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Fターム[5F157DC01]の内容

半導体の洗浄、乾燥 (54,359) | その他の課題の解決 (1,637) | 自動化、省力化 (53)

Fターム[5F157DC01]に分類される特許

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【課題】硫酸の温度の変更に容易に対応可能な基板処理装置を提供する。
【解決手段】この基板処理装置は、硫酸と過酸化水素水とを混合して生成したレジスト剥離液を基板Wの表面に供給する。この基板処理装置は、レジスト剥離液を基板に向けて吐出するノズル2と、ノズル2に向けて過酸化水素水を流通させる過酸化水素水供給路30と、過酸化水素水供給路30上においてノズル2までの流路長が異なる複数の混合位置MP1,MP2,MP3,MP4にそれぞれ接続された複数の硫酸供給路31,32,33,34と、硫酸供給源25からの硫酸を前記複数の硫酸供給路から選択された硫酸供給路に導入する硫酸供給路選択ユニット35とを含む。 (もっと読む)


【課題】半導体基板表面の清浄度を正確に確認することのできる半導体基板洗浄装置および洗浄方法を提供する。
【解決手段】半導体基板洗浄装置100は、半導体基板10を洗浄する洗浄部1と、洗浄部1で洗浄された半導体基板10の表面の反射強度を測定する反射式センサ2と、反射式センサ2による反射強度の測定結果に基づき、半導体基板10の洗浄の適否を判定する判定部3とを備えている。 (もっと読む)


【課題】 回転機構を持たない基板処理装置であっても、基板と接触する部位を清掃することができる基板処理装置の清掃装置を提供する。
【解決手段】 清掃装置2は、処理されるウエハWと同じ外形のベース400と、ベース400の下面の周縁部に下向きに植設された清掃具であるブラシ402と、ブラシ402を動かす駆動源の振動発生装置404とからなり、ハンド11上で清掃装置2の振動発生装置404が振動してブラシ402が振動し、ハンド11のウエハ支持部材81の支持面86aを清掃する。 (もっと読む)


【課題】予備のNFを用いることによって、フッ素セルのオンサイトでの使用の困難性を克服して、安全で、連続的に、規制を遵守する方法でフッ素を与える。
【解決手段】次の工程を有する反応チャンバーの洗浄方法:
(a)目的の基材に材料を堆積させるための反応チャンバーを与える工程;
(b)上記反応チャンバーの内部で、上記目的の基材に上記材料を堆積させる工程;
(c)上記堆積を周期的に中断する工程;
(d)上記反応チャンバーの内部と、フッ素及び窒素の混合物とを接触させて、上記反応チャンバーの上記内部を洗浄する工程;及び
(e)上記フッ素及び窒素の混合物が使用できない場合に、切り替えを行って、上記反応チャンバーの内部と三フッ化窒素とを接触させる工程。 (もっと読む)


【課題】研磨処理により薄型化された基板を、反りや割れを生じることなく裏表反転させる。
【解決手段】基板反転装置42は、被処理ウェハWを保持する第1の保持部270と、第1の保持部270に対向して設けられた、被処理ウェハWを保持する第2の保持部271と、第1の保持部270と第2の保持部271を相対的に移動させて第1の保持部270と第2の保持部271を接近、離隔させる移動機構272と、被処理ウェハWを保持して搬送する搬送機構を有している。第1の保持部270、第2の保持部271及び搬送機構における被処理ウェハWの保持は、ベルヌーイチャックにより行われる。 (もっと読む)


【課題】調整バルブが全開又は全閉である場合の材料ガスの濃度値や流量値が、設定値と略一致する場合であっても、濃度や流量の制御状態が異常であるかを診断できる材料ガス制御システムを提供する。
【解決手段】収容室10と、キャリアガスを導入する導入管20と、材料ガス及びキャリアガスからなる混合ガスを導出する導出管30と、第1調整バルブ45と、材料ガスの濃度又は流量を測定する測定計と、測定計で測定した測定濃度値又は測定流量値が、予め定められた設定値となるように、第1調整バルブ45に開度制御信号を出力する第1バルブ制御部46と、収容室10内の圧力を測定する圧力計44と、開度制御信号の値の時間変化量及び圧力計44で測定した測定圧力値の時間変化量が、所定条件を満たす場合に、前記材料ガスの濃度又は流量の制御状態が異常であると診断する診断部47とを具備するようにした。 (もっと読む)


【課題】 乾燥すべき基板が大サイズとなった場合においても、装置コストや可動コストを低減しながら基板を確実に乾燥させることが可能な乾燥装置を提供する。
【解決手段】 乾燥ゾーン21を有するチャンバー24と、乾燥ゾーン21内において複数の基板100を上下方向に多段状に支持する支持ピン32と、チャンバーにおける搬入・搬出領域に配設された整流板41と、乾燥ゾーン21における整流板41とは逆側に配設された複数の排気口を有する仕切板47と、均圧ゾーン22と、均圧ゾーン22を介して整流板41における排気口から排気を行うための排気管26とを備える。 (もっと読む)


