説明

Fターム[5F157CF22]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 構成要素細部 (6,182) | 蓋、扉、仕切 (271)

Fターム[5F157CF22]に分類される特許

81 - 100 / 271


【課題】半導体基板からの剥離物(例えば、レジストや金属膜)等が周囲の飛散防止カバーに付着するのを効果的に防止する半導体基板の処理装置を提案する。
【解決手段】半導体基板11を保持する基板保持部材12と、これの回転駆動手段14と、半導体基板11に処理流体を噴射するノズル15と、基板保持部材12の周囲に設けられた飛散防止カバー16とを有する半導体基板の処理装置10において、飛散防止カバー16の内側上部に、シャワーヘッダー17を設け、飛散防止カバー16の下方には、不要物30を回収する取り外し式のメッシュ籠29を備えている。 (もっと読む)


【課題】 可燃性の処理流体又はその蒸気を基板に供給して処理を行う装置において、基板周辺からの排気を冷却することにより排気中の引火性のガスの濃度を低下することを可能にした基板処理装置を提供する。
【解決手段】 スピンチャック2に保持され液体が付着した基板Wの表面Wfに対し可燃性の処理流体であるIPAを供給することにより、基板Wを洗浄等する装置において、スピンチャック2及び基板Wから飛散して処理カップ201により受け止められ、スピンチャック周辺に浮遊する液体の微粒子を含む雰囲気を排気する排気液ライン202に排気冷却部203を介挿し、排気冷却部203に冷却用の冷媒を供給することにより排気液ライン202内を流れる排気を冷却し、排気に含まれる可燃性の処理流体の蒸気の濃度を低減する。これにより、装置内の可燃性の処理流体の蒸気の濃度を低減する。 (もっと読む)


【課題】基板表面の周縁部の処理幅を正確に制御することができる基板周縁処理装置および基板周縁処理方法を提供する。
【解決手段】この装置は、ウエハWを保持して回転するスピンチャック1と、スピンチャック1の上方に配置された遮断板10とを備える。遮断板10は、ウエハWの上面の周縁部に対向する位置に、環状部材32を有する。環状部材32は、ウエハWの上面の周縁部に対向するウエハ対向面45と、内側の空間と外側の空間とを連通させる気体流通路49を有する。また環状部材32の内側の空間に気体を供給する気体供給手段18,30を有する。中心軸ノズル5から、ウエハWの下面中央に向けてエッチング液が供給されると、エッチング液は、ウエハWの周端面を回り込んで、その上面に至り、ウエハ対向面45に接触する液膜を形成する。この液膜は、環状部材32の内周縁付近から内方へ入りこむことがない。 (もっと読む)


【課題】従来の半導体ウェーハの超音波洗浄装置の、保持具等により超音波が遮蔽された部分のウェーハ表面の洗浄が不十分となるという問題のない半導体ウェーハの超音波洗浄方法及び半導体ウェーハの超音波洗浄装置を提供する。
【解決手段】半導体ウェーハの超音波洗浄装置100において、洗浄液6中の半導体ウェーハ4の上方に超音波反射板20が傾斜して設けられている。超音波発生装置1から発振される入射超音波8が超音波反射板20に反射される。超音波反射板20は、反射面として平面20aを有しており、超音波反射板20は、平面20aの法線方向に、影部分7が位置するように位置決めされている。 (もっと読む)


【課題】被処理材に到達する荷電粒子を十分に抑制したうえで、ラジカルのみを効率的に供給できるリモート式のプラズマ処理装置とプラズマ処理方法を提供する。
【解決手段】前記放電部の圧力が大気圧近傍に維持され、前記処理室の圧力が前記放電部の圧力より低く維持され、前記一対の電極のうち第一電極は、前記仕切り板に重ね合わせて気密接続されるとともに前記複数の貫通孔にそれぞれ連なる細孔が設けられ、前記一対の電極のうち第二電極は、前記第一電極と所定の空隙を介して対向配置され、前記第一電極の前記空隙側の表面且つ前記第二電極の前記空隙側の表面および前記細孔の内面が誘電体で覆われている。 (もっと読む)


