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国際特許分類[A61B3/10]の内容

生活必需品 (1,310,238) | 医学または獣医学;衛生学 (978,171) | 診断;手術;個人識別 (80,876) | 眼の検査装置;眼の診察機器 (3,250) | 客観型,すなわち患者の知覚または反応と無関係に眼を検査する装置 (2,691)

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【課題】広い波長帯域の測定光を用いて縦分解能に優れた断層画像の提供を行う。
【解決手段】光干渉断層装置において、光源から出射された光を参照光と測定光に分割する手段と、分散特性が異なる第一の分散補償手段と第二の分散補償手段と、前記測定光を被測定検体に照射することによる戻り光と、前記第一の分散補償手段及び前記第二の分散補償手段とを透過した前記参照光とを干渉させて干渉光を得る手段と、前記干渉光に基づき、前記被測定検体の断層像を取得する手段と、を有することとする。 (もっと読む)


【課題】光学顕微鏡法を用いて解剖学的構造またはサンプルと関連付けられた情報を取得するための装置、構成および方法を提供する。
【解決手段】例えば、解剖学的サンプルに与えるように方向付けられた少なくとも1つの第1の電磁放射、および参照物に方向付けられた少なくとも1つの第2の電磁放射を含む放射を提供することができる。放射の波長は時間とともに変化することができ、波長は約1150nmより短い。干渉は、第5の放射と関連付けられた少なくとも1つの第3の放射と、第2の放射と関連付けられた少なくとも1つの第4の放射との間に検出することができる。サンプルの少なくとも一部分に相当する少なくとも1つの画像を、干渉と関連付けられたデータを用いて生成することができる。さらに、時間とともに変化する波長を有する電磁放射を与えるように構成された少なくとも1つの光源構成部を提供することができる。 (もっと読む)


【課題】光干渉断層撮像装置において、評価領域によって画質評価指標を切り替える。脈絡膜に着目した診断で主に行われるEDI撮像では、網膜断層像の輝度値が低い部分が多いために画質評価指標が小さくなり、正確な評価が出来ないという課題がある。
【解決手段】光源から出射された光を参照光と測定光に分割し、測定光を被測定検体に照射し、その戻り光と参照光とを干渉させ、被測定検体の画像を取得する光干渉断層撮像装置において、画像の撮像条件を設定する手段と、撮像条件に応じて画質評価指標を選択する手段と、設定された撮像条件に応じて撮像された画像から特徴量を取得する手段と、特徴量と画質評価指標に基づいて画像の画質を評価する手段とを有する事。 (もっと読む)


【課題】 被検眼の状態に応じた眼軸長測定を効率よく行う。
【解決手段】 測定光と参照光を干渉させ干渉信号を検出することにより非接触にて被検眼の眼軸長を測定する非接触式眼軸長測定手段と、前記干渉信号の適否を判定することにより、前記非接触式眼軸長測定手段によって得られる被検眼の眼軸長の測定結果が所定の測定条件を満たすか否かを判定する測定判定手段と、前記非接触式眼軸長測定手段にて得られた測定結果、及び超音波を発信し眼組織で反射したエコー信号を受信して被検眼の眼軸長を測定する超音波式眼軸長測定手段にて得られた測定結果を表示手段に表示する表示制御手段と、を備え、前記非接触式眼軸長測定手段に不向きな被検眼であっても、前記超音波式眼軸長測定手段による信頼性の高い測定結果を出力でき、かつ、前記超音波式眼軸長測定手段による眼軸長測定にスムーズに移行可能である。 (もっと読む)


