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国際特許分類[C30B23/02]の内容

化学;冶金 (1,075,549) | 結晶成長 (9,714) | 単結晶成長;そのための装置 (9,714) | 蒸発または昇華した物質の凝固による単結晶成長 (349) | エピタキシャル層成長 (329)

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【課題】 結晶基板の利用率の低下を抑制しつつ、単結晶基板の特徴を目視で判別可能な単結晶基板、及び、その単結晶基板の製造方法を提供する。
【解決手段】
主面10を有する単結晶基板1Aであって、主面10には、垂直方向zに凹み、垂直方向zから視て、直線状に延びる少なくとも1つ以上の直線凹部50が設けられ、少なくとも1つ以上の直線凹部50に含まれる第1直線凹部50aの延在方向e1は、単結晶基板1Aの結晶方位a3と一致する。 (もっと読む)


【課題】特性の均一性に優れた炭化珪素インゴットおよび当該炭化珪素インゴットをスライスすることより得られる炭化珪素基板、ならびにこれらの製造方法を提供する。
【解決手段】炭化珪素インゴットの製造方法は、(0001)面に対してオフ角が1°以下であり、単結晶炭化珪素からなるベース基板1を準備する工程と、ベース基板1の表面4上に炭化珪素層を成長させる工程とを備える。炭化珪素層を成長させる工程では、炭化珪素層の成長方向側から見たときの幅方向における温度勾配を10℃/cm以下とする。このようにすれば、得られた炭化珪素インゴットはその成長最表面9について中央部を含むほぼ全面がファセット面5になっているため、外周端部のみを研削することで全面がファセット面5となった炭化珪素インゴットを得ることができる。 (もっと読む)


【課題】単結晶成長表面と原料表面との温度差をより一層増加可能で、長時間に亘る成長でも、成長速度が落ちることなく結晶成長を行うことが可能な化合物半導体単結晶の製造装置および製造方法を提供する。
【解決手段】成長容器1内の一端側に種結晶9を、他端側に原料6を配置し、原料6を昇華させて単結晶5を製造する製造装置100であって、加熱炉4と、成長容器1の周囲に配置され加熱炉4内を低温区画17と高温区画18に仕切る熱遮蔽部材12と、高温区画内18にあって成長容器1の他端側の周囲に配置される原料加熱手段3と、成長容器1を支持した状態で移動可能な支持部2とを備え、支持部2は単結晶5を成長させるときに、単結晶成長部15が低温区画17に存在し、原料部16が高温区画18に存在するように、低温区画17側に成長容器1を移動可能であることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】複数のチップ基板を用いて、大型で結晶性の高いIII族窒化物結晶を成長させるIII族窒化物結晶の成長方法を提供する。
【解決手段】本III族窒化物結晶の成長方法は、(0001)面からのオフ角ψを有する主面10mと複数の側面10sとを有し、側面10sのそれぞれの法線Na,Nb,Ncと<0001>軸を主面に投影した方向Chとのなす角α,β,γが90°以外の角であるIII族窒化物チップ基板10を複数準備する工程と、複数のIII族窒化物チップ基板10を、III族窒化物チップ基板10のそれぞれの<0001>軸Cの方向が互いに平行になるように側面10sを互いに隣接させて配置する工程と、配置された複数のIII族窒化物チップ基板10の主面10m上にIII族窒化物結晶20を成長させる工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】種結晶の側面や表面外周部からの原子の脱離を抑えることができ、高品質な単結晶の作製が可能な単結晶の製造方法を提供すること。
【解決手段】単結晶の製造方法は、種結晶9が固定された坩堝蓋8で密閉される坩堝7内に原料6を配置して、原料6を昇華させて単結晶を製造する単結晶の製造方法であって、坩堝蓋8に固定された種結晶9の露出面を覆うように、予め、種結晶9が昇華しない温度領域で結晶薄膜15を形成する成膜工程と、結晶薄膜15が形成された坩堝蓋8で坩堝7を密閉して、原料6を昇華させて単結晶を成長させる成長工程と、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】
低抵抗、高密度窒化ガリウム系成形物、直流スパッタリングを可能とする窒化ガリウム系スパッタリングターゲットを提供する。
【解決手段】
窒化ガリウムと金属ガリウムが成形物中で別の相として存在しており、かつ前記成形物全体におけるGa/(Ga+N)のモル比が55%以上80%以下であることを特徴とする金属ガリウム浸透窒化ガリウム成形物。 (もっと読む)