【課題】液浸液中の洗浄液の濃度を確実に規定値以下とすることが可能な液浸露光装置を提供する。
【解決手段】投影光学系14下端部の鉛直下方に配設可能で、露光対象膜を有する半導体基板を載置し、退避可能な基板ステージ17、投影光学14系下端部と露光対象膜との間に液浸液を満たすように供給する液浸液供給部32及び液浸液を排出する液浸液排出部36と液浸液排出管37、基板ステージ17を置き換えて、投影光学系14下端部の鉛直下方に配設可能で、供給口から排出口へ流れる洗浄液25または液浸液を保持し、退避可能な洗浄ステージ15、洗浄ステージ15中に、液浸液と接した接触領域を含むように洗浄液25を供給する洗浄液供給部21及び洗浄液を排出する洗浄液排出管28、並びに、液浸液排出管37に配設され、液浸液中の洗浄液25の濃度を測定する濃度測定器30を備える。 (もっと読む)


【課題】基板表面の周縁部の処理幅を正確に制御することができる基板周縁処理装置および基板周縁処理方法を提供する。
【解決手段】この装置は、ウエハWを保持して回転するスピンチャック1と、スピンチャック1の上方に配置された遮断板10とを備えている。遮断板10は、ウエハWの上面の周縁部に対向する位置に、環状部材32を有している。環状部材32は、ウエハWの上面の周縁部に対向するウエハ対向面45を有する。中心軸ノズル5から、ウエハWの下面中央に向けてエッチング液が供給されると、このエッチング液は、ウエハWの周端面を回り込んで、その上面に至り、ウエハ対向面45に接触する液膜を形成する。この液膜は、環状部材32の内周縁付近から内方へ入りこむことができない。 (もっと読む)


【課題】従来は塗布の前処理として洗浄を行う製造ラインにおいて洗浄工程から塗布工程の間に設備間の移動が必要であった。そのため洗浄後の清浄部に空気中に浮遊しているゴミをかみこみ、濡れ性不足、接着強度不足、信頼性の低下を招く恐れがあった。
【解決手段】本発明は、被照射部にスポット照射を行い清浄化する洗浄ヘッド21と、前記洗浄ヘッドと被照射体の相対位置関係において前記洗浄ヘッド21の進行方向の後ろ側に配された前記塗布ヘッド22を具備する洗浄塗布装置である。係る発明を用いることで、洗浄工程後、清浄部に汚染物質が再付着する前に塗布工程を行うことができる。また、洗浄工程と塗布工程の間に搬送工程を含まず、一つの装置で洗浄塗布工程が行えるため、工程及び設備の簡易化が可能である。 (もっと読む)


【課題】基板とそれに対向する対向部材との間の気流の乱れを抑制できる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】基板処理装置1は、基板Wを水平に保持して回転させるスピンチャック3と、基板Wの上面周縁部の一部に向けて処理液を吐出するノズル5と、ノズル5を回転軸線L2まわりに自転させるノズル回転機構35と、ノズル5に処理液を供給する処理液供給機構6と、基板Wの上面に対向する対向面26、および対向面26で開口し、ノズル5が挿入されるノズル挿入孔29を有する遮断板4とを含む。ノズル5は、ノズル5の下面5aに形成された吐出口を有している。ノズル5の吐出口は、回転軸線L2から離れた位置に配置されている。 (もっと読む)


【課題】簡易かつ低コストでウエハ表面に形成されたレジスト膜を除去する方法及び装置を提供する。
【解決手段】表面上にレジスト膜が形成された複数のウエハを所定の間隔で平行配置するとともに、前記洗浄槽内にオゾン水を供給する。次いで、前記洗浄槽内で、前記ウエハの前記表面に沿うようにして前記オゾン水の上下流を形成し、前記レジスト膜を除去して洗浄する。次いで、洗浄後の前記オゾン水を排出する。 (もっと読む)


