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Fターム[5F157CF80]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | 構成要素細部 (6,182) | 周囲の環境、雰囲気 (45)

Fターム[5F157CF80]に分類される特許

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【課題】基板を収容するカップ周辺における、処理液の散乱による汚染を防止する。
【解決手段】基板処理装置10は、基板12の上方に位置し、基板12上を流れる気体を基板12の外周上方から排気する上部排気口1と、上部排気口1から基板12の方向に延伸するように設けられ、基板12上を流れる気体が上部排気口1に流れ込むように、当該気体の流れる向きを変更する第1遮蔽部2とを備えている。 (もっと読む)


【課題】反応性クラスタによる基板の加工方法に係り、基板の損傷が少なく、高速加工ができるようにした。
【解決手段】反応性ガスと、前記反応性ガスと不活性であって前記反応性ガスより低沸点のガスとからなる混合ガス14を、ノズル出口21に至る混合ガス供給路1で冷却源3により冷却して前記ノズル出口21から断熱膨張させながら真空処理室4内に噴出させて、反応性クラスタ45を生成し、この反応性クラスタ45を真空処理室4内の基板5に噴射して基板表面51を加工するようにしたから、反応性クラスタ45の加工性能を高めることができ、基板5の損傷が少なく、かつ高速で基板5の加工を行うことができるようにした。 (もっと読む)


【課題】排気中の処理流体濃度を低減させ、基板処理装置に接続した排気設備へ流れ込む処理流体が低減し、排気設備への負担を軽減させること。
【解決手段】本発明では、基板(2)を処理するための基板処理部(21)と、基板(2)を処理する処理流体を基板処理部(21)に供給するための処理流体供給部(22)と、基板処理部(21)から排出された処理流体を含有する排気を処理するための排気処理部(23)とを有し、排気処理部(23)は、排気が流れる排気処理流路(44)の下流側に下方から上方に向けて排気を流す排気上昇流路(46)を形成し、排気上昇流路(46)の断面積を排気処理流路(44)の断面積よりも大きくして、排気上昇流路(46)を流れる排気の流速を排気処理流路(44)を流れる排気の流速よりも遅くなるようにした。 (もっと読む)


【課題】ハウジングの天井面などに処理液や蒸気などが付着しない枚葉式の基板処理装置を提供する。
【解決手段】ハウジング1と、前記ハウジング1内に基板3を保持する保持手段2と、前記基板3の処理面3aに対して処理液を供給する供給手段8と、前記ハウジング1内に気体を取り込む取り込み口1aと、前記ハウジング1内の処理液の蒸気を当該ハウジング1から排出する排出口1cとを備え、前記保持手段2は前記処理面3aを前記ハウジング1の底部1bに向けて前記基板3を保持し、前記取り込み口1aから前記排出口1cへ向かう気流を形成し、前記気流によって処理液の蒸気を当該ハウジング1から排出することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】簡素な手法で、行われる液処理に適した処理雰囲気を形成することが可能な液処理装置等を提供する。
【解決手段】筐体内の処理空間21で被処理基板Wの表面に処理液を供給して液処理を行う液処理装置2において、回転保持部33、341は被処理基板Wを保持して鉛直軸周りに回転させ、処理液供給ノズル35は回転する被処理基板Wの表面に処理液を供給する。第1の気体供給部23は、前記液処理に適した処理雰囲気を形成するために、被処理基板Wの表面全体を流れ、カップ31に流入する第1の気体の下降流を形成し、第2の気体供給部22はこの第1の気体の下降流の外方領域に、前記第1の気体とは異なる第2の気体の下降流を形成する。そして第1の気体供給部23及び第2の気体供給部22は、前記処理空間21を成す筐体の天井部に設けられている。 (もっと読む)


【課題】基板の汚染を防ぎつつ、安定的に基板を洗浄することができる洗浄装置および基板の洗浄方法を提供する。
【解決手段】本発明は、支持膜が接着されている基板を洗浄する洗浄装置100であって、上記支持膜の上記基板が接着されている側の面における、基板が接着されていない露出面に、当該露出面側から紫外線を照射する紫外線照射ユニット10と、上記紫外線が照射された支持膜に接着されている上記基板を洗浄する洗浄ユニット20とを備える。 (もっと読む)


【課題】RFアンテナ内の波長効果を十全に抑制しつつ、周回方向にも径方向にも均一なプラズマプロセスを容易に実現する。
【解決手段】この誘導結合型プラズマ処理装置においては、誘導結合プラズマを生成するために誘電体窓52の上に設けられるRFアンテナ54が径方向で内側コイル、中間コイルおよび外側コイル62に分割されている。内側コイル58は、単一または直列接続の内側コイルセグメント59を有する。中間コイル60は、周回方向で分割されていて、電気的に並列に接続されている2つの中間コイルセグメント61(1),61(2)を有する。外側コイル62は、周回方向で分割されていて、電気的に並列に接続されている3つの外側コイルセグメント63(1),63(2),63(3)を有する。 (もっと読む)


