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国際特許分類[G01B15/04]の内容

国際特許分類[G01B15/04]に分類される特許

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特徴部を評価する方法であって、前記特徴部の画像を受け取るステップと、前記画像において前記特徴部のエッジ上で、複数の突端の、それぞれの座標を決定するステップからなる前記方法。非円の非線状形状を有する図形は、複数の突端に適合され、その複数の突端と図研との間の、それぞれの距離が決定される。特徴部のための粗さパラメータは、それぞれの距離に応じて計算される。上記方法は、電子走査型顕微鏡(SEM)により結像されるように、集積回路の限界寸法(CD)の分析において、更に、特に、これらの特徴部と構成要素の測定において応用を見出す。
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