【課題】処理済みの被処理基板をカセットの空になっている任意のスロットに載置すること。
【解決手段】基板処理装置は、複数のスロットSを有するカセットCから被処理基板Wを取り出して処理する。基板処理装置は、被処理基板Wを処理する基板処理部45と、被処理基板WをカセットCから基板処理部45へ搬送するとともに、基板処理部45で処理された被処理基板Wを基板処理部45からカセットCへ搬送するための搬送部32,42と、スロットSが空いているかを確認するスロット確認部11と、を備えている。基板処理装置は、被処理基板Wを基板処理部45で処理した後であってカセットCに載置する前に、基板処理部45で処理された後で収納される被処理基板W毎に指定されたスロットSを読み出し、当該スロットSが空いているかをスロット確認部11に確認させる制御部50も備えている。 (もっと読む)


【課題】槽内に入れる液体の量を減らしてコストの削減を図り、且つ熱交換効率のよい恒温槽を提供する。
【解決手段】液体が収納されるタンク31を備え、タンク31内の液体を所定温度に維持する恒温槽30において、タンク31の下部には、循環羽根48が収納された収納部36が設けられ、タンク31の底面には、タンク31内部と収納部36を液体が流通可能となるように連通させる連通孔42が形成され、タンク31と一体に形成され、収納部36に流入した液体をタンク31の外側からタンク31上部へ流通させるための流通管38が複数設けられ、流通管38の外壁に温度を一定に維持するためのサーモモジュール52が設けられ、循環羽根48の駆動によって、タンク31内の液体が収納部36に流入し、収納部36から流通管38を通ってタンク31の上部に流入するように液体が循環する。 (もっと読む)


【課題】基板の中心と回転中心とを一致させ基板を処理することが可能な基板処理装置を提供する。
【解決手段】被処理基板に処理流体を供給して基板処理を行う基板処理部と、前記被処理基板の側面に接触させ、前記被処理基板の位置を定める位置決め機構部と、前記位置決め機構部を駆動する位置決め駆動部と、前記位置決め機構部の位置を検出する検出部と、前記被処理基板の基準となる基準基板に対する前記位置決め機構部の位置を基準位置情報として記憶する記憶部と、前記基準位置情報と前記検出部において検出された前記位置決め機構部の位置情報との差を算出し、前記差より前記被処理基板の実測情報を算出する演算部と、を有することを特徴とする基板処理装置を提供することにより上記課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】真空処理室でプラズマ処理が再開可能な異常が発生した場合に、オペレータによる長時間のウエハの処理再開操作待ちによりウエハに成膜された金属膜の腐食が進行する問題が考慮されていなかった。
【解決手段】本発明はプラズマ処理を行う真空処理室と、洗浄処理を行う洗浄処理装置とを備え、表面に金属膜の単層または金属膜を含む積層膜が成膜されたウエハを腐食性ガスにより、プラズマ処理する真空処理装置において、真空処理室に異常が発生し、プラズマ処理が中断されたウエハを所定時間経過後に、プラズマ処理が中断されたウエハを洗浄処理装置へ搬送し、洗浄処理を行うシーケンスを有する制御手段を備えたことを特徴とする真空処理装置である。 (もっと読む)


【課題】従来懸念された洗浄残り(超音波未照射領域)の発生を低減してウェーハ全体の洗浄度を向上させる。
【解決手段】複数の超音波洗浄槽を用いてウェーハの超音波洗浄を行うに際し、各超音波洗浄槽の底に設置したウェーハ受け台におけるウェーハの受け溝の位置を、各超音波洗浄槽間で相互に異ならせ、もってウェーハに対する超音波の未照射領域をなくす。 (もっと読む)


【課題】他の基板に優先して処理開始すべき基板と、通常のスケジュールで処理される基板とを並行して処理することが可能な基板処理装置等を提供する。
【解決手段】
処理ブロック14a(14b)は、基板搬送部141a、141bを用いて、基板搬入ブロック11から搬入された基板Wに対し、複数の処理ユニット2にて同種の処理を行い、制御部5は他の基板Wよりも処理を優先する優先基板WPが搬送される場合に、複数の処理ユニット2の一部または全部が割り振られた優先処理ユニット2Pのうち、次の基板Wの搬入が可能になった優先処理ユニット2Pに、他の基板Wに優先して優先基板WPを搬入して処理を行う。 (もっと読む)


【課題】ティーチングのための作業者による作業を軽減することができ、かつ、より正確なティーチングを実現することができる基板処理装置およびティーチング方法を提供すること。
【解決手段】ティーチング時においては、制御部によって、ステッピングモータが駆動される。そして、処理液ノズルがホームポジションに位置することが第1センサによって検出された時、および処理液ノズルが第1周縁相当位置に位置することが第2センサによって検出された時に、それぞれ、ステッピングモータの回転量が取得される。それら取得された回転量に基づいて、第1教示情報および第2教示情報が演算され、これら第1教示情報および第2教示情報がモータ制御部21に登録される。 (もっと読む)


