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国際特許分類[C30B9/00]の内容

化学;冶金 (1,075,549) | 結晶成長 (9,714) | 単結晶成長;そのための装置 (9,714) | 溶融溶媒を用いる融液からの単結晶成長 (156)

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【課題】遷移金属窒化物を、低温、低圧において得ることができる遷移金属窒化物の製造方法を提供する。
【解決手段】酸化タンタルと窒化リチウムを入れたグラファイトるつぼ1を圧力容器2に静置し、圧力容器2を電気炉3にセットする。次に、窒素ガス配管4に取付けられたバルブ42を介して真空ホースを接続し、真空ポンプにより圧力容器2内を減圧後、バルブ42を閉じ、バルブ41を開いて圧力容器2にアンモニアガス50を導入して加圧し、加熱反応させてリチウムアミドを生成させる。引き続き加熱反応させ、反応終了後、圧力容器2を冷却し、グラファイトるつぼ1の中の生成物6を取り出す。生成物6に1規定塩酸を加え未反応のリチウムアミドを溶解し、この溶液をろ紙によりろ過することにより固形生成物としてTaNを得る。 (もっと読む)


【課題】Ga融液を用いる液相法において、融液に原料以外の不純物を添加することなく、また、結晶成長装置を大型化することなく、転位密度が低く結晶性が高いGaN結晶の成長方法を提供する。
【解決手段】本GaN結晶の成長方法は、一主面10mを有するGaxAlyIn1-x-yN種結晶10aを含む基板10を準備する工程と、基板10の主面10mにGa融液3に窒素の溶解5がされた溶液7を接触させて、1050℃以上1250℃以下の雰囲気温度下、2μm/hr以下の結晶成長速度で、主面10m上にGaN結晶20を成長させる工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】GaN結晶などの第13族金属窒化物結晶を安定で継続的に成長させることができる方法を提供する。
【解決手段】第13族金属窒化物結晶を成長させる液中の窒素元素と第13族金属元素のモル比(N/第13族金属)を3.5〜50の範囲内に保持する。窒化物の添加は、第13族金属窒化物結晶を成長させる液中に断続的に行ってもよいし、連続的に行ってもよいが、より安定で継続的な結晶成長を実現するためには、連続的に窒化物の添加を行うことが好ましい。窒化物の添加方法は特に制限されず、気相の窒化物、液相の窒化物、固相の窒化物のいずれを液中に添加してもよい。GaNなどの第13族金属窒化物を添加すれば、液中の窒素元素と第13族金属元素のモル比も調整することができる。また、液中には、窒化物自体を添加せずに、窒化物を徐々に液中に供給することができる固体状の窒化物供給化合物を添加してもよい。 (もっと読む)


【課題】III族窒化物を、低温、低圧において得ることができるIII族窒化物の製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明は、III族金属と窒化リチウムとをアンモニア雰囲気中において加熱処理することによりIII族窒化物を得る、III族窒化物の製造方法にある。上記III族金属は、ガリウムであることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】遷移金属窒化物を、低温、低圧において得ることができる遷移金属窒化物の製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明は、遷移金属原料物質とリチウムアミドとを非酸素雰囲気中において反応させることにより遷移金属窒化物を得る、遷移金属窒化物の製造方法にある。上記非酸素雰囲気は、アンモニア雰囲気であることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】Naフラックス法によるGaN結晶育成において、雑晶の発生を抑制することができるIII族窒化物半導体結晶の製造方法、およびIII族窒化物半導体製造装置を提供する。
【解決手段】III族窒化物半導体製造装置は、窒素溶解手段10と、電磁ポンプ11と、配管12と、配管12に連結接続し、種結晶18が配置された育成用配管13と、育成用配管13の外側に配置された温度制御装置14aとを有している。窒素溶解手段10により窒素を溶解させた混合融液17は、電磁ポンプ11により配管12内を結晶しない温度、圧力で循環する。温度制御装置14aによる温度制御とバルブ12v1、v2による圧力制御によって育成用配管13内のみが結晶育成可能な状態にする。混合融液17が軸方向に流動した状態でGaN結晶が育成するため、雑晶の発生が抑制される。 (もっと読む)


【課題】光の吸収係数の小さいIII族窒化物結晶基板およびその製造方法ならびにIII族窒化物半導体デバイスを提供する。
【解決手段】反応容器51内にアルカリ金属元素含有物1と、III族元素含有物2と、窒素元素含有物3とを導入する工程と、反応容器51内に少なくともアルカリ金属元素、III族元素および窒素元素を含有する融液5を形成する工程と、融液5からIII族窒化物結晶6を成長させる工程とを含み、融液5からIII族窒化物結晶6を成長させる工程において、III族窒化物結晶の成長温度を880℃以上とする。 (もっと読む)


【課題】フラックス法による結晶育成終了後の降温時において、低品質の結晶が成長しないIII族窒化物半導体結晶の製造方法、およびIII族窒化物半導体製造装置を提供する。
【解決手段】III族窒化物半導体製造装置は、Siが混合されたNa融液を坩堝11中の混合融液14に供給する融液供給装置17を有している。GaN結晶の育成終了後、融液供給装置17によって混合融液14にSiが混合されたNa融液を供給し、その後に降温する。SiはGaNの結晶成長を阻害する効果があるため、混合融液14にSiが導入された段階でGaN結晶の成長が停止する。したがって、降温中に低品質の結晶が成長することが無くなる。 (もっと読む)


【課題】液相成長法において、種結晶の結晶成長面における多核成長およびインクルージョンの発生を抑制し、前記結晶成長面に結晶を層成長させることが可能であり、結晶の品質、厚みの均一性および成長レートが向上したIII族元素窒化物結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】III族元素、アルカリ金属およびIII族元素窒化物の種結晶20を結晶成長容器18に入れ、窒素含有ガス雰囲気下において、前記結晶成長容器内18を加圧加熱し、前記III族元素、前記アルカリ金属および前記窒素を含む融液21中で前記III族元素および前記窒素を反応させ、前記種結晶20を核としてIII族元素窒化物結晶を成長させるIII族元素窒化物結晶の製造方法であって、前記融液21を、前記結晶成長面22に沿って一定方向に流動させた状態で、前記種結晶20の結晶成長面22にIII族元素窒化物結晶を成長させる。 (もっと読む)


【課題】積層方向に圧電効果の生じない半導体素子を形成するための、主面がc面でないIII族窒化物系化合物半導体厚膜結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】アルカリ金属を用いたフラックス法によるIII族窒化物系化合物半導体の製造方法において、種結晶として、主面の法線ベクトルが、m軸から+c軸方向に0.2度以上5度以下回転した方向であるIII族窒化物系化合物半導体基板10を用いて、その上にフラックス法によりIII族窒化物系化合物半導体の結晶成長部11を形成させることにより、主面の法線が、m軸から+c軸方向に0.2度以上5度以下回転した方向であるIII族窒化物系化合物半導体の厚膜結晶100が得られる。III族窒化物系化合物半導体基板10の代わりに、異種基板上に形成した、主面の法線ベクトルが、m軸から+c軸方向に0.2度以上5度以下回転した方向であるIII族窒化物系化合物半導体膜を用いてもよい。 (もっと読む)


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