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国際特許分類[B81C1/00]の内容

処理操作;運輸 (1,245,546) | マイクロ構造技術 (6,196) | マイクロ構造装置またはシステムの製造または処理に,特に適合した方法または装置 (1,969) | 基層中または基層上での装置またはシステムの製造または処理 (1,249)

国際特許分類[B81C1/00]に分類される特許

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【課題】基板側の電極表面と振動部材の下面とが十分に狭い間隙で対向した構造を有し、ねじり振動を利用するMEMSデバイスを容易に製造する。
【解決手段】MEMSデバイスの製造方法は、基材と、浮き構造体と、浮き構造体の一部の領域に対して離隔対向するかさ上げ対向部とを備える、MEMSデバイスを製造する方法であって、SOI基板を用意する工程S1と、第1シリコン層をパターニングすることによって、かさ上げ対向部、支持梁部などを形成する工程S2と、第1領域を厚み方向の途中までエッチング除去する工程S3と、中間絶縁層の少なくとも一部をエッチングしてかさ上げ対向部と第2シリコン層との間の接続を断つ工程S4と、基材を貼り付ける工程S5と、第2シリコン層をパターニングすることによって浮き構造体を形成するとともに、かさ上げ対向部を外枠部から分離させる工程とを含む。 (もっと読む)


【課題】電子デバイスとその製造方法において、封止による気密性を高めること。
【解決手段】SOI基板1にカンチレバー(可動部分)4xを形成する工程と、カンチレバー4xの上方に、隙間gにより互いに分離された複数の電極膜25A、25B、25C、25G、25を形成する工程と、電極膜25A、25B、25C、25G、25の上に第1の保護膜31を形成する工程と、第1の保護膜31の上に、該第1の保護膜31よりも段差被覆性の良い第2の保護膜32を形成することにより、第2の保護膜32で隙間gを塞ぐ工程とを有する電子デバイスの製造方法による。 (もっと読む)


【課題】犠牲層の改質度をさらに上げて、犠牲層のエッチングレートを向上させることができる半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】犠牲層領域17に対応する支持基板11にレーザ光の焦点54aを合わせ、半導体層13側からレーザ光を照射する。これにより、レーザ光の焦点54aからレーザ光の入射側に伝達する熱応力によって犠牲層領域17に位置する犠牲層12にマイクロクラック12aを形成する。この後、半導体層13の開口部15からエッチング媒体を導入し、マイクロクラック12aが形成された犠牲層12をエッチングして除去することにより、支持基板11に対して構造体22〜24を浮遊させる。このように、犠牲層12にマイクロクラック12aを形成して改質度を向上させているので、犠牲層12の深部にエッチング媒体が入り込みやすくなり、犠牲層12のエッチングレートがさらに向上する。 (もっと読む)


【課題】マイクロ流体デバイス及びその製造方法を提供する。
【解決手段】
マイクロ流体チャネルを有する基板と、プライマ層及び前記プライマ層上に設けられマイクロ流体チャネルに関連して配置された導電層を含む導電性機構とを具備するマイクロ流体デバイスが提供される。前記プライマ層は、(i)有機ポリマーと、(ii)前記有機ポリマーを分散させた多孔性微粒子材料とを含む。前記有機ポリマーは、(a)ビニルラクタム反復単位を含むホモポリマーまたはコポリマー、(b)セルロースエーテル、(c)ポリビニルアルコール、及び(d)未変性ゼラチンまたは変性ゼラチンからなる群から選択される。 (もっと読む)


【課題】櫛歯電極構造を高いアライメント精度で製造する方法を提供する。
【解決手段】シリコン基板151の面151a上に櫛歯電極用マスクパターン152a,152bを形成し、これを介してシリコン基板153を貼り合わせる。シリコン基板151,153の面151b,153bに、櫛歯電極用マスクパターン152a,152bを内包する粗櫛歯マスクパターン154,155を形成する。面153bの側からDRIEをおこなって、粗櫛歯マスクパターン155をマスクにしてシリコン基板153を選択的に除去し、さらに櫛歯電極用マスクパターン152aをマスクにしてシリコン基板151を選択的に除去する。面151bの側からDRIEをおこなって、粗櫛歯マスクパターン154をマスクにして残存シリコン基板151cを選択的に除去し、さらに櫛歯電極用マスクパターン152bをマスクにして残存シリコン基板153cを選択的に除去する。 (もっと読む)


