国際特許分類[G01D1/00]の内容
物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 特に特定の変量に適用されない測定;単一のほかのサブクラスに包含されない2つ以上の変量を測定する装置;料金計量装置;他に分類されない測定または試験 (10,355) | 変量の瞬時値以外の結果を示す測定装置 (50)
国際特許分類[G01D1/00]の下位に属する分類
平均値,例.二乗平均の開平値,を示すもの (10)
積分値を示すもの
微分値を示すもの
最大値または最小値を示すもの (7)
値の分布関数を示すもの,すなわちある値が特定の範囲に入った度数 (4)
2以上の値の関数値,例.積,比率,を示すもの (9)
不特定のパラメータが予め決められた値を超過したことの信号を出す装置を有するもの (18)
国際特許分類[G01D1/00]に分類される特許
1 - 2 / 2
情報処理装置、変換データ表示プログラム、記録媒体及び変換データ表示方法
【課題】 メモリ資源の浪費を避けると共に、計測し直すことなく速やかにユーザが要求するデータを表示することを目的とする。
【解決手段】 計測に係るデータを格納するデータ格納手段と、データ格納手段に格納されている計測に係るデータを変換し、変換データを生成するデータ変換手段と、変換データを表示する表示手段と、を有し、表示手段は、変換データの取得要求をデータ変換手段に送信し、データ変換手段は、表示手段から、変換データの取得要求を受け取ると、受け取った取得要求に応じて、データ格納手段に格納されている計測に係るデータを取得して変換し、生成した変換データを要求元の表示手段に提供することによって上記課題を解決する。
(もっと読む)
測定器
【課題】 外部入力に依存せずにあらかじめ設定した値でかつ時間によって変化する値を演算結果として格納する手段を追加した測定器を実現する。
【解決手段】 値が変化する折線パターン信号を生成する折線処理手段と、
外部信号を入力し、この外部信号を前記折線パターン信号を用いて演算処理する演算処理手段と、
を備える。
(もっと読む)
1 - 2 / 2
[ Back to top ]