【課題】ダウンフローを発生させるための機構を簡素化した処理装置を提供すること。
【解決手段】ダウンフローを発生させる気流発生手段150と、循環経路部材200内に配設され、ダウンフローを発生させる気体に含まれるミストを気体から分離させるミスト分離手段240と、循環経路部材200内に配設され、ミスト分離手段240によって分離されて液化したミストを回収する廃液口213と、を有し、ダウンフローを発生させる気体を処理チャンバー100と循環経路部材200との間で、循環させるようにした。 (もっと読む)


【課題】基板の回転速度にかかわらず、基板の表面に供給した処理液を良好に回収できるようにすること。
【解決手段】本発明では、回転する基板(2)に処理液を供給して前記基板(2)の処理を行う基板液処理装置(1)において、前記基板(2)を水平に保持しながら回転させるための回転テーブル(28)と、前記基板(2)に供給された処理液を回収するために前記基板(2)の外周下方に配置した環状の回収カップ(39)と、前記回収カップ(39)の内周壁(43)と外周壁(42)との間に形成した回収溝(44)と、前記回収カップ(39)の内周壁(43)に配置し、前記回収溝(44)に向けて内側へ傾斜状に張出したカップカバー(47)とを有することにした。 (もっと読む)


【課題】基板の清浄度を高めることができる基板処理装置および基板処理方法を提供すること。
【解決手段】第1処理室8および第2処理室9は、それぞれ、第1処理空間S1および第2処理空間S2を区画している。第2処理空間S2は、第1処理空間S1内に設けられ、第1処理空間S1に通じている。スピンチャック10に保持された基板Wは、チャック昇降機構36によって第1処理空間S1または第2処理空間S2に配置される。処理液供給機構12は、第2処理空間S2で基板Wに処理液を供給する。第1処理空間S1および第2処理空間S2の気圧は、排気機構23およびFFU24によって、第1処理空間S1の気圧が第1処理空間S1の外の気圧よりも高く、第2処理空間S2の気圧が第1処理空間S1の気圧よりも低くなるように制御されている。 (もっと読む)


【課題】薬液処理後の基板を水洗処理する場合に、純水の使用量を節減するとともに排液量を少なくすることができ、また処理時間を短縮し、さらに装置全体の省スペース化と製造コストの低減化が達成できる基板洗浄処理装置を提供する。
【解決手段】薬液処理後の基板Wに対し水洗処理を行う水洗処理室10が、基板搬送方向において置換水洗領域201、水洗領域202および直水洗領域203にこの順に画定され、置換水領域201内に、入口ノズル16と、高圧ノズル18と、強制排出ノズル100と、エアーノズル22と、がそれぞれ配設される。置換水洗領域201内へ基板Wが搬入される前に入口ノズル16、高圧ノズル18および強制排出ノズル100からの洗浄水の吐出を開始し、置換水洗領域201内から基板Wが搬出された後に入口ノズル16、高圧ノズル18および強制排出ノズル100からの洗浄水の吐出を停止するように制御する。 (もっと読む)


【課題】簡易かつ低コストでウエハ表面に形成されたレジスト膜を除去する方法及び装置を提供する。
【解決手段】表面上にレジスト膜が形成された複数のウエハを所定の間隔で平行配置するとともに、前記洗浄槽内にオゾン水を供給する。次いで、前記洗浄槽内で、前記ウエハの前記表面に沿うようにして前記オゾン水の上下流を形成し、前記レジスト膜を除去して洗浄する。次いで、洗浄後の前記オゾン水を排出する。 (もっと読む)


【課題】スループットの向上を図り、不具合が発生した場合でも、装置全体の稼働率の低下を抑えることができる基板処理装置を提供すること。
【解決手段】キャリアCに対してウエハの受け渡しを行う搬入出アームBを備えた基板搬入ブロックの後段側に、第1の処理ブロック31と第2の処理ブロック32と第3の処理ブロック33とを順に配置する。基板搬入ブロックに、前記搬入出アームBから第1の処理ブロック31にウエハを受け渡すための受け渡しステージ(21a 21b)と、第2の処理ブロックにウエハを受け渡すための受け渡しステージ22と、第3の処理ブロックにウエハを受け渡すための受け渡しステージ23と、を設け、受け渡しステージ22上のウエハを第1直接搬送機構A1により第2の処理ブロック32に直接搬送し、受け渡しステージ23上のウエハを第2直接搬送機構A2により第3の処理ブロック33に直接搬送する。 (もっと読む)