【課題】小型化が可能な加速度センサーを提供する。
【解決手段】基板と、基板上に位置する第1の電極層と、第1の電極層の第1の面と対向して位置する第2の電極層と、第2の電極層を基板に支持する支持部と、を含み、第2の電極層は、上記第1の面に沿った方向に動くことができ、支持部は、第2の電極層が上記第1の面に沿った方向に動くことができるように第2の電極層を基板に支持する。これにより、感度と精度を確保しつつ、基板の面に垂直な方向における加速度センサーの厚みを低減し、加速度センサーを小型化することができる。 (もっと読む)


【課題】テーパ縁を実現するために、MEMSデバイス内に層を形成するための方法が提供される。
【解決手段】特定のMEMSデバイスは、テーパ縁を有するようにパターン形成された層を含む。テーパ縁を有する層を形成するための1つの方法は、エッチング誘導層を使用することを含む。テーパ縁を有する層を形成するための別の一方法は、上方部分が下方部分よりも速い速度でエッチング可能な層を堆積することを含む。テーパ縁を有する層を形成するための別の一方法は、複数の反復エッチングを使用することを含む。テーパ縁を有する層を形成するための別の一方法は、リフトオフマスクの上に層が堆積され、そのマスク層が除去された後、テーパ縁を有する構造が残されるように、負の角度を含む開口を有するリフトオフマスクを使用することを含む。 (もっと読む)


【課題】 基板に沿った方向に相対的に移動可能な一対の対向電極を有するMEMSデバイスにおいて、他方の対向電極の下端部を削ることなく、一方の対向電極の下端部を短く削ることが可能な技術を提供する。
【解決手段】 本発明の製造方法は、半導体ウェハを準備する工程と、半導体ウェハの下側表面から第1導電体層と絶縁体層を貫通して第2導電体層に達する第1溝部を形成する工程と、前記第1溝部に導電体からなる保護部を形成する工程と、半導体ウェハの上側表面にレジストパターンを形成する工程と、反応性イオンエッチング法により第2導電体層に一対の対向電極を形成する工程と、反応性イオンエッチング法を継続して一方の対向電極の下端部を削る工程と、絶縁体層を選択的に除去する工程を備えている。その製造方法では、前記第1溝部は一対の対向電極が対向する方向に関して他方の対向電極の両側面の外側に配置されている。 (もっと読む)


【課題】加熱接合法を利用しても、梁構造体に歪みや変形が生じることを防ぐことができる、梁構造デバイスの製造方法の提供を図る。
【解決手段】犠牲層17を介して支持基板11に梁構造体16を積層して底面側積層体10を形成する。そして、予熱処理によって梁構造体16の結晶構造を安定化させる。その後、犠牲層17を除去して梁構造体16を支持基板11からリリースする。そして、天面側積層体20を底面側積層体10に対して加熱接合法により接合し、梁構造体16を底面側積層体10と天面側積層体20とによるパッケージ構造に内装する。 (もっと読む)


【課題】機械的構造体の適切な、向上した及び/又は最適な動作のための制御された又は制御可能な環境を含むMEMSを提供する。
【解決手段】機械的構造体の少なくとも一部の上に犠牲層を堆積させ、該犠牲層の上に第1の封止層を堆積させ、犠牲層の少なくとも一部を露出させるように第1の封止層を貫通して少なくとも1つのベントを形成し、犠牲層の少なくとも一部を除去してチャンバを形成し、少なくとも1つの比較的安定したガスをチャンバに導入し、少なくとも1つのベント上又は少なくとも1つのベント内に第2の封止層を堆積させ、これにより、チャンバをシールし、この場合、前記第2の封止層が、半導体材料である。 (もっと読む)


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