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国際特許分類[C30B15/00]の内容

化学;冶金 (1,075,549) | 結晶成長 (9,714) | 単結晶成長;そのための装置 (9,714) | 融液からの引出しによる単結晶成長,例.チョクラルスキー法 (1,247)

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【課題】シリコン単結晶中のピンホールの発生を大きく抑制することができるシリコン単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】チョクラルスキー法によるシリコン単結晶の製造方法において、少なくとも前記シリコン原料の溶融後Ssから前記シリコン単結晶の直胴部の引上げ後Esまでの炉内圧制御範囲(Ss−Es間)において、炉内圧を減圧させずに常に漸増Rpさせる(a)、炉内圧を減圧させずに一定Cpとする過程に加え、炉内圧を漸増Rpさせる過程を含む(b)、(c)、及び、炉内圧を減圧させずに一定Cpとする過程と炉内圧を漸増Rpさせる過程を複数含む(d)、等の方法からなり、前記炉内圧の漸増Rpは、20torr以上85torr以下の範囲で行うことが好ましい。 (もっと読む)


【課題】単結晶の抵抗値を再現性よく制御でき、歩留まりが向上する化合物半導体結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】一酸化炭素を含む不活性ガス雰囲気中で、ルツボ内に収容した化合物半導体結晶の原料および封止材を、原料の融点以上に加熱して融解させると共に原料融液の温度を最高到達温度に保って原料融液上に融解した封止材の層を形成し、しかるのち、その封止材の層と原料融液の界面の温度を融点以下に下げ、かつ原料融液に種結晶を接触させると共にこれを引き上げて単結晶を得る化合物半導体結晶の製造方法において、最高到達温度及び/又は封止材の含有水分量を制御して、原料融液に含ませる炭素濃度を調整し、これにより、単結晶の炭素濃度を調整して単結晶の抵抗値を制御する。 (もっと読む)


【課題】監視窓の窓ガラスを湯跳びから保護することができる単結晶製造装置および単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】少なくとも、原料融液3を収容するルツボ4と、前記原料融液3を加熱するヒーター6と、該ヒーター6と前記ルツボ4を格納するチャンバー2を具備し、該チャンバー2に、チャンバー2内部を監視するための監視窓11が備えられたチョクラルスキー法による単結晶製造装置1であって、前記監視窓11は、外気と遮断するため窓ガラス12が嵌め込まれているとともに、該窓ガラス12のチャンバー2内の内側に前記窓ガラス12を保護する遮蔽板16が開閉可能に備えられているものである単結晶製造装置1。 (もっと読む)


【課題】他の結晶特性に影響することなくシリコン単結晶における巨視的ボイドの発生率をさらに減じる。
【解決手段】シリコンから成る単結晶9をるつぼ4に含まれた融液11から引き上げる方法において、引上げの間単結晶9は熱シールド2によって包囲されており、熱シールドの下端部3は融液の表面から所定の距離hに位置しており、ガス流10が、単結晶9と熱シールド2との間の領域を下方へ、熱シールド2の下端部3と融液11との間を外方へ、次いで熱シールド2の外側の領域において再び上方へ流れ、下端部3における熱シールド2の内径DHSが単結晶9の直径DSCよりも少なくとも55mmだけ大きく、下端部3における熱シールド2の半径方向幅BHSUが単結晶9の直径DSCの20%以下である。 (もっと読む)


【課題】単結晶引上げ装置に用いられる断熱板の取り付け、取り外しを安全かつ効率的に行うことができる単結晶引上げ装置の断熱板移載治具を提供する。
【解決手段】単結晶引上げ装置において、断熱板を昇降、移送するチェーン又はワイヤーの先端に取り付けられ、断熱板を支持する断熱板移載治具31であって、少なくとも、断熱板の貫通孔内を通過可能な下板27を有する本体部36と、下板27に水平回転可能に一端が取り付けられ、断熱板を支持する2つ以上の支持アーム23、23’、23’’とを備え、支持アーム23、23’、23’’が水平回転することによって、支持アーム23、23’、23’’が取り付けられた下板27が断熱板の貫通孔を通過可能、又は、支持アーム23、23’、23’’により断熱板を支持可能になるものである単結晶引上げ装置の断熱板移載治具31。 (もっと読む)


