説明

国際特許分類[G01B15/02]の内容

国際特許分類[G01B15/02]に分類される特許

81 - 90 / 151


【課題】配管内の減肉を計測する、マイクロ波配管減肉計測システムの提供
【解決手段】マイクロ波を配管内に伝播させ、マイクロ波の波長が配管の内径に依存する特徴を利用して、配管内の減肉により発生するマイクロ波の波長変化を計測することにより、マイクロ波非破壊検査を行うものである。配管内を伝播するマイクロ波の波長の変化を高感度に計測するために、配管内のマイクロ波を共振させることにより、マイクロ波の波長変化の計測を行う。
マイクロ波の発生、マイクロ波の計測、周波数の掃引等の制御には、ネットワークアナライザ100を用いた。ネットワークアナライザ100のマイクロ波発生部102から配管内へのマイクロ波の導入、配管内からのマイクロ波の引出、計測部104への導入には同軸ケーブルセンサ108を用いた。測定対象としたのは、円筒管110である。 (もっと読む)


【課題】試料分析の精度を向上させる。
【解決手段】本発明の試料分析装置1は、基板上に薄膜が形成された試料12に、例えば、X線あるいは中性子線を照射し、薄膜の構造パラメータを解析する試料分析装置1であり、試料12を反射したX線あるいは中性子線の強度を測定する測定手段と、試料12を透過したX線あるいは中性子線の強度を測定する測定手段と、を備えたことを特徴とする。このような試料分析装置1によれば、測定データとして、試料12を反射したX線あるいは中性子線の反射率が測定されると共に、試料12を透過したX線あるいは中性子線の透過率が測定されるので、測定データの数が増加し、残差二乗和によって導出される構造パラメータの精度が向上する。 (もっと読む)


【課題】X線に基づいた分析の際に対象物にビームをマッチングさせる際の問題点を解決する。
【解決手段】検査方法は、サンプルの表面上においてスポットを画定するべく合焦されるX線ビームを使用してサンプルを照射する段階を含んでいる。表面上の特徴部を横断するスキャン経路に沿ってスポットをスキャンするべく、サンプル及びX線ビームの中の少なくとも1つをシフトさせる。スポットが異なる個々の程度の特徴部とのオーバーラップを具備しているスキャン経路に沿った複数の場所において、X線ビームに応答してサンプルから放射される蛍光X線の個々の強度を計測する。スキャン経路における放射蛍光X線の調節値を演算するべく、複数の場所において計測された強度を処理する。調節済みの値に基づいて、特徴部の厚さを推定する。 (もっと読む)


【課題】高炉の炉内状況の推測は温度計測に依存しているのが現状で、耐火レンガの損耗を推定するのに利用された宇宙線ミュオンを用いて炉内状況の推定を行う。
【解決手段】宇宙線ミュオンを計測する計測装置により高炉を透過して飛来する高炉透過の宇宙線ミュオン強度と、該高炉透過の宇宙線ミュオンの飛来方向の判別情報と、高炉を非透過の非透過宇宙線ミュオン強度とを一定時間蓄積し、該実測による蓄積データに基づいて、高炉の状態を密度として炉底透過の宇宙線ミュオン強度と非透過宇宙線ミュオン強度との強度比で表し、特定箇所における強度比より当該箇所に存在する炉内充填物の密度を求め、該密度より炉内を構成する充填物を推定する。 (もっと読む)


【課題】人為的判断が入らず、条件により値が変わるなどの不正確さがなく、かつ磁性塗膜以外も適用可能な層厚さ測定方法及び層の界面平滑度の測定方法を提供する。
【解決手段】元素組成の異なる層を有する構造物における層厚さ測定方法であって、前記構造物の断面を作製する断面作製工程1と、前記断面の断面画像を取得する画像取得工程2と、前記取得した断面画像から画像輝度データを得る画像輝度データ取得工程3とを備えており、前記断面画像の厚さ方向において、前記断面画像の前記画像輝度データの変化率が極値となる位置を前記層の界面位置とし、前記界面位置に基づいて前記層の厚さを求める。 (もっと読む)


【課題】 通電状態でターゲット電流設定値を自動的に最適な値に変更することができるX線厚さ測定装置を提供する
【解決手段】 駆動回路13によって電流駆動されるX線源14から出射されたX線が、被測定体30を通過した透過量をX線検出器21で検出し、透過量から被測定体21の厚さを測定するX線厚さ測定装置において、X線源14と検出器21との間の空気層による透過量が目標値と等しくなるように駆動回路13を制御する制御手段71と、制御手段71から出力される信号を保持し、厚さ測定時に駆動回路13の電流設定信号として出力する保持手段73とを備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】物理量検査領域の各区画毎に、物理量算出結果をそれに対応するX線画像と関連付けた把握容易な表示を行なうことができるX線検査装置を提供する。
【解決手段】X線源2と、X線検出部4と、データ処理部6と、表示部20とを備えたX線検査装置において、被検査物の質量検査領域を複数の区画A,B,Cに分割し、X線検出部4からの検出情報のうち所定検出レベル範囲の検出情報を複数の区画の各区画毎に抽出して質量測定領域のX線画像をX線画像生成部11に生成させる領域抽出処理部8と、この領域抽出処理部8で抽出された検出情報に基づいてワークWの質量を算出する質量算出部13と、複数の区画における質量測定領域のX線画像と質量算出部13で算出された質量を示す複数のグラフ表示要素43,44,45とをそれぞれ関連付けて表示部20に表示させる表示データ生成部15とを設ける。 (もっと読む)


【課題】本発明は、発錆部位の検出と共に、発錆部位の補修の要否を判定できる表面が被覆された円筒部材の錆検査方法及びその装置を提供することにある。
【解決手段】本発明は、表面が外被部材2被覆された円筒部材(1)の錆検査方法として、外被部材2の上から円筒部材(1)の表面の発錆部位を検出し、その後、外被部材2の上から発錆部位における円筒部材(1)の減肉量を測定するようにしたのである。
このように、発錆部位を検出した後、発錆部位における円筒部材(1)の減肉量を測定することで、発錆部位の補修の要否を判断することができ、外被部材を不用意に撤去する無駄な作業を無くすことができる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、円筒部材上の外被部材を破壊しないことは勿論のこと、円筒部材の発錆部位と減肉量を容易に検出できる表面が被覆された円筒部材の錆検査方法及びその装置を提供することにある。
【解決手段】本発明は、放射線を円筒部材(1)の表面の接線方向に沿って照射する放射線照射部(7)と、照射された放射線により前記円筒部材の表面の透過像を結像する放射線撮像部(8)と、これら放射線照射部(7)と放射線撮像部(8)とを一体的に支持する筐体6とを備え、かつ前記放射線撮像部(8)での結像を処理して前記円筒部材の減肉量を判定する透過像処理部10を設けたのである。 (もっと読む)


【課題】
本発明の課題は、従来の技術が有する上記問題点を解決し、管状物の内外径および肉厚を簡便かつ精度よく測定可能とする測定方法を提供すること
【解決手段】
本発明の解決手段は、放射線源から照射され、管状物を透過した放射線の強度を測定して認識された管状物の内径および外径についてのエッジ位置の情報を用いて算出することにより、管状物の内外径および肉厚を求めることを特徴とする、管状物の断面径および肉厚の測定方法である。 (もっと読む)


81 - 90 / 151