【課題】 白内障眼の眼軸長を好適に測定できる。
【解決手段】 光源から出射された光を分割し、測定ビームを眼底に投光する投光光学系と、眼底で反射された一方の光と他方の光とが合成された光を受光素子に導く受光光学系と、光路差を調整するために配置された光学部材と、を備える測定光学系を有し、受光素子から出力される干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長を測定する眼軸長測定装置において、被検眼前眼部と略共役な位置に撮像面を持つ撮像素子を有し、眼底反射光によって照明された被検眼瞳孔部における徹照像を撮像する撮像光学系と、撮像素子によって取得された徹照像を処理することにより、干渉信号のS/N比が許容値を満たすように設定された所定領域における混濁部の二次元分布を求め、求められた二次元分布に基づいて所定領域内における光透過領域を特定する光透過領域特定手段と、を備える。 (もっと読む)


【課題】 簡単な構成で断層画像をスムーズに取得できる。
【解決手段】 光源から出射された光を測定光と参照光に分割する光分割器と、前記測定光を互いに独立した第1のビームと第2のビームに分けて、各ビームを被検物上の異なる位置に照射しながら走査する走査光学系と、前記測定光の光路中に配置され、前記第1のビームと第2のビームとの間に光路長差を生じさせる光遅延路と、被検物からの前記第1ビームの反射光と,被検物からの前記第2ビームの反射光と,前記参照光と,が合成された合成光のスペクトルを受光する検出器と、検出器から出力される干渉信号を処理して、前記第1ビームによって形成される第1断層画像と前記第2ビームによって形成される第2断層画像とを取得する演算処理部と、を備える。 (もっと読む)


【課題】眼内レンズの計算に好適な、眼の軸方向長さ及び/又は角膜の曲率及び/又は前房深さを非接触的に測定するためのシステム及び方法を提供する。
【解決手段】移植する眼内レンズの計算及び選択を行うために、眼の軸方向長さAL、前房の深さVKT、及び角膜の曲率を非接触的に測定するための一体化装置に関する。 (もっと読む)


【課題】設定した規制位置に対する検眼部の位置が把握できる眼科装置を提供する。
【解決手段】被検眼に対して前後に移動可能な且つ被検眼の検査または測定を行う検眼部と、被検眼の前眼部を表示する表示部10とを備え、検眼部の前後方向の移動可能な範囲内で、検眼部の前方への移動を禁止する規制位置が任意に設定可能な眼科装置であって、検眼部の移動可能な範囲を示すスケール画像G1と、このスケール画像G1に対応させて規制位置を示す規制位置画像G5と、そのスケール画像G1に対応させて検眼部の現在位置を示すマーク像G4とを表示部10に表示する。 (もっと読む)


【課題】断層画像を解析することにより得られる情報に基づき、網膜の湾曲を補正する。
【解決手段】画像処理装置10を、被検眼の眼底の断層画像を取得する画像取得部100と、断層画像から層を抽出する層抽出部140と、前記断層画像の撮影時のコヒーレンスゲートの位置から抽出層までの距離を求める算出手段と、基準位置とコヒーレンスゲートと距離と被検眼の眼軸長とを取得する情報取得手段110と、被検眼との距離である作動距離を、コヒーレンスゲートの位置までの距離、被検眼の眼軸長、及び網膜距離から求める演算手段150と、求めた作動距離に基づいて断層画像を補正する補正手段160と、から構成する。 (もっと読む)


【課題】半導体層を積層して形成された同一層構成の積層面に、発光素子と受光素子とが配設された半導体光集積素子を構成するに当たり、発光素子の動作時には動作電流の増大による発熱や余計な発光を抑えることができ、受光素子の動作時には光の吸収効率を高くする半導体光集積素子を提供する。
【解決手段】基板上に第1の導電型の第1のクラッド層、活性層、及び、第2の導電型の第2のクラッド層を少なくとも含んで積層されてなる発光素子、及び、受光素子が、同一基板上の面内に配置されて成る半導体光集積素子において、
活性層は、導電型の第2の活性領域と、アンドープの第1の活性領域とが積層された構造を備え、
第2の活性領域が、第2の活性領域に対し最も近い位置に積層されている第1もしくは第2のクラッド層と同じ導電型とされている。 (もっと読む)


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