【課題】スループットの向上を図り、不具合が発生した場合でも、装置全体の稼働率の低下を抑えることができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】キャリアCに対してウエハの受け渡しを行う搬入出アームBを備えた基板搬入ブロックの後段側に、第1の処理ブロック31と第2の処理ブロック32と第3の処理ブロック33とを順に配置する。基板搬入ブロックに、前記搬入出アームBから第1の処理ブロック31にウエハを受け渡すための受け渡しステージ(21a 21b)と、第2の処理ブロックにウエハを受け渡すための受け渡しステージ22と、第3の処理ブロックにウエハを受け渡すための受け渡しステージ23と、を設け、受け渡しステージ22上のウエハを第1直接搬送機構A1により第2の処理ブロック32に直接搬送し、受け渡しステージ23上のウエハを第2直接搬送機構A2により第3の処理ブロック33に直接搬送する。 (もっと読む)


【課題】基板ロボットを用いることなく第1チャンバから第2チャンバに基板を搬送させることができ、かつその搬送中の基板に処理流体を用いた処理を施すことができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】第1チャンバ1内には、ウエハWの周縁部を支持して、ウエハWをほぼ水平姿勢に支持するための複数の第1支持部材10が収容されている。第2チャンバ2内には、ウエハWをほぼ水平姿勢に支持するための複数の第2支持部材20が収容されている。第1支持部材10A〜10Dおよび/または第2支持部材20A〜20Dが、ウエハWを支持しつつX方向に移動されることにより、ならびに第1支持部材10A〜10Dおよび第2支持部材20A〜20Dが開閉されることにより、4つの第1支持部材10A〜10Dから4つの第2支持部材20A〜20DにウエハWが受け渡される。搬送中のウエハWに対して処理部3による処理が施される。 (もっと読む)


【課題】排気口からの排気に大きな排気能力を必要とせずに、処理チャンバ内の雰囲気を良好に置換させることができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】処理チャンバ4内には、基板を水平に保持して回転させるスピンチャック17と、スピンチャック17の上方に配置された円板状の遮断板14とが収容されている。遮断板14の下面には、スピンチャック17に保持される基板の表面と対向する基板対向面が形成されている。処理チャンバ4の上部に設けられた給気ユニットには、処理チャンバ4内に清浄空気を供給するための給気口65が形成されている。給気口65は、下向きの給気口であり、平面視において遮断板14の周囲を取り囲む円環状に形成されている。 (もっと読む)


【課題】基板処理装置の高さが増大することを抑制しつつ、飛散した処理液を好適に回収することができる基板処理装置、および、カップ外に処理液が漏れることを好適に防止できるカバー部材を提供する。
【解決手段】基板を保持する基板保持部11と、上部に開口Aを有する略筒形状を呈して基板保持部11の周囲を囲むカップ12と、カップ12の外側に設けられるカバー本体41と、を備え、前記開口Aの縁部は、高さ位置が比較的低い第1縁部ELと高さ位置が比較的高い第2縁部EHとを有する。カバー本体41は、第2縁部EHの高さ位置より低い範囲で前記第1縁部ELの上方を覆う。これにより、処理液が第1縁部ELの上方からカップの外側に漏れることを防止できる。第1縁部の上端は依然として第2縁部より低いので、基板処理装置の高さが増大することを抑制することができる。 (もっと読む)


【課題】 多量の処理液を消費することなく、基板の表面全域に有効に処理液を供給することが可能な基板処理装置を提供する。
【解決手段】 液寄せ部材71は、搬送ローラ9により搬送されるガラス基板100における搬送方向の両側の、ガラス基板100の端縁に近接する位置において、ガラス基板100の搬送方向に沿って配設されている。搬送ローラ9により搬送されるガラス基板100の端縁と液寄せ部材71との距離Dは2mm以下となっている。また、液寄せ部材71の上面の高さ位置は、ガラス基板100の表面の高さ位置より、Hだけ高くなっている。このHの値は、処理液吐出ノズル2からガラス基板100の表面に供給された処理液の膜厚以上とすることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】基板の乾燥後にリフトピンに処理液が残ることを防止し、このことにより液処理後の基板の裏面に処理液が付着することを防止することができる液処理装置および液処理方法を提供する。
【解決手段】基板洗浄装置10には、基板Wを保持する保持プレート30と、保持プレート30の上方に設けられ、基板Wを下方から支持するリフトピン22を有するリフトピンプレート20と、保持プレート30により保持された基板Wの裏面に処理液を供給する処理液供給部40とが設けられている。処理液供給部40は、リフトピンプレート20の貫通穴20aを塞ぐよう設けられたヘッド部分42を有している。処理液供給部40およびリフトピンプレート20は保持プレート30に対して相対的に昇降するようになっている。 (もっと読む)


