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国際特許分類[B23K26/00]の内容

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【課題】変質層を光デバイス層に達しない範囲に容易に形成できるとともに、デバイスを所定の厚みに形成できる光デバイスウエハの加工方法を提供する。
【解決手段】表面に光デバイス層が積層され格子状に形成された複数のストリートによって区画された領域に光デバイスが形成されたウエハを個々の光デバイスに分割するウエハの加工方法であって、光デバイスウエハ2の表面20aに保護部材30を貼着する工程と、基板20に対して透過性を有する波長のレーザ光線を基板の裏面20b側から基板の内部に集光点を位置付けてストリート22に沿って照射し、基板の内部に光デバイス層21より裏面側にストリートに沿って変質層210を形成する工程と、基板の裏面20bを研削して所定の厚みに形成する工程と、光デバイスウエハに外力を付与して光デバイスウエハを変質層210が形成されたストリート22に沿って破断し、個々の光デバイスに分割する工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】人為的なミス等が発生しても加工済みの穴を重複して加工するという不具合が生じることのないレーザ加工装置を提供することを目的とする。
【解決手段】基板1をレーザ光により加工するレーザ照射手段3と、基板1の位置認識マーク2を画像認識する手段4と、位置認識マークの判定手段5とを備えたレーザ加工装置を用いてプリント配線板を製造し、位置認識マーク2の端部に加工確認マーク19を設けることにより穴明け済みかどうか判別できないような小径穴に対しても加工済みの穴を誤って重複加工するという不具合を解消する。 (もっと読む)


レーザを使用した物質機械加工装置が、パルス・レーザ・ビーム(16)を供給するレーザ(14)と、レーザ・ビームの基本波パワーの測定値、およびさらに周波数逓倍化によってレーザ・ビームから生成された少なくとも1つの高調波のパワーの測定値を取得するための測定機構(30、32、34、36、38)と、測定機構に接続された評価ユニット(22)であって、測定基本波パワー、高調波の測定パワー、およびレーザ(14)の設定放射パワーに依拠してレーザ・ビーム(16)の品質を検査するように設定された評価ユニット(22)とを備える。測定基本波パワーと高調波の測定パワーとの比率を求めることによって、周波数逓倍化のその時点の変換効率を確定することができる。その変換効率は、レーザ・ビーム(16)の波面およびパルス持続時間の品質の測定値である。
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【課題】生産コストを低減し、高精度に基板を分割し得る基板分割装置、及び電子部品の製造方法を提供を提供する。
【解決手段】第1の固定部31は、端縁を分割溝12に一致させて、第2の固定部32とともに基板1を挟持する。また、押圧部33は、分割溝12を境界とした第1の固定部31の反対側において、基板1を分割溝12に沿って押圧する。ここで、第2の固定部32の端縁が、第1の固定部31の端縁から押圧部33側にずれている。第1の固定部31の端縁は分割溝12に一致しているから、断裂の始点が分割溝12の底となる。一方、第2の固定部32の端縁は、第1の固定部31の端縁から押圧部33側にずれているため、基板の曲げの支点がずれて断裂方向が直線状となることにより、断裂の終点は、分割溝のほぼ直下の位置となる。 (もっと読む)


【課題】高精度かつ高速なレーザリペア処理を行うことができるレーザリペア装置を提供する。
【解決手段】CCDカメラ11は、被検査対象となるガラス基板2を撮像して画像情報を生成する。画像処理部12は、画像情報から、欠陥の特徴を示す欠陥特徴情報を生成し、欠陥特徴情報に基づいて、レーザ光を照射する際の照射条件を決定する。リペア用光源14は、画像処理部12から出力された照射条件の情報に基づいて、レーザ光のパワー等を設定し、ガラス基板2の欠陥部をリペアするためのレーザ光rを出射する。DMDユニット16はこのレーザ光を整形する。 (もっと読む)


【課題】生産コストを低減し、高精度に基板を分割し得る基板分割装置、及び電子部品の製造方法を提供を提供する。
【解決手段】発明に係る基板分割装置は、第1〜第3の押圧部31〜33を備え、張設されたフィルム2に貼着された基板1を、この基板1に形成された分割溝12に従って、電子部品の個片に分割する。第1の押圧部31は、分割溝12に従って基板1を押圧する。また、第2及び第3の押圧部32,33は、それぞれ、分割溝12を挟んだ両側の等距離dの位置S2,S3において、第1の押圧部31の押圧方向の反対方向に、分割溝12に沿って基板1を同時に同一圧力P2,P3で押圧する。これにより、分割溝12を支点として基板1を折り曲げ、分割溝12を中心とする両側に、バランスの取れた均一な圧力が加わることになる。 (もっと読む)


【課題】 脆性材料に適した切り欠き加工方法を提供する。
【解決手段】 脆性材料101の所定面102の一部の領域222に光ビーム201を照射して、スポット202を形成する加熱工程と、加熱工程の後、脆性材料101の領域222を含む部分を冷却することにより、領域222を含む脆性材料101の一部110を脆性材料101から剥離して、脆性材料101に切り欠き109を形成する冷却工程とを有しており、所定面102のX方向における領域222の長さLsが、X方向における所定面102の全長Lよりも短く、所定面102のY方向におけるスポット202の長さWsが、所定面102のY方向における全長Wに等しい。 (もっと読む)


【課題】加工精度及び加工品質に優れるレーザ加工方法を提供すること。
【解決手段】レーザビームの照射間隔の最大値Lと、レーザビームを続けて照射する場合の許容回数Nと、休止期間Tと、を予め定めておき、 隣接する照射位置の間隔が前記L未満の場合は、レーザビームを前記回数N照射後、前記休止期間Tの間照射を休止した後、レーザビームの照射を再開する。 (もっと読む)


【課題】 基板に対するパターン形成を迅速且つ正確に行うことができるパターン形成装置を提供する。
【解決手段】 基板が装着される装着部35a,37aをそれぞれ有する一対の移動台26,27と、パターン形成を行う加工手段21と、一対の基板位置検出手段51,52と、基板位置修正手段36,38と、一対の移動台26,27をそれぞれ駆動する駆動手段32とを備え、駆動手段32は、一対の移動台26,27を同一の軸線上で個別に独立して駆動可能であり、一方の移動台26を一方の基板位置検出手段51と加工手段21との間で往復搬送すると共に、他方の移動台27を他方の基板位置検出手段52と加工手段21との間で往復搬送する。 (もっと読む)


【課題】 加工対象物に、複数の加工跡がランダムに形成されるようにする。
【解決手段】 加工対象物OBをセットしたテーブル21を回転させるとともに、加工ヘッド30から出射されたレーザ光により加工対象物OBに形成されたレーザスポットを、テーブル21に対して相対的にテーブル21の半径方向に移動させた状態で、レーザ光源31からパルス列状の加工用レーザ光が出射されるようにレーザ光源31を駆動して、加工対象物OBに、テーブル21の半径方向に沿うとともに、テーブル21の回転方向に沿った複数の加工跡を形成する。そして、テーブル21の半径方向に沿って形成される複数の加工跡の間隔、テーブル21の回転方向に沿って形成される複数の加工跡の間隔、及び形成される複数の加工跡の大きさのうちの少なくとも1つの要素を、ランダムに変化させる。 (もっと読む)


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