより処理空間41aにオゾンガスが初期充填された後に循環ファン49aが作動してクリーニング用流路(給排気流路)の両端部を処理空間41aに連通してなる循環経路に沿ってオゾンガスが循環する。この循環流動するオゾンガスによって処理チャンバ41内に付着した汚染物質が分解されて処理チャンバ41の内壁面全体がクリーニング除去される。 (もっと読む)


【課題】従来に比べて効率良く洗浄作業を行うことができ、かつ、高い洗浄効果を得ることのできる半導体製造装置の洗浄装置を提供する。
【解決手段】半導体製造装置の洗浄装置100は、純水スチームを生成する純水スチーム生成容器2と、純水スチームを被洗浄部位へ供給する供給口10と、純水スチーム生成容器2と供給口10とを接続する純水スチーム供給ライン9と、純水を貯留する純水タンク5と、純水タンク5と純水スチーム生成容器2とを接続する純水供給ライン4と、純水供給ライン4に介挿された純水供給ポンプ6と、純水スチーム生成容器2内の純水の量を検知する重量センサ3と、重量センサ3からの信号に応じて純水供給ポンプ6を駆動し、純水スチーム生成容器2内に純水タンク5内の純水を供給する制御部20とを備える。 (もっと読む)


【課題】半導体装置のバーンイン試験を行うソケットを複数備えたバーンインボードにおいて、各ソケットをバーンインボードから取り外すことなく、一括して洗浄する。
【解決手段】バーンインボード10が備える複数のソケット7は、それぞれ半導体装置を収容する窪みが形成された収容部8が配置される上面、収容部8内に配置され、バーンイン試験の際に半導体装置の外部端子と接触して通電するコンタクトピンを、それぞれ有している。ここで、ソケット7の洗浄工程では、洗浄液18aが充填された洗浄槽18に複数のソケット7の上面側が洗浄液18aに浸るように、バーンインボード(配線基板)10を洗浄槽18に配置して、複数のソケット7の上面にそれぞれ形成された収容部8内の気体を排気ノズル18cを用いて収容部8の外に排出する。 (もっと読む)


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