【課題】基板表面上の液膜を蒸発乾燥させることなく当該液膜を薄膜化する。
【解決手段】リンス工程においてDIW供給部から低温DIWを基板表面に供給して基板および液膜の温度が雰囲気の露点以下に調整し、基板表面上に形成された液膜を薄膜化する間(薄膜形成工程)、液膜および基板の温度が雰囲気の露点以下となっているため、基板表面上の液膜が蒸発乾燥することなく当該液膜を所望の厚さに薄膜化することができる。凍結工程を実行する際に冷却高湿度窒素ガスを凍結用冷媒として用いているが、単にDIWの凝固点よりも低い温度まで冷やされた冷却ガスを用いるのではなく、水蒸気を飽和した高湿度状態のものを用いることで冷却高湿度窒素ガスの露点を凍結膜の温度とほぼ同一温度に調整している。したがって、液膜の薄膜化から凍結膜の形成に切り替わる際、凍結前の液膜が蒸発乾燥するのを防止することができる。 (もっと読む)


【課題】被処理物の処理を悪影響がなく、オゾン気泡が容易に脱気しないことにより、充分な処理効果を得ることのできるオゾン水処理方法及びオゾン水処理装置を提供する。
【解決手段】添加物を含めない方法によって生成された超微細粒径のオゾン気泡を含有するオゾン水を用いて被処理物を処理するオゾン水処理方法及びオゾン水処理装置で、特に、超微細粒径のオゾン気泡を含有するオゾン水を加熱して被処理物の処理効率を向上させる。 (もっと読む)


【課題】従来に比べて処理の面内均一性の向上を図ることができるとともに、処理チャンバー内の無駄な空間を削減して装置の小型化を図ることのできるプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】載置台と対向する対向面に複数設けられたガス吐出孔から基板に向けてガスをシャワー状に供給するシャワーヘッドを具備し、対向面に形成された排気のための複数の排気孔と、載置台の周縁部に沿って設けられ上下動可能とされた環状部材であって、上昇位置において載置台とシャワーヘッドと当該環状部材とによって囲まれた処理空間を形成する環状部材と、環状部材の内壁部分に開口し、処理空間内にガスを供給するための複数の環状部材側ガス吐出孔と、環状部材の内壁部分に開口し、処理空間内を排気するための複数の環状部材側排気孔とを具備したプラズマ処理装置。 (もっと読む)


【課題】高いパーティクル除去能力を維持しつつも、基板に与える物理的ダメージを最小限に抑制することができる基板洗浄装置および基板洗浄方法を提供する。
【解決手段】洗浄ヘッド60の筒状体61には80個の吐出孔64が穿設されている。各吐出孔64の孔径は10μm〜50μmである。高圧ポンプによって洗浄ヘッド60の流路62に洗浄液を加圧供給すると、洗浄ヘッド60の内部の液圧が1MPa以上10MPa以下に上昇することによって、各吐出孔64から洗浄液が押し出される。吐出孔64から押し出された洗浄液は連続した液流である液柱80を形成し、吐出孔64と基板Wとの距離dが1mm以上10mm以下であれば、液柱80の状態のまま基板Wの上面に供給される。これにより、洗浄ヘッド60が基板Wに与える物理力は常に一定となり、高いパーティクル除去能力と物理的ダメージの抑制とを両立することができる。 (もっと読む)


81 - 100 / 271