【課題】被処理基板の上端部に付着した水が被処理基板表面を流れることを防止することにより、製品歩留まりの低下を防止することが可能な洗浄・乾燥処理方法、洗浄・乾燥処理装置、および記録媒体を提供する。
【解決手段】まず、洗浄槽52内に収容された洗浄液DIWに被処理基板Wを接触させて洗浄処理する。次に被処理基板Wを洗浄槽52内から乾燥室10内に移動し、乾燥室10内の被処理基板Wの上端部Tを加熱装置13によって乾燥する。その後、乾燥室10内の被処理基板Wに向けて乾燥ガスG1を供給することにより、乾燥ガスG1を被処理基板Wに接触させ、被処理基板W表面の洗浄液DIWを除去する。 (もっと読む)


【課題】有機溶剤を含んだ二酸化炭素を超臨界状態の洗浄剤として、この洗浄剤を洗浄チャンバー内に配された被洗浄物に接触させることにより、前記被洗浄物の洗浄を行う洗浄方法及び洗浄装置において、洗浄時間の短縮化を図ること。
【解決手段】界面活性剤と有機溶剤と超臨界状態の二酸化炭素を混合し、混合流体を被洗浄物に接触させて洗浄する洗浄方法において、前記混合を管内混合手段で行い、該管内混合手段の直後に被洗浄物を配置するとともに、前記混合流体においての重量割合は、二酸化炭素に占める有機溶剤の重量割合を20%以下とし、かつ界面活性剤の重量比率を有機溶剤と略同重量としたことを特徴とする洗浄方法及び洗浄装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】基板の化学的変化を低減することができるスピン乾燥部を備える基板処理装置を提供する。
【解決手段】上部から第1の気体(例えばクリーンエアー)が導入されるスピン乾燥部4を備え、スピン乾燥部4が、基板7を保持する回転台9と、回転台9によって保持された基板9の中央及びその周辺部に第2の気体(例えば窒素ガス)を吹き付けるガス噴射部6と、回転台9を垂直軸周りに回転させる回転駆動部(例えばスピンドルモータ10)と、前記回転駆動部の回転軸に取り付けられる同軸ファン14とを有し、同軸ファン14が回転すると、垂直方向下方に向かう気流が形成される基板処理装置。 (もっと読む)


【課題】チャンバ内の状況に応じて温調度合いを変えることにより、乾燥不良を防止しつつも消費電力を抑制できる。
【解決手段】制御部65は、チャンバ11内の測定圧力に応じた限界濃度データと測定温度とに基づいて処理ガスの限界濃度を求め、この限界濃度に対応する温度よりも若干高くなるようにチャンバヒータ71及び槽ヒータ63を操作する。したがって、チャンバ11内の圧力が低下するにつれてチャンバヒータ71及び槽ヒータ63の温度を下げてゆくことができるので、処理ガス中の有機溶剤蒸気がチャンバ11及び処理槽1に結露することを防止しつつも、チャンバヒータ71及び槽ヒータ63への供給電力を必要最小限にできる。その結果、基板Wの乾燥不良を抑制しつつも消費電力を抑制できる。 (もっと読む)


【課題】複数の液処理装置に均一に気体を供給することができる基板処理装置を提供する。
【解決手段】給気ユニット41は、塗布処理ユニット129の上方に設けられる。塗布処理ユニット129は、2つのカップ27を有する。給気ユニット41は、空気流通部91およびフィルタ装置94,95を備える。空気流通部91内には、開口912,913が形成される。開口912は、2つのカップ27のうちの一方のカップ27の上方に形成され、開口913は、他方のカップ27の上方に形成される。フィルタ装置94は、開口912を覆うように設けられ、フィルタ装置95は、開口913を覆うように設けられる。開口912,913上には、複数の気流調整部材97が設けられる。 (もっと読む)


【課題】基板上のITO表面を洗浄及び保護する方法を提供する。
【解決手段】プロセスチャンバPC100の内部に載置された基板上のITO表面にその表面の汚染物の分子の結合エネルギーより強いエネルギーを持つ光を光源から照射し、その照射中又は照射後、直ちに同一チャンバ内にてシランカップリングのガスを供給する。これにより、基板上のITO表面を洗浄及び保護することができる。 (もっと読む)


【課題】プラズマエッチング後の所定の膜の表面に残存するエッチング残渣またはアッシング残渣をその膜にダメージを与えずに確実に除去することができる基板処理方法を提供すること。
【解決手段】基板にドライエッチングを施した後に所定の膜の表面に残存するエッチング残渣、またはエッチング残渣をアッシングした後にその膜の表面に残存するアッシング残渣を除去する基板処理方法は、基板表面に液体状の有機酸を形成し、液体状の有機酸によりCFポリマーを分解するとともに液体状の有機酸にその分解物を溶解させる第1工程と、その後、基板をアニールして、有機酸および有機酸に溶解したCFポリマーの溶解物を気化させて基板から除去する第2工程とを有する。 (もっと読む)


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