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国際特許分類[C30B29/10]の内容

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国際特許分類[C30B29/10]に分類される特許

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【課題】光学的用途に適した、改良されたスピネル材料ならびにそれらの改良された製造方法を提供する。
【解決手段】融液法により形成される単結晶スピネルブールであり、そのブールは非化学量論的な組成を有し、約20%以上の収率で表される、減少した機械的応力もしくはひずみを有し、ここで収率は式Wi/(Wi+Wf)×100%であり、Wi=ブールから加工処理された無傷ウェハの数、そしてWf=ブールにおける機械的内部応力もしくはひずみによる、ブールからの破壊されたウェハの数である、単結晶スピネルブール。前記単結晶スピネル非化学量論的組成を有し、波長範囲にわたって吸光率により表される透明性窓を有し、その波長範囲は通常、約400nm〜約800nmに延び、透明性窓は波長範囲に沿って最大単一吸光率ピーク高さとして定義され、最大単一吸光率ピーク高さは0.35cm−1以下である (もっと読む)


【課題】ホウ化物単結晶の成長工程において不純物を除去し、結晶性に優れたホウ化物単結晶を製造することができるホウ化物単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】ホウ化物単結晶の製造方法は、浮遊帯域法により化学式XB(XはZr,Ti,Cr,Hf及びTaから選ばれる少なくとも1種である)で表されるホウ化物単結晶またはホウ化物多結晶から成る棒状体を、水素ガスを含む不活性ガスからなる雰囲気ガス9中で作製し、次に棒状体を原料棒6として用いて浮遊帯域法により化学式XB(XはZr,Ti,Cr,Hf及びTaから選ばれる少なくとも1種である)で表されるホウ化物単結晶を製造する。 (もっと読む)


【課題】大面積の基板上に結晶性に優れたオキシカルコゲナイド系半導体単結晶薄膜を製膜することができるオキシカルコゲナイド系半導体単結晶薄膜の製造方法を提供する。
【解決手段】基板11上に非単結晶AMOX系薄膜(Aはランタノイド元素およびYからなる群より選ばれた少なくとも1種類の元素、MはCuおよびCdからなる群より選ばれた少なくとも1種類の元素、XはS、SeおよびTeからなる群より選ばれた少なくとも1種類の元素)12を製膜し、その表面の少なくとも一部をA、MおよびXからなる群より選ばれた少なくとも1種類の元素を含む材料からなる粉末で覆い、この粉末に圧力を加えて圧粉体17とした後、真空または不活性ガス雰囲気中でアニールすることによりこの非単結晶AMOX系薄膜12を結晶化して単結晶AMOX系薄膜を製造する。 (もっと読む)


【課題】大径化の要求や、消費電力の低減の要求に十分に対応しながら、クラック等のない、良好な単結晶を育成することができる単結晶育成装置を提供する。
【解決手段】育成する単結晶13の原料からなる原料棒2の、軸方向の、一定長の領域を、誘導加熱によって溶融させるための誘導コイル6を、前記単結晶13の原料の融点M0に対して、式(1):
0<M1 (1)
を満足する融点M1を有し、かつ抵抗率(20℃)が15μΩ・cm以下の材料によって形成した単結晶育成装置1である。 (もっと読む)


【課題】転位密度の小さい、良好なGaN系半導体層を形成することができる、半導体層成長用基板と、それを用いた、特性に優れた半導体装置とを提供する。
【解決手段】半導体層成長用基板は、GaN系半導体層を成長させるための主面の、X線反射率法によるX線反射率曲線の半値幅を100秒以下とし、かつ、前記主面に、原子ステップ構造を形成した。半導体装置は、前記半導体層成長用基板と、前記半導体層成長用基板の主面上にエピタキシャル成長させたGaN系半導体層とを備える。 (もっと読む)


本発明は、新規水素化シリコンゲルマニウム化合物、それらの合成法、それらの成膜法、およびそれらの新規化合物を用いて作製された半導体構造を提供する。これらの化合物は、式:(SiHn1)x(GeHn2)yによって定義される。式中、xは2,3または4であり;yは1,2または3であり;x+yは3,4または5であり;n1は、化合物中の各Si原子に関して独立に0,1,2または3であって原子価を満たし;n2は、化合物中の各Ge原子に関して独立に0,1,2または3であって原子価を満たし;但し、yが1のとき、n2は0ではなく;さらに、xが3、かつ、yが1のとき、n2は2または3であり;さらに、xが2、かつ、yが1のとき、n2は3である。
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【解決手段】単結晶ウエハ1の外周の角に面取り部1aを設けている。この面取り部1aと単結晶ウエハ1の主面1dとのなす角度ψが、容易破断面1eと主面1dとのなす角度θよりも小さくなるように加工されている。
【効果】面取り部1aのカケ等の割れが容易破断面1eに沿って進む際、それが単結晶ウエハ1の外周に向かいやすくなるので、単結晶ウエハ1に大きなクラックが生じることを防止することができる。 (もっと読む)


【課題】二ホウ化ジルコニウム単結晶よりも融点が低く、それ故、低コストで供給でき、且つ、二ホウ化ジルコニウム単結晶と同等の格子定数と熱膨張係数を有する新規な二ホウ化物単結晶を提供する。
【解決手段】 二ホウ化ジルコニウムと、所定の固溶度のV族二ホウ化物とからなる、固溶体単結晶である。V族二ホウ化物が二ホウ化ニオブである場合は、固溶度が5モル%から12モル%の範囲で、また、V族二ホウ化物が二ホウ化タンタルである場合は、固溶度が5モル%から9モル%の範囲で、二ホウ化ジルコニウム単結晶と同等の格子定数と熱膨張係数を有する固溶体単結晶が得られる。 (もっと読む)


【課題】高温において十分な組織安定性を有し、これによって十分な高温強度を有して実用に足る(C40/C11b)複相シリサイドの作製方法、並びにこの(C40/C11b)複相シリサイドを提供する。
【解決手段】光学式浮遊帯域溶融法により(Mo0.85Nb0.15)Siなる組成の多結晶状のバルク体1から、2.5mm/時間以下の結晶化速度で、平衡状態図におけるC40の固相線上における液相濃度(CLE)と固相濃度(C)との平衡状態が維持されるようにして凝固させ、C40単相の結晶3を得る。次いで、この結晶3に対して非酸化性雰囲気で加熱処理を施すことにより、C40相からC11b相を晶出させ、C40相とC11b相とからなる(C40/C11b)複相シリサイドを得る。 (もっと読む)


【課題】 窒化ガリウム系化合物半導体の成長性を大幅に改善することができる単結晶基板を提供すること。
【解決手段】 基板1の主面1a上にZr1−xTi(ただし、0<x≦1)から成る層である硼化ジルコニウム・チタン層2をエピタキシャル成長して新たな表面2aを(0001)面とした単結晶基板である。チタン(Ti)が介在することにより、基板1への硼化ジルコニウム・チタン層2の成長性および硼化ジルコニウム・チタン層2への窒化ガリウム系化合物半導体の成長性が改善される。 (もっと読む)


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