【課題】むだ時間を有する制御対象に対して、オーバーシュートが小さく、整定時間が短く、さらに外乱抑制特性および設定変更特性が良好なプロセス制御装置を提供することを目的とする。
【解決手段】制御対象２について検出される制御量ＰＶが入力され、制御量に基づき、制御量を調整するための操作量ＭＶを出力して制御量を所定の目標値に制御するプロセス制御装置１であって、目標値から制御量を減算する第１減算部３と、第１減算部からの出力値を積算する積算部４と、積算部の出力値を定数倍する第１乗算部５と、制御開始時における制御量である初期制御量を保存する初期制御量記憶部７と、初期制御量記憶部に保存された初期制御量から現時点の制御量を減算する第２減算部８と、第２減算部からの出力値を定数倍する第２乗算部９と、第１乗算部の出力値と第２乗算部の出力値とを加算して操作量として出力する加算部１０とを備える。 （もっと読む）

【課題】低速な走査サイクルを用いる制御システムは、補償制御信号を生成するコントローラと測定デバイスとの間の往復通信時間よりも継続時間が短い高周波プロセス変動に対して補償することができない。
【解決手段】測定デバイスは、比較的に高い周波数でプロセス変数を測定し、測定されたデータの一部（たとえば、低周波数データ）を標準コントローラへ送信する。この標準コントローラは、測定されたプロセスパラメータを任意の公知の方法で制御するための制御信号を生成する。モデリングルーチンは、高周波データを分析し、プロセス変数内の高周波ノイズの数学的モデルを作製する。次いで、結果として得られた数学的モデルは、コントローラによって生成された制御信号が被制御デバイスに対して搬送されるまたは被制御デバイスによって用いられるまえに、当該制御信号を変更するために、補償ルーチンにより用いられうる。 （もっと読む）

【課題】プラントモデルを用いたダイナミックシミュレーションにおける予測の精度を高めることである。
【解決手段】シミュレーション装置１０は、実プラントの測定データと、前記実プラントのプラントモデルのトラッキングモデル部１１３と同じプラントモデルの解析モデル部１１５によりシミュレーションされた将来の予測結果を示す予測データと、が記憶されるデータベース３０から、前記測定データ及び前記予測データを読み出し、当該測定データ及び当該予測データの差分情報を算出し、当該差分情報に応じて当該差分情報に応じて測定データ及び予測データに誤差が発生したか否かを判定し、当該誤差が発生した場合に、トラッキングモデル部１１３の同定計算を行う同定モデル部１１４に、前記差分情報を前記同定計算に用いる誤差情報として出力する比較判定部１１２を備える。 （もっと読む）