【課題】縮径部の最小径が5mm以上と太い場合であっても、転位が増えることによるネック部の最小径部分における強度低下を防止すると共に、当該ネック部において、転位を消滅させて無転位のシリコン単結晶を製造することができるシリコン単結晶の製造方法の提供。
【解決手段】種結晶50の直下に、最小径が5.0mm以上である第1縮径部60aを形成し、次いで、前記最小径から結晶径を拡径させて、最大径が前記種結晶の結晶径よりも小さい拡径部70を形成し、次いで、前記最大径から結晶径を縮径させて、最小径が5.0mm以上である第2縮径部60bを形成し、前記拡径部70及び前記第2縮径部60bをこの順で交互に繰り返し形成すると共に、前記第1縮径部60aの縮径率を前記第2縮径部60bの縮径率より大きくネック部55を形成する。 (もっと読む)


【課題】縮径部の最小径が5mm以上と太い場合であっても、転位が増えることによるネック部の最小径部分における強度低下を防止すると共に、当該ネック部において、転位を消滅させて無転位のシリコン単結晶を製造することができるシリコン単結晶の製造方法の提供。
【解決手段】
種結晶50をシリコン融液16に接触させた後、種結晶50から結晶径を縮径させて、種結晶50の直下に、最小径d1が5mm以上である縮径部60を形成し、次いで、最小径d1から結晶径を拡径させて、最大径が種結晶50の結晶径よりも小さい拡径部70を形成し、縮径部60及び拡径部70をこの順で交互に繰り返し形成すると共に、縮径部60の縮径率を0.6mm/mm以上1.5mm/mm以下としてネック部55を形成する。 (もっと読む)


【課題】シリコンから成る半導体ウェハを、高い歩留りで、かつ経済的な引き上げ速度で製造する。
【解決手段】増大する直径を有する円錐状セクションと、少なくとも450mmの直径とるつぼに含まれた融液から少なくとも800mmの長さとを有する隣接する円筒状セクションとを備える単結晶を、円錐状セクションから円筒状セクションへの移行部を引き上げる過程において、円筒状セクションの引上げ中の平均引上げ速度よりも少なくとも1.8倍高い引上げ速度で引き上げ、成長する単結晶を少なくとも20kWの冷却電力で冷却し、るつぼの側壁から成長する単結晶に熱を供給し、成長する単結晶を包囲する熱シールドと融液の表面との間に、少なくとも70mmの高さを有する間隙が存在しており、円筒状セクションから半導体ウェハをスライスし、複数の半導体ウェハが、半導体ウェハの中心から半導体ウェハのエッジまで延びた、v−欠陥を備えた領域を有している。 (もっと読む)


本発明は、単結晶成長装置の断熱装置およびこれを含む単結晶成長装置に関するものである。本発明の単結晶成長装置の断熱装置は、単結晶成長装置のチャンバー内に設置される断熱装置において、前記断熱装置は、第1距離に離隔されて形成される複数の断熱ブロックを含む。 (もっと読む)


【課題】単結晶や多結晶の結晶成長を行う際に、原料融液の漏れを即時に検知できる漏洩検出方法を提供する。
【解決手段】 本発明に係る漏洩検出方法では、シリコンウエーハに双極電極を設けて形成した検出手段を、原料を溶融させる坩堝を内包する炉の底部一面に敷設し、前記検出手段の電極間の短絡及び/又は電流の変化を検出する。前記検出手段は、シリコンウエーハ間に薄板ゲルマニューム単結晶を挟んだ状態で、前記薄板ゲルマニューム単結晶の融点近傍まで昇温し、前記シリコンウェーハを前記薄板ゲルマニューム単結晶で接着し一体化したもので構成されたものであってもよい。 (もっと読む)


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