【課題】消耗部材の交換頻度を低減できる半導体デバイスの製造装置および製造方法を提供する。
【解決手段】本発明の一態様に係る半導体デバイスの製造装置は、基板の処理条件毎に消耗部材の消費量が記憶されている第1の記憶部と、消耗部材の使用限度と現在の消費量がプロセスチャンバ毎に記憶されている第2の記憶部と、第1,第2の記憶部を参照して、プロセスチャンバ毎に基板の処理可能枚数を算出する算出部と、算出したプロセスチャンバ毎の処理可能枚数に基づいて、基板の処理を指示する割当部と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】半導体装置のウェット処理において、エッチングを制御しながら薬液使用量を削減する。
【解決手段】薬液を用いて複数の基板を順次処理するウェット処理方法は、次の各工程を備える。つまり、第1の基板をウェット処理する際の設備パラメータの値を収集する工程(a)と、設備パラメータに基づいて、工程(a)における基板の被処理層のエッチングレートを算出する工程(b)と、エッチングレートと、被処理層に対して予定したエッチング量とに基づいて、処理時間を算出する工程(c)と、工程(a)の後に、第1の基板とは異なる他の基板について、処理時間のウェット処理を行なう工程(d)とを備える。 (もっと読む)


【課題】有機溶剤を含んだ二酸化炭素を超臨界状態の洗浄剤として、この洗浄剤を洗浄チャンバー内に配された被洗浄物に接触させることにより、前記被洗浄物の洗浄を行う洗浄方法及び洗浄装置において、洗浄時間の短縮化を図ること。
【解決手段】界面活性剤と有機溶剤と超臨界状態の二酸化炭素を混合し、混合流体を被洗浄物に接触させて洗浄する洗浄方法において、前記混合を管内混合手段で行い、該管内混合手段の直後に被洗浄物を配置するとともに、前記混合流体においての重量割合は、二酸化炭素に占める有機溶剤の重量割合を20%以下とし、かつ界面活性剤の重量比率を有機溶剤と略同重量としたことを特徴とする洗浄方法及び洗浄装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】空きリソースの不足の発生を防止することができる、基板処理装置ならびに基板処理装置におけるグラフ描画周期決定方法およびグラフ描画方法を提供する。
【解決手段】基板処理装置1では、データ収集部22により、薬液流量などのデータが一定のデータ収集周期DTで取得される。この取得されたデータは、データバッファ21に一時的に記憶される。データバッファ21からデータを読み出す周期に一致するグラフ描画周期GTは、コンピュータ2のリソースの使用状況の一例であるCPU使用率に基づいて決定される。そして、その決定されたグラフ描画周期GTでデータバッファ21からデータが読み出され、データの時間変化を示すグラフが操作パネル3のディスプレイ31に描画される。 (もっと読む)


【課題】供給しようとする液体に対する不都合を生じさせずに、流量制御器における気泡の発生を確実に防止することができる液供給機構を提供すること。
【解決手段】処理液供給機構3は、処理液タンク21と、処理液供給配管22と、処理液の通流断面積を変化させる可変オリフィス部を有する流量制御器27と、可変オリフィス部より前段の一次側の液圧および後段の二次側の液圧を求める圧力検出器26,28と、予め記憶された、処理液の液圧と対応する液圧における溶存可能な気体成分の量との関係から、処理液から気泡が発生し始める一次側の液圧と二次側の液圧との差圧ΔPsを求め、このΔPsの値以下の閾値ΔPtを設定し、実際に求められた一次側の液圧と二次側の液圧との差圧ΔPeの値がΔPtに達したか否かを判断し、ΔPeの値がΔPtに達したと判断した場合に、処理液の気泡の発生を抑制するように処理液の状態を制御する制御機構30とを有する。 (もっと読む)


【課題】装置設計、コスト、メンテナンス等の負担を軽減し、洗浄工程に要する時間を軽減することが可能な、噴射蒸気により被洗浄物の洗浄を行なうスチームジェット用ノズルを提供する。
【解決手段】ノズル本体10は、蒸気室12と、空気室14と、蒸気室12に通じる蒸気入力口15と蒸気噴射口16と蒸気排気口17と、空気室14に通じる空気入力口18とを有し、蒸気室内12には、噴射用バルブ20と排気用バルブ30を有し、空気入力口18から入力される圧縮空気により、噴射用バルブ20と排気用バルブ30を制御し、洗浄処理時には、蒸気入力口15から入力された蒸気を、蒸気噴射口16から噴出させ、待機時には、蒸気排気口17から排気させる。 (もっと読む)


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