【課題】SiC単結晶成長に伴う蓋材の変形によりSiC単結晶が劣化することを抑制する。
【解決手段】台座5を蓋材1bと別部材で構成すると共に、台座5の材料としてSiCと熱膨張係数がほぼ同じものを選択する。このようにすれば、SiC単結晶4の結晶成長後の冷却過程において蓋材1bにSiC多結晶が成長した影響で蓋材1bが変形したとしても、接合部材6を介して蓋材1bに貼り合わされた台座5にはその影響があまり伝わらない。さらに、台座5も加熱により熱膨張することになるが、台座5の熱膨張係数がSiCの熱膨張係数とほぼ同じになるようにしているため、SiC単結晶基板3は台座5の熱膨張係数の影響を殆ど受けないで済む。また、蓋材1bと台座5との間に薄板状の緩衝材7を配置し、緩衝材7の両面に接合部材8、9を配置する。これにより、より結晶成長後の蓋材1bの変形による影響が台座5に伝わり難くなるようにできる。 (もっと読む)


【課題】 目的とする析出部に効率良く、しかも結晶性の良好な窒化アルミニウム単結晶を製造する方法を提供すること。
【解決手段】 本発明に係る窒化アルミニウム単結晶の製造方法は、
原料供給部に配置した原料ガス発生源を原料ガス発生温度Tに加熱して、原料ガスであるアルミニウムガスまたはアルミニウム酸化物ガスを生成し、
窒化アルミニウム単結晶成長用基板を配置した析出部に該原料ガスおよび窒素ガスを供給して、該基板上に窒化アルミニウム単結晶を製造する方法において、
該原料ガスおよび窒素ガスからの単結晶窒化アルミニウムの析出開始温度Tと、前記原料ガス発生温度Tと析出部温度Tとが、下記条件を満たす条件下で窒化アルミニウム単結晶を成長させることを特徴としている。
≦T<T (もっと読む)


SiC昇華結晶成長において、坩堝は、間隔を隔ててSiC原料とSiC種結晶とが充填され、邪魔板は、成長坩堝内の種結晶の周囲に配置されている。成長坩堝内の邪魔板の第1側面は、SiC種結晶上にSiC単結晶を成長する成長領域を画定する。成長坩堝内の邪魔板の第2側面は、SiC単結晶の周囲の気化ガス捕獲トラップを画定する。SiC原料を昇華させて、SiC種結晶上へ気化ガスを析出することにより、SiC結晶を成長する成長領域に移送する気化ガスを形成するような成長温度に坩堝は加熱される。この気化ガスの一部は、SiC結晶の成長中に成長領域から取り除かれる気化ガス捕獲トラップに入る。 (もっと読む)


【課題】酸化物薄膜の形成の直前に配向金属基板を還元雰囲気下で熱処理を行うに際して、必要以上に熱処理時間を長くしてコストアップを招くことがなく、また、必要以上に熱処理温度を高くして品質の低下を招くことがない酸化物薄膜の成膜装置およびこのような装置を用いた酸化物薄膜の成膜方法を提供する。
【解決手段】長尺の配向金属基板の表面の酸化層を除去する還元熱処理室の直後に、還元熱処理室より搬送された配向金属基板の表面に酸化物薄膜を成膜する成膜室を備えた酸化物薄膜の成膜装置であって、還元熱処理室と成膜室との間に、還元熱処理室および成膜室の互いの雰囲気を実質的に独立した雰囲気とする雰囲気遮断部が設けられ、さらに、還元熱処理室および成膜室のそれぞれにガス供給機構および排気機構が設けられている酸化物薄膜の成膜装置とそれを用いた成膜方法。 (もっと読む)


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